CN113465486A - 检查屏蔽电线端接部分的检查装置和诊断其性能的方法 - Google Patents

Abstract

一种检查装置，被配置为检查屏蔽电线(W)的端接部分的编织物折回部分(Wd1)的后端的尺寸是否在适当的范围内。该检查装置包括：处于关闭状态电连接到屏蔽端子(1)的第一卡盘探针(11)；第二卡盘探针(12)，当编织物折回部分(Wd1)的尺寸超出适当范围时，该第二卡盘探针接触编织物折回部分(Wd1)；自诊断探针(13)，其以与第二卡盘探针(12)导电的状态被支撑，并且在打开状态下与第一卡盘探针(11)呈接触导电状态；以及配置成检测第一卡盘探针(11)和第二卡盘探针(12)之间是否处于导电状态的计算机(50)。

Description

检查屏蔽电线端接部分的检查装置和诊断其性能的方法

技术领域

本发明的一个或多个实施例涉及一种用于检查屏蔽电线的端接部分，特别是编织物折回部分的尺寸是否在适当范围内的检查装置，并且涉及一种用于诊断该检查装置是否适当工作的性能诊断方法。

背景技术

作为屏蔽电线，广泛使用其中线芯(一根或多根绝缘电线)的外侧覆盖有编织物并且编织物的外侧覆盖有护套(树脂护套)的屏蔽电线。当屏蔽端子附接到这种屏蔽电线的端部时，具有预定长度的护套从电线的端部剥离以暴露编织物，暴露的编织物被折回以覆盖剩余护套的端部的外周，并且屏蔽端子的编织物压接部分被压接并固定到折叠部分。

当屏蔽电线的编织物折回部分的长度大于规定尺寸时，外壳的端部延伸超过编织物的过长部分，并且该部分被切割，并且编织物的切割件影响连接器的性能，这可能导致缺陷。因此，JP-A-2002-238125描述了一种技术，其中屏蔽电线的端部由多个导电卡盘夹持，以基于这些卡盘是否导电来感测编织物是否在预定长度被切割成。也就是说，在这种技术中，通常，当编织物的长度等于或大于指定长度时，因为卡盘处于导电状态，则编织物过长，因此被确定为有缺陷的产品(不合格产品)，而当编织物的长度在指定长度范围内时，因为卡盘处于非导电状态，则编织物的长度在指定范围内，因此被确定为好产品(合格产品)。

发明内容

然而，在上述相关技术中，当在导电卡盘的布线***中发生断开等时，由于断开的发生，导电卡盘被检测为处于非导电状态。因此，即使要检查的目标产品是有缺陷的产品(其中在正常检查中应该检测到导电状态)，由于检测到非导电状态，目标产品也可能被误判为好产品。

鉴于上述情况，已经做出了本发明的一个或多个实施例，并且本发明的目的是提供一种用于屏蔽电线的端接部分的检查装置，该检查装置能够可靠地将缺陷产品(不合格产品)确定为缺陷产品，并且能够执行自诊断，从而不会错误地将缺陷产品确定为好产品，并且提供一种用于诊断检查装置是否适当工作的性能诊断方法。

本发明的一个或多个实施例提供了一种用于屏蔽电线的端接部分的检查装置，所述端接部分设置在屏蔽电线的前端部，所述屏蔽电线包括：线芯；覆盖线芯外侧的编织物；和覆盖编织物外侧的护套，所述端接部分包括编织物折回部分，所述编织物折回部分是通过将所述编织物的暴露部分折回到所述护套的剩余部分的前端部的外周而获得的，所述编织物的暴露部分是通过从线端移除护套的具有预定长度的一部分而形成的，编织物折回部分由设置在屏蔽端子后端的编织物压接部分压接和固定，所述检查装置被配置为检查屏蔽电线的端接部分的编织物折回部分的后端的尺寸是否在适当的范围内，所述检查装置包括：第一卡盘探针，被配置为能够打开和关闭，当第一卡盘探针处于关闭状态时，第一卡盘探针与屏蔽端子接触并电连接；第二卡盘探针，其以与第一卡盘探针非接触的状态被支撑，当编织物折回部分的尺寸在适当的范围内时，第二卡盘探针相对于编织物折回部分呈非接触状态，当编织物折回部分的尺寸超出适当的范围时，第二卡盘探针相对于编织物折回部分的突出部分呈接触导电状态；自诊断探针，其以与第二卡盘探针导电的状态被支撑，当第一卡盘探针处于打开状态时，自诊断探针与第一卡盘探针呈接触导电状态，当第一卡盘探针处于关闭状态时，自诊断探针与第一卡盘探针呈非接触状态；和导电状态检测器件，用于检测第一卡盘探针和第二卡盘探针之间是否处于导电状态。

