CN112986800B

CN112986800B - Por电路测试方法及装置

Info

Publication number: CN112986800B
Application number: CN202110191487.6A
Authority: CN
Inventors: 吴丹; 刘伟
Original assignee: Hongjing Microelectronics Technology Co ltd
Current assignee: Hongjing Microelectronics Technology Co ltd
Priority date: 2021-02-19
Filing date: 2021-02-19
Publication date: 2024-04-09
Anticipated expiration: 2041-02-19
Also published as: CN112986800A

Abstract

本公开提供一种POR电路测试方法及装置，响应于接收到测试指示，获取其中的工作模式和检测模式；根据工作模式将预设电源模型发送至待测设备，以使待测设备复位并输出复位反馈信号；针对电源模型的一次测试，接收待测设备发送的复位反馈信号，根据检测模式确定复位反馈信号的复位特征，并根据反馈信号的复位特征和复位特征对应的预设阈值，确定本次测试结果。本公开实施例无需将待测设备的POR输出端引出，在不影响待测设备的前提下，实现复位信号的识别、测试，无需单独的测试封装，降低生产成本；本公开实施例还可以自动实现闭环测试，无需人工参与测试，降低POR电路测试的时间成本和人力成本。

Description

POR电路测试方法及装置

技术领域

本公开涉及电子技术领域，具体涉及一种POR电路测试方法及装置。

背景技术

一般在带有主控芯片的集成电路里都会集成POR(Power-On Reset，电复位)电路，用来提供复位功能。POR电路是否能在各种工作环境中发出正确的复位信号，决定***是否能正常启动，因此POR电路的测试的完备性至关重要。

传统的POR电路测试需要将POR的输出端引出，实际量产的封装可能无法满足测试需求，导致需要单独的测试封装,提高生产成本。由于传统的POR电路测试需要大量的电源环境作为待测设备的输入，待测设备的输出信号是否满足复位要求需要人工进行判断，POR电路测试费时费力，且很难做到测试完备。

发明内容

本公开提供一种POR电路测试方法及装置。

第一方面，本公开实施例提供一种POR电路测试方法，包括：

响应于接收到测试指示，获取其中的工作模式和检测模式；

根据所述工作模式将预设电源模型发送至待测设备，以使所述待测设备复位并输出复位反馈信号；

针对所述电源模型的一次测试，接收所述待测设备发送的复位反馈信号，根据所述检测模式确定所述复位反馈信号的复位特征，并根据所述反馈信号的复位特征和所述复位特征对应的预设阈值，确定本次测试结果。

在一些实施例中，所述根据所述工作模式将预设电源模型发送至待测设备，包括：

响应于所述工作模式为自动模式，将预设电源模型发送至待测设备；在确定出针对所述电源模型的本次测试结果之后，再次将所述电源模型发送至待测设备，直到测试次数达到预设次数时停止向所述待测设备发送所述电源模型。

在一些实施例中，所述预设电源模型为至少两个，在针对一个预设电源模型完成预设次数测试后，根据所述工作模式将另一个未进行测试的预设电源模型发送至待测设备，用以针对所述另一个未进行测试的预设电源模型进行预设次数的测试，直到全部预设电源模型均完成测试。

在一些实施例中，所述预设电源模型包括第一电源模型和/或第二电源模型，所述第一电源模型为直流电源模型，所述第二电源模型为非直流电源模型。

在一些实施例中，生成所述第二电源模型的步骤包括：

接收电源参数；

根据所述电源参数生成具有波形信号的第二电源模型。

在一些实施例中，所述电源参数包括以下之一或任意组合：波形的相位、波形上升沿的时间、波形的振幅、波形的频率。

在一些实施例中，所述接收所述待测设备发送的复位反馈信号，包括：

根据预设的延时时间接收所述待测设备发送的复位反馈信号。

在一些实施例中，所述复位特征包括以下之一：上升沿的数量、下降沿的数量、高电平的持续时长、低电平的持续时长。

又一方面，本公开实施例还提供一种POR电路测试装置，包括主控芯片和选择器，所述主控芯片包括主控单元和检测单元，

所述主控单元用于，响应于接收到测试指示，获取其中的工作模式和检测模式；

所述选择器用于，根据所述工作模式将预设电源模型发送至待测设备，以使所述待测设备复位并输出复位反馈信号；

所述检测单元用于，接收所述待测设备发送的复位反馈信号，根据所述检测模式确定所述复位反馈信号的复位特征，并根据所述反馈信号的复位特征和所述复位特征对应的预设阈值，确定本次测试结果。

