CN113496663B - 显示模块中进行混合过电流保护检测的方法及时序控制器 - Google Patents

显示模块中进行混合过电流保护检测的方法及时序控制器 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种用来在显示模块中进行混合过电流保护检测的方法以及时序控制器。该方法包含：于该显示模块的初始化的期间，在一组驱动电压已被建立后，在一内建自我测试模式中进行第一过电流保护检测以产生一第一过电流保护检测结果；将该第一过电流保护检测结果写入一暂存器库，以供被一主装置存取，其中该显示模块是可应用于为该主装置显示信息；在一正常模式中进行第二过电流保护检测以产生一第二过电流保护检测结果；以及将该第二过电流保护检测结果写入该暂存器库，以供被该主装置存取。

Description

显示模块中进行混合过电流保护检测的方法及时序控制器
技术领域
本发明涉及故障/失败检测(fail detection)，特别涉及一种用来在一显示模块中进行混合型过电流保护检测的方法及相关时序控制器。
背景技术
内建显示装置诸如液晶显示(liquid crystal display，LCD)面板已被广泛地使用在运输工具诸如汽车、巴士等。依据相关技术，在一汽车中的主***的显示装置通过改变(例如上拉)某个信号的电压电平来通报错误给该主***。然而，这会发生某些问题。例如，当被输入至该显示装置一或多个信号是错误的(例如像素时钟可能过快)，该显示装置会显示异常，尤其会消耗大量的电流，导致一过电流保护(over-current protection，OCP)错误会被触发。如此一来，对于是该显示侧还是该主装置侧故障可能会有误判。因此，需要一种新颖的方法以及相关架构，以在没有副作用或较不会带来副作用的情况下增强故障检测机制。
发明内容
本发明的一目的在于提供一种用来在一显示模块中进行混合型过电流保护检测的方法，以及提供相关时序控制器，以解决上述问题。
本发明的另一目的在于提供一种用来在一显示模块中进行混合型过电流保护检测的方法，以及提供相关时序控制器，以在没有副作用或较不会带来副作用的情况下增强故障检测机制。
本发明至少一实施例提供一种用来在一显示模块中进行混合型过电流保护检测的方法。该方法可包含：于该显示模块的初始化的期间，在一组驱动电压已被建立后，在一内建自我测试(built-in self-test，BIST)模式中进行第一过电流保护检测以产生一第一过电流保护检测结果；将该第一过电流保护检测结果写入一暂存器库(bank)，以供被一主装置存取，其中该显示模块是可应用于(applicable to)为该主装置显示信息；在一正常模式中进行第二过电流保护检测以产生一第二过电流保护检测结果；以及将该第二过电流保护检测结果写入该暂存器库，以供被该主装置存取。
除了以上方法外，本发明亦提供一种时序控制器，其中该时序控制器是可应用于在一显示模块中进行混合型过电流保护检测。该时序控制器可包含一通信端(port)、耦接至该通信端的一暂存器库、以及耦接至该暂存器库的一第一过电流保护检测电路及一第二过电流保护检测电路。例如，该通信端可用来为该时序控制器以和一主装置装置进行通信，以及该暂存器库可用来为该时序控制器存储信息。于该显示模块的初始化的期间，在一组驱动电压已被建立后，该第一过电流保护检测电路可在一内建自我测试模式中进行第一过电流保护检测以产生一第一过电流保护检测结果，并且将该第一过电流保护检测结果写入该暂存器库，以供被该主装置存取，其中该显示模块是可应用于为该主装置显示信息。另外，该第二过电流保护检测电路可在一正常模式中进行第二过电流保护检测以产生一第二过电流保护检测结果，并且将该第二过电流保护检测结果写入该暂存器库，以供被该主装置存取。
本发明的方法以及相关设备(例如该时序控制器)能确保用于正确判断是该显示侧还是该主装置侧故障时有足够的信息是可用的(available)。另外，本发明的实施例不会大幅地增加额外成本。因此，相关技术的问题能被解决，且整体成本不会增加太多。相较于相关技术，本发明的方法以及相关设备能在没有副作用或较不会带来副作用的情况下增强故障检测机制。
附图说明
图1为依据本发明一实施例的一主***的示意图，其中该主***可包含一主装置以及一显示模块。
图2为依据本发明一实施例示出的一种用来在一显示模块诸如图1所示的显示模块中进行混合型OCP检测的方法的故障检测控制方案。
图3为依据本发明一实施例示出的该方法的OCP控制方案，其中基于图2所示的OCP控制方案的显示模块可作为图1所示的显示模块的例子。
图4示出第3图所示的显示模块的某些实施细节。
图5示出在图2所示的架构中的一第一OCP检测电路的例子。
图6示出在图2所示的架构中的一第二OCP检测电路的例子。
图7示出图2所示的架构中的一故障检测控制电路的例子。
图8为依据本发明一实施例示出的该方法涉及的某些信号的时序图。
图9为依据本发明一实施例的该方法的流程图。
其中，附图标记说明如下：
10：主装置
20：显示模块
20G：栅极驱动器
20S：源极驱动器
20P：显示面板
100：时序控制器
100F：故障检测标识
