TWI545430B - 用於設定電源供應器的保護晶片之過電流保護態樣之控制治具裝置及方法 - Google Patents
用於設定電源供應器的保護晶片之過電流保護態樣之控制治具裝置及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI545430B TWI545430B TW104115123A TW104115123A TWI545430B TW I545430 B TWI545430 B TW I545430B TW 104115123 A TW104115123 A TW 104115123A TW 104115123 A TW104115123 A TW 104115123A TW I545430 B TWI545430 B TW I545430B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- protection
- setting
- unit
- signal
- overcurrent protection
- Prior art date
Links
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
本發明是關於一種電源供應器用之一控制治具裝置,更特別地,本發明是關於一種用於設定一電源供應器的一保護晶片之一過電流保護態樣之控制治具裝置及方法。
傳統的過電流保護架構是由硬體電路設計,完全是由保護晶片及其週邊電路設計而成。零件的誤差以及電路佈局設計的誤差往往造成同一批生產出來的產品的OCP(Over Current Protection,過電流保護,以下簡稱OCP)的保護電流範圍非常不集中,甚至與預期設定相差甚遠,除了考量保護晶片本身的誤差外並且需要使用高精密度的零件(RL,RS,Ri等電阻)做匹配,因此增加零件成本;即使使用可變電阻(VR),也需要由人工於生產流程中進行調整,但仍無法避免人工手調的誤差。
雖然新一代的保護晶片本身具備可接收設定訊號的功能,控制治具可以送出啟動OCP調整的訊號,當保護晶片接受到訊號後,保護晶片會讓電源供應器(Power Supply Unit,以下簡稱PSU)開機並且進行OCP設定。所有的傳輸方式皆為單線單向,是由ATE(Automatic Test Equipment,自動測試設備,以下簡稱ATE)設定好負載後再送出觸發訊號(TTL)給控制治
具;控制治具根據該觸發訊號來送出特定固定的訊號到保護晶片的輸入腳(如PSON)。
但是,由於控制治具只用來觸發保護晶片進行設定OCP保護的訊號,在設定期間控制治具無法讀取保護晶片及PSU的狀態,且保護晶片設定完成後控制治具也無法確認寫入結果。因此一旦保護晶片在設定OCP保護的過程中有錯誤發生,控制治具當然也無法確認異常緣由,從而無法立即排除。
請參照第1圖,第1圖係顯示具有一傳統單線單向控制介面的一控制系統1a,該控制系統1a包含一自動化測試設備100、一控制治具101、一電源供應器102及一負載103,其中該電源供應器102包含一保護晶片102.1。該自動化測試設備100與該控制治具101、該電源供應器102及該負載103電連接,該自動化測試設備100可自動化地測試該電源供應器102之開、關機等功能。
在該自動化測試設備100設定完成該負載103之負載狀態後,該自動化測試設備100發送觸發訊號(TTL)至該控制治具101,此時該自動化測試設備100對該電源供應器102斷開控制;再由該控制治具101送出特定訊號至該保護晶片102.1。由於該自動化測試設備100不知道整個設定流程是否結束,因此該自動化測試設備100等待一特定時間(例如10秒)後,確定該整個設定流程結束後再重新控制該電源供應器102。由於該整個流程皆為單線單向,因此該自動化測試設備100也無從得知該設定流程是否結束。
在具有公告號I367612的台灣發明專利中,揭露了一種過電流保護電路及應用其之電源轉換器。該電源轉換器雖包含一迴授控制電
路,但該迴授控制電路並不具雙向傳輸的功能。
在具有公開號201417433的台灣發明專利申請中,揭露了一種電源供應器之過電流保護晶片及其設定方法。該專利雖揭露一過電流保護晶片,但該專利主要是利用接收一負載電流偵測訊號、一基準訊號、一單元設定資料及一比較訊號等,來進行過電流保護設定,該過電流保護晶片並未具有雙向傳輸的功能。
具有該傳統單線單向控制介面的該控制系統1a如上所述。由於目前的保護晶片不具有迴授功能,因此控制治具送出特定脈波後,後續的控制皆由保護晶片自己辨識,如此發生異常或產生誤差都無法即時偵測。
為了解決習知技術中存在的缺失,本案發明人提出一種用於設定電源供應器的保護晶片之過電流保護態樣之控制治具裝置及方法來有效改善上述缺失。本發明特殊的設計不只解決上述所提之缺失同時也易於實現,因此,本發明具有產業可利用性。
依據上述構想,本發明的一實施例提出一種電源供應器用之一控制治具裝置,其中該電源供應器包含一保護晶片。該控制治具裝置包含一控制單元,一第一傳輸線以及一第二傳輸線。其中該第一傳輸線電連接於該控制單元及該保護晶片之間並於第一情況,自該控制單元傳輸一第一訊號至該保護晶片。其中該第二傳輸線,電連接於該控制單元及該保護晶片之間,並於第二情況,自該保護晶片傳輸一第二訊號至該控制單元。
本發明之另一實施例是提供一種用於設定一電源供應器的一保護晶片之一第一過電流保護態樣之方法,其中該保護晶片電連接於一
控制治具裝置,該控制治具裝置包含一控制單元。該方法包括為該保護晶片提供一第一及第二傳輸線、一第一及第二記憶體,依據該第一及第二訊號判斷該保護晶片是否已有設定該第一過電流保護態樣,如無,將該第一過電流保護態樣設定於該第一記憶體,以及如該保護晶片需一第二過電流保護態樣,將該第二過電流保護態樣設定於該第二記憶體。其中該第一及第二傳輸線電連接於該控制治具裝置,該第一傳輸線於第一情況,自該控制單元傳輸一第一訊號至該保護晶片,且該第二傳輸線於第二情況自該保護晶片傳輸一第二訊號至該控制單元。