在一些实施例中，所述选择器用于，响应于所述工作模式为自动模式，将预设电源模型发送至待测设备；在确定出针对所述电源模型的本次测试结果之后，再次将所述电源模型发送至待测设备，直到测试次数达到预设次数时停止向所述待测设备发送所述电源模型。

在一些实施例中，所述预设电源模型为至少两个，所述选择器用于，在针对一个预设电源模型完成预设次数测试后，根据所述工作模式将另一个未进行测试的预设电源模型发送至待测设备，用以针对所述另一个未进行测试的预设电源模型进行预设次数的测试，直到全部预设电源模型均完成测试。

在一些实施例中，所述主控芯片还包括波形发生单元，所述波形发生单元用于，接收电源参数，根据所述电源参数生成波形信号，并根据所述波形信号生成第二电源模型。

在一些实施例中，所述检测单元用于，根据预设的延时时间接收所述待测设备发送的复位反馈信号。

本公开实施例提供的POR电路测试方法,响应于接收到测试指示，获取其中的工作模式和检测模式；根据工作模式将预设电源模型发送至待测设备，以使待测设备复位并输出复位反馈信号；针对电源模型的一次测试，接收待测设备发送的复位反馈信号，根据检测模式确定复位反馈信号的复位特征，并根据反馈信号的复位特征和复位特征对应的预设阈值，确定本次测试结果。本公开实施例通过向待测设备发送电源模型，并根据待测设备基于电源模型进行复位得到的复位反馈信号确定复位是否有效，无需将待测设备的POR输出端引出，在不影响待测设备的前提下，实现复位信号的识别、测试，无需单独的测试封装，降低生产成本；本公开实施例还可以自动完成电源模型的输出，并自动检测待测设备根据电源模型上电后能否发出有效的复位反馈信号，实现闭环测试，无需人工参与测试，降低POR电路测试的时间成本和人力成本。

附图说明

图1为本公开实施例提供的POR电路测试方法流程示意图；

图2为本公开实施例提供的POR电路测试原理示意图；

图3为本公开实施例提供的生成第二电源模型的流程示意图；

图4为本公开实施例提供的POR电路测试装置的结构示意图一；

图5为本公开实施例提供的POR电路测试装置的结构示意图二。

具体实施方式

在下文中将参考附图更充分地描述示例实施例，但是所述示例实施例可以以不同形式来体现且不应当被解释为限于本文阐述的实施例。反之，提供这些实施例的目的在于使本公开透彻和完整，并将使本领域技术人员充分理解本公开的范围。

如本文所使用的，术语“和/或”包括一个或多个相关列举条目的任何和所有组合。

本文所使用的术语仅用于描述特定实施例，且不意欲限制本公开。如本文所使用的，单数形式“一个”和“该”也意欲包括复数形式，除非上下文另外清楚指出。还将理解的是，当本说明书中使用术语“包括”和/或“由……制成”时，指定存在所述特征、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除存在或添加一个或多个其他特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或其群组。

本文所述实施例可借助本公开的理想示意图而参考平面图和/或截面图进行描述。因此，可根据制造技术和/或容限来修改示例图示。因此，实施例不限于附图中所示的实施例，而是包括基于制造工艺而形成的配置的修改。因此，附图中例示的区具有示意性属性，并且图中所示区的形状例示了元件的区的具体形状，但并不旨在是限制性的。

除非另外限定，否则本文所用的所有术语(包括技术和科学术语)的含义与本领域普通技术人员通常理解的含义相同。还将理解，诸如那些在常用字典中限定的那些术语应当被解释为具有与其在相关技术以及本公开的背景下的含义一致的含义，且将不解释为具有理想化或过度形式上的含义，除非本文明确如此限定。

本公开实施例提供一种POR电路测试方法，如图2所示，所述POR电路测试方法应用于POR电路测试装置，用于对DUT(Device Under Test，测试中的设备)中的POR电路进行测试。

