JPH11507136A - 輻射温度計の較正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 本発明は、輻射センサと周囲温度センサとを備えた輻射温度計を、既知の温度と共に輻射スタンダードによって較正する方法に関する。較正で定められるパラメータ及び／又は周囲温度は、計測された少なくとも二つの輻射温度から決定される。

Description

【発明の詳細な説明】 輻射温度計の較正方法 本発明は、輻射スタンダードを既知温度と共に用いて、輻射センサと周囲温度 センサとを備えた輻射温度計を較正する方法に関する。 輻射センサ（ラジエーションセンサ）により、測定対象物と基準物体（例えば 、シャッタ、あるいは、輻射センサ自体）との間の温度差を測定することが可能 である。測定対象物の絶対温度を測定するためには、追加的に基準物体の温度を 知ることが必要となる。この温度は、最も実行し得る手法で基準物体と熱的に接 続された温度センサにより都合よく測定される。 輻射センサと周囲温度センサとを組み込んだ輻射温度計を較正（校正）する場 合には、従って、双方のセンサを較正する必要が生じる。従来の較正方法では、 これら二つのセンサの出力信号は、異なる輻射と周囲温度又は基準温度とのもと で決定される。そして、これらの信号から対応する較正パラメータが規定される 。周囲温度センサを較正するために、周囲温度(恐らく数ヶ所の周囲温度)は、外 部の、較正された温度計により測定される。外部温度計の温度は、較正すべきセ ンサの温度に出来るだけ近づけなければならない（例えば、センサと温度計とを 同じ液体に浸したり、適合時間を長くしたりする）。こうして、周囲温度センサ の較正は、輻射センサの較正と個別に行われる。 出願人は、制御技術分野の知識から、システムの時間応答性は、システム全体 の時間応答性を究極的に表すパラメータと同様に特定のシステムの量に関して表 されることを認識している。この技術分野では、これらのパラメータを決定する ために、時間と共に変化するシステムの量を検出し、その検出した量を使用して 、方程式システムをパラメータについて解くことが知られている。このようにし て規定されたパラメータに基づいて、将来のシステムの時間応答性を表すことが 可能となる。この技術分野では、この方法は、プロセスパラメータ同定（Proze β-parameteridentifikation）と云う術語で知られるようになってきている。こ の方法は、方程式システムの過剰決定を包含する。すなわち、実際に必要とされ る 以上に多い組の測定量が検出されてしまうので、例えば、測定されるべき４つの 量に対して、６つの方程式が得られる。規定されるべきパラメータは、例えば、 誤差の自乗が最小になるように、これら６つの方程式により決定される。これは 、補償すべき個々のシステム量の計測における不正確さとなる。 本発明の目的は、輻射センサと周囲温度センサとを含む輻射温度計の較正を、 簡単な手法によって行うことを可能にする方法を示すことにある。 本発明による方法の本質的な特徴は、較正のために必要なのは、輻射スタンダ ード（ラジエーションスタンダード）の温度を知ることであり、周囲温度を知る ことではないと云う事実にある。しかしながら、必要な場合には、周囲温度は、 較正中に輻射センサの出力信号から決定することができる。従って、本発明の方 法は、輻射センサを内蔵型の周囲温度センサと共に有し、その周囲温度センサに は外部からアクセスできないような温度計に特に適している。しかしながら、他 のセンサを較正する場合には、それぞれの周囲温度を正確に決定することは比較 的複雑な手順となる。ここで述べられた方法を使えば、較正に費やされる時間と 計測の労力が非常に減少し、特に、極端に高温ではない温度を測定するための高 精度輻射温度計のシリーズ生産では、較正に費やされる時間と労力が非常に減少 する（例えば、臨床用の輻射温度計）。 