CN110659171A - 一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质 - Google Patents
一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质 Download PDFInfo
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Abstract
本申请公开了一种测试方法、一种电子设备和一种计算机可读存储介质,该方法包括:利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数;其中,所述待测试器件为使用PCIe接口的器件,所述目标参数包括影响信号完整性的参数;利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测;在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。由此可见,本申请提供的测试方法,通过无人值守的方式确定PCIe接口的最优参数,提高测试效率的同时,提高了PCIe接口通信的稳定性。
Description
技术领域
本申请涉及计算机技术领域,更具体地说,涉及一种测试方法、一种电子设备和一种计算机可读存储介质。
背景技术
PCIe(中文全称:高速串行计算机扩展总线标准,英文全称:peripheralcomponent interconnect express)接口具有点对点的传输特性:传输速率高、带宽大、易拓展等。在过去相当长的时间的发展中,已经形成了一个非常完备的生态体系,大量的外设都采用这个接口,可以说PCIe接口是目前传统服务器领域最重要的一种***总线接口。
在实际应用中,需要对使用PCIe接口的器件的稳定性进行测试。在相关技术,一般采用带内压测方式测量器件发送端口和接收端口的波形图,不符合标准要求时需要测试人员通过带内控制的方式调整PCIe接口的参数,每次调整都需要人为参与,测试人员与器件存在多次交互,测试效率较低。另外,在实践检验中发现由于人工调整无法确定PCIe接口的最优参数,导致链路上仍然存在大量的可修复错误(英文全称:Correctable Error,英文简称:CE),链路稳定性较差。
因此,如何提高PCIe接口稳定性测试效率,并提高通信的稳定性是本领域技术人员需要解决的技术问题。
发明内容
本申请的目的在于提供一种测试方法、一种电子设备和一种计算机可读存储介质,提高了PCIe接口稳定性测试效率,并提高了通信的稳定性。
为实现上述目的,本申请提供了一种测试方法,包括:
利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数;其中,所述待测试器件为使用PCIe接口的器件,所述目标参数包括影响信号完整性的参数;
利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测;
在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。
其中,所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数,包括:
确定每个所述目标参数对应的候选值集,并根据所有所述候选值集确定所有候选值组;其中,所述候选值组中的每个值与每个所述目标参数一一对应;
将所有所述目标参数依次设置为每个所述候选值组;
相应的,所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,包括:
当每次设置生效时,利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本。
其中,所述当每次设置生效时,利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,包括:
在每次设置所有所述目标参数后,重启所述待测试器件,重启成功后利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本。
其中,所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,包括:
确定所述待检测器件的器件类型,并启动所述器件类型对应的带内压测脚本。
其中,所述在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,包括:
在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,以便记录可修复错误的出现次数。
其中,所述在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,以便记录可修复错误的出现次数,包括:
在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,若所述CE状态寄存器为1,则将所述可修复错误的出现次数加一,并将所述CE状态寄存器清零。
其中,所述基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值,包括:
将所述可修复错误的出现次数与测试时间的比值作为可修复错误的出现频率;
将所有所述出现频率中的最小频率对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
其中,所述基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值,包括:
将所有所述出现次数中最小次数对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
其中,所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数,包括:
通过BMC向BIOS发送第一目标命令,以便通过所述第一目标命令设置所述待测试器件的每个所述目标参数;其中,所述第一目标命令为遵循ipmi协议的命令。
其中,所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数之后,还包括:
利用所述带外控制脚本判断所有所述目标参数是否设置成功;
若是,则执行所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本的步骤。