100H：混合型OCP检测电路
12：芯片
110：控制单元
122：影片信号接收器
124：BIST信号产生器
126：多工器
128：后处理电路
132：通信端
134：暂存器库
136：故障检测模块
FD1，FD2，FD3：故障检测电路
FDR1，FDR2，FDR3：故障检测结果
FDC：故障检测控制电路
300：显示模块
310：混合型连接电路
312：脉冲频率调制助推器电路
320：显示面板
IC(0)，IC(1)，IC(2)：集成电路
FD1(0)，FD2(0)，FD1(1)，FD2(1)，FD1(2)，FD2(2)：故障检测电路
FDC(0)，FDC(1)，FDC(2)：故障检测控制电路
VMONP，VMONN：监控电压
VSP，VSN：电压信号
DRVP，DRVN：驱动电压
Fail_Det：故障检测信号
MN，MP：晶体管
LP，LN：电感器
RP，RN：电阻器
DP，DN：二极管
CSP，CSN：电容器
510P，510N：第一比较器
520：第一逻辑门
THP1，THN1：第一电压临界值
610P，610N：第二比较器
620：第二逻辑门
THP2，THN2：第二电压临界值
701：第一组逻辑门
702：第二组逻辑门
700L：最后一个逻辑门
VCC，LVDS_P，VS，RESET_B，STBY_B：信号
VGL，VGH，VGMPH，VGMNH，SOURCE：信号
S10，S12，S14，S15，S16，S18：步骤
具体实施方式
图1为依据本发明一实施例的一主***(host system)的示意图，其中该主***可包含一主装置(host device)10以及一显示模块20，以及该显示模块20可包含一时序控制器100、可被统称为源极驱动器20S的至少一源极驱动器(例如一或多个源极驱动器)、可被统称为栅极驱动器20G的至少一栅极驱动器(例如一或多个栅极驱动器)、以及一显示面板20P。为便于理解，图1所示的主***可被实施在一运输工具诸如汽车、巴士等内，并且可用来控制该运输工具的运行，其中显示模块20(例如其显示面板20P等)可代表依据液晶显示(liquid crystal display，LCD)技术来实施的一液晶显示模块(例如其液晶显示面板)，但本发明不限于此。例如，显示模块20可为依据其他技术来实施的其他类型的显示模块的其中一者，尤其是其架构在需要时可予以变化。在某些实施例中，图1所示的主***可被实施在某些其他类型的交通工具的任一者内。
时序控制器100可通过源极驱动器20S以及栅极驱动器20G在显示面板20P上进行显示控制(例如进行时序控制、影像增强等)，尤其可输出相关显示控制信号至源极驱动器20S以及栅极驱动器20G并且输出影片信号至源极驱动器20S，以供控制显示面板20P显示影像，但本发明不限于此。如图1所示，时序控制器100可包含一混合型过电流保护(over-current protection，简称OCP)检测电路100H，以及混合型OCP检测电路100H可设定多个故障检测标识100F(在图1中标示为“FD标识”以求简明)的至少一部分(例如一部分或全部)，其中故障检测标识100F可分别代表多个故障检测结果，但本发明不限于此。时序控制器100能进行故障检测以产生该多个故障检测结果，尤其是可应用于在显示模块20中进行混合型OCP检测，例如通过使用混合型OCP检测电路100H。
基于图1所示的架构，时序控制器100可自主装置10接收至少一影片输入诸如载有(carry)一系列影片数据以及相关控制信号诸如一像素时钟等的一或多个影片输入信号，例如通过主装置10与时序控制器100之间的影片输入路径诸如图1所示的它们之间的上方路径。另外，主装置10可存取在时序控制器100中的信息，尤其可将控制信息(controlinformation，CI)写入时序控制器100并且自时序控制器100读取故障检测信息(faildetection information，FDI)诸如故障检测标识100F，例如通过主装置10与时序控制器100之间的通信路径诸如图1所示的它们之间的下方路径。主装置10可写入该控制信息的多个子集合中的任一者，以通过时序控制器100配置显示模块20，并且可读取该故障检测信息的多个子集合中的任一者，以判断是否有错误发生及/或是发生了多种类型中的哪一种的错误。此外，该控制信息以及该故障检测信息可被存储在多个存储单元内诸如多个暂存器，例如该多个暂存器可被实施成一暂存器库(bank)(未显示于图1)，其中该控制信息的多个子集合以及该故障检测信息的多个子集合可被分别存储在于该暂存器库中的该多个暂存器内的多个组的暂存器中，诸如一组控制信息暂存器以及一组故障检测信息暂存器，但本发明不限于此。依据某些观点，该控制信息以及该故障检测信息可被分别存储为在该暂存器(例如该组控制信息暂存器以及该组故障检测信息暂存器)中的多组表诸如一组控制信息表以及一组故障检测信息表。
依据某些实施例，该影片输入路径以及该通信路径可用于主装置10与显示模块20之间的符合至少一标准(例如一或多个标准)的至少一传输线缆(cable)(例如一或多个传输线缆)以及符合上述至少一标准的一接口电路来实施，其中该接口电路可位于显示模块20中，尤其可位于时序控制器100中。例如，上述至少一传输线缆可包含一影片输入线缆以及一通信线缆。在某些例子中，该影片输入线缆以及该通信线缆可被整合在同一条线缆中。