本発明の請求項３において有利に示されているように、輻射温度の計測で起こ りうる誤差とセンサ出力信号の検出誤差は、輻射温度計の較正時に補正され得る 。 本発明による方法の基本原理を次に示す。 一般に、輻射温度計により計測されるべき輻射温度Ｔ_sは、周囲温度Ｔ_u、輻射 センサ信号Ｕ、及び、ｎ個の較正パラメータ ｋ₁，ｋ₂，...，ｋ_nの関数ｆとし て表される。すなわち、 Ｔ_s = ｆ（Ｔ_u，Ｕ，ｋ₁，ｋ₂，...，ｋ_n） 輻射温度計において、周囲温度Ｔ_uは、対応する温度センサの出力信号Ｒと関 数ｇとから決定される。この目的のためには、ｍ個の更なる較正パラメータ ｃ₁ ，ｃ₂，...，ｃ_mが一般に知られている。すなわち、 Ｔ_u = ｇ（Ｒ，ｃ₁，ｃ₂，...，ｃ_m） 輻射温度計を較正するためには、従って、p = ｎ + ｍ 個のパラメータ ｋ₁， ｋ₂，...，ｋ_n，ｃ₁，ｃ₂，...，ｃ_m１ を決定することが必要である。このため には、周囲温度と輻射温度とを適正に変化させて、輻射センサの出力信号と周囲 温度センサの出力信号とをｐ回測定する。この結果から、ｐ個の方程式とｐ個の 未知数とを有する（非線形の）方程式システムが得られる。すなわち、 Ｔ_s = ｆ(ｇ(Ｒ，ｃ₁，ｃ₂，...，ｃ_m)，Ｕ，ｋ₁，ｋ₂，...，ｋ_n) この方程式システムを（数値的に）解くことにより、ｍ + ｎ 個のパラメータ ｋ₁，ｋ₂，...，ｋ_n，ｃ₁，ｃ₂，...，ｃ_mが得られる。また、周囲温度Ｔ_uも、 それらから決定することができる。もしｐ個以上の測定量が検出されたならば、 誤差の修正が行われる。 以下、一例として、サーモパイル輻射センサとシリコンレジスタとを含む輻射 温度計に言及する。シリコンレジスタは、この例では基準温度と等しい周囲温度 を、計測する役割を果たす。較正を行うために、この例では、輻射温度Ｔ_s、輻 射センサの出力信号Ｕ、及び周囲温度Ｔ_uの間において次の関係式が利用される 。すなわち、 ここで、Ｓは輻射温度計の感度を示し、特に、その感度は、使用される輻射セ ンサと輻射温度計の光学システムとに依存する。このパラメータは、較正におい て、異なる二つの輻射温度Ｔ_s(1)とＴ_s(2)とのもとで（しかしながら、周囲温度 は、Ｔ_u ＝ Ｔ_u(1) ＝ Ｔ_u(2)と一定である）、輻射センサの出力電圧Ｕ(1)、 Ｕ(2)を計測することにより決定される。式（２.１）を変形すれば、次の方程式 システムが得られる。すなわち、 第２式から第１式を引き、続けてＳに関して解くことにより、感度Ｓを直接得 ることが出来る。すなわち、 更に、二つの方程式（２.２）において方程式（２.３）を用いれば、周囲温度 Ｔ_uが得られる。すなわち、 あるいは、 周囲温度センサの抵抗Ｒは、次式で表される。すなわち、 Ｒ ＝ Ｒ₀［１＋α(Ｔ_u−Ｔ₀)＋β(Ｔ_u−Ｔ₀)²］ (２.６) ここで、Ｔ₀は基準温度(25℃)を示し、この基準温度Ｔ₀のもとで、レジスタは 値Ｒ₀を有する。パラメータに対する典型的な値は、例えば、Ｒ₀＝ 1000Ω、α ＝ 7.8．10^-3Ｋ^-1及び β = 1.910^-5K^-2である。従来から、パラメータＲ₀、α 及びβは、センサ製造業者によって示されているが、それは一定の公差（トレラ ンス）と共に示されている。上記で測定された周囲温度Ｔ_uにおける周囲温度セ ンサの抵抗Ｒを計測することにより、基準抵抗Ｒ₀は、式(２.６)をＲ₀について 解くことにより個々の較正において定められる。すなわち、 注意：これらの簡単な関係式は、周囲温度が二つの計測において同じ場合にの み適用される。もし、そうではない場合には、数値的に解く必要がある非線形方 程式システムに帰着する。 