本發明還有一個實施例是提供一種用於設定一電源供應器的一保護晶片之一第一過電流保護態樣之方法,其中該保護晶片電連接於一控制治具裝置。該方法包括為該保護晶片提供一傳輸線、一第一及第二記憶體,依據該第一及第二訊號判斷該保護晶片是否已有設定該第一過電流保護態樣,如無,將該第一過電流保護態樣設定於該第一記憶體,以及如該保護晶片需一第二過電流保護態樣,將該第二過電流保護態樣設定於該第二記憶體。其中該控制治具裝置包含一控制單元,該傳輸線電連接於該控制單元,該傳輸線於第一情況,自該控制單元傳輸一第一訊號至該保護晶片,且於第二情況自該保護晶片傳輸一第二訊號至該控制單元。
本發明之又一實施例是提供一種電源供應器用之一控制治具裝置,其中該電源供應器包含一保護晶片。該控制治具裝置包含一控制單元,以及一傳輸線。其中該傳輸線電連接於該控制單元及該保護晶片之間,並於第一情況,自該控制單元傳輸一第一訊號至該保護晶片,於第二情況自該保護晶片傳輸一第二訊號至該控制單元。
本發明得藉由下列實施例及圖示說明,俾得本領域具一般知識者更深入之了解上述之目的與優點。
1a‧‧‧傳統單線單向控制介面
2a‧‧‧雙線單向控制介面
3a-1‧‧‧單線雙向控制介面
3a-2~3a-3‧‧‧多單元自動辨識功能之程序
3a-4~3a-5‧‧‧多次重工之程序
4a-1‧‧‧第一例示性實施例結構示意圖
4a-2‧‧‧第二例示性實施例結構示意圖
100、200、300、500‧‧‧自動化測試設備
101‧‧‧控制治具
102、202、302‧‧‧電源供應器
103、203、303‧‧‧負載
102.1、202.1、302.1、402.1、403.1‧‧‧保護晶片
201、301、401、501‧‧‧控制治具裝置
201.1、301.1、401.1‧‧‧控制單元
310~314、320~324‧‧‧步驟
401.2‧‧‧邏輯分析運算單元
401.3‧‧‧記錄單元
401.4‧‧‧除錯單元
502‧‧‧指示燈
503‧‧‧狀態顯示器
504‧‧‧模式開關
505‧‧‧通訊埠
506‧‧‧啟動按鈕
A1‧‧‧第一過電流保護態樣
A2‧‧‧第二過電流保護態樣
An‧‧‧第N過電流保護態樣
G1‧‧‧第一設定單元
G2‧‧‧第二設定單元
G3‧‧‧第三設定單元
Gp‧‧‧過電流保護設定目標單元
Gn‧‧‧第N設定單元
G11‧‧‧第一設定單元之第一記憶體
G12‧‧‧第一設定單元之第二記憶體
G21‧‧‧第二設定單元之第一記憶體
G22‧‧‧第二設定單元之第二記憶體
G31‧‧‧第三設定單元之第一記憶體
G32‧‧‧第三設定單元之第二記憶體
G1n‧‧‧第一設定單元之第N記憶體
H1‧‧‧設定訊號
K1‧‧‧觸發訊號
P‧‧‧過電流保護設定
S1‧‧‧第一訊號
S2‧‧‧第二訊號
S3‧‧‧第三訊號
S4‧‧‧第四訊號
T1‧‧‧第一傳輸線
T2‧‧‧第二傳輸線
Tx‧‧‧傳輸線
第1圖為具有一傳統單線單向控制介面的控制系統的示意圖;第2圖為根據本發明之第一例示性實施例之具有一雙線單向控制介面的一控制系統的示意圖;第3(a)圖係顯示本發明之第二例示性實施例之具有一單線雙向控制介面的一控制系統的示意圖;第3(b)圖係顯示執行多單元數自動辨識功能之程序之第一例示性實施例流程圖;第3(c)圖係顯示執行多單元數自動辨識功能之程序之第二例示性實施例流程圖;第3(d)圖係顯示執行多次重工之程序之第一例示性實施例流程圖;第3(e)圖係顯示執行多次重工之程序之第二例示性實施例流程圖;第4(a)圖係顯示本發明之一控制治具裝置與一保護晶片之第一例示性實施例結構示意圖;第4(b)圖係顯示本發明之一控制治具裝置與一保護晶片之第二例示性實施例結構示意圖;以及第5圖係顯示本發明之一控制治具裝置之示意圖。
本案所提出之發明將可由以下的實施例說明而得到充分暸解,使得熟悉本技藝之人士可以據以完成之。然而,本領域普通技術人員將會認識到,可以在沒有一個或者多個特定細節的情況下實踐本發明。在下文所述的特定實施例代表本發明的示例性實施例,並且本質上僅為示例說明而非限制。本說明書中公開的所有特徵,或公開的所有方法或過程中的步驟,除了互相排斥的特徵和/或步驟以外,均可以以任何方式組合。
本發明之創作目的為改進傳統的過電流保護架構,其以人力調整可變電阻,既費時又耗費人工成本,尤其調整精度無法統一控制;再加上習知技術為單線單向應用,僅用於提供保護晶片的觸發訊號使用,無法監測保護晶片狀態也無法變更治具設定流程。
本發明主要是藉由一個可程式化的控制治具,配合具備可自動調整電流保護的保護晶片,並於習知技術新增一迴授訊號,改以單線雙向或雙線單向的方式達到傳輸與迴授之效果。控制治具本身具有可程式化的控制功能,除了用來設定輸出的保護電流外,針對特定的保護晶片還同時具有多單元自動判定以及多次重工、偵錯、記憶資料等功能,更可相容於所有自動化或非自動化環境。
請參照第2圖,第2圖係顯示本發明之第一例示性實施例之具有一雙線單向控制介面的一控制系統2a。在第2圖中,該控制系統2a包含一自動化測試設備200、一控制治具裝置201、一電源供應器202、一第一傳輸線T1、一第二傳輸線T2及一負載203。該電源供應器202包含一保護晶片202.1,該控制治具裝置201包含一控制單元201.1。在第2圖中,該自動化測
試設備200耦接於該控制治具裝置201、該電源供應器202及該負載203,而該電源供應器202耦接於該負載203。該控制單元201.1經由該第一傳輸線T1及該第二傳輸線T2與該保護晶片202.1電連接。
本發明之該控制治具裝置201具備自動化之啟動方式。控制系統2a的自動化架構包含多個連接器(線材),該多個連接器(線材)將可編程的該自動化測試設備200連接到該控制治具裝置201、該負載203和該電源供應器202,以便該自動化測試設備200進行控制。該自動化測試設備200可以送出觸發訊號K1(TTL訊號)啟動該控制治具裝置201,送出設定訊號H1以自動化設定該負載203以模擬該電源供應器202所需之負載值,並且可以針對該電源供應器202進行電源系統的全功能驗證(例如像是開機、關機以及效能等),以達到全自動化測試流程。