其中,所述利用所述带外控制脚本判断所有所述目标参数是否全部设置成功,包括:
通过BMC向BIOS发送第二目标命令,以便判断所有所述目标参数是否全部设置成功;其中,所述第二目标命令为遵循ipmi协议的命令。
其中,所述目标参数包括均衡参数和/或差分输出电压。
其中,所述待测试器件包括GPU、NVME硬盘和网卡中的任一项或任几项的组合。
为实现上述目的,本申请提供了一种电子设备,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现:利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数;利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测;在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值;其中,所述待测试器件为使用PCIe接口的器件,所述目标参数包括影响信号完整性的参数。
其中,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:确定每个所述目标参数对应的候选值集,并根据所有所述候选值集确定所有候选值组;将所有所述目标参数依次设置为每个所述候选值组;当每次设置生效时,利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本;其中,所述候选值组中的每个值与每个所述目标参数一一对应。
其中,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:确定所述待检测器件的器件类型,并启动所述器件类型对应的带内压测脚本。
其中,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,以便记录可修复错误的出现次数。
其中,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:将所述可修复错误的出现次数与测试时间的比值作为可修复错误的出现频率;将所有所述出现频率中的最小频率对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
其中,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:将所有所述出现次数中最小次数对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
为实现上述目的,本申请提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述测试方法的步骤。
通过以上方案可知,本申请提供的一种测试方法,包括:利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数;其中,所述待测试器件为使用PCIe接口的器件,所述目标参数包括影响信号完整性的参数;利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测;在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。
本申请提供的测试方法,利用带外控制脚本调整待测试器件的目标参数,并利用带外控制脚本启动带内压测脚本以便对待测试器件进行压测,测试人员只需要将需要测试的目标参数的各个值写入带外控制脚本,即可自动完成每组值的带内压测,测试效率较高。同时,基于每组值压测时可修复错误的出现次数从功能测试的角度确定PCIe接口的最优参数,准确性较高,提高了PCIe接口通信的稳定性。由此可见,本申请提供的测试方法,通过带外控制和带内压测结合的方式,实现无人值守的确定PCIe接口的最优参数,提高测试效率的同时,提高了PCIe接口通信的稳定性。本申请还公开了一种电子设备和一种计算机可读存储介质,同样能实现上述技术效果。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的,并不能限制本申请。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。附图是用来提供对本公开的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本公开,但并不构成对本公开的限制。在附图中:
图1为根据一示例性实施例示出的一种测试方法的流程图;
图2为根据一示例性实施例示出的另一种测试方法的流程图;
图3为根据一示例性实施例示出的又一种测试方法的流程图;
图4为根据一示例性实施例示出的一种测试装置的结构图;
图5为根据一示例性实施例示出的一种电子设备的结构图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
本申请实施例公开了一种测试方法,提高了PCIe接口稳定性测试效率,并提高了通信的稳定性。
参见图1,根据一示例性实施例示出的一种测试方法的流程图,如图1所示,包括:
S101:利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数;其中,所述待测试器件为使用PCIe接口的器件,所述目标参数包括影响信号完整性的参数;
本实施例的执行主体可以为测试设备,该测试设备与待测试器件进行连接,用于对该待测试器件进行稳定性测试。需要说明的是,此处的待测试器件为包含PCIe接口、支持参数修改的器件,例如GPU(中文全称:图形处理器,英文全称:Graphics ProcessingUnit)、NVME(中文全称:非易失性内存主机控制器接口规范,英文全称:Non-VolatileMemory express)硬盘、网卡等。
在本步骤中,测试人员将需要测试的参数写入带外控制脚本中,存储于测试设备中。测试设备可以通过带外控制的方式对目标参数的参数值进行修改。
S102:利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测;
