CN112908231B - 一种测试信号接入板和点灯治具 - Google Patents

Abstract

本申请涉及显示模组检测技术领域，公开一种测试信号接入板和点灯治具。测试信号接入板包括：基材层；数据信号接入部，设置在基材层上，包括至少两排导电触点，导电触点被配置为与显示面板的数据信号测试引线电连接；相邻排的导电触点之间交错设置，且相邻排的导电触点之间错开的间距小于显示面板的数据信号测试引线之间的间距。上述测试信号接入板，可以避免pin miss的发生，提高Cell Test的不良检出，提高点灯测试检测的精确性；并且，本申请的测试信号接入方案无需使用Trimming设备切割，可以避免Trimming残留/异物、切割不良造成的假X‑line高发等影响，进而提高显示模组产品的良率。

Description

一种测试信号接入板和点灯治具

技术领域

本申请涉及显示模组检测技术领域，特别涉及一种测试信号接入板和点灯治具。

背景技术

显示模组测试(Cell Test)是采用测试信号分块接入(Block Probe)的方式，以测试信号接入板作为信号连接的载具，将不同的电学信号输入到显示面板中，使显示面板呈现不同的图像画面，显示不良从而检出不良。随着技术发展，LCD行业内主流采用GOA(GateOn Array)架构技术进行显示面板设计，因此Cell Test设计测试信号接入板时，主要选择信号引线全接触(Full Contact) 或者两个短路棒(2D Shorting Bar)两种方案加载信号。

然而，这两种信号加载方案各有弊端：Full Contact方式很容易扎偏(pin miss)导致信号错失，且由于测试信号接入板探针之间的距离较小，进而容易发生短路烧伤；而2DShorting Bar的方式需要引入激光切割的切除设备 (Trimmer)，容易产生切除残留、引线腐蚀等不良，且切除设备固定资产投资很大。

发明内容

本申请公开了一种测试信号接入板和点灯治具，目的是提高点灯测试检测的精确性，改善点灯测试的不良影响。

为达到上述目的，本发明提供以下技术方案：

一种测试信号接入板，包括：

基材层；

数据信号接入部，设置在所述基材层上，包括至少两排导电触点，所述导电触点被配置为与显示面板的数据信号测试引线电连接；相邻排的所述导电触点之间交错设置，且相邻排的导电触点之间错开的间距小于所述显示面板的数据信号测试引线之间的间距。

本申请实施例提供的测试信号接入板，其数据信号接入部采用至少两排导电触点与显示面板的数据信号测试引线电连接，以实现数据测试信号的加载；并且，其相邻排的导电触点之间交错设置，这样，当某个或某排导电触点与数据信号测试引线接触不良时，其它排错开的触点可以与该数据信号测试引线实现接触，从而补足显示面板引线上的信号输入，避免Pin Miss的发生。

综上所述，本申请实施例提供的测试信号接入板，可以避免pin miss的发生，提高Cell Test的不良检出，进而提高点灯测试检测的精确性；并且，本申请的测试信号接入方案无需使用Trimming设备祛除短接线(Shorting Line)，因此可以避免Trimming残留/异物、切割不良造成的假X-line高发等影响，进而提高显示模组产品的良率。

可选的，每排所述导电触点中，相邻所述导电触点之间的间距小于或等于所述显示面板的数据信号测试引线之间的间距。

可选的，所述的测试信号接入板，包括四排所述导电触点，奇数排的所述导电触点对齐设置，偶数排的所述导电触点对齐设置。

可选的，所述数据信号接入部还包括导电层，所述导电层设置在所述基材层上，为一体式层结构；

所述至少两排导电触点设置在所述导电层上。

可选的，所述的测试信号接入板，还包括至少两根数据信号接入引线，所述至少两根数据信号接入引线设置在所述基材层上；

所述导电层与所述至少两根数据信号接入引线中的任意一根或几根引线电连接。

可选的，所述导电层与两根所述数据信号接入引线电连接。

可选的，所述导电层设置有镂空部。

可选的，所述导电层包括第一部分和第二部分；所述数据信号接入引线位于所述第二部分远离所述第一部分的一侧，且与所述第二部分相连；

所述至少两排导电触点位于所述第一部分；

所述镂空部位于所述第二部分。

可选的，所述导电层包括一排方形镂空部，所述一排方形镂空部与每排导电触点的排列方向相同。

可选的，所述导电层的第一部分包括有效区和缓冲区；所述有效区被配置为与所述显示面板的数据信号测试引线相对设置；沿每排导电触点的排列方向上，所述缓冲区位于所述有效区相对的两侧；