在以上实施例中，上述至少一标准的例子可包含(但不限于)串行外设接口(Serial Peripheral Interface，SPI)标准、集成总线电路(Inter-Integrated Circuit，I2C)标准等。
图2为依据本发明一实施例示出的一种用来在一显示模块诸如图1所示的显示模块20中进行混合型OCP检测的方法的故障检测控制方案，其中时序控制器100可依据该方法运行。如图2所示，主装置10可包含在芯片(例如***单芯片(system on a chip，SoC))12上的一运输工具***，以供控制主装置10的运行，时序控制器100可包含一控制单元110、一影片信号接收器122、一内建自我测试(built-in self-test，简称“BIST”)信号产生器124、一多工器(multiplexer)126(在图2中标示为“MUX”以求简明)、一后处理电路(post-processing，PP)128、一通信端132、耦接至通信端132的一暂存器库134、以及一故障检测模块136(在图2中标示为“FD”以求简明)，以及故障检测模块136可包含多个故障检测电路{FD1，FD2，FD3，…}诸如耦接至暂存器库134的一第一OCP检测电路FD1、一第二OCP检测电路FD2、及其他检测电路FD3等，并且可另包含耦接于多个故障检测电路{FD1，FD2，FD3，…}与主装置10之间的一故障检测控制电路FDC。为便于理解，第一OCP检测电路FD1以及第二OCP检测电路FD2在图2中可分别被标示为“BM OCP检测电路”以及“NM OCP检测电路”，其中“BM”以及“NM”分别代表BIST模式以及正常模式，但本发明不限于此。另外，混合型OCP检测电路100H可包含第一OCP检测电路FD1以及第二OCP检测电路FD2，且多个故障检测标识100F可被存储在暂存器库134中。图2所示的于主装置10与时序控制器100之间的上方路径可作为上述影片输入路径的例子，并且图2所示的于主装置10与时序控制器100之间的剩余的路径可作为上述传输路径的例子。
依据本实施例，控制单元110可控制时序控制器100的运行，尤其可控制时序控制器100在该BIST模式与该正常模式之间作切换。影片信号接收器122可自主装置10接收上述至少一影片输入以及相关控制信号，尤其可进行信号交接(interfacing)以将以上信号转换为对应于该正常模式的信号，诸如载有该系列影像数据及上述显示控制信号的一或多个正常影片信号，并且将这些信号输出为多工器126的第一组输入信号，以供在该正常模式中被使用，其中该影片信号接收器122可包含用来进行该信号交接的接口电路，但本发明不限于此。例如，在来自主装置10的这些信号能被直接使用的情况下，该信号交接可被省略。不论是否需要该信号交接。上述显示控制信号可源自于从主装置10取得的控制信号。另外，显示模块20可在BIST模式中进行BIST运行。例如，BIST信号产生器124可产生自我生成(self-generated)显示控制信号，尤其产生对应于该BIST模式的信号(其可取代对应于该正常模式的信号)，诸如载有一系列BIST影像数据及相关显示控制信号的一或多个BIST影片信号，并且将这些信号输出为多工器126的第二组输入信息，以供在该BIST模式中被使用。
在控制单元110的控制下，多工器126可自该第一组输入信号及该第二组输入信号中选择一组输入信号，以供在一对应模式(例如该正常模式或该BIST模式)中被使用。如此一来，后处理电路128可自多工器126取得被选择的那组输入信号以对这组输入信号进行后处理运行，以通过源极驱动器20S以及栅极驱动器20G对显示面板20P进行显示控制。请注意，显示模块20是可应用于在该正常模式中为主装置10显示信息(特别涉及主装置生成(host-generated)显示信息)诸如该系列影像数据，并且在该BIST模式中显示内部产生的显示信息诸如该系列BIST影像数据。例如，在该正常模式中，显示模块20可依据来自主装置10的主装置生成显示控制信息(例如该第一组输入信号中的显示控制信号，诸如来自主装置10的控制信号或其衍生物)运行。又例如，在该BIST模式中，显示模块20可依据上述自我生成显示控制信号(例如该第二组输入信号中的相关显示控制信号)运行。
