CN113341295A - 一种测试治具和测试*** - Google Patents

一种测试治具和测试*** Download PDF

Info

Publication number
CN113341295A
CN113341295A CN202110502186.0A CN202110502186A CN113341295A CN 113341295 A CN113341295 A CN 113341295A CN 202110502186 A CN202110502186 A CN 202110502186A CN 113341295 A CN113341295 A CN 113341295A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pcb
test
pcie
switching module
pin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202110502186.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN113341295B (zh
Inventor
李帅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shandong Yingxin Computer Technology Co Ltd
Original Assignee
Shandong Yingxin Computer Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shandong Yingxin Computer Technology Co Ltd filed Critical Shandong Yingxin Computer Technology Co Ltd
Priority to CN202110502186.0A priority Critical patent/CN113341295B/zh
Publication of CN113341295A publication Critical patent/CN113341295A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN113341295B publication Critical patent/CN113341295B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种测试治具，包括：PCB板，所述PCB上设置有金手指；多个PCIE信号测试端子，每一个所述PCIE信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；多个SATA信号测试端子，每一个所述SATA信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；切换模块，设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；其中，所述切换模块还与地线连接。本发明还提出一种测试***。本发明提出的方案在不需要更改BIOS软件下，实现了在同一测试治具上控制主板发出PCIE或SATA信号，极大地减少了项目停滞，降低了人力耗费。