本发明的一个或多个实施例提供了一种用于诊断用于屏蔽电线的端接部分的检查装置的性能的方法，所述方法包括：准备对应于有缺陷的检查目标产品的检查夹具，作为上述用于屏蔽电线的端接部分的检查装置的检查目标产品，所述检查夹具具有模仿检查目标产品的外观形状，所述检查夹具包括接触关闭状态下的第一卡盘探针的第一部分和接触关闭状态下的第二卡盘探针的第二部分，所述第一部分和第二部分被设定为导电状态；使第一卡盘探针和第二卡盘探针相对于检查夹具处于关闭状态；和当第一卡盘探针和第二卡盘探针处于关闭状态的同时，通过检查装置的导电状态检测器件检查第一卡盘探针和第二卡盘探针之间是否处于导电状态。

根据本发明的一个或多个实施例，每次执行一次正常导通检查时，在第一卡盘探针打开的状态下，可以自动执行装置性能的自诊断。因此，可以预先防止误判(即使产品是不合格产品，由于检查装置中的故障将产品误判为合格产品)，并且可以提高检查装置的可靠性。

上面已经简要描述了本发明的一个或多个实施例。此外，通过阅读下面将参照附图描述的用于实施本发明的模式(以下称为“实施例”)，将阐明本发明的细节。

附图说明

图1A和1B是根据本发明实施例的检查装置的示意性示意图，其中图1A是示出每个卡盘关闭的状态的平面图，图1B是示出每个卡盘打开的状态的平面图。

图2是示出根据本发明实施例的检查装置的每个卡盘关闭的状态的透视图。

图3是示出根据本发明实施例的检查装置的每个卡盘打开的状态的透视图。

图4是示出本实施例的检查装置的自检(自诊断)的处理流程的流程图。

图5A至5D是用于示出检查目标的视图，其中图5A是示出作为检查目标的屏蔽电线的结构的示例的视图，图5B是示出屏蔽电线的端接部分的中间处理状态的视图，图5C是示出在附接屏蔽端子之后端接部分的好产品的示例的视图，以及屏蔽端子的编织物压接部分被压接并固定到长度满足规定的编织物折回部分的状态，并且图5D是示出了在附接屏蔽端子之后端接部分的缺陷产品的示例的视图，以及屏蔽端子的编织物压接部分被压接并固定到长度超过规定的编织物折回部分的状态。

详细描述

将参照附图描述根据本发明的具体实施例。

首先，将描述本实施例的检查装置中的检查目标的示例。

图5A至5D是用于说明检查目标的视图。图5A是示出作为检查目标的屏蔽电线的结构示例的视图，图5B是示出屏蔽电线的端子部分的中间处理状态的视图。

如图5A所示，这里作为检查目标的屏蔽电线W具有这样的结构，其中包括信号线Wa和围绕信号线Wa的外周的绝缘体Wb的线芯W1的外侧经由金属箔Wc覆盖有由金属制成的编织物Wd，并且编织物Wd的外侧覆盖有由边缘树脂制成的护套We。图5A所示的屏蔽电线W仅仅是一个例子，并且屏蔽电线的结构不限于此。线芯W1的数量是可选的，并且可以是单数(在同轴电缆的情况下)或复数(在以太网(注册商标)电缆等的情况下)。金属箔Wc内可包括加蔽线。金属箔Wc可以省略。

如图5B所示，当屏蔽端子连接到这种屏蔽电线W的端部时，具有预定长度的护套We从电线端部移除，并且暴露的编织物Wd折回以覆盖剩余护套We的端部的外周，从而形成编织物折回部分Wd1。在许多情况下，由金属(或由树脂)制成的环形套筒(也称为套圈)2安装在护套We的端部的外周上，并且编织物Wd被折回以覆盖套筒2的外周，从而形成编织物折回部分Wd1。当金属箔Wc低于编织物Wd时，金属箔Wc在预定范围内被移除。