基于图2所示的架构，通信端132可用来为时序控制器100以和主装置10进行通信，以及暂存器库134可用来为时序控制器100以存储信息(例如该控制信息以及该故障检测信息)，以容许主装置10通过通信端132存取在暂存器库134中的信息(例如该控制信息以及该故障检测信息)。多个故障检测电路{FD1，FD2，FD3，…}诸如第一OCP检测电路FD1、第二OCP检测电路FD2、以及其他检测电路FD3等，可进行故障检测运行以分别产生多个故障检测结果诸如{FDR1，FDR2，FDR3，…}(例如第一OCP检测结果FDR1、第二OCP检测结果FDR2、其他检测结果FDR3等)，并且可将多个故障检测结果{FDR1，FDR2，FDR3，…}输出至故障检测控制电路FDC，以容许故障检测控制电路FDC依据多个故障检测结果{FDR1，FDR2，FDR3，…}产生一故障检测信号Fail_Det，其中多个故障检测电路{FD1，FD2，FD3，…}中的任一者可改变一对应的故障检测结果诸如故障检测结果{FDR1，FDR2，FDR3，…}中的其中一者的逻辑值(例如通过上拉其电压电平)以指出有一对应的错误发生，并且故障检测控制电路FDC在多个故障检测结果{FDR1，FDR2，FDR3，…}中的任一者指出有错误诸如上述对应的错误发生时可改变故障检测信号Fail_Det的逻辑值(例如通过上拉故障检测信号Fail_Det的电压电平)，但本发明不限于此。例如，多个故障检测电路{FD1，FD2，FD3，…}也可输出多个故障检测结果{FDR1，FDR2，FDR3，…}至暂存器库134，以供被存储在暂存器库134中。
于显示模块20的初始化的期间，在一组驱动电压已被建立后，第一OCP检测电路FD1(诸如该BM OCP检测电路)可在该BIST模式中进行第一OCP检测以产生第一OCP检测结果FDR1，并且可将第一OCP检测结果FDR1写入暂存器库134(例如该组故障检测信息暂存器中的一或多个故障检测信息暂存器)，以供被主装置10存取(例如读取)。第二OCP检测电路FD2(诸如该NM OCP检测电路)可在该正常模式中进行第二OCP检测以产生第二OCP检测结果FDR2，并且将第二OCP检测结果FDR2写入暂存器库134(例如该组故障检测信息暂存器中的一或多个故障检测信息暂存器)，以供被主装置10存取(例如读取)。为便于理解，第一OCP检测结果FDR1可指出肇因于显示模块20的显示模块20的一OCP错误是否发生，并且第二OCP检测结果FDR2可指出肇因于主装置10的显示模块20的一OCP错误是否发生，其中第一OCP检测结果FDR1以及第二OCP检测结果FDR2的组合可指出显示模块20的至少一OCP错误(例如一或多个OCP错误)是显示模块20还是主装置10所导致，但本发明不限于此。
由于时序控制器100能产生第一OCP检测结果FDR1以及第二OCP检测结果FDR2，尤其能将第一OCP检测结果FDR1以及第二OCP检测结果FDR2存储于暂存器库134中，以供被主装置10存取(例如读取)，该方法以及相关设备(例如时序控制器100)能确保用于正确判断是显示侧还是主装置侧故障时有足够的信息是可用的，以避免相关技术的问题。因此，本发明能提供强健的故障检测机制。
图3为依据本发明一实施例示出的该方法的OCP控制方案，其中基于图3所示的OCP控制方案的显示模块300可作为图1所示的显示模块20的例子。显示模块300可包含显示面板320(其可作为显示面板20P的例子)以及耦接于显示面板320与主装置10之间的一混合型连接电路310，尤其可包含安装于显示面板320上的至少一集成电路诸如集成电路{IC(0)，IC(1)，IC(2)}。例如，上述至少一源极驱动器诸如源极驱动器20S可包含分别实施于集成电路{IC(0)，IC(1)，IC(2)}上的多个源极驱动器，以供分别对显示面板320的一显示区域的多个子区域进行显示控制，以及上述至少一栅极驱动器诸如栅极驱动器20G可包含分别实施于其他集成电路(其也可被安装于显示面板320上)上的多个栅极驱动器。另外，时序控制器100可被实施在集成电路{IC(0)，IC(1)，IC(2)}的每一者上，其中集成电路{IC(0)，IC(1)，IC(2)}的各自的故障检测电路{{FD1(0)，FD2(0)，…}，{FD1(1)，FD2(1)，…}，{FD1(2)，FD2(2)，…}}(诸如各自的BM OCP检测电路、各自的NM OCP检测电路等)以及各自的故障检测控制电路{FDC(0)，FDC(1)，FDC(2)}可分别对应于图2所示的时序控制器100的多个故障检测电路{FD1，FD2，…}(诸如该BM OCP检测电路、该NM OCP检测电路等)以及故障检测控制电路FDC。
基于显示面板320的一组预定设定，集成电路IC(0)的故障检测电路{FD1(0)，FD2(0)，…}以及故障检测控制电路FDC(0)可被使能(enable)或开启，而集成电路{IC(1)，IC(2)}的故障检测电路{{FD1(1)，FD2(1)，…}，{FD1(2)，FD2(2)，…}}以及故障检测控制电路{FDC(1)，FDC(2)}可被除能(disable)或关闭，因此，集成电路IC(0)可被称为主(master)集成电路，而集成电路{IC(1)，IC(2)}可被称为仆(slave)集成电路#1及#2，但本发明不限于此。如图3所示，混合型连接电路310可包含一脉冲频率调制(pulse-frequencymodulation，PFM)助推器(booster)电路312，并且可通过多个连接路径耦接至显示面板320，以用于在混合型连接电路310与显示面板320之间的多个信号诸如一组电压信号VSP及VSN、一组监控电压VMONP及VMONN、一组驱动电压DRVP及DRVN、故障检测信号Fail_Det等的传输，其中该多个连接路径可耦接至集成电路{IC(0)，IC(1)，IC(2)}的对应的端子(例如垫片(pad))。例如，混合型连接电路310可用柔性印刷电路(flexible printed circuit，FPC)或印刷电路板(printed circuit board，PCB)来实施，而脉冲频率调制助推器电路312可被安装在其上。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