所述至少两排导电触点中，每排导电触点穿过所述有效区并延伸至所述有效区两侧的两个缓冲区。

可选的，所述的测试信号接入板，还包括分别位于数据信号接入部相对两侧的两个栅线信号接入部；所述两个栅线信号接入部位于每排所述导电触点的两端。

可选的，所述测试信号接入板为轴对称结构。

一种点灯治具，包括柔性线路板以及如上述任一项所述的测试信号接入板，所述柔性线路板与所述测试信号接入板压接。

可选的，所述的点灯治具，还包括电路板和图像发生器，所述电路板与所述柔性线路板电连接，所述图像发生器与所述电路板电连接。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种测试信号接入板的结构示意图；

图2为图1的部分放大结构示意图；

图3为本申请实施例提供的一种点灯治具的结构示意图；

图4为本申请另一实施例提供的一种点灯治具结构示意图。

具体实施方式

目前，显示模组测试(Cell Test)加载信号的方案主要有两种，即信号引线全接触(Full Contact)和两个短路棒(2D Shorting Bar)。

其中，Full Contact方案的测试信号接入板(Block)模仿模组与柔性线路板绑定(COF Bonding)的方式，将金属膜上的每个凸起部(Bump)与单个显示面板(Panel)上的每个测试信号引线进行一一压接，从而实现单个数据信号 (Data)的单独控制。但是由于引线接触触点(Lead Pitch)很小(一般为29 μm-40μm)，Block上Bump也需要做的很小，进行一一压接的时候很容易发生偏移(pin miss)，从而导致引线短接致使Block上的Bump烧伤、IC烧伤等，而且大量的pin miss会严重影响Cell Test的不良检出。另外，由于单个 Block需要使用在不同的Panel上，因此pin miss的位置也很难保证固定，从而容易导致AOI误检。

为减少pin miss影响，顺利导入AOI设备，Cell Test引入了另一种信号加载方案，即2D Shorting Bar。2D Shorting Bar即Data信号用DO和DE两部分进行区分，将Panel上奇数和偶数的引线(Lead)分别进行Shorting并引出两个连接端(Pad)，从Pad上输入信号后，所有Lead上即有信号输入。在经过一次检查后，需要使用Trimming设备将Panel中的短接线(Shorting Line)进行激光祛除，以避免对二次检及模组造成影响。但是由于激光切割Shorting Line 时使用激光能量较高，容易造成Trimming残留/异物，对产品品质造成影响，另外，行业内对超窄边框产品需求增加，超窄边框产品要求的Pad区更小，2D ShortingLine的增加很容易由于切割不良，造成假X-line高发，影响不良检出。

鉴于上述Cell Test加载信号方案的种种问题，本申请提供了一种测试信号接入板和点灯治具，以解决上述问题，提高点灯测试检测的精确性，改善点灯测试的不良影响。

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

具体的，本申请实施例提供了一种测试信号接入板和一种点灯治具，测试信号接入板用于与显示面板电连接，以向显示面板中加载测试信号；点灯治具包括测试信号接入板，并通过测试信号接入板将显示面板点亮，从而实现显示模组测试(Cell Test)。

参考图1和图2，图1为测试信号接入板的整体结构示意图，图2为图1 的Q区域部分放大图。由于相对于整个板子，导电触点的尺寸和导电触点之间的间距都非常小，因此，图1中位于导电层3第一部分311上的多排导电触点看起来像是连成一片的黑色区域，该区域导电触点的具体排布可以参考图2的放大示意图。图1中其它黑色区域也是同理，均是导电触点或者引线尺寸较小且比较密集的体现。另外，为了说明测试信号接入板与显示面板之间的数据信号加载方式，图2中示意性地画出了显示面板上的两根数据信号测试引线20，即这两根数据信号测试引线20并不是本申请实施例的测试信号接入板中的结构。

如图1和图2所示，本申请实施例提供的测试信号接入板，包括基材层1 和数据信号接入部A；数据信号接入部A设置在基材层1上，包括至少两排导电触点2(如图2所示，沿x方向排列的多个导电触点2为一排导电触点2)，该导电触点2被配置为与显示面板的数据信号测试引线20电连接；相邻排的导电触点2之间交错设置，且相邻排的导电触点2之间错开的间距小于显示面板的数据信号测试引线20之间的间距。