图5C是示出在屏蔽端子被附接之后端接部分的好产品的示例的视图，以及屏蔽端子的编织物压接部分被压接并固定到长度满足规定的编织物折回部分的状态。图5D是示出在屏蔽端子被附接之后的端接部分的有缺陷产品的示例的视图，以及屏蔽端子的编织物压接部分被压接并固定到长度超过规定的编织物折回部分的状态。

如图5C和5D所示，屏蔽端子1后端的编织物压接部分1b压接并固定到编织物折回部分Wd1，屏蔽端子1形成为具有矩形管状前端的外壳1a。在这种情况下，编织物折回部分Wd1被***在套筒2和屏蔽端子1的编织物压接部分1b之间，使得编织物Wd被牢固地压接和固定。屏蔽端子1包括经由绝缘体在外壳1a内部的内部端子(未示出)，并且内部端子还可以包括信号线(在同轴电缆的情况下为中心导体)。

在本实施例的检查装置中，屏蔽电线W的端接部分被设定为待检查产品，在该端接部分中，如上所述，编织物折回部分Wd1形成在套筒2的外周上，并且屏蔽端子1后端处的编织物压接部分1b被压接并固定到编织物折回部分Wd1。

如图5C所示，在作为待检查产品的屏蔽电线W的端接部分中，编织物折回部分Wd1的后端的长度特别需要在不从套筒2的后端边缘2a突出的范围(适当范围)内。然而，如图5D所示，构成编织物Wd的细线可以从套筒2的后端边缘2a突出。也就是说，编织物折回部分Wd1的后端尺寸太大。在上述情况下，需要判断产品是缺陷产品，并且本实施例的检查装置用于确定。

编织物折回部分Wd1的后端的尺寸是否太大是通过分别使电极11、12(稍后描述的第一卡盘探针11和第二卡盘探针12)与电连接到编织物Wd的构件(这里是屏蔽端子1)的外表面接触和在靠近套筒2的后端边缘2a的位置处与护套We的外周表面接触，并确定电极11、12是否彼此电连接来确定的。

如图5D所示，当与护套We的外周表面接触的电极12与在护套We上突出的编织物Wd接触时，电极11、12彼此电连接，因此可以判断编织物折回部分Wd1太长(即确定为不合格产品)。另外，如图5C所示，如果与护套We的外周表面接触的电极12没有与编织物Wd接触，则电极没有彼此电连接，因此可以判断编织物折回部分Wd1并非太长(即被确定为合格产品)。

图1A和1B是根据本发明实施例的用于屏蔽电线的端接部分的检查装置的示意性示意图，其中图1A是示出每个卡盘关闭的状态的平面图，图1B是示出每个卡盘打开的状态的平面图。图2是示出根据本实施例的检查装置的每个卡盘关闭的状态的透视图。图3是示出每个卡盘打开的状态的透视图。

如图1至3所示，本实施例的检查装置包括三个卡盘10、11、12，它们相对于屏蔽电线W打开和关闭。在图1A和1B中，每个卡盘10、11、12的关闭操作方向由箭头A表示，打开操作方向由箭头B表示。

位于屏蔽电线W的最后端侧(远离端部的位置)的卡盘是电线卡盘10。电线卡盘10是没有电极功能的普通卡盘。电线卡盘10被配置为打开和关闭，并且具有在打开状态下将屏蔽电线W容纳在其中并且通过处于关闭状态而将屏蔽电线W可靠地保持在固定位置的功能。

位于屏蔽电线W的最前侧的卡盘是具有电极功能的第一卡盘探针11。第一卡盘探针11可以在打开状态下容纳附接到屏蔽电线W的前端的屏蔽端子1，并且在关闭状态下与屏蔽端子1的两个外侧面接触并电连接。第一卡盘探针11形成为宽块，以便夹住并可靠地与屏蔽端子1的外壳1a的外侧面接触。

能够打开和关闭的第二卡盘探针12沿屏蔽电线W的纵向方向设置在电线卡盘10和第一卡盘探针11之间。第二卡盘探针12具有电极功能，并且被构造成使得一对薄刀片状卡盘件的啮合部分形成为半圆形凹槽形状，并且当半圆形凹槽形状的部分关闭时，第二卡盘探针12形成为圆柱形，并且能够可靠地与屏蔽电线W的目标部分的基本整个圆周接触。