图4示出图3所示的显示模块300的某些实施细节。混合型连接电路310可包含多个晶体管MN及MP(例如金属氧化物半导体场效晶体管(Metal Oxide Semiconductor FieldEffect Transistor，MOSFET)诸如N型及P型金属氧化物半导体场效晶体管)、多个电阻器RP及RN、多个电感器LP及LN、多个电容器CSP及CSN、以及多个二极管DP及DN，以及以上元件可被耦接以分别形成一第一子电路以及一第二子电路诸如图4所示的架构的左半部以及右半部。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
图5示出在图2所示的架构中的第一OCP检测电路FD1(诸如该BM OCP检测电路)的例子。第一OCP检测电路FD1可包含一组第一比较器510P及510N(在图5标示为“CMP”以求简明)以及耦接至该组第一比较器510P及510N的一第一逻辑门520(例如一或门(OR gate))。该组第一比较器510P及510N可将该组监控电压VMONP及VMONN分别与一组第一电压临界值THP1及THN1作比较，以分别产生一组第一比较结果。另外，第一逻辑门520可依据该组第一比较结果(例如该组第一比较器510P及510N的输出)进行一逻辑运行(例如一或运行(ORoperation))以产生第一OCP检测结果FDR1，其中第一OCP检测结果FDR1可指出该组监控电压VMONP及VMONN中的任一者(例如监控电压VMONP及VMONN中的任一者)是否达到该组第一电压临界值THP1及THN1中的一对应电压临界值，但本发明不限于此。例如，第一OCP检测结果FDR1可另指出与该组监控电压VMONP及VMONN中的所述任一者相关联的电流是否达到一对应电流临界值。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
图6示出在图2所示的架构中的第二OCP检测电路FD2(诸如该NM OCP检测电路)的例子。第二OCP检测电路FD2可包含一组第二比较器610P及610N(在图6中标示为“CMP”以求简明)以及耦接至该组第二比较器610P及620N的一第二逻辑门620(例如一或门)。该组第二比较器610P及610N可将该组监控电压VMONP及VMONN分别与一组第二电压临界值THP2及THN2作比较，以分别产生一组第二比较结果。另外，第二逻辑门620可依据该组第二比较结果(例如该组第二比较器610P及610N的输出)进行一逻辑运行(例如一或运行(ORoperation))以产生第二OCP检测结果FDR2，其中第二OCP检测结果FDR2可指出该组监控电压VMONP及VMONN中的一监控电压(例如监控电压VMONP及VMONN中的任一者)是否达到该组第二电压临界值THP2及THN2中的一对应电压临界值，但本发明不限于此。例如，第二OCP检测结果FDR2可另指出与该组监控电压VMONP及VMONN中的这个监控电压相关联的电流是否达到另一电流临界值。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
依据某些实施例，第一OCP检测结果FDR1可指出与该组监控电压VMONP及VMONN中的所述任一者相关联的电流是否达到该对应电流临界值，以及第二OCP检测结果FDR2可指出与该组监控电压VMONP及VMONN中的该监控电压相关联的电流是否达到该另一电流临界值。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
图7示出图2所示的架构中的故障检测控制电路FDC的例子。故障检测控制电路FDC可包含多个逻辑门(例如或门)诸如第一组逻辑门701(例如第一行(column)的或门)、第二组逻辑门702(例如第二行的或门)等，以及该多个逻辑门值中的最后一个逻辑门700L(例如在最后一行中的最后一个或门)可输出故障检测信号Fail_Det。该多个逻辑门可依据多个故障检测结果{FDR1，FDR2，FDR3，…}诸如第一OCP检测结果FDR1、第二OCP检测结果FDR2、其他检测结果FDR3等进行逻辑运行(例如或运行)。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