パラメータα及びβについて製造業者が示した公差の範囲が広すぎて、必要な 精度が得られない場合には、これらパラメータは個々に定めることが可能である 。この目的のためには、別の一定の周囲温度 Ｔ_u’＝ Ｔ_u'(1)＝ Ｔ_u'(2)におい て、輻射センサの出力電圧Ｕ(1)'及びＵ(2)'、周囲温度センサの抵抗Ｒ(2)が計 測され、前述したものに類推を加え、他の周囲温度Ｔ_u’が式（２.４）、または 、式(２.５)から決定される。そして、パラメータαは、αのための方程式（２. ６）を解くことによって決定される。パラメータβを個々に決定することが求め られている場合には、較正プロセスは、第３の一定の周囲温度Ｔ_u'' のもとで繰 り返される。 必要のある場合には、類推により、更に較正パラメータを決定することができ る。例えば、輻射センサの感度の温度係数を決定すればよい。 また、方程式（２.１）の代わりに、輻射温度計によって温度が計測されるべ き計測対象の輻射特性に適用される式を較正に利用できる。 上記において認識された方法は、例えば、マイクロコントローラ上でプログラ ム化することができる。そして、パラメータをマイクロコントローラにより決定 することができる。マイクロコントローラは、輻射温度計の適切な装置内に決定 されたパラメータを保存可能な外部装置とすることができる。同様に、パラメー タの決定のために、輻射温度計にインストールされたマイクロコントローラを利 用することも可能である。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ホイバッハ，クラウス ドイツ国 バート カムベルク デー− 65520 ランクヘッカー ヴェク 105 (72)発明者 カイザー，マンフレット ドイツ国 カーベン デー−61184 バー ンホフストラッサ 215

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １． 輻射スタンダードを既知の温度（Ｔ_s(1)，Ｔ_s(2)）と共に用いて、輻射セ ンサと周囲温度センサとを備える輻射温度計を較正する輻射温度計の較正方法に おいて、 第一の周囲温度（Ｔ_u）のもとで、周囲温度センサの出力信号及び輻射セ ンサの出力信号が、輻射スタンダードの少なくとも二つの異なる温度（Ｔ_s(1)， Ｔ_s(2)）について検出され、輻射センサ及び周囲温度センサの双方が、検出され た出力信号に基づいて較正されることを特徴とする輻射温度計の較正方法。 ２． 少なくとも一つの付加的ステップにおいて行われる較正では、第二の周囲 温度、又は、更なる周囲温度（Ｔ_u'，Ｔ_u''，...）のもとで、周囲温度センサの 出力信号と輻射センサの出力信号が、輻射スタンダードの少なくとも二つの異な る温度（Ｔ_s(1)，Ｔ_s(2)）について検出されると共に、較正に用いられることを 特徴とする請求項１記載の方法。 ３． 二以上の輻射温度のもとで、輻射センサの出力信号が検出されると共に、 較正に使用されることを特徴とする請求項１又は２記載の方法。 ４． 周囲温度センサは、特定の基準温度で、基準抵抗（Ｒ₀）を有する温度応 答レジスタであると共に、輻射センサの感度（Ｓ）、周囲温度センサの基準抵抗 Ｒ₀、及び／又は、周囲温度（Ｔ_u）が決定されることを特徴とする請求項１〜３ の何れかに記載の方法。 ５． レジスタの温度依存性が、一次の温度係数、そして、適用可能である場合 には、更に、高次の温度係数で表わされると共に、温度係数を決定するために、 第二の周囲温度、又は、更なる周囲温度(Ｔ_u'，Ｔ_u''，...)のもとで決定された 出力信号が用いられることを特徴とする請求項２又は３にまで属す る限りの請求項４記載の方法。 ６． 周囲温度センサが、決定された周囲温度(Ｔ_u'，Ｔ_u''，...)によって較正 されることを特徴とする請求項４又は５記載の方法。