該自動化測試設備200亦可送出觸發信號K1以啟動該控制治具裝置201。該控制治具裝置201只在當要設定該保護晶片202.1時才會被啟動,當該自動化測試設備200送出觸發信號K1以啟動該控制治具裝置201時,該自動化測試設備200同時斷開對該電源供應器202控制的動作。
請再回到第2圖,當該控制治具裝置201接收到該自動化測試設備200送出之觸發信號K1時,即進入第一情況,此時該控制單元201.1會經由該第一傳輸線T1傳輸一第一訊號S1至該保護晶片202.1。由於該負載203為直接耦接於該電源供應器202,因此只有該電源供應器202之該保護晶片202.1能偵測到該負載203被設定的數值。透過傳輸該第一訊號S1至該保護晶片202.1以探詢該第一訊號S1是否與該負載203的數值相吻合。
於第二情況時,該保護晶片202.1在接收該第一訊號S1後,
該保護晶片202.1會經由該第二傳輸線T2,迴授一第二訊號S2至該控制單元201.1。例如當該負載203被設定為具有15A的負載電流,則該控制單元201.1透過傳輸該第一訊號S1(例如,代表10A的負載電流),至該保護晶片202.1,因10A與15A並不吻合,該保護晶片202.1經由該第二傳輸線T2,迴授該第二訊號S2告知該第一訊號S1所代表的值不合。在該控制單元201.1收到該第二訊號S2後,會再送出代表11A之該第一訊號S1再次探詢。經由不斷的嘗試與錯誤來達到類似於傳統可變電阻調整之效果。
第一例示性實施例之控制系統2a的應用原理為利用該保護晶片202.1原有的PSON接腳來作為該第一傳輸線T1的連接端,再利用PGO(Power Good)接腳來作為該第二傳輸線T2的連接端,以增加迴授訊號。
請參照第3(a)圖,第3(a)圖係顯示本發明之第二例示性實施例之具有一單線雙向控制介面的一控制系統3a-1的示意圖。在第3(a)圖中,具有該單線雙向控制介面的該控制系統3a-1包含一自動化測試設備300、一控制治具裝置301、一電源供應器302、一傳輸線Tx及一負載303。其中該電源供應器302包含一保護晶片302.1,該保護晶片302.1包含一第一設定單元G1、一第二設定單元G2及一第三設定單元G3,而該控制治具裝置301包含一控制單元301.1。該第一設定單元G1包含一第一設定單元之第一記憶體G11及一第一設定單元之第二記憶體G12;該第二設定單元G2包含一第二設定單元之第一記憶體G21及一第二設定單元之第二記憶體G22;以及該第三設定單元G3包含一第三設定單元之第一記憶體G31及一第三設定單元之第二記憶體G32。
如第3(a)圖所示,該自動化測試設備300耦接於該控制治具
裝置301、該電源供應器302及該負載303,而該電源供應器302耦接於該負載303。該控制單元301.1經由該傳輸線Tx與該保護晶片302.1電連接。具有該單線雙向控制介面的控制系統3a-1與具有該雙線單向控制介面的控制系統2a之主要區別技術特徵為,該控制單元301.1只經由一條傳輸線Tx與該保護晶片302.1電連接。由於部份的保護晶片並不具有PGO接腳,因此採取訊號共用的方式。本發明之控制系統3a-1可應用於只有PSON接腳之保護晶片。
在本發明之一實施例中,該控制單元301.1為微處理器。該控制單元301.1可經由送出指令至該保護晶片302.1以詢問該保護晶片302.1是否具有PGO接腳,再根據來自該保護晶片302.1的回傳訊號來決定要採用單線雙向介面或雙線單向介面。
請參照第3(b)圖,第3(b)圖係顯示執行多單元自動辨識功能之程序3a-2之第一例示性實施例流程圖。請額外參照第3(a)圖。該控制治具裝置301根據接收自該保護晶片302.1之迴授訊號可進行多單元自動辨識功能以進行一過電流保護設定P。該程序3a-2是敘述如下。在步驟310中,該控制單元301.1經由該傳輸線Tx傳輸一第一訊號S1至該保護晶片302.1以詢問要對哪個設定單元(該第一設定單元G1、該第二設定單元G2及該第三設定單元G3的其中之一)進行過電流保護設定。在步驟311中,該保護晶片302.1自為判斷並確認一過電流保護設定目標單元Gp(如第3(b)圖所示即該第一設定單元G1)。
接著,在步驟312中,該保護晶片302.1經由該傳輸線Tx迴授代表該過電流保護設定目標單元Gp的一第二訊號S2至該控制單元301.1。在步驟313中,該控制單元301.1經由該傳輸線Tx對該過電流保護設定目標單元
Gp進行該過電流保護設定P。在步驟314中,該控制單元301.1完成對該保護晶片302.1之該過電流保護設定P。
該電源供應器302具備分別供應多個輸出電流給多個負載的能力,例如輸出電流至硬碟、中央處理器及顯示卡的其中至少一個。該保護晶片302.1能夠針對該多個輸出電流進行各自的過電流保護設定。當使用者決定好要對哪個設定單元(該被決定好的設定單元即之後會被該保護晶片302.1指定為過電流保護設定目標單元Gp)進行該過電流保護設定P後,即於該自動化測試設備300進行設定。以該第一設定單元G1代表負責供應輸出電流至硬碟、該第二設定單元G2代表負責供應輸出電流至中央處理器及該第三設定單元G3代表負責供應輸出電流至顯示卡為例(該負載303內部分別會有三個與該第一設定單元G1、該第二設定單元G2及該第三設定單元G3相對應的模擬單元),如使用者決定對該第一設定單元G1進行過電流保護設定,又該硬碟需要18A的電流,則該自動化測試設備300即會對該負載303進行模擬成該硬碟(不會對中央處理器及顯示卡進行模擬,一次一組)。