图8为依据本发明一实施例示出的该方法涉及的某些信号{VCC，LVDS_P，VS，RESET_B，STBY_B，VSP，VSN，VGL，VGH，VGMPH，VGMNH，SOURCE}的时序图，其中标示“暂存器读/写”的曲线可指出读取/写入在暂存器库134中的一或多个暂存器的运行，且标示“状态”的曲线可指出显示模块20(例如时序控制器100)的相关状态。例如，信号VCC可包含至少一电源信号(一或多个电源信号诸如VCC1、VCC2等)，信号LVDS_P可代表一低电压差分信号(lowvoltage differential signaling，LVDS)对(例如多个低电压差分信号对中的任一低电压差分信号对)，以及对应于信号{VGMPH，VGMNH}的某些额外信号可具有与信号{VGMPH，VGMNH}类似的波形，因此可忽略，但本发明不限于此。为便于理解，于显示模块20的初始化的期间，某些信号诸如信号{VSP，VSN，VGL，VGH，VGMPH，VGMNH}可自0伏特(Volt，简称“V”)被上拉或被下拉，以及当其电压电平达到这些信号的各自的目标电压电平时，这些信号的建立可被视为完成(在图8中标示为“完成”)；在一开始阶段的尚未备妥的信号VS被标示为“不予理会”(Don’t care)，并且可在一后续阶段载有某些脉冲(例如一系列的低脉冲)，其中这些脉冲的至少一部分(例如一部分或全部)可指出讯框切换(例如自某一个讯框切换至其下一个讯框)的时间点；以及主装置10可在显示模块20的初始化的其间存取(例如读取或写入)一或多个初始码；但本发明不限于此。
如图8所示，在时序控制器100的控制下，内部产生的显示信息诸如该系列BIST影像数据可包含在一BM OCP检测时期传送的一或多个BIST图样(pattern)，以供进行第一OCP检测诸如BM OCP检测，并且该BM OCP检测时期的长度可等于两个讯框的长度，但本发明不限于此。例如，该BM OCP检测时期的长度可等于两个以上的讯框的长度，而时序控制器100可依据一第一局部控制信息(例如该控制信息的一部分)控制BM OCP的讯框的数量，其中该第一局部控制信息可被存储在该组控制信息表的一控制信息表中，诸如该组控制信息暂存器的一或多组控制信息暂存器。另外，在时序控制器的控制下，内部产生的显示信息可另包含在一NM OCP检测时期传送的一或多个正常模式图样(在图8中标示为“NM图样”以求简明)，以供进行第二OCP检测诸如NM OCP检测，并且该NM OCP检测时期的长度可等于两个讯框的长度，但本发明不限于此。例如，该NM OCP检测时期的长度可等于两个以上的讯框的长度，而时序控制器100可依据一第二局部控制信息(例如该控制信息的另一部分)控制NMOCP的讯框的数量，其中该第二局部控制信息可被存储在这个控制信息表中。此外，时序控制器100可控制显示面板20P进行正常显示。例如，该正常显示可包含显示该一或多个正常模式图样以及该主装置生成显示信息诸如该系列影像数据的运行。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
依据某些实施例，该第一局部控制信息以及该第二局部控制信息可被存储在该组控制信息表中的不同的控制信息表，诸如该组控制信息暂存器中的不同的控制信息暂存器。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
依据某些实施例，在时序控制器100的控制下，该一或多个BIST图样可代表一或多个黑图样以使显示面板20P显示一黑屏(black screen)。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
为便于理解，图8所示的某些信号诸如信号{VSP，VSN，VGL，VGH，VGMPH，VGMNH}，优选为{VGMPH，VGMNH}，可作为该组驱动电压的例子，但本发明不限于此。
图9为依据本发明一实施例的该方法的流程图。图9所示的工作流程可被施加于时序控制器100(例如其内的元件)。
在步骤S10中，时序控制器可开始进行显示模块20的初始化。
在步骤S12中，在该组驱动电压已被建立后，时序控制器100(例如第一OCP检测电路FD1诸如该BM OCP检测电路)在该BIST模式中进行该第一OCP检测以产生第一OCP检测结果FDR1。
在步骤S14中，时序控制器100(例如第一OCP检测电路FD1诸如BM OCP检测电路)可将第一OCP检测结果FDR1写入暂存器库134(例如该组故障检测信息暂存器中的一或多个故障检测信息暂存器)，以供被主装置10存取(例如读取)。
在步骤S15中，时序控制器100可开始正常显示。
在步骤S16中，时序控制器100(例如第二OCP检测电路FD2诸如NM OCP检测电路)可在该正常模式中进行该第二OCP检测以产生第二OCP检测结果FDR2。
在步骤S18中，时序控制器100(例如第二OCP检测电路FD2诸如NM OCP检测电路)可将第二OCP检测结果FDR2写入暂存器库134(例如该组故障检测信息暂存器中的一或多个故障检测信息暂存器)，以供被主装置10存取(例如读取)。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
为便于理解，该方法可用图9所示的工作流程来说明，但本发明不限于此。依据某些实施例，一或多个步骤可于图9所示的工作流程中被新增、删除或修改。
表1