Description

一种测试治具和测试***
技术领域
本发明涉及信号测试领域，具体涉及一种测试治具和测试***。
背景技术
服务器主板主要采用M.2接口接两种固态硬盘，一种是接在M.2接口上走SATA通道的固态硬盘，另一种则是接在M.2接口上的走PCI-e通道的固态硬盘。服务器设计验证过程中会对这一接口处的信号做测试，若M.2接口支持SATA和PCIE两种通道则需要对两种通道的信号分别予以测试，分别称为SATA TX和PCIE TX测试。
由于服务器在开发测试过程中需要对M.2处的SATA和PCIE信号予以测试，虽然主板插M.2固态硬盘后可以自动识别出该硬盘走SATA还是PCIE通道，但是目前的测试方法是在M.2接口处***一种测试SATA或者PCIE的治具。目前虽然在设计上主板是可以识别SATA盘和PCIE盘的，但是若主板设计时默认发出PCIE信号则在测试时***SATA治具是无法引出SATA信号。
因此在主板默认发出SATA信号时，测试情形如下：将PCIE治具***M.2接口，按照标准方式接线，进行PCIE测试；此时若想测试SATA信号是行不通的，这是因为主板默认发出PCIE信号，所以治具无法引出这一信号。解决方法一般是更改BIOS软件进行软件端配置，但是由于更改BIOS软费时费力，需要BIOS工程师配合十分耽误时间，时效性都不好。
发明内容
有鉴于此，为了克服上述问题的至少一个方面，本发明实施例提出一种测试治具，包括：
PCB板，所述PCB上设置有金手指；
多个PCIE信号测试端子，每一个所述PCIE信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
多个SATA信号测试端子，每一个所述SATA信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
切换模块，设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
其中，所述切换模块配置为在第一状态下与地线断开连接；在第二状态下与所述地线连接滑盖。
在一些实施例中，还包括：
滑盖，所述滑盖与所述PCB板活动连接。
在一些实施例中，还包括：
指示灯，连接到切换模块以用于指示所述切换模块的状态。
在一些实施例中，还包括：
多个第一引线，每一个所述第一引线用于连接相应的PCIE信号测试端子和所述金手指的引脚；
多个第二引线，每一个所述第二引线用于连接相应的SATA信号测试端子和所述金手指的引脚；
其中，所述第一引线和所述第二引线布置在所述PCB板的不同层上。
在一些实施例中，所述金手指包括第一部分金手指、第二部分金手指和第三部分金手指；
其中，所述第一部分金手指和所述第三部分金手指均与所述第二部分金手指分隔开。
基于同一发明构思，本发明的实施例还提出一种测试***，包括具有插槽的待测试装置和测试治具；其中，所述测试治具包括：
PCB板，所述PCB上设置有金手指，所述PCB板通过所述金手指***所述插槽中；
多个PCIE信号测试端子，每一个所述PCIE信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
多个SATA信号测试端子，每一个所述SATA信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
切换模块，设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
其中，所述切换模块配置为在第一状态下与地线断开连接；在第二状态下与所述地线连接。
在一些实施例中，还包括：
滑盖，所述滑盖与所述PCB板活动连接。
在一些实施例中，还包括：
指示灯，连接到切换模块以用于指示所述切换模块的状态。
在一些实施例中，还包括：
多个第一引线，每一个所述第一引线用于连接相应的PCIE信号测试端子和所述金手指的引脚；
多个第二引线，每一个所述第二引线用于连接相应的SATA信号测试端子和所述金手指的引脚；
其中，所述第一引线和所述第二引线布置在所述PCB板的不同层上。
在一些实施例中，所述金手指包括第一部分金手指、第二部分金手指和第三部分金手指；
其中，所述第一部分金手指和所述第三部分金手指均与所述第二部分金手指分隔开。
本发明具有以下有益技术效果之一：本发明提出的方案在不需要更改BIOS软件下，实现了在同一测试治具上控制主板发出PCIE或SATA信号，极大地减少了项目停滞，降低了人力耗费。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
图1为本发明实施例提出的测试治具的示意图；
图2为本发明的实施例提供的测试治具测试端子与待测试装置的插槽引脚对应示意图；
图3为Socket 2型的插槽结构示意图；
图4为Socket 3型的插槽结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
根据本发明的一个方面，本发明的实施例提出一种测试治具，如图1所示，包括：PCB板1、多个PCIE信号测试端子2、多个SATA信号测试端子3以及切换模块4。
其中，所述PCB1上设置有金手指11，通过金手指11将测试治具***到待测试装置的插槽上，进而实现测试治具与待测试装置的连接，以进行后续测试。
在一些实施例中，图1示出的所述SATA信号测试端子3可以包括SATA A+，SATA A-，SATA B+，SATA B-。图1示出的所述PCIE信号测试端子2可以包括PCIE RX0P、PCIE RX0N、PCIE TX0P、PCIE TX0N、PCIE RX1P、PCIE RX1N、PCIE TX1P、PCIE TX1N、PCIE RX2P、PCIERX2N、PCIE TX2P、PCIE TX2N、PCIE RX3P、PCIE RX3N、PCIE TX3P、PCIE TX3N以及时钟信号REF CLKp和REF CLKn。其中，SATA信号测试端子3可以通过线缆从PCB板的侧面引出，PCIE信号测试端子2可以直接设置在PCB板1的上表面(即图1示出的多个圆形区域)。