此時該自動化測試設備300即會將該第一設定單元G1相對應的模擬單元設定為需要18A電流的負載,對其他兩個模擬單元設定為需要1A電流的負載。該負載303即會對該第一設定單元G1抽載18A電流,此時該保護晶片302.1能明顯辨識出此時該對該第一設定單元G1進行過電流保護設定(18A電流代表高電壓訊號,1A電流代表低電壓訊號)。首先,該控制治具裝置301使用具有迴授功能之該傳輸線Tx送出該第一訊號S1到該保護晶片302.1;然後,該保護晶片302.1迴授該第二訊號S2到該控制單元301.1以確認該保護晶片302.1的該過電流保護設定目標單元Gp(即於本例為該第一設
定單元G1);然後,該控制單元301.1針對該過電流保護設定單元Gp進行該過電流保護設定P。
請參照第3(c)圖,第3(c)圖係顯示執行多單元自動辨識功能之程序3a-3之第二例示性實施例流程圖。請額外參照第3(a)圖。該保護晶片302.1更可延伸至包含該第一設定單元G1至一第N設定單元Gn。該程序3a-3是敘述如下。在步驟310中,該控制單元301.1經由該傳輸線Tx傳輸該第一訊號S1至該保護晶片302.1以詢問要對哪個設定單元(或過電流保護設定目標單元Gp)(該第一設定單元G1至該第N設定單元Gn其中之一)進行過電流保護設定。在步驟311中,該保護晶片302.1自為判斷及確認該過電流保護設定目標單元Gp。
接著,在步驟312中,該保護晶片302.1經由該傳輸線迴授代表該過電流保護設定目標單元Gp的該第二訊號S2至該控制單元301.1。在步驟313中,該控制單元301.1經由該傳輸線Tx對該過電流保護設定目標單元Gp進行該過電流保護設定P。在步驟314中,該控制單元301.1完成對該保護晶片302.1之該過電流保護設定P。
該程序3a-2與該程序3a-3之主要區別技術特徵是該保護晶片302.1可延伸到包含該第1設定單元G1至該第N設定單元Gn。
請參照第3(d)圖,第3(d)圖係顯示執行多次重工之程序3a-4之第一例示性實施例流程圖。該控制治具裝置301根據接收自該保護晶片302.1之迴授訊號可進行多次重工功能。該程序3a-4是敘述如下。在步驟320中,該控制單元301.1經由該傳輸線Tx傳輸一第三訊號S3至該保護晶片302.1以了解該第一設定單元G1內之該第一設定單元之第一記憶體G11的儲存狀
況。在步驟321中,該保護晶片302.1根據該第一設定單元之第一記憶體G11的該儲存狀況來迴授代表該第一設定單元之第一記憶體G11的該儲存狀況的一第四訊號S4至該控制單元301.1;當該第一設定單元之第一記憶體G11之資料是在過電流保護未設定狀態中時(為空時),即表示無進行過該過電流保護設定P,則進入步驟322。在步驟322中,該控制單元301.1對該第一設定單元之第一記憶體G11進行初次之一第一過電流保護態樣A1的寫入。其中該第一過電流保護態樣A1代表例如像是保護點為18A的電流。
當該第一設定單元之第一記憶體G11是在過電流保護已設定狀態中時(為有資料時),則進入步驟323。在步驟323中,該保護晶片302.1根據該第一設定單元之第二記憶體G12的儲存狀況來迴授代表該第一設定單元之第二記憶體G12的儲存狀況的一第四訊號S4至該控制單元301.1;當該第一設定單元之第二記憶體G12是在過電流保護未設定狀態中時(資料為空時),則回到步驟322;在步驟322中,該控制單元301.1對該第一設定單元之第二記憶體G12進行一第二過電流保護態樣A2的寫入,此即二次重工,其中該第二過電流保護態樣A2代表例如像是保護點為16A的電流。
請參照第3(e)圖,第3(e)圖係顯示執行多次重工之程序3a-5之第二例示性實施例流程圖。該程序3a-5與該程序3a-4之區別技術特徵為步驟324。該第一設定單元G1可包含該第一設定單元之第一記憶體G11至一第一設定單元之第N記憶體G1n,該第二設定單元G2以及該第三設定單元G3亦可包含至第N記憶體。因此該控制治具裝置301本身亦同時具備多次重工的功能。針對特定設定單元,該控制治具裝置301需要知道哪一次要寫入哪一設定單元,因此需具備辨識第幾次進行該過電流保護設定P(重工)的功能。
由於當拿到該保護晶片302.1時不知道該保護晶片302.1進行過幾次該過電流保護設定P,該控制治具裝置301要能傳送指令至該保護晶片302.1才能夠知道該保護晶片302.1的該特定設定單元寫過幾次,假如已寫過了一次,那即進行第二次的寫入(即二次重工)。以該第一設定單元G1為例,該控制治具裝置301會針對該第一設定單元G1來依序送出不同的指令到該保護晶片302.1(即步驟320);該保護晶片302.1首先會根據該第一設定單元之第一記憶體G11的儲存狀況,將代表該第一設定單元之第一記憶體G11的儲存狀況的資料經迴授該第二訊號S2而傳回該控制治具裝置301(即步驟321)。當該控制治具裝置301接收到該保護晶片302.1的該第二訊號S2時,可以依照該第二訊號S2自動判定需進行寫入的重工順序(即步驟322)。
當該第一設定單元之第一記憶體G11是在過電流保護已設定狀態中時(為有資料時),則進行步驟323;當該第一設定單元之第二記憶體G12是在過電流保護已設定狀態中時(為有資料時),則進行第三次重工,以此方式進行,可以直到進入步驟324;及對該第一設定單元之第N記憶體G1n進行一第N過電流保護態樣An的寫入。
請參照第4(a)圖,第4(a)圖係顯示本發明之一控制治具裝置401與一保護晶片402.1之第一例示性實施例結構4a-1示意圖。在第4(a)圖中之結構4a-1包含該控制治具裝置401、一第一傳輸線T1、一第二傳輸線T2及該保護晶片402.1。該控制治具裝置401包含一控制單元401.1、一邏輯分析運算單元401.2、一記錄單元401.3及一除錯單元401.4。其中該第一傳輸線T1係用來控制電源供應器(Power Supply Unit,PSU)的遠端開啟(On)及關閉(Off),該第二傳輸線T2係用來顯示PSU的狀態。於實務應用上,該第一傳
輸線T1可於PSON接腳上來實現,該第二傳輸線T2可於PGO接腳來加以實現。