表1展示了在暂存器库134中的一暂存器FD_Flag的例子，其中暂存器FD_Flag可包含一组故障检测信息{PFM_NG_FAIL，OTP_FAIL，EEPROM_FAIL，GATE_FAIL，LVDS_FAIL，OCP_Fail}，且包含有故障检测信息{OCP_Fail_Normal，OCP_Fail_BIST}的故障检测信息OCP_Fail可被视为包含有两个故障检测标识OCP_Fail_BIST及OCP_Fail_Normal的一混合型故障检测标识{OCP_Fail_Normal，OCP_Fail_BIST}。时序控制器100可利用第一OCP检测结果FDR1(例如故障检测标识OCP_Fail_BIST)及第二OCP检测结果FDR2(例如故障检测标识OCP_Fail_Normal)的组合(例如混合型故障检测标识{OCP_Fail_Normal，OCP_Fail_BIST})来指出显示模块20的至少一OCP错误(例如一或多个OCP错误)是由显示模块20还是主装置10所导致。例如，{OCP_Fail_Normal，OCP_Fail_BIST}＝{0，0}可指出没有OCP错误出现(例如检测到显示面板20的正常功率消耗被检测到)，而失败原因则为不可用(not available，简称“NA”)；{OCP_Fail_Normal，OCP_Fail_BIST}＝{0，1}可指出在BIST模式中检测到异常功率消耗(例如显示面板20P的高功率消耗)；{OCP_Fail_Normal，OCP_Fail_BIST}＝{1，0}可指出来自主装置10的一或多个输入信号是错误的(例如像素时钟可能过快)；以及{OCP_Fail_Normal，OCP_Fail_BIST}＝{1，1}可指出显示面板20P的故障被检测到。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
表2
表2展示了在暂存器库134中的一暂存器OCP_BIST_Sel的例子，其中暂存器OCP_BIST_Sel可包含一组控制信息{VMONPS_BM[1：0]，VMONNS_BM[1：0]}，且该组控制信息{VMONPS_BM[1：0]，VMONNS_BM[1：0]}可被存储在该组控制信息表中的一控制信息表内(例如该组控制信息暂存器中的一控制信息暂存器，诸如暂存器OCP_BIST_Sel)。时序控制器100可依据暂存器OCP_BIST_Sel控制该组第一电压临界值THP1及THN1(例如该组监控电压VMONP及VMONN的各自的电压临界值THP1及THN1)，以控制分别与该组监控电压VMONP及VMONN相关联的电流{I_VSP，I_VSN}的各自的电流临界值{I_VSP_OCP1，I_VSN_OCP1}，并且电流{I_VSP，I_VSN}可代表自图4所示的架构的该第一子电路及该第二子电路输出的该组电压信号{VSP，VSN}的各自的电流。例如，当控制信息VMONPS_BM[1：0]等于{0，0}时，THP1＝0.06V且I_VSP_OCP1约为60毫安培(milliampere，简称“mA”)；当控制信息VMONPS_BM[1：0]等于{0，1}时，THP1＝0.07V且I_VSP_OCP1约为70mA；而其余可依此类推。又例如，当控制信息VMONNS_BM[1：0]等于{0，0}时，THN1＝0.06V且I_VSN_OCP1约为60mA；当控制信息VMONNS_BM[1：0]等于{0，1}时，THN1＝0.07且I_VSN_OCP1约为70mA；而其余可依此类推。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
表3
表3展示了在暂存器134中的一暂存器OCP_Normal_Sel的例子，其中暂存器OCP_Normal_Sel可包含一组控制信息{VMONPS_NM[1：0]，VMONNS_NM[1：0]}，且该组控制控制信息{VMONPS_NM[1：0]，VMONNS_NM[1：0]}可被存储在该组控制信息表中的一控制信息表内(例如该组控制信息暂存器中的一控制信息暂存器，诸如暂存器OCP_Normal_Sel)。时序控制器100可依据暂存器OCP_Normal_Sel控制该组第二电压临界值THP2及THN2(例如该组监控电压VMONP及VMONN的各自的电压临界值THP2及THN2)，以控制分别与该组监控电压VMONP及VMONN相关联的电流{I_VSP，I_VSN}的各自的电流临界值{I_VSP_OCP2，I_VSN_OCP2}。例如，当控制信息VMONPS_NM[1：0]等于{0，0}时，THP2＝0.4V且I_VSP_OCP2约为400mA；当控制信息VMONPS_NM[1：0]等于{0，1}时，THP2＝0.6V且I_VSP_OCP2约为600mA；而其余可依此类推。又例如，当控制信息VMONNS_NM[1：0]等于{0，0}时，THN2＝0.4V且I_VSN_OCP2约为400mA；当控制信息VMONNS_NM[1：0]等于{0，1}时，THN2＝0.6V且I_VSN_OCP2约为600mA；而其余可依此类推。为简明起见，在本实施例中的与前述实施例类似的细节在此不重复赘述。