在一些实施例中，还可以在PCB板1上设置一个滑盖，滑盖与PCB板活动连接。这样在不进行测试时可将滑盖盖上以保护位于PCB板上部的PCIE信号测试端子的针脚。
在一些实施例中，由于每一个所述SATA信号测试端子3和每一个所述PCIE信号测试端子2均与PCB板1上金手指11相应的引脚连接，而金手指又***到待测试装置的插槽上，因此金手指上的每一个引脚均可以将待测试装置中相应的信号引出，然后在利用每一个所述SATA信号测试端子和每一个所述PCIE信号测试端子将信号导出进行测试。
例如，如图2所示，待测试装置的插槽为M.2接口，其43号引脚对应的信号为PREp0，对应到如图1所示的测试治具上的PCIE信号测试端子PCIE RX0P，这样通过PCIE RX0P即可将PREp0信号导出以实现测试。同理，41号引脚对应的信号为PREn0，对应到如图1所示的测试治具上的PCIE信号测试端子PCIE RX0N，这样通过PCIE RX0N即可将PREn0信号导出以实现测试。
需要说明的是，M.2接口中SATA信号和一组PCIE信号公用同一组引脚，即SATA信号对应的4个引脚与一组PCIE信号对应的引脚相同。例如，如图2所示，PCIE RX0P、PCIE RX0N、PCIE TX0P、PCIE TX0N对应的引脚号为43、41、49和47，而SATA A+，SATA A-，SATA B+，SATAB-对应的引脚同样为49、47、41和43。
在一些实施例中，图1示出的切换模块4可以设置在PCB板1上且与所述金手指11对应的引脚连接。
在一些实施例中，所述切换模块4配置为在第一状态下与所述地线断开连接；在第二状态下与所述地线连接。
具体的，当待测试装置的插槽为M.2接口时，通过检测69号引脚的高低生成相应的信号。即69号引脚为高则待测试装置发出PCIE信号，为低则发出SATA信号，为做DFt(DesignFor test，可测试性设计)设计可以在设计阶段将该引脚拉高，即默认支持PCIE信号。因此可以将金手指上与切换模块相连的引脚与待测试装置的69号引脚对应连接，这样当切换模块在第一状态时断开与地线的连接即可实现69号引脚断开与地的连接，此时69号引脚为高电平，待测试装置发出PCIE信号；当切换模块在第二状态时恢复与地线的连接即可实现69号引脚恢复与地的连接，此时69号引脚为低电平，待测试装置发出SATA信号。
需要说明的是，在对切换模块的状态进行切换时，需要将待测试装置下电处理，即将测试治具插在M.2接口后，进行测试相应信号。测试完成后，关机后切换状态，然后再次开机以使待测试装置发出另一种信号，进而测试另一种信号。
在一些实施例中，切换模块可以是按钮、拨码开关或其他开关等。
在一些实施例中，还包括：
指示灯5，连接到切换模块以用于指示所述切换模块的状态。
具体的，可以通过指令灯的亮灭指示切换模块的状态，例如，当切换模块为第一状态时，指示灯可以为亮的状态，当切换模块为第二状态时，指示灯可以为灭的状态。或者，可以设置颜色不同的指示灯，控制不同颜色的灯亮灭以实现指示切换模块的状态。
在一些实施例中，还包括：
多个第一引线，每一个所述第一引线用于连接相应的PCIE信号测试端子和所述金手指的引脚；
多个第二引线，每一个所述第二引线用于连接相应的SATA信号测试端子和所述金手指的引脚；
其中，所述第一引线和所述第二引线布置在所述PCB板的不同层上。
具体的，由于PCIE 3.0以上的通道差分线阻抗控制为850hm，SATA通道差分线要求1000hm阻抗控制，故将PCIE信号引出线(第一引线)和SATA引出线(第二引线)布置在PCB板的不同层上。例如，可以将PCIE信号引出线布置在表层，SATA引出线布在第二层，两层之间加参考层(例如地线层)以避免信号干扰。
在一些实施例中，所述金手指11包括第一部分金手指111、第二部分金手指112和第三部分金手指113；
其中，所述第一部分金手指111和所述第三部分金手指113均与所述第二部分金手指112分隔开。
具体的，M.2接口共有Socket1、Socket2、Socket3三种插槽，由于Socket1全部采用焊接且仅适用于1216，2226和3026尺寸的设备，应用范围窄一般不用故不在讨论之列；此外由于服务器对性能较高，故服务器主板上一般使用Socket3型插槽，而Socket3型插槽兼容Key类型包括B Key、M key、B&M Key、B key。SSD设备一般仅支持SATA通道，且由于B key设备只能支持Socket2接口，故已经被淘汰。Socket3插槽支持M key和B&M key。M key类型支持PCIEx4和SATA通道，B&M key仅支持SATA通道。如图3和图4所示分别给出了Socket2和Socket3的引脚分布。
因此，将PCB板前端设置的金手指设计成包括第一部分金手指、第二部分金手指和第三部分金手指；并且所述第一部分金手指和所述第三部分金手指均与所述第二部分金手指分隔开。即设计成B&M key型金手指以支持Socket3型且兼容Socket2型的M.2插槽。
本发明提出的方案在不需要更改BIOS软件下，实现了在同一测试治具上控制主板发出PCIE或SATA信号，极大地减少了项目停滞，降低了人力耗费。并且测试治具采取将SATA测试端子利用部分短线缆引出，代替SMP转SMA线，提高了连接的可靠性又降低了SMP转SMA线的损耗，降低了成本。
基于同一发明构思，本发明的实施例还提出一种测试***，包括具有插槽的待测试装置和测试治具；其中，所述测试治具包括：