第二卡盘探针12被支撑成不与第一卡盘探针11电连接。第二卡盘探针12在屏蔽电线W的端接部分的编织物折回部分Wd1的后侧上限定编织物折回部分Wd1的后端尺寸的适当范围，并且在靠近套筒2的后端边缘2a的后侧的位置处与护套We的外周接触。也就是说，当编织物折回部分Wd1的后端的尺寸在适当的范围内时，第二卡盘探针12与编织物折回部分Wd1处于非接触状态(非导电状态)，并且当编织物折回部分Wd1的后端的尺寸在适当的范围外时，第二卡盘探针12与超出适当范围的编织物折回部分Wd1处于接触状态(导电状态)。

第一卡盘探针11和第二卡盘探针12可以完全由金属制成，并且与至少屏蔽端子1或编织物折回部分Wd1接触或可能接触的至少一部分可以由金属制成。能够打开和关闭的电线卡盘10、第一卡盘探针11和第二卡盘探针12设置在滑动基座20、21上，以便能够在屏蔽电线W的径向方向上稳定地滑动。

除了上述第一卡盘探针11和第二卡盘探针12之外，检查装置还包括自诊断探针13。自诊断探针13以经由例如导线63与第二卡盘探针12导电的正常导电状态被支撑，并且在打开/关闭方向上被固定地设置在第一卡盘探针11的后面，使得当第一卡盘探针11打开时自诊断探针13与第一卡盘探针11处于接触导电状态，并且当第一卡盘探针11关闭时自诊断探针13与第一卡盘探针11处于非接触状态。

此外，检查装置包括作为导电状态检测器件的用于确定的计算机50。计算机50是包括CPU 51、ROM 52、RAM 53、输入端口54和输出端口55的通用计算机，并且计算机50连接到用于显示确定结果等的显示单元56。连接到第一卡盘探针11的布线61连接到计算机50的输出端口55，连接到第二卡盘探针12的布线62连接到输入端口54。

在正常检查期间，如图1A和图2所示，当处于关闭状态的第一卡盘探针11和第二卡盘探针12彼此处于导电状态时，计算机50检测到从输出端口55输出的导电状态感测电流通过输出端口55→布线61→第一卡盘探针11→第二卡盘探针12→布线62→输入端口54的路径被输入端口54接收(返回到输入端口54)。因此，计算机50判断第一卡盘探针11和第二卡盘探针12处于导电状态。此外，当处于关闭状态的第一卡盘探针11和第二卡盘探针12不处于导电状态(处于非导电状态)时，计算机50判断第一卡盘探针11和第二卡盘探针12不处于导电状态，即处于非导电状态，因为即使导电状态感测电流从输出端口55输出，导电状态感测电流也不会流到输入端口54。

如图1B和3所示，当第一卡盘探针11打开时，第一卡盘探针11和自诊断探针13处于导电关系。即，第一卡盘探针11和第二卡盘探针12经由自诊断探针13彼此处于导电状态。

因此，如果在非检查期间(当第一卡盘探针11和第二卡盘探针12打开时)没有问题，计算机50检测到从输出端口55输出的导电状态感测电流通过输出端口55→布线61→第一卡盘探针11→自诊断探针13→导线63→第二卡盘探针12→布线62→输入端口54的路径被输入端口54接收。因此，计算机50判断在分别连接到第一卡盘探针11和第二卡盘探针12的布线61、62的***中没有出现诸如断开的问题。

当电流没有通过上述路径返回到输入端口54时，计算机50判断在分别连接到第一卡盘探针11和第二卡盘探针12的布线61、62的***中的某处可能出现诸如断开的问题。

接下来，将描述操作。

在检查期间，电线卡盘10、第一卡盘探针11和第二卡盘探针12相对于屏蔽电线W和布置在固定位置的屏蔽端子1都是关闭的。然后，第一卡盘探针11与屏蔽端子1(外壳1a)接触并电连接。另一方面，第二卡盘探针12设置在编织物折回部分Wd1的后端附近，同时保持用于确定编织物折回部分Wd1的后端的尺寸是否在适当范围内的位置。当编织物折回部分Wd1的后端的尺寸在适当的范围内时，编织物Wd与第二卡盘探针12保持非接触状态。当编织物折回部分Wd1的后端的尺寸超出适当的范围时，编织物Wd与第二卡盘探针12进入接触导电状态。

因此，计算机50可以通过检查第一卡盘探针11是否电连接到第二卡盘探针12来确定编织物折回部分Wd1的后端的尺寸是否在适当的范围内。

更具体地，当具有作为导电状态检测器件的功能的计算机50在第一卡盘探针11和第二卡盘探针12处于关闭状态的状态下(即，执行用于检查的卡盘操作的状态)检测到第一卡盘探针11和第二卡盘探针12处于非导电状态时，计算机50确定作为检查目标产品的编织物折回部分Wd1的后端的尺寸在适当的范围内，并且判断检查目标产品是好产品(合格产品)。