本申请实施例提供的测试信号接入板，其数据信号接入部A采用至少两排导电触点2与显示面板的数据信号测试引线20电连接，以实现数据测试信号的加载；并且，其相邻排的导电触点2之间交错设置，这样，当某个或某排导电触点2与数据信号测试引线20接触不良时，其它排错开的触点可以与该数据信号测试引线20实现接触，从而补足显示面板引线(Panel Lead)上的信号输入，避免Pin Miss的发生。

综上所述，本申请实施例提供的测试信号接入板，可以避免pin miss的发生，提高Cell Test的不良检出，进而提高点灯测试检测的精确性；并且，本申请的测试信号接入方案无需使用Trimming设备祛除短接线(Shorting Line)，因此可以避免Trimming残留/异物、切割不良造成的假X-line高发等影响，进而提高显示模组产品的良率。

一种具体的实施例中，如图2所示，每排导电触点2中，相邻导电触点2 之间的间距小于显示面板的数据信号测试引线20之间的间距。由于数据信号测试引线20本身的宽度一般会大于相邻数据信号测试引线20之间的间距，因此，本申请实施例的设计，可以使得每根数据信号测试引线20能够同时与交错开的至少两个或至少两列导电触点2相接触，从而进一步保证数据测试信号的有效接入。

一种具体的实施例中，如图2所示，本申请实施例提供的测试信号接入板包括四排导电触点2，奇数排的导电触点2对齐设置，偶数排的导电触点2对齐设置。这样设置，可以使得奇数排的导电触点2组成多个对齐的纵列，偶数排的导电触点2组成多个对齐的纵列，且奇数排导电触点2组成的纵列与偶数排导电触点2组成的纵列之间交错设置。这样，导电触点2排布规律，构图简单，且可以使得显示面板的数据信号测试引线20能够同时与一列或几列导电触点2同时接触，从而保证数据测试信号的有效接入。

具体的，如图2所示，y方向为导电触点2的列方向，x方向与y方向垂直。

示例性的，如图2所示，本申请实施例中，导电触点2可以呈条块状，具体沿列方向(y方向)延伸，以便于提高与数据信号测试引线20的接触面积，同时提高导电触点2排布的紧密度。

一种具体的实施例中，如图1和图2所示，数据信号接入部A还包括导电层3，导电层3设置在基材层1上，为一体式层结构；上述提到的至少两排导电触点2设置在该导电层3上。

示例性的，导电层3为金属层。进一步地，导电触点2为金属触点，导电层3和导电触点2可以为一体式的结构，可以通过一次构图工艺同时形成。

具体的，数据测试信号经过导电层3到达导电触点2并加载至显示面板中，所有数据信号测试引线20加载的电信号相同，输出相同电压电流的电信号至数据信号测试引线20上，能够避免色差的出现，并且可以使得点灯治具的配套资材更少，例如，可以使用自主设计Shorting Bar PCB的提供电信号，无需使用Full Contact点灯时需要的IC，PCB，T-con等点灯资材，可降低费用成本。