重新回到第4(a)圖,該控制單元401.1耦接於該邏輯分析運算單元401.2以進行雙向讀寫;該控制單元401.1耦接於該記錄單元401.3以進行資料儲存;該控制單元401.1同時耦接於該除錯單元401.4以進行雙向讀寫;該邏輯分析運算單元401.2經由該第一傳輸線T1與該保護晶片402.1電連接,並傳輸一第一訊號S1;該保護晶片402.1經由該第二傳輸線T2與該邏輯分析運算單元401.2電連接,並迴授一第二訊號S2。
本發明之該控制治具裝置401為一可程式化的控制治具。該控制治具裝置401主要功能是藉由傳輸該第一訊號S1來進行OCP(過電流保護)設定,並將迴授自該保護晶片402.1的該第二訊號S2解讀後自動判定進行下一步驟,如此反覆運作達到OCP設定之目的。另外該控制治具裝置401還具備偵錯、記憶等功能。
該控制單元401.1之功能為設定過程中對PSU(電源供應器)的保護晶片進行OCP參數校正與數據取得,並將PSU的開/關機程序加以自動化。
該記錄單元401.3之功能為針對每一次在該控制單元401.1與該保護晶片402.1間進行的該第一訊號S1之傳輸與該第二訊號S2之迴授狀況進行儲存。甚至,該記錄單元401.3延伸到對錯誤現象進行儲存,且可轉換數值資料與錯誤代碼儲存於該控制治具裝置401中,可作為參考資料使用。上述之錯誤現象為基於使用者預先所設定的條件情況下(例如電源異常),進行轉換數值資料與儲存於該記錄單元401.3。
該除錯單元401.4包括下述功能。由於該控制治具裝置401可以監控傳送訊號與迴授訊號兩者,因此具備偵錯功能,因此避免設定過程中發生非預期錯誤;當發生異常時,控制治具401可以提供警告訊息(如錯誤代碼)以方便使用者加速排除異常現象。上述之非預期錯誤例如像是在正常流程下,電源或訊號出現問題時。
該邏輯分析運算單元401.2包括下述功能。該邏輯分析運算單元401.2接收來自該保護晶片402.1作為迴授訊號的該第二訊號S2,並使用特定的演算法對該第二訊號S2進行處理,將經處理資料解析後所獲得的經解析資料傳送給該控制單元401.1以進行判定。由於該第二訊號S2為二進位訊號(0和1),該演算法的作用為在該二進位訊號上進行特殊處理以避免雜訊。一方面透過持續的雙向溝通來確認保護點(例如18A的電流)。有別於習知用人工的方式除錯,而採用數位的方式予以改良。
請參照第4(b)圖,第4(b)圖係顯示本發明之一控制治具裝置401與一保護晶片402.1之第二例示性實施例結構4a-2示意圖。在第4(b)圖中之結構4a-2包含該控制治具裝置401、一傳輸線Tx及該保護晶片403.1。需要說明的是,該保護晶片403.1係有別於第一例示性實施例結構4a-1中之該保護晶片402.1,如4(b)圖所示,該保護晶片403.1係只有單一接腳。其中該控制治具裝置401包含一控制單元401.1、一邏輯分析運算單元401.2、一記錄單元401.3及一除錯單元401.4。第二例示性實施例結構4a-2與第一例示性實施例結構4a-1的主要區別技術特徵為傳輸線的數量。第二例示性實施例結構示意圖4a-2只應用了單一傳輸線,即該傳輸線Tx。即此結構為應用在只有單一接腳(例如PSON)而無第二接腳(例如PGO)之保護晶片。該傳輸線Tx同時
具有傳輸該第一訊號S1及迴授該第二訊號S2的功能。
請參照第5圖,第5圖係顯示本發明之一控制治具裝置501之示意圖。該控制治具裝置501包含一指示燈502、一狀態顯示器503、一模式開關504、一通訊埠505以及一啟動按鈕506,其中該通訊埠505耦接於一自動化測試設備500。本發明之該控制治具裝置501亦具備非自動化之啟動方式,即研發人員或生產人員以人工方式進行負載設定後,經由該啟動按鈕506以啟動該控制治具裝置501進行OCP設定流程,並可依照生產流程架設於任一非自動化的測試環境或是研發人員的測試環境。該模式開關504為用於切換第一次過電流保護態樣之寫入與第二次過電流保護態樣之寫入。
請再回到第5圖,該指示燈502係在該控制治具裝置501完成校準後,用於指示操作狀態最後的指示燈。當該控制治具裝置501校準成功後則發出綠光,失敗則發出紅光。該狀態顯示器503即在正常流程下可顯示寫入結果,若發生異常時則用錯誤碼顯示出來。該控制治具裝置501經由該通訊埠505與該自動化測試設備500連接,以達到與自動化測試環境結合。如此之設計具有可依照生產流程架設於任一非自動化的測試環境或是研發人員的測試環境之優點。
1.一種電源供應器202用之一控制治具裝置201,該控制治具裝置201包含一控制單元201.1、一第一傳輸線T1以及一第二傳輸線T2。該電源供應器202包含一保護晶片202.1,該第一傳輸線T1電連接於該控制單元201.1及該保護晶片202.1之間,其中該第一傳輸線T1於第一情況,自該控制單元201.1傳輸一第一訊號S1至該保護晶片202.1。該第二傳輸線T2電連接
於該控制單元201.1及該保護晶片202.1之間,其中該第二傳輸線T2於第二情況,自該保護晶片202.1傳輸一第二訊號S2至該控制單元201.1。
2.如實施例1所述的控制治具裝置201,其中:該保護晶片202.1更具有一第一設定單元G1及一第二設定單元G2;該控制單元201.1經由傳輸該第一訊號S1以詢問該保護晶片202.1要對於該第一設定單元G1及該第二設定單元G2的其中之一進行一過電流保護設定P;以及該保護晶片202.1自為判斷後選擇該第一設定單元G1及該第二設定單元G2的其中之一以作為一過電流保護設定目標單元Gp,並傳輸代表該過電流保護設定目標單元Gp的該第二訊號S2至該控制單元201.1以對於該過電流保護設定目標單元Gp進行該過電流保護設定P。
3.如實施例1或2所述的控制治具裝置201,其中:該過電流保護設定目標單元Gp具有一第一及第二記憶體;該控制單元201.1對該過電流保護設定目標單元Gp傳輸該第一訊號S1以詢問是否已有設定一第一過電流保護態樣A1;如無,將該第一過電流保護態樣A1設定於該第一記憶體;以及如該過電流保護設定目標單元Gp需一第二過電流保護態樣A2,將該第二過電流保護態樣A2設定於該第二記憶體。