另一方面，当计算机50在第一卡盘探针11和第二卡盘探针12处于关闭状态的状态下(即，执行用于检查的卡盘操作的状态)检测到第一卡盘探针11和第二卡盘探针12处于导电状态时，计算机50确定作为检查目标产品的编织物折回部分Wd1的后端的尺寸超出适当的范围，并且判断检查目标产品是缺陷产品(不合格产品)。即，通过第一卡盘探针11和第二卡盘探针12的关闭操作来检查屏蔽电线W的端接部分的编织物折回部分Wd1的后端的长度是否大于指定长度。

在自诊断中，当计算机50在第一卡盘探针11打开的状态下(即，没有执行检查目标产品的导通检查的状态)检测到第一卡盘探针11和第二卡盘探针12处于导电状态时，计算机50确定在第一卡盘探针11和第二卡盘探针12的布线61、62的***中没有出现诸如断开的缺陷，并且判断检查装置的性能正常。

另一方面，当计算机50在第一卡盘探针11打开的状态下(即未执行检查目标产品的导通检查的状态)检测到虽然第一卡盘探针11和第二卡盘探针12经由自诊断探针13保持彼此导电关系但第一卡盘探针11和第二卡盘探针12处于非导电状态时，计算机50确定存在在第一卡盘探针11和第二卡盘探针12的布线61、62的***中发生诸如断线的缺陷和不能执行正常检查的可能性，并且判断检查装置的性能存在异常。

如上所述，每当执行一次正常导通检查时，在第一卡盘探针11打开的状态下，可以自动执行装置性能的自诊断。因此，可以预先防止误判缺陷产品(虽然它是不合格产品，也由于检查装置中的故障而被误判为合格产品)，并且可以提高检查装置的可靠性。

这里，将参照图4的流程图简要描述自诊断(自检验)的处理流程。

如图4所示，当自检验流程开始时，计算机50在步骤S101检验正常导通检验检查是否完成。在等待完成导通检验检查之后，计算机50进行到接下来的步骤S102、S103，以检验第一卡盘探针11和第二卡盘探针12是否打开。当第一卡盘探针11和第二卡盘探针12打开时，计算机50进行到下一步骤S104，并开始向第一卡盘探针11提供电流(用于自诊断的导电状态检测电流)。然后，当在下一步骤S105中在第二卡盘探针12中检测到电流时，计算机50在步骤S106中输出正常的判断，即，由于导通的建立，布线***被适当地维持。相反，当在步骤S105中在第二卡盘探针12中没有检测到电流时，计算机50在步骤S107中输出异常的判断，即，由于不导通(可能已经发生诸如断开的故障)，布线***没有被适当地维持。通过S106和S107中的判断输出，自检验流程结束。

作为另一个效果，根据检查装置，电线卡盘10设置在第二卡盘探针12的后侧，使得屏蔽电线W被稳定地保持并且检查被精确地执行。

根据该检查装置，其中编织物Wd从套筒2的后端边缘2a突出的产品可以被视为不合格产品，使得编织物折回部分Wd1的长度可以基于套筒2的后端边缘2a的位置来指定。

如上所述，在检查装置中，当第一卡盘探针11和第二卡盘探针12在检查操作期间关闭时，通过检测第一卡盘探针11和第二卡盘探针12处于非导电状态，检查目标产品被判断为好产品。

然而，当在第一卡盘探针11或第二卡盘探针12应该接触的地方发生接触故障时，第一卡盘探针11和第二卡盘探针12可以如在判断好产品的情况下被检测为处于不导电状态。因此，当使用检查装置时，希望在正常检查之间执行以下性能诊断。

在这种情况下，对应于缺陷检查目标产品的检查夹具100被用作检查目标产品。检查夹具100具有模仿检查目标产品的外观形状，并且在接触关闭状态下的第一卡盘探针11的部分和接触关闭状态下的第二卡盘探针12的部分之间设置导电状态。也就是说，作为检查夹具100，准备了在宽度方向上与屏蔽端子1的外壳1a和在套筒2后端附近的护套We具有在与它们相同位置处相同尺寸的夹具。例如，准备检查夹具100，其中由导体制成的矩形体(对应于屏蔽端子1的外壳1a)附接到由导体制成的杆体(对应于屏蔽电线)的远端，第一卡盘探针11与矩形体的两个侧面接触，第二卡盘探针12在矩形体的基部处与杆体的外周接触。