PCB板，所述PCB上设置有金手指，所述PCB板通过所述金手指***所述插槽中；
多个PCIE信号测试端子，每一个所述PCIE信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
多个SATA信号测试端子，每一个所述SATA信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
切换模块，设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
其中，所述切换模块还与地线连接。
在一些实施例中，所述切换模块配置为在第一状态下与所述地线断开连接；在第二状态下与所述地线连接。
在一些实施例中，还包括：
指示灯，连接到切换模块以用于指示所述切换模块的状态。
在一些实施例中，还包括：
多个第一引线，每一个所述第一引线用于连接相应的PCIE信号测试端子和所述金手指的引脚；
多个第二引线，每一个所述第二引线用于连接相应的SATA信号测试端子和所述金手指的引脚；
其中，所述第一引线和所述第二引线布置在所述PCB板的不同层上。
在一些实施例中，所述金手指包括第一部分金手指、第二部分金手指和第三部分金手指；
其中，所述第一部分金手指和所述第三部分金手指均与所述第二部分金手指分隔开。
本发明提出的方案在不需要更改BIOS软件下，实现了在同一测试治具上控制主板发出PCIE或SATA信号，极大地减少了项目停滞，降低了人力耗费。
以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。
应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上的本发明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试治具，其特征在于，包括：
PCB板，所述PCB上设置有金手指；
多个PCIE信号测试端子，每一个所述PCIE信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
多个SATA信号测试端子，每一个所述SATA信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
切换模块，设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
其中，所述切换模块配置为在第一状态下与地线断开连接；在第二状态下与所述地线连接。
2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括：
滑盖，所述滑盖与所述PCB板活动连接。
3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，还包括：
指示灯，连接到所述切换模块以用于指示所述切换模块的状态。
4.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括：
多个第一引线，每一个所述第一引线用于连接相应的PCIE信号测试端子和所述金手指的引脚；
多个第二引线，每一个所述第二引线用于连接相应的SATA信号测试端子和所述金手指的引脚；
其中，所述第一引线和所述第二引线布置在所述PCB板的不同层上。
5.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述金手指包括第一部分金手指、第二部分金手指和第三部分金手指；
其中，所述第一部分金手指和所述第三部分金手指均与所述第二部分金手指分隔开。
6.一种测试***，其特征在于，包括具有插槽的待测试装置和测试治具；其中，所述测试治具包括：
PCB板，所述PCB上设置有金手指，所述PCB板通过所述金手指***所述插槽中；
多个PCIE信号测试端子，每一个所述PCIE信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
多个SATA信号测试端子，每一个所述SATA信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
切换模块，设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；
其中，所述切换模块配置为在第一状态下与地线断开连接；在第二状态下与所述地线连接滑盖。
7.如权利要求6所述的测试***，其特征在于，所述滑盖与所述PCB板活动连接。
8.如权利要求7所述的测试***，其特征在于，还包括：
指示灯，连接到所述切换模块以用于指示所述切换模块的状态。
9.如权利要求6所述的测试***，其特征在于，还包括：
多个第一引线，每一个所述第一引线用于连接相应的PCIE信号测试端子和所述金手指的引脚；
多个第二引线，每一个所述第二引线用于连接相应的SATA信号测试端子和所述金手指的引脚；
其中，所述第一引线和所述第二引线布置在所述PCB板的不同层上。
10.如权利要求6所述的测试***，其特征在于，所述金手指包括第一部分金手指、第二部分金手指和第三部分金手指；
其中，所述第一部分金手指和所述第三部分金手指均与所述第二部分金手指分隔开。
CN202110502186.0A 2021-05-08 2021-05-08 一种测试治具和测试*** Active CN113341295B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110502186.0A CN113341295B (zh) 2021-05-08 2021-05-08 一种测试治具和测试***