在本步骤中,每次修改目标参数的参数值后,启动待检测器件中的压测脚本对其进行压测,即利用带内压测脚本对待测试器件进行带内压测。PCIe通信协议本身具有纠错功能,其中偏向于硬件层面的纠错功能包括在传输层(transaction layer)和物理层(physical layer)分别加入的CRC(中文全称:循环冗余校验码,英文全称:CyclicRedundancy Check)、在数据链路层(DLL,data link layer)中的ack/nak机制(一种由硬件实现的、完全自动的机制,目的是保证TLP有效可靠地传输)等,这些错误发生时意味着链路不够稳定,出现了CE,带外控制脚本可对其进行记录。
可以理解的是,本步骤中的带内压测脚本与待测试器件的类型有关,即所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本的步骤包括:确定所述待检测器件的器件类型,并启动所述器件类型对应的带内压测脚本。在具体实施中,带内压测脚本根据待测试器件的类型的不同而有所差异,例如,若该待检测器件为NVME硬盘,则可以采用fio对其进行压测,若该待检测器件为GPU,则带内压测脚本可以为NV中的专用程序。
需要说明的是,本实施例不对目标参数的数量和种类进行限定,只要该参数可以影响信号完整性,进而影响PCIe接口通信的稳定性,则均在本实施例的保护范围内。例如,目标参数可以包括均衡参数(Equalizer,EQ)、差分输出电压(VOD)等。若带外控制脚本中定义了EQ的取值可以为1、2和3,VOD的取值可以为3、4和5,两个目标参数,每个目标参数存在三种取值情况,因此需要进行9次带内压测。
可以理解的是,对于设置目标参数的方式,本实施例不进行具体限定,优选的,测试设备可以通过待测试器件中的BMC向BIOS发送ipmi(中文全称:智能平台管理接口,英文全称:Intelligent Platform Management Interface)命令以设置目标参数,即所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数的步骤包括:通过BMC向BIOS发送第一目标命令,以便通过所述第一目标命令设置所述待测试器件的每个所述目标参数;其中,所述第一目标命令为遵循ipmi协议的命令。
优选的,所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数之后,还包括:利用所述带外控制脚本判断所有所述目标参数是否设置成功;若是,则执行所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本的步骤。在具体实施中,为了提高测试效率,避免对相同参数值的重复测试,每次修改目标参数的参数值后检测其是否修改成功,成功则进行带内压测,不成功可以重复利用带外控制脚本设置所待测试器件的目标参数的步骤,直到设置成功或达到预设次数进行异常告警。可以理解的是,此处同样可以通过向BIOS发送ipmi命令判断是否设置成功,即所述利用所述带外控制脚本判断所有所述目标参数是否全部设置成功的步骤包括:通过BMC向BIOS发送第二目标命令,以便判断所有所述目标参数是否全部设置成功;其中,所述第二目标命令为遵循ipmi协议的命令。
S103:在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。
在每次带内压测的过程中,带外控制脚本监测本次测试的可修复错误的出现次数,基于该出现次数从功能测试的角度确定目标参数的最优值。在测试时间一定时,将可修复错误的出现次数最低的目标值确定为最优值,在测试时间不同时,将可修复错误的出现频率最低的目标值确定为最优值。即作为一种可行的实施方式,所述基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值的步骤包括:将所述可修复错误的出现次数与测试时间的比值作为可修复错误的出现频率;将所有所述出现频率中的最小频率对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。作为另一种可行的实施方式,所述基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值的步骤包括:将所有所述出现次数中最小次数对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
在具体实施中,可以通过待测试器件的可修复错误状态寄存器(CE寄存器)确定可修复错误的出现次数,即所述在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数的步骤包括:在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,以便记录可修复错误的出现次数。具体的,在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,若所述CE状态寄存器为1,则将所述可修复错误的出现次数加一,并将所述CE状态寄存器清零。可以理解的是,若出现CE,待检测器件中的CE状态寄存器为1,因此在本步骤中,带外控制脚本每隔预设时间间隔读取CE状态寄存器,若其为1,则记录一次CE错误。在具体实施中,使用lspci命令(一种Linux***的命令)读取CE状态寄存器的值,若为1,则对其进行写一清零,整个监控采用轮询的机制,例如可以每隔5s读取CE状态寄存器的值,此处不对预设时间间隔进行具体限定。
本申请实施例提供的测试方法,利用带外控制脚本调整待测试器件的目标参数,并利用带外控制脚本启动带内压测脚本以便对待测试器件进行压测,测试人员只需要将需要测试的目标参数的各个值写入带外控制脚本,即可自动完成每组值的带内压测,测试效率较高。同时,基于每组值压测时可修复错误的出现次数从功能测试的角度确定PCIe接口的最优参数,准确性较高,提高了PCIe接口通信的稳定性。由此可见,本申请提供的测试方法,通过带外控制和带内压测结合的方式,实现无人值守的确定PCIe接口的最优参数,提高测试效率的同时,提高了PCIe接口通信的稳定性。
本申请实施例公开了一种测试方法,相对于上一实施例,本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化。具体的:
参见图2,根据一示例性实施例示出的另一种测试方法的流程图,如图2所示,包括:
S201:确定每个所述目标参数对应的候选值集,并根据所有所述候选值集确定所有候选值组;其中,所述候选值组中的每个值与每个所述目标参数一一对应;
在本实施例中,在带外控制脚本中,通过为目标参数设置候选值集的方式设置需要测试的参数值,每个目标参数均对应一个候选值集,该候选值集可以包括厂商提供的该目标参数的所有可选值。例如,EQ对应的候选值集为{1、2、3},VOD对应的候选值集为{3、4、5}。