以上所述仅为本发明的优选实施例，凡依本发明权利要求所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。

Claims (12)

1.一种用来在一显示模块中进行混合型过电流保护检测的方法，该方法包含：
于该显示模块的初始化的期间，在一组驱动电压已被建立后，在一内建自我测试模式中进行第一过电流保护检测以产生一第一过电流保护检测结果；
将该第一过电流保护检测结果写入一暂存器库，以供被一主装置存取，其中该显示模块是能应用于为该主装置显示信息；
在一正常模式中进行第二过电流保护检测以产生一第二过电流保护检测结果；以及
将该第二过电流保护检测结果写入该暂存器库，以供被该主装置存取，
其中，在该内建自我测试模式中，该显示模块依据自我生成显示控制信号来运行；以及在该正常模式中，该显示模块依据来自该主装置的主装置生成显示控制信号来运行，
并且其中，该第一过电流保护检测结果以及该第二过电流保护检测结果的组合指出该显示模块的至少一过电流保护错误是该显示模块还是该主装置所导致。
2.如权利要求1所述的方法，其中，该第一过电流保护检测结果指出肇因于该显示模块的该显示模块的一过电流保护错误是否发生。
3.如权利要求1所述的方法，其中，进行该第一过电流保护检测的步骤还包含：
将一组监控电压分别与一组第一电压临界值作比较，以产生该第一过电流保护检测结果，其中该第一过电流保护检测结果指出该组监控电压中的任一者是否达到该组第一电压临界值中的一对应电压临界值。
4.如权利要求3所述的方法，其中，该第一过电流保护检测结果还指出与该组监控电压中的所述任一者相关联的电流是否达到一对应电流临界值。
5.如权利要求3所述的方法，其中，进行该第二过电流保护检测的步骤还包含：
将该组监控电压分别与一组第二电压临界值作比较，以产生该第二过电流保护检测结果，其中该第二过电流保护检测结果指出该组监控电压中的一监控电压是否达到该组第二电压临界值中的一对应电压临界值。
6.如权利要求5所述的方法，其中，该第一过电流保护检测结果还指出与该组监控电压中的所述任一者相关联的电流是否达到一对应电流临界值；以及该第二过电流保护检测结果还指出与该组监控电压中的该监控电压相关联的电流是否达到另一电流临界值。
7.一种时序控制器，能应用于在一显示模块中进行混合型过电流保护检测，该时序控制器包含：
一通信端，用来为该时序控制器以和一主装置进行通信；
一暂存器库，耦接至该通信端，用来为该时序控制器存储信息；
一第一过电流保护检测电路，耦接至该暂存器库，其中于该显示模块的初始化的期间，在一组驱动电压已被建立后，该第一过电流保护检测电路在一内建自我测试模式中进行第一过电流保护检测以产生一第一过电流保护检测结果，并且将该第一过电流保护检测结果写入该暂存器库，以供被该主装置存取，其中该显示模块能应用于为该主装置显示信息；
一第二过电流保护检测电路，耦接至该暂存器库，用来在一正常模式中进行第二过电流保护检测以产生一第二过电流保护检测结果，并且将该第二过电流保护检测结果写入该暂存器库，以供被该主装置存取；以及
一内建自我测试信号产生器，用来产生自我生成显示控制信号；
其中：
在该内建自我测试模式中，该显示模块依据所述自我生成显示控制信号来运行；以及
在该正常模式中，该显示模块依据来自该主装置的主装置生成显示控制信号来运行，
并且其中，该第一过电流保护检测结果以及该第二过电流保护检测结果的组合指出该显示模块的至少一过电流保护错误是该显示模块还是该主装置所导致。
8.如权利要求7所述的时序控制器，其中，该第一过电流保护检测结果指出肇因于该显示模块的该显示模块的一过电流保护错误是否发生。
9.如权利要求7所述的时序控制器，其中，该第一过电流保护检测电路包含：
一组第一比较器，用来将一组监控电压分别与一组第一电压临界值作比较，以分别产生一组第一比较结果；以及
一第一逻辑门，耦接至该组第一比较器，用来依据该组第一比较结果进行一逻辑运行以产生该第一过电流保护检测结果，其中该第一过电流保护检测结果指出该组监控电压中的任一者是否达到该组第一电压临界值中的一对应电压临界值。
10.如权利要求9所述的时序控制器，其中，该第一过电流保护检测结果另指出与该组监控电压中的所述任一者相关联的电流是否达到一对应电流临界值。
11.如权利要求10所述的时序控制器，其中，该第二过电流保护检测电路包含：
一组第二比较器，用来将该组监控电压分别与一组第二电压临界值作比较，以分别产生一组第二比较结果；以及
一第二逻辑门，耦接至该组第二比较器，用来依据该组第二比较结果进行一逻辑运行以产生该第二过电流保护检测结果，其中该第二过电流保护检测结果指出该组监控电压中的一监控电压是否达到该组第二电压临界值中的一对应电压临界值。
12.如权利要求11所述的时序控制器，其中，该第一过电流保护检测结果另指出与该组监控电压中的所述任一者相关联的电流是否达到一对应电流临界值；以及该第二过电流保护检测结果还指出与该组监控电压中的该监控电压相关联的电流是否达到另一电流临界值。
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