结合图1、2所示，所述POR电路测试方法包括以下步骤：

步骤11，响应于接收到测试指示，获取其中的工作模式和检测模式。

POR电路测试装置接收用户(即工作人员)输入的测试指示，如图2所示，测试指示可以由用户通过POR电路测试装置上的按键和/或显示屏(例如，液晶显示器)输入，测试指示中携带有工作模式和检测模式。工作模式至少包括自动模式和手动模式，在自动模式下，POR电路测试无需人工干预，全程自动进行。在手动模式下，每完成一次POR电路测试之后，需要人工开启下一次POR电路测试。不同检测模式下，选取的用于进行POR电路测试的复位特征不同。

步骤12，根据工作模式将预设电源模型发送至待测设备，以使待测设备复位并输出复位反馈信号。

电源模型预设在主控芯片内，在本步骤中，根据工作模式不同，向待测设备DUT发送电源模型的方式也不同。电源模型作为DUT的输入信号，触发DUT进行复位操作，DUT复位后生成复位反馈信号，并将复位反馈信号发送给POR电路测试装置。

步骤13，针对电源模型的一次测试，接收待测设备发送的复位反馈信号，根据检测模式确定复位反馈信号的复位特征，并根据反馈信号的复位特征和复位特征对应的预设阈值，确定本次测试结果。

测试结果包括复位成功或复位失败，POR电路测试装置内预设有各复位特征对应的阈值。

在本步骤中，POR电路测试装置在接收到待测设备发送的复位反馈信号后，确定检测模式对应的复位特征及其相应的阈值，判断反馈信号的该复位特征是否满足该阈值，若满足，则认为该电源模型的本次POR电路测试通过(即复位成功)；若不满足，则认为该电源模型的本次POR电路测试未通过(即复位失败)。

在一些实施例中，根据工作模式将预设电源模型发送至待测设备(即步骤12)，包括以下步骤：响应于工作模式为自动模式，将预设电源模型发送至待测设备；在确定出针对该电源模型的本次测试结果之后，再次将该电源模型发送至待测设备，直到测试次数达到预设次数时停止向待测设备发送该电源模型。通常，POR电路测试会测试多次，统计各次测试结果得到最终的复位是否成功的结论。也就是说，在自动模式下，在完成针对某个电源模型的1次POR电路测试之后，自动进行针对该电源模型的第2次、第3次测试，直到完成预设次数的测试为止。本公开实施例可自动进行重复测试，相对于传统POR电路测试方案节省人力物力。

在一些实施例中，根据工作模式将预设电源模型发送至待测设备(即步骤12)，包括以下步骤：响应于工作模式为手动模式，将预设电源模型发送至待测设备。也就是说，在手动模式下，在完成针对某个电源模型的1次POR电路测试之后，不会自动进行下一次测试，而是暂停测试，由用户手动触发下一次测试，在两次测试之间，用户可以分析测试结果。

为了模拟不同的电源环境，在一些实施例中，预设电源模型为至少两个，本公开实施例支持内置多种测试仿真电源模型，例如，具有不同上升时间的电源模型、电源大纹波模型等。

在针对一个预设电源模型完成预设次数测试后，根据工作模式将另一个未进行测试的预设电源模型发送至待测设备，用以针对该另一个未进行测试的预设电源模型进行预设次数的测试，直到全部预设电源模型均完成测试。也就是说，在自动模式下，逐个对电源模型进行测试，对一个电源模型测试预设次数后，再开始测试下一个电源模型。如图2所示，由选择器进行待测试的电源模型的切换，需要说明的是，各个电源模型的测试顺序不限，可以随机选择，也可以根据用户在POR电路测试装置中设置电源模型的顺序进行测试。

在一些实施例中，预设电源模型包括第一电源模型和/或第二电源模型，第一电源模型为直流电源模型，第二电源模型为非直流电源模型。非直流电源模型是指波形为非直线的电源模型，例如波形为正弦波、方波、三角波等的电源模型。如图2所示，例如，预设电源模型有3个，第一电源模型有2个，分别为1.8V的直流电源模型和3.3V的直流电源模型，第二电源模型有1个(即波形发生单元生成的电源模型)。

在一些实施例中，所述POR电路测试装置还可以生成第二电源模型，相应的，如图3所示，生成第二电源模型的步骤包括：

步骤21，接收电源参数。

电源参数可以由用户设置、更改，在一些实施例中，电源参数可以包括以下之一或任意组合：波形的相位(offset)、波形上升沿的时间、波形的振幅、波形的频率。例如，波形的振幅可以为0-5V，波形的频率可以为10KHz。