然后，第一卡盘探针11和第二卡盘探针12相对于检查夹具100处于关闭状态，并且在该状态下，计算机50检查第一卡盘探针11和第二卡盘探针12之间是否处于导电状态。当确认第一卡盘探针11和第二卡盘探针12处于导电状态时，可以判断第一卡盘探针11和第二卡盘探针12与目标部分适当接触。因此，可以确认检查装置处于表现出正常性能的状态。

如上所述，在性能诊断方法中，每预定时间或每预定次数使用检查夹具100(对应于不合格产品)执行性能诊断。结果，可以容易地确认不合格产品(第一卡盘探针11和第二卡盘探针12电连接的产品)是否可以被可靠地确定为不合格产品，并且可以有助于进一步提高检查装置的可靠性。

也就是说，在第一卡盘探针11关闭时第一卡盘探针11不可靠地与屏蔽端子1接触和电连接的情况下(例如，在要彼此接触的部分之间存在间隙的情况下)，或者在当第二卡盘探针12关闭时第二卡盘探针12不可靠地与作为缺陷产品的编织物折回部分Wd1接触和电连接的情况下(类似地，在要彼此接触的部分之间存在间隙的情况下)，即使产品实际上是不合格产品(导电产品)，计算机50可能判断该产品是合格产品(非导电产品)。然而，以适当的间隔(不干扰正常检查的间隔)执行性能诊断，使得在不合格产品可能被误判为合格产品的情况下，可以在早期阶段发现并处理误判。

这里，根据上述本发明的实施例的用于检查屏蔽电线的端接部分的检查装置和用于诊断检查装置的性能的方法的特征将在下面的[1]至[4]中简要总结和列出。

[1]一种用于屏蔽电线(W)的端接部分的检查装置，

所述端接部分设置在屏蔽电线(W)的前端部，所述屏蔽电线(W)包括线芯(W1)、覆盖线芯(W1)外侧的编织物(Wd)、和覆盖编织物外侧的护套(We)，

所述端接部分包括编织物折回部分(Wd1)，所述编织物折回部分(Wd1)是通过将所述编织物(Wd)的暴露部分折回到所述护套(We)的剩余部分的前端部的外周而获得的，所述编织物(Wd)的暴露部分是通过从线端移除护套(We)的具有预定长度的一部分而形成的，

编织物折回部分(Wd1)由设置在屏蔽端子(1)后端的编织物压接部分(1b)压接和固定，

所述检查装置被配置为检查屏蔽电线(W)的端接部分的编织物折回部分(Wd1)的后端的尺寸是否在适当的范围内，

所述检查装置包括:

第一卡盘探针(11)，被配置为能够打开和关闭，当第一卡盘探针处于关闭状态时，第一卡盘探针与屏蔽端子(1)接触并电连接；

第二卡盘探针(12)，其以与第一卡盘探针(11)非接触的状态被支撑，当编织物折回部分(Wd1)的尺寸在适当的范围内时，第二卡盘探针(12)相对于编织物折回部分(Wd1)呈非接触状态，当编织物折回部分(Wd1)的尺寸超出适当的范围时，第二卡盘探针(12)相对于编织物折回部分(Wd1)的突出部分呈接触导电状态；

自诊断探针(13)，其以与第二卡盘探针(12)导电的状态被支撑，当第一卡盘探针(11)处于打开状态时，自诊断探针(13)与第一卡盘探针(11)呈接触导电状态，当第一卡盘探针(11)处于关闭状态时，自诊断探针(13)与第一卡盘探针(11)呈非接触状态；和

导电状态检测器件(50)，用于检测第一卡盘探针(11)和第二卡盘探针(12)之间是否处于导电状态。

[2]根据[1]所述的用于屏蔽电线的端接部分的检查装置，还包括电线卡盘(10)，所述电线卡盘(10)设置在所述第二卡盘探针(12)的后侧并被配置成能够打开和关闭，并且当所述电线卡盘(10)处于打开状态时，所述电线卡盘(10)将所述屏蔽电线(W)容纳在其中，当所述电线卡盘(10)处于关闭状态时，所述电线卡盘(10)将所述屏蔽电线(W)保持在固定位置。