一种具体的实施例中，如图1所示，本申请提供的测试信号接入板，还包括至少两根数据信号接入引线4，该至少两根数据信号接入引线4设置在基材层1上。

具体的，如图1所示，导电层3与至少两根数据信号接入引线4中的任意一根或几根引线电连接。进而，所有数据信号测试引线可以均通过同一根或几根数据信号接入引线4供电。

示例性的，如图1所示，导电层3与两根数据信号接入引线4电连接。即所有数据信号测试引线可以通过两根数据信号接入引线4供电。

一种具体的实施例中，如图1所示，导电层3设置有镂空部30。

具体的，在导电层3上设置镂空部30，可以避免数据信号传输过程中由于导电层3面积过大而造成的降压，发热以及导电层3形变等问题。

示例性的，如图1所示，导电层3包括第一部分31和第二部分32；数据信号接入引线4位于第二部分32远离第一部分31的一侧，且与第二部分32 相连。

具体的，如图1和图2所示，至少两排导电触点2位于导电层3的第一部分31；镂空部30位于导电层3的第二部分32。

示例性的，如图1和图2所示，导电层3包括一排方形镂空部30，一排方形镂空部30与每排导电触点2的排列方向相同，即沿x方向排列。

当然，镂空部不限于方形，也不限于一排，可以根据实际需求设置。

一种具体的实施例中，如图1和图2所示，导电层3的第一部分31包括有效区311和缓冲区312；有效区311被配置为与显示面板的数据信号测试引线20相对设置；沿每排导电触点2的排列方向上(即x方向上)，缓冲区312 位于有效区311相对的两侧(图2中仅示出了位于有效区311一侧的缓冲区312)。如图2所示，至少两排导电触点2中，每排导电触点2穿过有效区311并延伸至有效区311两侧的两个缓冲区312，即每排导电触点2外扩至有效区311两侧的缓冲区312。

具体的，在实际操作时，采用有效区311内的导电触点2与显示面板的数据信号测试引线20电连接；在有效区311两侧的缓冲区312设置导电触点2，可以防止测试信号接入板偏移(pin miss)时导致边缘信号错失。

示例性的，如图2所示，每侧缓冲区312可设有两列或三列导电触点2。这样，在测试信号接入板整体发生较大偏差时，也不会出现pin miss。

一种具体的实施例中，如图1所示，本申请提供的测试信号接入板，还包括分别位于数据信号接入部A相对两侧的两个栅线信号接入部B；两个栅线信号接入部B位于每排导电触点的两端，即两个栅线信号接入部B分别位于数据信号接入部A沿x方向上的两端。

具体的，如图1和图2所示，栅线信号接入部B可以采用Full Contact的方式接入信号，具体可以包括并排设置的多条栅线信号接入引线5以及位于栅线信号接入引线5上的导电触点6。示例性的，如图2所示，每条栅线信号接入引线5的接入端可以设有四个导电触点6，即每条栅线信号接入引线5通过四个导电触点6与显示面板的栅线信号测试引线接触通电。

示例性的，如图1和图2所示，基材层1可以为长方形，导电触点2、5 靠近基材层1的第一侧长边设置，数据信号接入引线4和栅线信号接入引线5 沿基材层1的第二侧长边排列。以便于与柔性线路板电连接。

一种具体的实施例中，参考图1所示，本申请实施例提供的测试信号接入板为轴对称结构。

具体的，本申请实施例提供的测试信号接入板，两边是GOA信号区，中间是Data信号区，两个GOA信号区对称设计，Data信号区左右对称，测试信号接入板整体为左右对称的结构。这样，可以进一步降低使用成本。

具体的，在使用过程中，显示面板通过多个测试信号接入板实现测试信号的加载，多个测试信号接入板沿显示面板的测试边框(下边框)从左至右排列设置，其中，第一个测试信号接入板使用其左侧的GOA信号区与显示面板的左侧GOA测试引线电连接，其右侧的GOA信号区可以作为备用(Dummy)；最后一个测试信号接入板使用其右侧的GOA信号区与显示面板的右侧GOA 测试引线电连接，其左侧的GOA信号区可以作为备用(Dummy)；中间的测试信号接入板只使用Data信号区，两侧的GOA信号区均作为备用(Dummy)。

具体的，本申请实施例提供的测试信号接入板，在不良检出方面、设备稼动方面、投资费用方面、以及超大光学检测设备(AOI)导入等方面都具显著的有益效果，例如：

不良检出方面：Pin Miss改善能够使不良更容易检出，因此Cell Test的不良拦截率得到大幅度提升，检出情况也有很大改善。

设备稼动方面：采用本申请的技术方案，可显著提升点灯环境，点灯时产生的PinMiss显著降低，因此调整点灯的时间减少，切线时间减少，设备稼动率明显提升。

投资费用方面：Data信号区采用导电层上设置导电触点、导电触点交错设计、导电层下部分镂空设计的方案，使得测试信号接入板更不容易损坏，维修更简单，维修费用更低。并且，本申请的技术方案无需2D Shorting line，因此不需要投资切除设备，可以显著降低使用费用。再者，本申请的技术方案也无需使用Full Contact点灯所需要的IC，PCB，T-con等点灯资材，费用降低。

超大AOI导入方面：AOI对点灯效果要求非常高，不允许Pin Miss高发情况出现，在使用Full Contact点灯时，Pin Miss无法避免，本申请的技术方案能够有效改善Pin Miss情况，提升点灯效果，为AOI导入提供必要条件，后续 AOI导入后能够极大提升检出率。