步骤22，根据电源参数生成具有波形信号的第二电源模型。

在本步骤中，如图2所示，利用波形发生单元(即波形发生器)生成具有波形信号的第二电源模型。其中，利用定时器触发具有DMA(Direct Memory Access，直接存储器访问)功能的DAC(数字模拟转换器)芯片(例如STM32芯片),以生成具有波形信号的第二电源模型，通过波形发生单元的DAC接口向驱动模块发送第二电源模型，再通过选择器发送给待测设备。驱动模块选择具有快速响应功能的芯片，例如LM675运放芯片，其电源驱动调节分辨率为100uS，可使电源模型能更接近实际使用场景。第二电源模型可以为任意形状的周期性波形，并可驱动300ma负载。

在一些实施例中，所述接收待测设备发送的复位反馈信号(步骤13)，包括以下步骤：根据预设的延时时间接收待测设备发送的复位反馈信号。也就是说，在将预设电源模型发送至待测设备之后，延时预设的延时时间接收待测设备发送的复位反馈信号。

在一些实施例中，复位特征可以包括以下之一：上升沿的数量、下降沿的数量、高电平的持续时长、低电平的持续时长。一种检测模式对应一个复位特征，一个复位特征具有相应的阈值，通过判断反馈信号的复位特征是否满足相应阈值的条件，来确定本次POR电路测试是否通过。

在本公开实施例中，用户通过按键和显示屏启动POR电路测试，POR电路测试装置收到测试指示后，通过选择器向DUT输出电源模型，同时收集DUT的复位反馈信号，对复位反馈信号进行判断并给出测试结果。用户可以通过显示屏或者连接PC获取测试报告。

本公开实施例可定制输出用于POR电路测试的电源模型，使得产品的POR电路测试更完善，还可自定义检测模式，实现在不影响DUT的情况下判定复位效果。

基于相同的技术构思，本公开实施例还提供一种POR电路测试装置，如图4所示，包括主控芯片10和选择器20，主控芯片10包括主控单元101和检测单元102，主控单元101用于，响应于接收到测试指示，获取其中的工作模式和检测模式。

选择器20用于，根据工作模式将预设电源模型发送至待测设备，以使待测设备复位并输出复位反馈信号。

检测单元用于，接收待测设备发送的复位反馈信号，根据检测模式确定复位反馈信号的复位特征，并根据反馈信号的复位特征和所述复位特征对应的预设阈值，确定本次测试结果。

在一些实施例中，选择器20用于，响应于工作模式为自动模式，将预设电源模型发送至待测设备；在确定出针对电源模型的本次测试结果之后，再次将所述电源模型发送至待测设备，直到测试次数达到预设次数时停止向所述待测设备发送所述电源模型。

在一些实施例中，预设电源模型为至少两个，选择器20用于，在针对一个预设电源模型完成预设次数测试后，根据所述工作模式将另一个未进行测试的预设电源模型发送至待测设备，用以针对所述另一个未进行测试的预设电源模型进行预设次数的测试，直到全部预设电源模型均完成测试。

在一些实施例中，如图5所示，主控芯片10还包括波形发生单元103，波形发生单元103用于，接收电源参数，根据所述电源参数生成具有波形信号的第二电源模型。

在一些实施例中，检测单元102用于，根据预设的延时时间接收所述待测设备发送的复位反馈信号。

本公开实施例POR电路测试装置的人机交互界面采用显示屏显示加按键输入实现。主界面提供了5大功能，分别为自动、查询、手动、波形发生和设置功能，其中自动、查询、手动、波形发生为工作模式，进入工作模式后均会切换到测试界面。查询模式是指不进行POR电路测试，仅查询历史测试结果，波形发生模式是指不进行POR电路测试，仅生成波形(即第二电源模型)。手动模式是指，POR电路测试装置产生满足测试需求的电源模型，由用户自行判断DUT是否产生有效的复位信号，以便于调试。测试界面可以显示当前工作模式，还可以显示当前测试的电源模型的信息、复位信号检测标准、当前测试次数、统计的测试结果。设置界面目前提供3个设置项：(1)测试延时(Detect delay)：用于设置检测标准中的延时时间；(2)检测模式(Detect Mode)；(3)阈值(Detect Number)：用于设置复位特征的阈值。

本公开实施例POR电路测试装置的主控芯片可以选用具有硬件DMA功能的数字模拟转换器的STM32芯片。检测单元是主控芯片上具有包含上升沿、下降沿、高低电平触发外部中断功能和ADC(Analog-to-digital converter，模数转换器)功能的输入输出接口。