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110502186.0A CN113341295B (zh) 2021-05-08 2021-05-08 一种测试治具和测试***

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN113341295A true CN113341295A (zh) 2021-09-03
CN113341295B CN113341295B (zh) 2023-08-18

Family

ID=77470134

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110502186.0A Active CN113341295B (zh) 2021-05-08 2021-05-08 一种测试治具和测试***

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113341295B (zh)

Citations (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6297646B1 (en) * 1997-06-25 2001-10-02 Snap-On Tools Company Electrical tester for small motor vehicles
US20040222812A1 (en) * 2003-03-21 2004-11-11 Gerd Frankowsky Integrated circuit having a test circuit
US20110109322A1 (en) * 2009-11-09 2011-05-12 Wistron Corporation Testing System and Adapter Thereof Utilizing a Common Power Supply and Display Device to Test Different Main Board Circuits
CN201945991U (zh) * 2011-01-28 2011-08-24 联想(北京)有限公司 电子设备和接口检测装置
US20140236526A1 (en) * 2013-02-21 2014-08-21 Advantest Corporation Tester with mixed protocol engine in a fpga block
US8886864B1 (en) * 2013-05-17 2014-11-11 Wistron Corporation Interface card apparatus
CN206003084U (zh) * 2016-06-14 2017-03-08 深圳市祈飞科技有限公司 一种pcb板
CN206147442U (zh) * 2016-07-22 2017-05-03 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种通用硬盘背板
CN206557760U (zh) * 2017-02-28 2017-10-13 郑州云海信息技术有限公司 一种兼容pcie接口和sata接口的硬盘
CN107291649A (zh) * 2017-06-20 2017-10-24 郑州云海信息技术有限公司 一种灵活支持pcie与sata 协议m.2自识别的设计方法及装置
CN206584273U (zh) * 2017-03-14 2017-10-24 山东和远智能科技股份有限公司 Sata与迷你pcie的共插装置
CN208752614U (zh) * 2018-10-10 2019-04-16 湖南国科微电子股份有限公司 一种接口切换装置
CN109946590A (zh) * 2019-04-11 2019-06-28 苏州浪潮智能科技有限公司 一种板卡转接设备和测试***
CN209674364U (zh) * 2019-04-12 2019-11-22 深圳市同泰怡信息技术有限公司 一种sas硬盘接口的pcie扩展卡
CN110554990A (zh) * 2018-06-01 2019-12-10 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 兼容pcie与sata线路的主板电路
CN211062033U (zh) * 2020-02-13 2020-07-21 上海闻泰信息技术有限公司 测试转接器以及测试设备
CN111813599A (zh) * 2020-06-28 2020-10-23 中国长城科技集团股份有限公司 固态存储设备、服务器主板及控制方法
CN212782723U (zh) * 2020-09-15 2021-03-23 全颖电子有限公司 PCIe和SATA互容的拷贝装置
CN212906086U (zh) * 2020-09-23 2021-04-06 同方计算机有限公司 Pcie与sata的切换设备和计算机主板