另外，本申请实施例还提供一种点灯治具，如图3所示，该点灯治具包括柔性线路板(FPC)200以及如上述任一项的测试信号接入板100；柔性线路板 200与测试信号接入板100压接。

进一步地，如图4所示，本申请实施例的点灯治具还可以包括电路板(PCB) 300和图像发生器(图4中未示出)，电路板300与柔性线路板200电连接，图像发生器与电路板300电连接。

具体的，如图4所示，FPC 200包括第一电连接端和第二电连接端，第一电连接端与测试信号接入板100压接，第二电连接端与PCB 300连接，具体可以采用压接的方式。

具体的，图像发生器产生的信号输入PCB端，然后进入FPC并在FPC内进行降噪和稳压，之后进入测试信号接入板，并通过测试信号接入板上的导电触点加载至显示面板中，以实现显示面板的点亮。

需要说明的是，本公开的一些实施例中，测试信号接入板和点灯治具还可以包括其它结构，这可以根据实际需求而定，本公开的实施例对此不作限制。另外，关于本公开实施例提供的各结构的形状和尺寸并不限于上述实施例，本申请附图也只是对于某一具体实施例的举例，并不作为对于本申请实际方案的限定。

显然，本领域的技术人员可以对本申请实施例进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (14)

1.一种测试信号接入板，其特征在于，包括：

基材层；

数据信号接入部，设置在所述基材层上，包括至少两排导电触点，所述导电触点被配置为与显示面板的数据信号测试引线电连接；相邻排的所述导电触点之间交错设置，且相邻排的导电触点之间错开的间距小于所述显示面板的数据信号测试引线之间的间距。

2.如权利要求1所述的测试信号接入板，其特征在于，每排所述导电触点中，相邻所述导电触点之间的间距小于或等于所述显示面板的数据信号测试引线之间的间距。

3.如权利要求1所述的测试信号接入板，其特征在于，包括四排所述导电触点，奇数排的所述导电触点对齐设置，偶数排的所述导电触点对齐设置。

4.如权利要求1所述的测试信号接入板，其特征在于，所述数据信号接入部还包括导电层，所述导电层设置在所述基材层上，为一体式层结构；

所述至少两排导电触点设置在所述导电层上。

5.如权利要求4所述的测试信号接入板，其特征在于，还包括至少两根数据信号接入引线，所述至少两根数据信号接入引线设置在所述基材层上；

所述导电层与所述至少两根数据信号接入引线中的任意一根或几根引线电连接。

6.如权利要求5所述的测试信号接入板，其特征在于，所述导电层与两根所述数据信号接入引线电连接。

7.如权利要求5所述的测试信号接入板，其特征在于，所述导电层设置有镂空部。

8.如权利要求7所述的测试信号接入板，其特征在于，所述导电层包括第一部分和第二部分；所述数据信号接入引线位于所述第二部分远离所述第一部分的一侧，且与所述第二部分相连；

所述至少两排导电触点位于所述第一部分；

所述镂空部位于所述第二部分。

9.如权利要求8所述的测试信号接入板，其特征在于，所述导电层包括一排方形镂空部，所述一排方形镂空部与每排导电触点的排列方向相同。

10.如权利要求8所述的测试信号接入板，其特征在于，所述导电层的第一部分包括有效区和缓冲区；所述有效区被配置为与所述显示面板的数据信号测试引线相对设置；沿每排导电触点的排列方向上，所述缓冲区位于所述有效区相对的两侧；

所述至少两排导电触点中，每排导电触点穿过所述有效区并延伸至所述有效区两侧的两个缓冲区。

11.如权利要求1所述的测试信号接入板，其特征在于，还包括分别位于数据信号接入部相对两侧的两个栅线信号接入部；所述两个栅线信号接入部位于每排所述导电触点的两端。

12.如权利要求1-11任一项所述的测试信号接入板，其特征在于，所述测试信号接入板为轴对称结构。

13.一种点灯治具，其特征在于，包括柔性线路板以及如权利要求1-12任一项所述的测试信号接入板，所述柔性线路板与所述测试信号接入板压接。

14.如权利要求13所述的点灯治具，其特征在于，还包括电路板和图像发生器，所述电路板与所述柔性线路板电连接，所述图像发生器与所述电路板电连接。