将上述所有目标参数的候选值集中的候选值进行随机组合可以得到候选值组,该候选值组包含的值的数量与目标参数的数量相同,每个值为一个目标参数的候选值。在上述例子中,存在两个目标参数,因此每个候选值组包含两个值,第一个值从EQ对应的候选值集中进行选取,第二个值从VOD对应的候选值集中进行选取,所有候选值组为(1,3)、(1,4)、(1,5)、(2,3)、(2,4)、(2,5)、(3,3)、(3,4)和(3,5)。
S202:将所有所述目标参数依次设置为每个所述候选值组;
S203:当每次设置生效时,利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测;
在具体实施中,带外控制脚本依此将目标参数设置为每个候选值组,每次设置生成后,带内压测脚本对待测试器件进行带内压测。需要说明的是,由于待测试器件类型的不同,目标参数生效的方式也不同,有些待测试器件修改参数后立即生效,而有些则需要重启生效,此时步骤S203包括在每次设置所有所述目标参数后,重启所述待测试器件,重启成功后利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本。
S204:在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。
由此可见,本实施例通过带外控制和带内测试的方式,自动遍历目标参数的所有可选值,以确定链路最稳定的目标参数,进而提高了PCIe通信链路的稳定性和可靠性。
本申请实施例公开了一种测试方法,相对于上一实施例,本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化。具体的:
参见图3,根据一示例性实施例示出的又一种测试方法的流程图,如图3所示,包括:
S301:确定每个所述目标参数对应的候选值集,并根据所有所述候选值集确定所有候选值组;其中,所述候选值组中的每个值与每个所述目标参数一一对应;
S302:通过BMC向BIOS发送第一目标命令,以便通过所述第一目标命令将所有所述目标参数依次设置为每个所述候选值组;
S303:通过BMC向BIOS发送第二目标命令,以便判断所述目标参数是否设置成功;若是,则进入S304;
S304:重启所述待测试器件,重启成功后确定所述待检测器件的器件类型;
S305:利用所述带外控制脚本启动所述对应的带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测;
S306:在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,若所述CE状态寄存器为1,则将所述可修复错误的出现次数加一,并将所述CE状态寄存器清零;
S307:当到达测试时间时,将所述可修复错误的出现次数与所述测试时间的比值作为可修复错误的出现频率;
S308:将所有所述出现频率中的最小频率对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
由此可见,本实施例通过向BIOS发送命令的方式调整目标参数以及判断其是否调整成功,效率较高。利用带外控制和带内测试结合的方式,自动遍历目标参数的所有可选值,以确定链路最稳定的目标参数,进而提高了PCIe通信链路的稳定性和可靠性。
下面对本申请实施例提供的一种测试装置进行介绍,下文描述的一种测试装置与上文描述的一种测试方法可以相互参照。
参见图4,根据一示例性实施例示出的一种测试装置的结构图,如图4所示,包括:
设置模块401,用于利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数;其中,所述待测试器件为使用PCIe接口的器件,所述目标参数包括影响信号完整性的参数;
启动模块402,用于利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测;
确定模块403,用于在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。
本申请实施例提供的测试装置,利用带外控制脚本调整待测试器件的目标参数,并利用带外控制脚本启动带内压测脚本以便对待测试器件进行压测,测试人员只需要将需要测试的目标参数的各个值写入带外控制脚本,即可自动完成每组值的带内压测,测试效率较高。同时,基于每组值压测时可修复错误的出现次数从功能测试的角度确定PCIe接口的最优参数,准确性较高,提高了PCIe接口通信的稳定性。由此可见,本申请提供的测试方法,通过带外控制和带内压测结合的方式,实现无人值守的确定PCIe接口的最优参数,提高测试效率的同时,提高了PCIe接口通信的稳定性。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述设置模块401包括:
第一确定单元,用于确定每个所述目标参数对应的候选值集,并根据所有所述候选值集确定所有候选值组;其中,所述候选值组中的每个值与每个所述目标参数一一对应;
设置单元,用于将所有所述目标参数依次设置为每个所述候选值组;
相应的,所述启动模块402具体为当每次设置生效时,利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测的模块。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述启动模块402具体为在每次设置所有所述目标参数后,重启所述待测试器件,重启成功后利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测的模块。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述启动模块402包括:
第二确定单元,用于确定所述待检测器件的器件类型;
启动单元,用于利用所述带外控制脚本启动所述器件类型对应的带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述确定模块403包括:
监测单元,用于在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,以便记录可修复错误的出现次数;
第三确定单元,用于基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述监测单元具体为在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,若所述CE状态寄存器为1,则将所述可修复错误的出现次数加一,并将所述CE状态寄存器清零的单元。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述第三确定单元包括:
计算子单元,用于将所述可修复错误的出现次数与测试时间的比值作为可修复错误的出现频率;
确定子单元,用于将所有所述出现频率中的最小频率对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述第三确定单元具体为将所有所述出现次数中最小次数对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值的单元。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述设置模块401具体为通过BMC向BIOS发送第一目标命令,以便通过所述第一目标命令设置所述待测试器件的每个所述目标参数的模块;其中,所述第一目标命令为遵循ipmi协议的命令。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,还包括:
判断模块,用于利用所述带外控制脚本判断所有所述目标参数是否设置成功;若是,则启动所述启动模块402的工作流程。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述判断模块具体为通过BMC向BIOS发送第二目标命令,以便判断所有所述目标参数是否全部设置成功的模块;其中,所述第二目标命令为遵循ipmi协议的命令。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述目标参数包括均衡参数和/或差分输出电压。
在上述实施例的基础上,作为一种优选实施方式,所述待测试器件包括GPU、NVME硬盘和网卡中的任一项或任几项的组合。
关于上述实施例中的装置,其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述,此处将不做详细阐述说明。
本申请还提供了一种电子设备,参见图5,本申请实施例提供的一种电子设备500的结构图,如图5所示,可以包括处理器11和存储器12。该电子设备500还可以包括多媒体组件13,输入/输出(I/O)接口14,以及通信组件15中的一者或多者。
存储器12上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现:利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数;利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测;在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值;其中,所述待测试器件为使用PCIe接口的器件,所述目标参数包括影响信号完整性的参数。
优选的,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:确定每个所述目标参数对应的候选值集,并根据所有所述候选值集确定所有候选值组;将所有所述目标参数依次设置为每个所述候选值组;当每次设置生效时,利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本;其中,所述候选值组中的每个值与每个所述目标参数一一对应。
优选的,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:在每次设置所有所述目标参数后,重启所述待测试器件,重启成功后利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本。
优选的,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:确定所述待检测器件的器件类型,并利用所述器件类型对应的带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测。
优选的,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,以便记录可修复错误的出现次数。
优选的,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,若所述CE状态寄存器为1,则将所述可修复错误的出现次数加一,并将所述CE状态寄存器清零。
优选的,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:将所述可修复错误的出现次数与测试时间的比值作为可修复错误的出现频率;将所有所述出现频率中的最小频率对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
优选的,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:将所有所述出现次数中最小次数对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
优选的,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:通过BMC向BIOS发送第一目标命令,以便通过所述第一目标命令设置所述待测试器件的每个所述目标参数;其中,所述第一目标命令为遵循ipmi协议的命令。
优选的,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:利用所述带外控制脚本判断所有所述目标参数是否设置成功。
优选的,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:通过BMC向BIOS发送第二目标命令,以便判断所有所述目标参数是否全部设置成功;其中,所述第二目标命令为遵循ipmi协议的命令。
