CN112880832A - 椭偏仪中延迟器偏差角度及延迟相位量的定标方法 - Google Patents

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CN112880832A CN202110082568.2A CN202110082568A CN112880832A CN 112880832 A CN112880832 A CN 112880832A CN 202110082568 A CN202110082568 A CN 202110082568A CN 112880832 A CN112880832 A CN 112880832A
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凌航
张书博
宋晓晓
张欣彤
刘春敏
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    • G01J4/00Measuring polarisation of light
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Abstract

本发明属于仪器定标技术领域,具体为一种椭偏仪中延迟器偏差角度及延迟相位量的定标方法。本发明先将入射到样品的探测光束的s偏振方向与p偏振方向作为***的X/Y坐标轴,取下延迟器,利用布儒斯特角法将检偏器调整到坐标系的0°方向,再利用马吕斯定律定标起偏器定标、并调整到***坐标系的45°方向;加入延迟器,取下样品,调节起偏器方位角,使用该***进行测量。使用RCE型椭偏***测量这组等效样品时,坐标偏差角
Figure 768697DEST_PATH_IMAGE001
出现在光强分量的比值关系中,可以求出坐标偏差角
Figure 898327DEST_PATH_IMAGE001
;最后将修正好延迟器坐标偏差的***,从计算等效椭偏参数的结果中得到相位延迟器的实际延迟量β。本发明操作简单且精度高,能很好地改善椭偏仪的误差修正。

Description

椭偏仪中延迟器偏差角度及延迟相位量的定标方法
技术领域
本发明属于仪器定标技术领域,具体涉及一种椭偏仪中延迟器偏差角度及延迟相位量的定标方法。
背景技术
自1901年Drude教授提出的第一台椭圆偏振光测量设备以来,椭偏仪的研制及应用在各领域得到了巨大的发展,从早期的消光法测量到光度法测量椭偏参数,随着计算机、电子技术领域的进步,椭偏测量从速度和精度上都有了大幅度的提升。在椭偏测量***中使用了偏振棱镜、延迟器等光学器件。将各器件的坐标轴调整到与***的坐标轴一致,或定标得到器件与***坐标系的偏差,对结果进行修正,对测量精度的提高起着非常关键的作用。
发明内容
本发明的目的在于提供一种操作简单且精度高的在PSCA布局下椭偏仪中延迟器的坐标系与***坐标的偏差角度以及延迟相位量的定标方法,很好地改善椭偏仪的误差修正。
本发明提供的在PSCA布局下椭偏仪中延迟器的坐标系与***坐标的偏差角度以及延迟相位量的定标方法,简称PSCA椭偏仪中延迟器偏差角度及延迟相位量的定标方法;这里PSCA椭偏仪,是指由起偏器P、样品S、相位延迟器C、检偏器A布局搭建的椭偏仪(Rotate Compensator Ellipsometer,RCE);***坐标系规定将光线传播的方向定义为***的z轴正方向;平行于样品表面并垂直与入射平面,即入射光的s光偏振方向为X轴,正方向为垂直于光学平台向上。以入射光的p光偏振方向为Y轴,正方向为Z×X,如图1 所示。
对于整个***,取下相位延迟器C,此时PSCA椭偏测量***退化为PSA椭偏测量***。在PSA椭偏测量***中,利用布儒斯特角法和马吕斯定律分别将起偏器P、检偏器A 调整到***坐标系中的45°和0°方向。对于旋转器件延迟器C,单独对其设定了坐标系 xc×yc=zc,如图1所示。在光路中将经延迟器C表面的反射光调整到与入射光平行,延迟器坐标系的zc轴与***坐标系的Z轴重合。xc坐标轴与X轴的偏差角使用符号θmc表示。延迟器C的方位角θc定义为延迟器快轴与xc轴的夹角。