4.如實施例1~3其中之一所述的控制治具裝置201更包含:一邏輯分析運算單元401.2、一狀態顯示器503、一記錄單元401.3以及一除錯單元401.4。該邏輯分析運算單元401.2儲存有一演算法,用以對該第二訊號S2進行運算。該狀態顯示器503用於顯示一錯誤代碼。該記錄單元401.3用於記錄該第一訊號S1及該第二訊號S2。該除錯單元401.4儲存有一預設錯誤代碼表,當發生異常時將對應的錯誤代碼顯示於該狀態顯示器503
上。
5.如實施例1~4其中之一所述的控制治具裝置201,其中:該第一傳輸線T1係用來控制該電源供應器的遠端開啟及關閉,該第二傳輸線T2係用來顯示該電源供應器的狀態;該控制治具裝置201更耦接於一可編程的自動化測試機台200,其中該可編程的自動化測試機台200耦接於一負載203及該電源供應器202,該負載203耦接於該電源供應器202;該可編程的自動化測試機台200經由傳輸一觸發訊號K1至該控制治具裝置201以自動化進行該過電流保護設定P;以及該可編程的自動化測試機台200經由傳輸一設定訊號H1至該負載203以自動化進行設定。
6.如實施例1~5其中之一所述的控制治具裝置201,其中:該負載203可經由該可編程的自動化測試機台200進行自動設定或經由人工進行手動設定;以及該控制治具裝置201更包含一啟動按鈕501以用於手動設定時啟動該控制治具裝置201。
7.一種用於設定一電源供應器202的一保護晶片202.1之一第一過電流保護態樣A1之方法,其中該保護晶片202.1電連接於一控制治具裝置201,該控制治具裝置201包含一控制單元201.1,該方法包括:為該保護晶片202.1提供一第一傳輸線T1及一第二傳輸線T2、一第一及第二記憶體,其中該第一傳輸線T1及該第二傳輸線T2電連接於該控制治具裝置201,該第一傳輸線T1於第一情況,自該控制單元201.1傳輸一第一訊號S1至該保護晶片202.1,且該第二傳輸線T2於第二情況自該保護晶片202.1傳輸一第二訊號S2至該控制單元201.1;依據該第一及第二訊號判斷該保護晶片202.1是否已有設定該第一過電流保護態樣A1;如無,將該第一過電流保護態樣A1
設定於該第一記憶體;以及如該保護晶片需一第二過電流保護態樣A2,將該第二過電流保護態樣A2設定於該第二記憶體。
8.一種用於設定一電源供應器202的一保護晶片102.1之一第一過電流保護態樣A1之方法,其中該保護晶片202.1電連接於一控制治具裝置201,該方法包括:為該保護晶片202.1提供一傳輸線Tx、一第一及第二記憶體,其中該控制治具裝置201包含一控制單元201.1,該傳輸線Tx電連接於該控制單元201.1,該傳輸線Tx於第一情況,自該控制單元201.1傳輸一第一訊號S1至該保護晶片202.1,且於第二情況自該保護晶片202.1傳輸一第二訊號S2至該控制單元201.1;依據該第一及第二訊號判斷該保護晶片202.1是否已有設定該第一過電流保護態樣A1;如無,將該第一過電流保護態樣A1設定於該第一記憶體;以及如該保護晶片202.1需一第二過電流保護態樣A2,將該第二過電流保護態樣A2設定於該第二記憶體。
9.一種電源供應器202用之一控制治具裝置201,其中該電源供應器202包含一保護晶片202.1,該控制治具裝置201包含一控制單元201.1以及一傳輸線Tx。該傳輸線Tx電連接於該控制單元201.1及該保護晶片202.1之間,其中該傳輸線Tx於第一情況,自該控制單元201.1傳輸一第一訊號S1至該保護晶片202.1,且於第二情況自該保護晶片202.1傳輸一第二訊號S2至該控制單元201.1。
如實施例9所述的控制治具裝置201,其中:該保護晶片202.1更具有一第一設定單元G1及一第二設定單元G2;該控制單元201.1經由傳輸該第一訊號S1以詢問該保護晶片202.1要對於該第一設定單元G1及該第二設定單元G2的其中之一進行一過電流保護設定P;以及該保護晶片202.1自
為判斷後選擇該第一設定單元G1及該第二設定單元G2的其中之一以作為一過電流保護設定目標單元Gp,並傳輸代表該過電流保護設定目標單元Gp的該第二訊號S2至該控制單元201.1以對於該過電流保護設定目標單元Gp進行該過電流保護設定P。
綜上所述,本發明的說明與實施例已揭露於上,然其非用來限制本發明,凡習知此技藝者,在不脫離本發明的精神與範圍之下,當可做各種更動與修飾,其仍應屬在本發明專利的涵蓋範圍之內。
4a-2‧‧‧第二例示性實施例結構示意圖
401‧‧‧控制治具裝置
401.1‧‧‧控制單元
401.2‧‧‧邏輯分析運算單元
401.3‧‧‧記錄單元
401.4‧‧‧除錯單元
403.1‧‧‧保護晶片
S1‧‧‧第一訊號
S2‧‧‧第二訊號
Tx‧‧‧傳輸線
Claims (8)
- 一種電源供應器用之一控制治具裝置,其中該電源供應器包含一保護晶片,具備供應一第一輸出電流給一第一負載的能力,並具備供應一第二輸出電流給不同於該第一負載之一第二負載的能力,該控制治具裝置包含:一控制單元;一第一傳輸線,電連接於該控制單元及該保護晶片之間,其中該第一傳輸線於第一情況,自該控制單元傳輸一第一訊號至該保護晶片;以及一第二傳輸線,電連接於該控制單元及該保護晶片之間,其中該第二傳輸線於第二情況,自該保護晶片傳輸一第二訊號至該控制單元,其中:該保護晶片具有一第一設定單元及一第二設定單元;該控制單元藉由傳輸該第一訊號來詢問該保護晶片要對於該第一及第二設定單元的其中之一進行一過電流保護設定;該保護晶片自為判斷後選擇該第一及該第二設定單元的其中之一以作為一過電流保護設定目標單元,並傳輸代表該過電流保護設定目標單元的該第二訊號至該控制單元;以及該控制單元根據該第二訊號來經由該第一傳輸線使該保護晶片對於該過電流保護設定目標單元進行一過電流保護設定,其中當該過電流保護設定目標單元是該第一設定單元時,該控制單元使該保護晶片使用該第一設定單元以進行相關於該第一輸出電流的該過電流保護設定,且當該過電流保護設定目標單元是該第二設定單元時,該控制單元使該保護晶片使用該第二設定單元以進行相關於該第二輸出電流的該過電流保護設定。