[3]根据[1]或[2]所述的屏蔽电线的端接部分的检查装置，其中，所述屏蔽电线(W)的端接部分还包括附接到所述护套(We)的剩余部分的前端部的外周的环形套筒(2)，其中，所述编织物折回部分(Wd1)通过将所述编织物(Wd)的暴露部分折回以覆盖所述套筒(2)的外周而获得，编织物折回部分(Wd1)被屏蔽端子(1)的编织物压接部分(1b)压接和固定，同时被***在套筒(2)和屏蔽端子(1)的编织物压接部分(1b)之间，并且其中第二卡盘探针(12)被支撑成在套筒(2)的后端边缘(2a)的后侧和附近的位置处接触护套(We)的外周。

[4]一种用于诊断屏蔽电线的端接部分的检查装置的性能的方法，所述方法包括：

准备对应于有缺陷的检查目标产品的检查夹具(100)，作为根据[1]至[3]中任一项所述的用于屏蔽电线的端接部分的检查装置的检查目标产品，所述检查夹具(100)具有模仿检查目标产品的外观形状，所述检查夹具(100)包括接触关闭状态下的第一卡盘探针(11)的第一部分和接触关闭状态下的第二卡盘探针(12)的第二部分，所述第一部分和第二部分被设定为导电状态；

使第一卡盘探针(11)和第二卡盘探针(12)相对于检查夹具(100)处于关闭状态；和

在第一卡盘探针(11)和第二卡盘探针(12)处于关闭状态的同时，通过检查装置的导电状态检测器件(50)检查第一卡盘探针(11)和第二卡盘探针(12)之间是否处于导电状态。

根据具有上述[1]的配置的检查装置，当导电状态检测器件在第一卡盘探针和第二卡盘探针处于关闭状态的状态下(即，执行用于检查的卡盘操作的状态)检测到第一卡盘探针和第二卡盘探针处于非导电状态时，检查装置确定作为检查目标产品的编织物折回部分的后端的尺寸在适当的范围内，并且判断检查目标产品是好产品(合格产品)。另一方面，当导电状态检测器件检测到第一卡盘探针和第二卡盘探针处于导电状态时，检查装置确定作为检查目标产品的编织物折回部分的后端的尺寸在适当范围之外，并且判断检查目标产品是缺陷产品(不合格产品)。也就是说，通过第一卡盘探针和第二卡盘探针的关闭操作来检查屏蔽电线的端接部分的编织物折回部分的后端的长度是否大于指定长度。

当导电状态检测器件在第一卡盘探针打开的状态下，(即，在没有执行检查目标产品的导通检查的状态)检测到第一卡盘探针和第二卡盘探针处于导电状态时，检查装置确定在第一卡盘探针和第二卡盘探针的布线***中没有出现诸如断开的缺陷，并且判断检查装置的性能正常。

另一方面，当在第一卡盘探针打开的状态下，虽然第一卡盘探针和第二卡盘探针经由自诊断探针保持彼此导电关系，但导电状态检测器件检测到第一卡盘探针和第二卡盘探针处于非导电状态时，检查装置确定在第一卡盘探针和第二卡盘探针的布线***中发生诸如断开的缺陷并且不能执行正常检查的可能性存在，并且判断检查装置的性能存在异常。

如上所述，每当执行一次正常导通检查时，在第一卡盘探针打开的状态下，可以自动执行装置性能的自诊断。因此，可以预先防止即使产品是不合格的产品，但由于检查装置中的故障而将产品误判为合格产品，并且可以提高检查装置的可靠性。

根据具有[2]的配置的检查装置，电线卡盘设置在第二卡盘探针的后侧，使得屏蔽电线被稳定地保持并且检查被精确地执行。

根据具有上述[3]的配置的检查装置，其中编织物Wd从套筒的后端边缘突出的产品可以被视为不合格产品，使得编织物折回部分的长度可以基于套筒的后端边缘的位置来指定。

根据具有上述[4]的配置的用于诊断检查装置的性能的方法，使用检查夹具(对应于不合格产品)的性能诊断每预定时间或每预定次数被执行，从而可以确认(第一卡盘探针和第二卡盘探针彼此电连接)是否可以可靠地将不合格产品(第一卡盘探针和第二卡盘探针电连接的产品)确定为不合格产品，并且可以有助于进一步提高检查装置的可靠性。也就是说，在当第一卡盘探针关闭时第一卡盘探针不可靠地与屏蔽端子接触和电连接的情况下(例如，在要彼此接触的部分之间存在间隙的情况下)，或者在当第二卡盘探针关闭时第二卡盘探针不可靠地与作为缺陷产品的编织物折回部分接触和电连接的情况下(类似地，在要彼此接触的部分之间存在间隙的情况下)，即使产品实际上是不合格产品(导电产品)，检查装置的导电状态检测器件可能判断产品是合格产品(非导电产品)。然而，以适当的间隔(不干扰正常检查的间隔)执行性能诊断，使得在不合格产品可能被误判为合格产品的情况下，可以在早期阶段发现并处理误判。