当θmc=0°时,旋转延迟器输出光强随θc变化的理论推导结果为:
I(θC)=I0+I1sin 2θC+I2sin 4θC+I3cos 4θc+I4cos 2θc, (1)
其中,
Figure BDA0002909900880000021
Figure BDA0002909900880000022
Figure BDA0002909900880000023
Figure BDA0002909900880000024
Figure BDA0002909900880000025
其中,η、σ为中间量,分别为:
Figure BDA0002909900880000026
Figure BDA0002909900880000027
β为延迟器的实际延迟相位量。
在实际的组装过程中,θmc不严格为0°,此时输出的光强信号与理论信号关系为:
I′(θc)=I(θcmc)=I0′+I1′sin 2θC+I2′sin 4θC+I3′cos 4θC+I4′cos 2θC, (9)
其中,
I′1=I1cos 2θmc-I4 sin 2θmc, (10)
I′2=I2 cos 4θmc-I3 sin 4θmc, (11)
I′3=I2 sin 4θmc+I3cos 4θmc, (12)
I′4=I1 sin 2θmc+I4cos 2θmc, (13)
将上述***,撤除样品S。光源发出的激光经过起偏器P直接进入延迟器C及后续测量***,如图2所示。调整起偏器的方位角θp。此时旋转延迟器等间距采样(如采集1600 个点),记录其光强值与延迟器方位角的关系I′(θc),该过程等效于椭偏***在测量一组样品,该样品的椭偏参数值Δ=0°(Δ为探测光束的s偏振方向与p偏振方向反射系数的相位差),Ψ=θP(Ψ为探测光束的s光分量偏振方向与p光分量偏振方向样品反射系数模的比值,θP为起偏器在***坐标系中的方位角)。等效样品s偏振方向的反射系数
Figure BDA0002909900880000028
(
Figure BDA0002909900880000029
为s光偏振分量的反射系数,Γ为光源在θP方向上的偏振分量大小),如图3所示。
对光强分量表达式中I2′、I3′项,根据等效样品的参数进行等效参数的替换,Ψ=θP
Figure BDA00029099008800000210
得到:
Figure BDA00029099008800000211
Figure BDA00029099008800000212
引入关系:
Figure BDA0002909900880000031
通过旋转起偏器的角度θp,产生一组不同Ψ值的等效样品,做出函数
Figure BDA0002909900880000032
图像。从具体表达式中看到,该函数为正切函数初始相位项中包含了需要定标的量θmc,使用数学拟合该正切函数,求出初始相位
Figure BDA0002909900880000033
其中
Figure BDA0002909900880000034
完成θmc的求解。求出θmc后,将延迟器旋转-θmc,此时延迟器的坐标系与***坐标系重合。
延迟器坐标修正后,整个***只剩下延迟器的延迟相位β影响最终的椭偏参数。从光强分量中计算椭偏参数Ψ的形式为:
Figure BDA0002909900880000035
已知实际等效过程的等效椭偏参数值中Ψi=θPi为改变不同方位角θP时的一组等效样品的椭偏参数值)。微调延迟器来改变β值,至***测量的结果与已知的等效结果一致,即Ψo=Ψio为使用PSCA布局RCE椭偏仪对Ψi的测量值),此时的β值即为实际的延迟器延迟相位。
基于以上分析,本发明提出的PSCA布局下的椭偏仪中延迟器的坐标系与***坐标偏差角度以及延迟相位量的定标方法,首先将入射到样品的探测光束的s偏振方向与p偏振方向分别作为***的X/Y坐标轴,取下延迟器C,***退化为PSA型椭偏测量***,利用布儒斯特角法将检偏器A调整到***坐标系的0°方向,再利用马吕斯定律定标起偏器P 定标、并调整到***坐标系的45°方向;加入延迟器C,取下样品S,调节起偏器方位角,使用该***进行测量。上述过程等效于椭偏***在测量一组等效的样品,这组样品的椭偏参数中Δ=0°,Ψ=θp,改变θp产生一组不同Ψ值的等效样品;使用RCE型椭偏***测量这组等效样品时,坐标偏差角θmc出现在光强分量的比值关系中,可以求出坐标偏差角θmc;最后将修正好延迟器C坐标偏差的***,从计算等效椭偏参数的结果中,得到相位延迟器的实际延迟量β。
具体步骤包括:
(一)PSCA布局的椭偏***中,相位延迟器C的方位角调节,具体为:除去样品,入射光经过起偏器P、延迟器C、检偏器A,出射光进入硅光电探测器,旋转延迟器C一周,等间距采样(如:采集1600个光强值);使用离散傅里叶变换求出光强信号的频率分量,其中I′2sin 4θC、I′3cos 4θC频率分量中的I′2、I′3分量,求比值关系,所得结果满足
Figure BDA0002909900880000036
的函数关系;调整起偏器P坐标方位角θP,绘制出
Figure BDA0002909900880000037
的函数图像,函数初始相位量
Figure BDA0002909900880000038
中包含延迟器C的坐标轴与整个***坐标轴的偏差角θmc;通过对该函数的数学形式进行拟合,得到相位量
Figure BDA0002909900880000041
最终求出包含在相位量
Figure BDA0002909900880000042
中的偏差角θmc的具体值;
(二)PSCA布局的椭偏***中,相位延迟器C的实际相位量的求解;具体为:将(一)中得出的θmc带入***修正计算结果,此时***中的坐标偏差修正完成;在(一)的***中,旋转θP,在不同θP值下测量,该***等效于测量一组样品,这组样品的椭偏参数Ψi=θP,Δ=0°;修正坐标偏差θmc后,***测量结果Ψo与等效样品的真实Ψi值的偏差,仅受延迟器C具体相位值β的影响;微调相位值β,使得Ψo=Ψi的结果时,此时的β值即为实际的相位延迟量。
本发明方法,操作简单且精度高,能很好地改善对椭偏仪的误差修正。
附图说明
图1为PSCA布局椭偏仪光路***示意图。
图2为***撤除样品S后,光源发出的激光经过起偏器P直接进入延迟器C及后续测量***图示。
图3为等效反射系数
Figure BDA0002909900880000043
与旋转起偏器方位角θP关系图。
图4为光强分量关系
Figure BDA0002909900880000044
的测量数据及拟合曲线。
图5为经过角度误差修正,仅存在相位延迟量误差β时,***对等效椭偏参数Ψi=θP的实际测量数据与拟合曲线。
图6为修正延迟相位,
Figure BDA0002909900880000045
时***对等效椭偏参数Ψi=θP的实际测量数据与拟合曲线。
图中标号:1为半导体激光器,2为起偏器P(格兰泰勒棱镜),3为被测样品S,4为延迟器C(633nm四分之一波片),5为检偏器A(格兰泰勒棱镜),6为光电探测器,7为***坐标系X轴,8为延迟器坐标系X轴,9为延迟器快轴方向,10为步进电机,11为起偏器透光的偏振方向。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明作进一步描述。
首先通过经典的布儒斯特角法、马吕斯定律,将检偏器的偏振透光轴定标调整到与样品入射光s偏振方向平行的方向,然后移出样品,将此时的检偏器偏振透光方向作为***的X轴即0°方向。调节起偏器,大致调整到与***的X轴平行,作为0°。在起偏器的坐标系下,按照光源、检偏器、起偏器、硅光电探测器依次摆放,如图3所示。旋转起偏器,记录光强值。按照马吕斯定律公式,得到输出光强表达式为:
Figure BDA0002909900880000046
Figure BDA0002909900880000051
对测出的数据,利用该理论公式拟合求出
Figure BDA0002909900880000052
即为θmp,如图4所示,得到θmp=-1.9688°。根据该结果,将起偏器调整到与***坐标系X轴夹角为45°的位置。
由于将光路按照光源、起偏器、延迟器、检偏器、硅光电探测器的顺序依次调节旋转延迟器一周,记录其光强值。通过离散傅里叶变换求出光强分量,其中,通过理论推导得到函数关系
Figure BDA0002909900880000053
对测出的数据;通过该理论公式拟合,求出
Figure BDA0002909900880000054
即为-2θmc的值,得到-2θmc=2.2336°,如图4所示。经过简单计算,得到θmc=-1.1168°。
至此,我们得到了在以检偏器方向确定的坐标系下,***中起偏器和延迟器的坐标与该坐标系的偏差角度。使用θmc=-1.1168°修正***后,得出的椭偏参数测量***误差来源中,仍有延迟器的相位延迟β决定的η。
修正坐标后,通过光强分量求解Ψ的计算公式为:
Figure BDA0002909900880000055
可以看到,Ψ的计算结果与延迟器的相位延迟量决定的η相关,可知等效样品的椭偏参数值Ψi=θP。调整延迟器来改变β,使***测量的数据计算结果得到Ψi=Ψo,此时的β值即为延迟器的实际相位延迟量。图5为初始使用
Figure BDA0002909900880000056
可以看到,其测量结果计算的数据Ψo偏离Ψi=θP函数关系较大。当微调相位延迟量至
Figure BDA0002909900880000057
时,可以看到测量结果计算的数据偏离Ψi=θP函数关系较小,如图6所示。考虑到噪声的影响,在0°附近有误差是合理的;实验结果表明,延迟器的实际相位延迟量为
Figure BDA0002909900880000058
至此,本方法完成了PSCA布局椭偏仪的旋转延迟器C的坐标系与***坐标系偏差角度θmc的定标,以及延迟相位量的实际值β的定标。

Claims (1)

1.一种椭偏仪中延迟器偏差角度及延迟相位量的定标方法,这里椭偏仪是指由起偏器P、样品S、相位延迟器C、检偏器A布局搭建的PSCA椭偏仪;***坐标系规定将光线传播的方向定义为***的z轴正方向;平行于样品表面并垂直与入射平面,即入射光的s光偏振方向为X轴,正方向为垂直于光学平台向上;以入射光的p光偏振方向为Y轴,正方向为Z×X;对于整个***,取下相位延迟器C,此时PSCA椭偏测量***退化为PSA椭偏测量***;在PSA椭偏测量***中,利用布儒斯特角法和马吕斯定律分别将起偏器P、检偏器A调整到***坐标系中的45°和0°方向;对于旋转器件延迟器C,单独对其设定坐标系xc×yc=zc;在光路中将经延迟器C表面的反射光调整到与入射光平行,延迟器坐标系的zc轴与***坐标系的Z轴重合;xc坐标轴与X轴的偏差角使用符号θmc表示,延迟器C的方位角θc定义为延迟器快轴与xc轴的夹角;其特征在于,定标的具体步骤为:
(一)PSCA布局的椭偏***中,相位延迟器C的方位角调节,具体为:除去样品,入射光经过起偏器P、延迟器C、检偏器A,出射光进入硅光电探测器,旋转延迟器C一周,等间距采样;使用离散傅里叶变换求出光强信号的频率分量,其中I′2sin4θC、I′3cos4θC频率分量中的I′2、I′3分量,求比值关系,所得结果满足
Figure FDA0002909900870000011
的函数关系;调整起偏器P坐标方位角θP,绘制出
Figure FDA0002909900870000012
的函数图像,函数初始相位量
Figure FDA0002909900870000013
中包含延迟器C的坐标轴与整个***坐标轴的偏差角θmc;通过对该函数的数学形式进行拟合,得到相位量
Figure FDA0002909900870000014
最终求出包含在相位量
Figure FDA0002909900870000015
中的偏差角θmc的具体值;
(二)PSCA布局的椭偏***中,相位延迟器C的实际相位量的求解;具体为:将(一)中得出的θmc带入***修正计算结果,此时***中的坐标偏差修正完成;在(一)的***中,旋转θP,在不同θP值下测量,该***等效于测量一组样品,这组样品的椭偏参数Ψi=θP,Δ=0°;修正坐标偏差θmc后,***测量结果Ψo与等效样品的真实Ψi值的偏差,仅受延迟器C具体相位值β的影响;微调相位值β,使得Ψo=Ψi的结果时,此时的β值即为实际的相位延迟量。
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