- 如申請專利範圍第1項所述之控制治具裝置,其中:該過電流保護設定目標單元具有一第一記憶體及一第二記憶體; 該控制單元對該過電流保護設定目標單元傳輸該第一訊號以詢問是否已有設定一第一過電流保護態樣;如無,將該第一過電流保護態樣設定於該第一記憶體;以及如該過電流保護設定目標單元需一第二過電流保護態樣,將該第二過電流保護態樣設定於該第二記憶體。
- 如申請專利範圍第1項所述之控制治具裝置,更包含:一邏輯分析運算單元,儲存有一演算法,用以對該第二訊號進行運算;一狀態顯示器,用於顯示一錯誤代碼;一記錄單元,用於記錄該第一訊號及該第二訊號;以及一除錯單元,儲存有一預設錯誤代碼表,當發生異常時將對應的錯誤代碼顯示於該狀態顯示器上。
- 如申請專利範圍第1項所述之控制治具裝置,其中:該第一傳輸線係用來控制該電源供應器的遠端開啟及關閉,該第二傳輸線係用來顯示該電源供應器的狀態;該控制治具裝置更耦接於一可編程的自動化測試機台,其中該可編程的自動化測試機台耦接於該第一負載及該電源供應器,該第一負載耦接於該電源供應器;該可編程的自動化測試機台經由傳輸一觸發訊號至該控制治具裝置以自動化進行該過電流保護設定;以及該可編程的自動化測試機台經由傳輸一設定訊號至該第一負載以自動化進行設定。
- 如申請專利範圍第4項所述之控制治具裝置,其中:該第一負載可經由該可編程的自動化測試機台進行自動設定或經由人工進行手動設定;以及該控制治具裝置更包含一啟動按鈕以用於手動設定時啟動該控制 治具裝置。
- 一種用於設定一電源供應器的一保護晶片之一第一過電流保護態樣之方法,其中該保護晶片電連接於一控制治具裝置,該控制治具裝置包含一控制單元,且該電源供應器具備供應一輸出電流給一負載的能力,該方法包括:為該保護晶片提供一第一及第二傳輸線、一第一記憶體及一第二記憶體,其中該第一及第二傳輸線電連接於該控制治具裝置,該第一傳輸線於第一情況,自該控制單元傳輸一第一訊號至該保護晶片,且該第二傳輸線於第二情況自該保護晶片傳輸一第二訊號至該控制單元,其中該控制單元藉由傳輸該第一訊號來詢問該第一記憶體的儲存狀況,且該第二訊號代表該第一記憶體的該儲存狀況;依據該第二訊號判斷該保護晶片是否已有設定該第一過電流保護態樣,其中該第一過電流保護態樣代表相關於該輸出電流的一第一保護點電流;當判斷該保護晶片是否已有設定該第一過電流保護態樣的一判斷結果是否定時,經由該第一傳輸線將該第一過電流保護態樣設定於該第一記憶體;以及當該判斷結果是肯定且該保護晶片需一第二過電流保護態樣時,經由該第一傳輸線將該第二過電流保護態樣設定於該第二記憶體,其中該第二過電流保護態樣代表相關於該輸出電流的一第二保護點電流,且該第二保護點電流不同於該第一保護點電流。
- 一種用於設定一電源供應器的一保護晶片之一第一過電流保護態樣之方法,其中該保護晶片電連接於一控制治具裝置,且該電源供應器具備供應一輸出電流給一負載的能力,該方法包括:為該保護晶片提供一傳輸線、一第一記憶體及一第二記憶體,其中該控制治具裝置包含一控制單元,該傳輸線電連接於該控制單元,該傳 輸線於第一情況,自該控制單元傳輸一第一訊號至該保護晶片,且於第二情況自該保護晶片傳輸一第二訊號至該控制單元,其中該控制單元藉由傳輸該第一訊號來詢問該第一記憶體的儲存狀況,且該第二訊號代表該第一記憶體的該儲存狀況;依據該第二訊號判斷該保護晶片是否已有設定該第一過電流保護態樣,其中該第一過電流保護態樣代表相關於該輸出電流的一第一保護點電流;當判斷該保護晶片是否已有設定該第一過電流保護態樣的一判斷結果是否定時,經由該傳輸線將該第一過電流保護態樣設定於該第一記憶體;以及當該判斷結果是肯定且該保護晶片需一第二過電流保護態樣時,經由該傳輸線將該第二過電流保護態樣設定於該第二記憶體,其中該第二過電流保護態樣代表相關於該輸出電流的一第二保護點電流,且該第二保護點電流不同於該第一保護點電流。
- 一種電源供應器用之一控制治具裝置,其中該電源供應器包含一保護晶片,具備供應一第一輸出電流給一第一負載的能力,並具備供應一第二輸出電流給不同於該第一負載之一第二負載的能力,該控制治具裝置包含:一控制單元;以及一傳輸線,電連接於該控制單元及該保護晶片之間,其中該傳輸線於第一情況,自該控制單元傳輸一第一訊號至該保護晶片,且於第二情況自該保護晶片傳輸一第二訊號至該控制單元,其中;該保護晶片具有一第一設定單元及一第二設定單元;該控制單元藉由傳輸該第一訊號來詢問該保護晶片要對於該第一及第二設定單元的其中之一進行一過電流保護設定;該保護晶片自為判斷後選擇該第一及該第二設定單元的其中之一以作為一過電流保護設定目標單元,並傳輸代表該過電流保護設定目標 單元的該第二訊號至該控制單元;以及該控制單元根據該第二訊號來經由該第一傳輸線使該保護晶片對於該過電流保護設定目標單元進行一過電流保護設定,其中當該過電流保護設定目標單元是該第一設定單元時,該控制單元使該保護晶片使用該第一設定單元以進行相關於該第一輸出電流的該過電流保護設定,且當該過電流保護設定目標單元是該第二設定單元時,該控制單元使該保護晶片使用該第二設定單元以進行相關於該第二輸出電流的該過電流保護設定。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW104115123A TWI545430B (zh) | 2015-05-12 | 2015-05-12 | 用於設定電源供應器的保護晶片之過電流保護態樣之控制治具裝置及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW104115123A TWI545430B (zh) | 2015-05-12 | 2015-05-12 | 用於設定電源供應器的保護晶片之過電流保護態樣之控制治具裝置及方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI545430B true TWI545430B (zh) | 2016-08-11 |