其中,处理器11用于控制该电子设备500的整体操作,以完成上述的测试方法中的全部或部分步骤。存储器12用于存储各种类型的数据以支持在该电子设备500的操作,这些数据例如可以包括用于在该电子设备500上操作的任何应用程序或方法的指令,以及应用程序相关的数据,例如联系人数据、收发的消息、图片、音频、视频等等。该存储器12可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,例如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,简称SRAM),电可擦除可编程只读存储器(ElectricallyErasable Programmable Read-Only Memory,简称EEPROM),可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory,简称EPROM),可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory,简称PROM),只读存储器(Read-Only Memory,简称ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。多媒体组件13可以包括屏幕和音频组件。其中屏幕例如可以是触摸屏,音频组件用于输出和/或输入音频信号。例如,音频组件可以包括一个麦克风,麦克风用于接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器12或通过通信组件15发送。音频组件还包括至少一个扬声器,用于输出音频信号。I/O接口14为处理器11和其他接口模块之间提供接口,上述其他接口模块可以是键盘,鼠标,按钮等。这些按钮可以是虚拟按钮或者实体按钮。通信组件15用于该电子设备500与其他设备之间进行有线或无线通信。无线通信,例如Wi-Fi,蓝牙,近场通信(Near FieldCommunication,简称NFC),2G、3G或4G,或它们中的一种或几种的组合,因此相应的该通信组件15可以包括:Wi-Fi模块,蓝牙模块,NFC模块。
在一示例性实施例中,电子设备500可以被一个或多个应用专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,简称ASIC)、数字信号处理器(DigitalSignal Processor,简称DSP)、数字信号处理设备(Digital Signal Processing Device,简称DSPD)、可编程逻辑器件(Programmable Logic Device,简称PLD)、现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,简称FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现,用于执行上述的测试方法。
在另一示例性实施例中,还提供了一种包括程序指令的计算机可读存储介质,该程序指令被处理器执行时实现上述测试方法的步骤。例如,该计算机可读存储介质可以为上述包括程序指令的存储器12,上述程序指令可由电子设备500的处理器11执行以完成上述的测试方法。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请原理的前提下,还可以对本申请进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。
还需要说明的是,在本说明书中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (20)
1.一种测试方法,其特征在于,包括:
利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数;其中,所述待测试器件为使用PCIe接口的器件,所述目标参数包括影响信号完整性的参数;
利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测;
在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。
2.根据权利要求1所述测试方法,其特征在于,所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数,包括:
确定每个所述目标参数对应的候选值集,并根据所有所述候选值集确定所有候选值组;其中,所述候选值组中的每个值与每个所述目标参数一一对应;
将所有所述目标参数依次设置为每个所述候选值组;
相应的,所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,包括:
当每次设置生效时,利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本。
3.根据权利要求2所述测试方法,其特征在于,所述当每次设置生效时,利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,包括:
在每次设置所有所述目标参数后,重启所述待测试器件,重启成功后利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本。
4.根据权利要求1所述测试方法,其特征在于,所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,包括:
确定所述待检测器件的器件类型,并启动所述器件类型对应的带内压测脚本。
5.根据权利要求1所述测试方法,其特征在于,所述在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,包括:
在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,以便记录可修复错误的出现次数。
6.根据权利要求5所述测试方法,其特征在于,所述在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,以便记录可修复错误的出现次数,包括:
在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,若所述CE状态寄存器为1,则将所述可修复错误的出现次数加一,并将所述CE状态寄存器清零。
7.根据权利要求1所述测试方法,其特征在于,所述基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值,包括:
将所述可修复错误的出现次数与测试时间的比值作为可修复错误的出现频率;