Claims (4)

1.一种用于屏蔽电线的端接部分的检查装置，

所述端接部分设置在所述屏蔽电线的前端部，所述屏蔽电线包括：线芯；覆盖所述线芯外侧的编织物；和覆盖所述编织物外侧的护套，

所述端接部分包括编织物折回部分，所述编织物折回部分是通过将所述编织物的暴露部分折回到所述护套的剩余部分的前端部的外周而获得的，所述编织物的所述暴露部分是通过从线端移除所述护套的具有预定长度的一部分而形成的，

所述编织物折回部分由设置在屏蔽端子的后端的编织物压接部分压接和固定，

所述检查装置被配置为检查所述屏蔽电线的所述端接部分的所述编织物折回部分的后端的尺寸是否在适当的范围内，

所述检查装置包括：

第一卡盘探针，其被配置为能够打开和关闭，当所述第一卡盘探针处于关闭状态时，所述第一卡盘探针与所述屏蔽端子接触并电连接；

第二卡盘探针，其以与所述第一卡盘探针非接触的状态被支撑，当所述编织物折回部分的所述尺寸在所述适当的范围内时，所述第二卡盘探针相对于所述编织物折回部分呈非接触状态，当所述编织物折回部分的所述尺寸超出所述适当的范围时，所述第二卡盘探针相对于所述编织物折回部分的突出部分呈接触导电状态；

自诊断探针，其以与所述第二卡盘探针导电的状态被支撑，当所述第一卡盘探针处于打开状态时，所述自诊断探针与所述第一卡盘探针呈接触导电状态，当所述第一卡盘探针处于关闭状态时，所述自诊断探针与所述第一卡盘探针呈非接触状态；和

导电状态检测器件，其用于检测所述第一卡盘探针和所述第二卡盘探针之间是否处于导电状态。

2.根据权利要求1所述的用于屏蔽电线的端接部分的检查装置，还包括：

电线卡盘，所述电线卡盘设置在所述第二卡盘探针的后侧并被配置成能够打开和关闭，并且当所述电线卡盘处于打开状态时，所述电线卡盘将所述屏蔽电线容纳在其中，当所述电线卡盘处于关闭状态时，所述电线卡盘将所述屏蔽电线保持在固定位置。

3.根据权利要求1或2所述的用于屏蔽电线的端接部分的检查装置，

其中，所述屏蔽电线的所述端接部分还包括附接到所述护套的所述剩余部分的所述前端部的外周的环形套筒，

其中，所述编织物折回部分通过将所述编织物的所述暴露部分折回以覆盖所述套筒的外周而获得，所述编织物折回部分被所述屏蔽端子的所述编织物压接部分压接和固定，同时被***在所述套筒和所述屏蔽端子的所述编织物压接部分之间，并且

其中，所述第二卡盘探针被支撑成在所述套筒的后端边缘的后侧和附近的位置处接触所述护套的外周。

4.一种用于诊断用于屏蔽电线的端接部分的检查装置的性能的方法，所述方法包括：

准备对应于有缺陷的检查目标产品的检查夹具，作为根据权利要求1至3中任一项所述的用于屏蔽电线的端接部分的检查装置的检查目标产品，所述检查夹具具有模仿所述检查目标产品的外观形状，所述检查夹具包括接触关闭状态下的所述第一卡盘探针的第一部分和接触关闭状态下的所述第二卡盘探针的第二部分，所述第一部分和所述第二部分被设定为导电状态；

使所述第一卡盘探针和所述第二卡盘探针相对于所述检查夹具处于关闭状态；和

在所述第一卡盘探针和所述第二卡盘探针处于关闭状态的同时，通过所述检查装置的所述导电状态检测器件检查所述第一卡盘探针和所述第二卡盘探针之间是否处于导电状态。

Images