TW201640267A TW201640267A (zh) | 2016-11-16 |
Family
ID=57183713
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW104115123A TWI545430B (zh) | 2015-05-12 | 2015-05-12 | 用於設定電源供應器的保護晶片之過電流保護態樣之控制治具裝置及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI545430B (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI767194B (zh) * | 2020-03-02 | 2022-06-11 | 香港商蜜蜂計算(香港)股份有限公司 | 多級串聯電路供電裝置及其挖礦機 |
US11693519B2 (en) | 2018-07-10 | 2023-07-04 | Sensortek Technology Corp. | Proximity sensor and proximity sensing method |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11170675B2 (en) * | 2020-03-19 | 2021-11-09 | Himax Technologies Limited | Method for performing hybrid over-current protection detection in a display module, and associated timing controller |
TWI780910B (zh) * | 2021-09-15 | 2022-10-11 | 英業達股份有限公司 | 測試治具 |
-
2015
- 2015-05-12 TW TW104115123A patent/TWI545430B/zh active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11693519B2 (en) | 2018-07-10 | 2023-07-04 | Sensortek Technology Corp. | Proximity sensor and proximity sensing method |
TWI767194B (zh) * | 2020-03-02 | 2022-06-11 | 香港商蜜蜂計算(香港)股份有限公司 | 多級串聯電路供電裝置及其挖礦機 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201640267A (zh) | 2016-11-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI545430B (zh) | 用於設定電源供應器的保護晶片之過電流保護態樣之控制治具裝置及方法 | |
US9123442B2 (en) | Testing device | |
US20120137159A1 (en) | Monitoring system and method of power sequence signal | |
CN207263883U (zh) | 芯片开短路测试装置及*** | |
US20160202310A1 (en) | Method for Testing Embedded Systems | |
CN104198910A (zh) | 一种集成电路自动测试***和测试方法 | |
US10817452B2 (en) | Bus system and detection method thereof | |
CN105445604B (zh) | 一种usb3.1 type‑c型线缆自动测试方法 | |
TW201616150A (zh) | 校正板及其時序校正方法 | |
TW201725398A (zh) | 多機箱測試裝置及其測試訊號傳送裝置 | |
CN116050324A (zh) | 一种芯片验证结构、芯片验证***和方法 | |
KR19990000381A (ko) | 퍼스널 컴퓨터의 통신 포트를 이용한 제품 검사 장치 | |
US20180136270A1 (en) | Product self-testing method | |
TW202014894A (zh) | 監測系統與方法 | |
CN116647535A (zh) | 通讯转发装置、控制方法及电子设备 | |
CN110687363A (zh) | Sfp埠测试治具 | |
US20180059179A1 (en) | Automatic control system and automatic instrument searching method for the same | |
CN107390036A (zh) | 一种天线检测方法、设备及天线连接器 | |
TW202018509A (zh) | Sas連接器導通檢測系統及其方法 | |
TWI492047B (zh) | 測試裝置 | |
CN108075445B (zh) | 电源供应器用的控制治具装置及相关方法 | |
TWI642951B (zh) | Online voltage adaptive modulation system | |
TWI637177B (zh) | 用於測試半導體元件之系統及方法 | |
TWI530782B (zh) | 伺服器 | |
TW202018507A (zh) | 主機開機檢測方法及其系統 |