将所有所述出现频率中的最小频率对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
8.根据权利要求1所述测试方法,其特征在于,所述基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值,包括:
将所有所述出现次数中最小次数对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
9.根据权利要求1所述测试方法,其特征在于,所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数,包括:
通过BMC向BIOS发送第一目标命令,以便通过所述第一目标命令设置所述待测试器件的每个所述目标参数;其中,所述第一目标命令为遵循ipmi协议的命令。
10.根据权利要求1所述测试方法,其特征在于,所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数之后,还包括:
利用所述带外控制脚本判断所有所述目标参数是否设置成功;
若是,则执行所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本的步骤。
11.根据权利要求10所述测试方法,其特征在于,所述利用所述带外控制脚本判断所有所述目标参数是否全部设置成功,包括:
通过BMC向BIOS发送第二目标命令,以便判断所有所述目标参数是否全部设置成功;其中,所述第二目标命令为遵循ipmi协议的命令。
12.根据权利要求1所述测试方法,其特征在于,所述目标参数包括均衡参数和/或差分输出电压。
13.根据权利要求1所述测试方法,其特征在于,所述待测试器件包括GPU、NVME硬盘和网卡中的任一项或任几项的组合。
14.一种电子设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现:利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数;利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本,以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测;在进行带内压测过程中,利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数,并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值;其中,所述待测试器件为使用PCIe接口的器件,所述目标参数包括影响信号完整性的参数。
15.根据权利要求14所述电子设备,其特征在于,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:确定每个所述目标参数对应的候选值集,并根据所有所述候选值集确定所有候选值组;将所有所述目标参数依次设置为每个所述候选值组;当每次设置生效时,利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本;其中,所述候选值组中的每个值与每个所述目标参数一一对应。
16.根据权利要求14所述电子设备,其特征在于,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:确定所述待检测器件的器件类型,并启动所述器件类型对应的带内压测脚本。
17.根据权利要求14所述电子设备,其特征在于,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:在进行带内压测过程中,每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器,以便记录可修复错误的出现次数。
18.根据权利要求14所述电子设备,其特征在于,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:将所述可修复错误的出现次数与测试时间的比值作为可修复错误的出现频率;将所有所述出现频率中的最小频率对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
19.根据权利要求14所述电子设备,其特征在于,所述计算机程序被所述处理器执行时还实现:将所有所述出现次数中最小次数对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。
20.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至13任一项所述测试方法的步骤。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910911918.4A CN110659171A (zh) | 2019-09-25 | 2019-09-25 | 一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质 |
PCT/CN2019/108458 WO2021056393A1 (zh) | 2019-09-25 | 2019-09-27 | 一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910911918.4A CN110659171A (zh) | 2019-09-25 | 2019-09-25 | 一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110659171A true CN110659171A (zh) | 2020-01-07 |
Family
ID=69039119
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910911918.4A Pending CN110659171A (zh) | 2019-09-25 | 2019-09-25 | 一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110659171A (zh) |
WO (1) | WO2021056393A1 (zh) |
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