Patent Citations (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6297646B1 (en) * 1997-06-25 2001-10-02 Snap-On Tools Company Electrical tester for small motor vehicles
US20040222812A1 (en) * 2003-03-21 2004-11-11 Gerd Frankowsky Integrated circuit having a test circuit
US20110109322A1 (en) * 2009-11-09 2011-05-12 Wistron Corporation Testing System and Adapter Thereof Utilizing a Common Power Supply and Display Device to Test Different Main Board Circuits
CN201945991U (zh) * 2011-01-28 2011-08-24 联想(北京)有限公司 电子设备和接口检测装置
US20140236526A1 (en) * 2013-02-21 2014-08-21 Advantest Corporation Tester with mixed protocol engine in a fpga block
US8886864B1 (en) * 2013-05-17 2014-11-11 Wistron Corporation Interface card apparatus
CN206003084U (zh) * 2016-06-14 2017-03-08 深圳市祈飞科技有限公司 一种pcb板
CN206147442U (zh) * 2016-07-22 2017-05-03 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种通用硬盘背板
CN206557760U (zh) * 2017-02-28 2017-10-13 郑州云海信息技术有限公司 一种兼容pcie接口和sata接口的硬盘
CN206584273U (zh) * 2017-03-14 2017-10-24 山东和远智能科技股份有限公司 Sata与迷你pcie的共插装置
CN107291649A (zh) * 2017-06-20 2017-10-24 郑州云海信息技术有限公司 一种灵活支持pcie与sata 协议m.2自识别的设计方法及装置
WO2018233222A1 (zh) * 2017-06-20 2018-12-27 郑州云海信息技术有限公司 一种灵活支持pcie与sata协议m.2自识别的设计方法及装置
CN110554990A (zh) * 2018-06-01 2019-12-10 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 兼容pcie与sata线路的主板电路
CN208752614U (zh) * 2018-10-10 2019-04-16 湖南国科微电子股份有限公司 一种接口切换装置
CN109946590A (zh) * 2019-04-11 2019-06-28 苏州浪潮智能科技有限公司 一种板卡转接设备和测试***
CN209674364U (zh) * 2019-04-12 2019-11-22 深圳市同泰怡信息技术有限公司 一种sas硬盘接口的pcie扩展卡
CN211062033U (zh) * 2020-02-13 2020-07-21 上海闻泰信息技术有限公司 测试转接器以及测试设备
CN111813599A (zh) * 2020-06-28 2020-10-23 中国长城科技集团股份有限公司 固态存储设备、服务器主板及控制方法
CN212782723U (zh) * 2020-09-15 2021-03-23 全颖电子有限公司 PCIe和SATA互容的拷贝装置
CN212906086U (zh) * 2020-09-23 2021-04-06 同方计算机有限公司 Pcie与sata的切换设备和计算机主板

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
BRUCE NIKKEL: "NVM express drives and digital forensics", DIGITAL INVESTIGATION *
胡为东: "高速串行信号的接收端测试", 力科电子测量应用案例连载 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN113341295B (zh) 2023-08-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MX2014005449A (es) Tecnicas para configurar los contactos de un conector.
CN112187352B (zh) 一种连接设备及测试***
CN101470134A (zh) 转接板
CN101553741A (zh) 用于自动半导体晶片测试的半自动多路转接***
CN111487952A (zh) 一种多通道信号切换及耦合装置及信号测试***
CN101453065B (zh) 转接板
CN115267481A (zh) 一种芯片测试电路和芯片测试装置
CN213337968U (zh) 一种用于USB Type-C接口的全功能自动检测设备
CN101963641B (zh) 一种导线束检测***
CN111949464A (zh) 一种cpu网络接口适配性测试板卡、测试***及测试方法
CN113341295B (zh) 一种测试治具和测试***
CN108646172B (zh) 一种芯片测试装置
CN101311740A (zh) 电子组件测试***
CN104125173B (zh) 数据通讯路径切换电路、车载路由器及汽车
US11953550B2 (en) Server JTAG component adaptive interconnection system and method
CN209070033U (zh) 一种同时用于单端口、双端口pcie ssd信号的测试治具
CN107391321B (zh) 电子计算机单板及服务器调试***
CN114966134A (zh) 一种全信号测试装置及方法
CN111984486A (zh) 一种cpu网络接口性能测试板卡、测试***及测试方法
CN209132718U (zh) 一种标准pcie子卡及ocp子卡的供电治具
CN104393459A (zh) 接口电路、接口切换方法及电子设备
CN221282516U (zh) 一种便携式多功能接口转换调试小板、待调试件
CN213092297U (zh) 一种cpu网络接口性能测试板卡及测试***
CN220730355U (zh) 芯片测试板、测试***
CN214175083U (zh) 一种cpld固件升级***

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant