CN112850148A - 一种多工位测试分选机的检测机构总成 - Google Patents

一种多工位测试分选机的检测机构总成 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种多工位测试分选机的检测机构总成,其包括机架以及设于机架上的检测抓手、Y轴调节组件和Z轴调节组件,检测抓手包括主杆以及与主杆的底端相连接的浮动板,浮动板的底面连接有若干个吸嘴,Y轴调节组件用于驱动检测抓手沿Y轴运动,Z轴调节组件用于驱动检测抓手沿Z轴运动。该多工位测试分选机的检测机构总成提升了芯片检测设备的检测效率,同时能够兼容多种测试机,实用性高,检测效果好。

Description

一种多工位测试分选机的检测机构总成
技术领域
本发明涉及芯片检测技术领域,特别是涉及一种多工位测试分选机的检测机构总成。
背景技术
芯片检测设备是一种可将人工检测芯片的动作机械化的设备,其检测效果稳定,检测效率高,能够实现芯片流水线式测量,同时培训设备操作人员时间短,操作人员可一人操作多台设备,操作步骤简单,大大节约人力资源,因此芯片检测设备迅速淘汰人工芯片检测工艺,成为芯片检测市场的主流。
现有的芯片检测设备所使用的检测抓手结构简单,单位时间内抓取的芯片数量有限,同时检测抓手与检测装置的检测位相对应,当检测装置变化时需要将旧的检测抓手拆除安装新的检测抓手,检测抓手的兼容性差,更换检测抓手的过程中又会浪费大量的时间与人力物力,不利于提升芯片检测设备的检测效率。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明的目的是提供一种多工位测试分选机的检测机构总成,具有检测效率高、测试效果好等优点。
基于此,本发明提供了一种多工位测试分选机的检测机构总成,其包括:
机架;
检测抓手,所述检测抓手设有若干个用于吸附芯片的吸嘴;
Y轴调节组件,所述Y轴调节组件设于所述机架上并与所述检测抓手相连接,用于驱动所述检测抓手沿Y轴移动;
Z轴调节组件,所述Z轴调节组件设于所述机架上并与所述检测抓手相连接,用于驱动所述检测抓手沿Z轴移动。
本申请的一些实施例中,所述Y轴调节组件包括第一抓手座和第一驱动装置,所述第一抓手座设于所述机架上并与所述检测抓手固定连接,所述机架设有平行于Y轴的第一导轨,所述第一驱动装置设于所述机架上,用于驱动所述第一抓手座沿所述第一导轨滑动。
本申请的一些实施例中,所述第一驱动装置包括第一电机和第一丝杆,所述第一丝杆的第一端与所述第一电机的输出轴相连接,所述第一丝杆的第二端与所述机架相连接,所述第一抓手座穿设于所述第一丝杆上。
本申请的一些实施例中,所述Z轴调节组件包括第二抓手座和第二驱动装置,所述第二抓手座设于所述机架上并与所述检测抓手固定连接,所述机架设有平行于Z轴的第二导轨,所述第二驱动装置设于所述机架上,用于驱动所述第二抓手座沿所述第二导轨滑动。
本申请的一些实施例中,所述第二驱动装置包括第二电机和第二丝杆,所述第二丝杆的第一端与所述第二电机的输出轴相连接,所述第二丝杆的第二端与所述机架相连接,所述第二抓手座穿设于所述第二丝杆上。
本申请的一些实施例中,所述检测抓手包括主杆和浮动板,所述浮动板设于所述主杆的底部并与所述主杆固定连接,所述吸嘴设于所述浮动板的底部,所述主杆设有平行于Z轴的第一滑轨,所述第一滑轨上设有可沿所述第一滑轨滑动的第一滑块,所述第一滑块与所述第一抓手座固定连接,所述机架设有平行于Y轴的第二滑轨,所述第二滑轨上设有可沿所述第二滑轨滑动的第二滑块,所述第二滑块与所述主杆固定连接。
本申请的一些实施例中,所述检测抓手设有多个,多个所述检测抓手均与所述第一抓手座固定连接。
本发明实施例提供的一种多工位测试分选机的检测机构总成,与现有技术相比,其有益效果在于:
该多工位测试分选机的检测机构总成包括机架、检测抓手、Y轴调节组件和Z轴调节组件,使用时检测抓手的吸嘴吸附芯片,Y轴调节组件驱动检测抓手沿Y轴运动,Z轴调节组件驱动检测抓手沿Z轴运动,检测抓手在Y轴调节组件与Z轴调节组件的驱动下到达检测位,随后放下芯片完成对芯片的抓取与搬运,检测抓手设有若干个吸嘴,操作人员可根据测试机的型号选择性的增加或减少检测抓手的吸嘴数量,以兼容不同的测试机,提升了该检测抓手总成的兼容性;Y轴调节组件与Z轴调节组件同时作用于检测抓手上,能够快速调节检测抓手的位置,测试效率高。
附图说明
图1为本发明实施例的检测机构总成的结构示意图;
图2为本发明实施例的检测抓手的结构示意图;
图3为本发明实施例的Y轴调节组件的结构示意图;
图4为本发明实施例的Z轴调节组件的结构示意图。
图中:1、机架;2、检测抓手;21、主杆;22、浮动板;23、吸嘴;24、第一滑轨;25、第一滑块;3、Y轴调节组件;31、第一电机;32、第一丝杆;33、第一导轨;34、第一抓手座;4、Z轴调节组件;41、第二电机;42、第二丝杆;43、第二导轨;44、第二抓手座;45、同步轮;46、同步带。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
应当理解的是,本发明中采用术语“前”、“后”等来描述各种信息,但这些信息不应限于这些术语,这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区别开。例如,在不脱离本发明范围的情况下“前”信息也可以被称为“后”信息,“后”信息也可以被称为“前”信息。如图1所示,将检测抓手的水平运动方向定义为Y轴,将检测抓手的竖直运动方向定义为Z轴。
如图1至图4所示,本发明提供了一种多工位测试分选机的检测机构总成,其包括机架1以及设于机架1上的检测抓手2、Y轴调节组件3和Z轴调节组件4,检测抓手2包括主杆21以及与主杆21的底端相连接的浮动板22,浮动板22的底面连接有若干个吸嘴23,通过吸嘴23吸附芯片完成对芯片的抓取。在本发明实施例中,吸嘴23设有八个,八个吸嘴23两个一排设有四排,四排吸嘴23之间相互对齐,八个吸嘴23一次可抓取八块芯片并将芯片送入检测机中完成检测。
进一步的,如图2和图3所示,Y轴调节组件3包括第一电机31、第一丝杆32、第一导轨33和第一抓手座34,第一丝杆32和第一导轨33平行于Y轴设置,第一抓手座34设于第一导轨33上并可沿第一导轨33滑动,主杆21设有平行于Z轴的第一滑轨24,第一滑轨24上设有可沿Z轴滑动的第一滑块25,第一滑块25与第一抓手座34固定连接,第一丝杆32穿过第一抓手座34并与第一电机31的输出轴相连接。
更进一步的,如图4所示,Z轴调节组件4包括第二电机41、第二丝杆42、第二导轨43和第二抓手座44,第二丝杆42和第二导轨43平行于Z轴设置,第二抓手座44设于第二导轨43上并可沿第二导轨43滑动,第二丝杆42穿过第二抓手座44并通过同步轮45和同步带46与第二电机41的输出轴相连接,第二抓手座44设有平行于Y轴的第二滑轨(图未示),第二滑轨上设有可沿第二滑槽滑动的第二滑块(图未示),第二滑块与主杆21固定连接。
基于上述结构,使用时开启第一电机31,第一电机31驱动第一丝杆32发生转动,第一丝杆32上的第一抓手座34在第一丝杆32的作用下沿第一导轨33滑动,滑动的第一抓手座34进而带动与其固定连接的第一滑块25沿Y轴运动,主杆21也就随着第一滑块25的运动沿Y轴运动,从而实现检测抓手2在Y轴上的运动;与之相对应的,使用时开启第二电机41,第四同步轮47在第三同步轮46的带动下发生转动进行驱动第二丝杆42发生转动,第二丝杆42上的第二抓手座44在第二丝杆42的作用下沿第二导轨43滑动,滑动的第二抓手座44带动设置在第二抓手座44上第二滑轨441内的第二滑块442运动,第二滑块442与主杆21固定连接,主杆21也就随着第二滑块442的运动沿Z轴运动,从而实现检测抓手2在Z轴上的运动。如此,通过设置第一丝杆32和第二丝杆42分别带动第一抓手座34和第二抓手座44运动,摩擦损失小、传动效率高,丝杆的启动力矩极小,不会出现滑动运动那样的爬行现象,能保证实现精确的微进给,确保检测抓手2抓取芯片的稳定性;丝杆与同步带的设置使得Y轴调节组件3与Z轴调节组件4能够适应恶劣的工作环境,不需要过多的维护,传动效果好;更进一步的,由于第一滑轨24、第一滑块25、第二滑轨和第二滑块的设置,检测抓手2沿Y轴运动时第二滑块在第二滑轨内滑动,确保第二抓手座44不对检测抓手2的运动造成影响,检测抓手2沿Z轴运动时第一滑块25在第一滑轨24内滑动,确保第一抓手座34不对检测抓手2的运动造成影响,该检测抓手2总成的检测抓手2同时与Y轴调节组件3和Z轴调节组件4相连接,并将检测抓手2的Y轴运动与Z轴运动拆分开来,在提升结构稳定性的同时确保了检测抓手2的Y轴运动与Z轴运动不会相互干扰,检测效率高,使用体验好。
需要注意的是,Y轴调节组件3以及Z轴调节组件4还包括其他多种类型,如采用气缸或电机推杆完成对第一抓手座34和第二抓手座44的推动,此时第一丝杆32与第二丝杆42也应相应的替换为伸缩杆,在保证第一抓手座34与第二抓手座44顺利滑动的基础上还存在多种驱动方式,此处不再赘述。
可选的,为了进一步提升测试效率,检测抓手2可以设有多个,检测抓手2设有多个时应当确保各个检测抓手2之间不会相互干扰。具体而言,在本发明实施例中,检测抓手2设有两个,两个检测抓手2分别设于第一抓手座34的左右两侧,如此,仅使用一组Y轴调节组件3即可同时控制两个检测抓手2的运动,简化了检测抓手2总成的结构,Z轴驱动组件则与检测抓手2相对应的设有两组,两组Z轴调节组件4分别控制一组检测抓手2。
综上所述,本发明提供了一种多工位测试分选机的检测机构总成,其包括机架以及设于所述机架上的检测抓手、Y轴调节组件以及Z轴调节组件。与现有技术相比,该检测抓手总成提升了芯片检测设备的检测效率,同时能够兼容多种测试机,实用性高,检测效果好。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和替换,这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。

Claims (7)

1.一种多工位测试分选机的检测机构总成,其特征在于,包括:
机架;
检测抓手,所述检测抓手设有若干个用于吸附芯片的吸嘴;
Y轴调节组件,所述Y轴调节组件设于所述机架上并与所述检测抓手相连接,用于驱动所述检测抓手沿Y轴移动;
Z轴调节组件,所述Z轴调节组件设于所述机架上并与所述检测抓手相连接,用于驱动所述检测抓手沿Z轴移动。
2.根据权利要求1所述的多工位测试分选机的检测机构总成,其特征在于,所述Y轴调节组件包括第一抓手座和第一驱动装置,所述第一抓手座设于所述机架上并与所述检测抓手固定连接,所述机架设有平行于Y轴的第一导轨,所述第一驱动装置设于所述机架上,用于驱动所述第一抓手座沿所述第一导轨滑动。
3.根据权利要求2所述的多工位测试分选机的检测机构总成,其特征在于,所述第一驱动装置包括第一电机和第一丝杆,所述第一丝杆的第一端与所述第一电机的输出轴相连接,所述第一丝杆的第二端与所述机架相连接,所述第一抓手座穿设于所述第一丝杆上。
4.根据权利要求2所述的多工位测试分选机的检测机构总成,其特征在于,所述Z轴调节组件包括第二抓手座和第二驱动装置,所述第二抓手座设于所述机架上并与所述检测抓手固定连接,所述机架设有平行于Z轴的第二导轨,所述第二驱动装置设于所述机架上,用于驱动所述第二抓手座沿所述第二导轨滑动。
5.根据权利要求4所述的多工位测试分选机的检测机构总成,其特征在于,所述第二驱动装置包括第二电机和第二丝杆,所述第二丝杆的第一端与所述第二电机的输出轴相连接,所述第二丝杆的第二端与所述机架相连接,所述第二抓手座穿设于所述第二丝杆上。
6.根据权利要求4所述的多工位测试分选机的检测机构总成,其特征在于,所述检测抓手包括主杆和浮动板,所述浮动板设于所述主杆的底部并与所述主杆固定连接,所述吸嘴设于所述浮动板的底部,所述主杆设有平行于Z轴的第一滑轨,所述第一滑轨上设有可沿所述第一滑轨滑动的第一滑块,所述第一滑块与所述第一抓手座固定连接,所述机架设有平行于Y轴的第二滑轨,所述第二滑轨上设有可沿所述第二滑轨滑动的第二滑块,所述第二滑块与所述主杆固定连接。
7.根据权利要求6所述的多工位测试分选机的检测机构总成,其特征在于,所述检测抓手设有多个,多个所述检测抓手均与所述第一抓手座固定连接。
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