如图2所示，本公开实施例的POR电路测试装置还可以通过USB(Universal SerialBus，通用串行总线)接口与上位机通信，上位机可以提供读取或者更新电源模型、配置检测模式、读取并生成测试报告等功能。电源模型也可以通过上位机手动绘制或者给定参数自动生成。

由于上位机的功能更加完善，人机交互界面更加友好，本公开实施例可以直接将POR电路测试功能集成到PC的外接卡上，使得从POR电路测试到测试报告生成更为自动化。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

本文已经公开了示例实施例，并且虽然采用了具体术语，但它们仅用于并仅应当被解释为一般说明性含义，并且不用于限制的目的。在一些实例中，对本领域技术人员显而易见的是，除非另外明确指出，否则可单独使用与特定实施例相结合描述的特征、特性和/或元素，或可与其他实施例相结合描述的特征、特性和/或元件组合使用。因此，本领域技术人员将理解，在不脱离由所附的权利要求阐明的本发明的范围的情况下，可进行各种形式和细节上的改变。

Claims

1.一种POR电路测试方法，其特征在于，所述方法包括：

响应于接收到测试指示，获取其中的工作模式和检测模式；

针对所述电源模型的一次测试，接收所述待测设备发送的复位反馈信号，根据所述检测模式确定所述复位反馈信号的复位特征，并根据所述反馈信号的复位特征和所述复位特征对应的预设阈值，确定本次测试结果；其中，一种检测模式对应一个复位特征，一个复位特征具有相应的阈值，不同检测模式下，复位特征不同。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述工作模式将预设电源模型发送至待测设备，包括：

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设电源模型为至少两个，在针对一个预设电源模型完成预设次数测试后，根据所述工作模式将另一个未进行测试的预设电源模型发送至待测设备，用以针对所述另一个未进行测试的预设电源模型进行预设次数的测试，直到全部预设电源模型均完成测试。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设电源模型包括第一电源模型和/或第二电源模型，所述第一电源模型为直流电源模型，所述第二电源模型为非直流电源模型。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，生成所述第二电源模型的步骤包括：

接收电源参数；

根据所述电源参数生成具有波形信号的第二电源模型。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述电源参数包括以下之一或任意组合：波形的相位、波形上升沿的时间、波形的振幅、波形的频率。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述接收所述待测设备发送的复位反馈信号，包括：

8.如权利要求1-7任一项所述的方法，其特征在于，所述复位特征包括以下之一：上升沿的数量、下降沿的数量、高电平的持续时长、低电平的持续时长。

9.一种POR电路测试装置，其特征在于，包括主控芯片和选择器，所述主控芯片包括主控单元和检测单元，

所述检测单元用于，接收所述待测设备发送的复位反馈信号，根据所述检测模式确定所述复位反馈信号的复位特征，并根据所述反馈信号的复位特征和所述复位特征对应的预设阈值，确定本次测试结果；其中，一种检测模式对应一个复位特征，一个复位特征具有相应的阈值，不同检测模式下，复位特征不同。

10.如权利要求9所述的POR电路测试装置，其特征在于，所述选择器用于，响应于所述工作模式为自动模式，将预设电源模型发送至待测设备；在确定出针对所述电源模型的本次测试结果之后，再次将所述电源模型发送至待测设备，直到测试次数达到预设次数时停止向所述待测设备发送所述电源模型。

11.如权利要求10所述的POR电路测试装置，其特征在于，所述预设电源模型为至少两个，所述选择器用于，在针对一个预设电源模型完成预设次数测试后，根据所述工作模式将另一个未进行测试的预设电源模型发送至待测设备，用以针对所述另一个未进行测试的预设电源模型进行预设次数的测试，直到全部预设电源模型均完成测试。

12.如权利要求11所述的POR电路测试装置，其特征在于，所述预设电源模型包括第一电源模型和/或第二电源模型，所述第一电源模型为直流电源模型，所述第二电源模型为非直流电源模型。

13.如权利要求12所述的POR电路测试装置，其特征在于，所述主控芯片还包括波形发生单元，所述波形发生单元用于，接收电源参数，根据所述电源参数生成波形信号，并根据所述波形信号生成第二电源模型。

14.如权利要求9所述的POR电路测试装置，其特征在于，所述检测单元用于，根据预设的延时时间接收所述待测设备发送的复位反馈信号。