CN112540324B - 一种对接口功能测试***及其方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种对接口功能测试***及其方法，该方法包括以下步骤：(1)对接口设置PIN针；(2)对接口的输入端连接电源，输入第一电压；(3)机台端口接地线，将第一电压下降至第二电压；(4)处理模块探测对接口的输入端是否有电压；(5)有电压，将第二电压下降至0V；(6)无电压，测试结束；(7)当第二电压下降至0V时，处理模块探测对接口的输出端是否有电压；(8)有电压，机台端口通电启动；(9)无电压，测试结束。利用本发明的对接口功能测试***及其方法，不仅解决***式对接口上PIN针数量多且排布单一的问题，克服无法完全接触PIN针的局限性，还减少PIN针与对接口的导电时间，大大提高测试效率。
Description
【技术领域】
本发明涉及测试对接口的技术领域，具体涉及一种对接口功能测试***及其方法。
【背景技术】
目前，车间在生产笔记本电脑的过程中会配置对接口，大部分对接口的类型为***式对接口，***式对接口上设置的PIN针数量多且排布单一，现阶段的检测方式为在测试对接口功能时，采用在笔记本电脑的对接口上设置排布单一的多个PIN针进行功能检测，由于该PIN针数量多且排布单一，造成PIN针与对接口的导电时间加长，***式对接口存在无法完全接触PIN针的局限性，且测试不便捷，从而产生测试效率降低的问题。
有鉴于此，实有必要提供一种对接口功能测试***及其方法，以解决现阶段检测方式产生的***式对接口上PIN针数量多且排布单一、无法完全接触PIN针、PIN针与对接口的导电时间加长、测试不便捷及测试效率降低的问题。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种对接口功能测试方法及其***，以解决现阶段检测方式产生的***式对接口上PIN针数量多且排布单一、无法完全接触PIN针、PIN针与对接口的导电时间加长、测试不便捷及测试效率降低的问题。
为了达到上述目的，本发明提供一种对接口功能测试***，其包括：
电源，所述电源用于供电；
PIN针，所述PIN针连接所述电源，并且所述PIN针分别以长方形的环绕方式均匀设置于所述对接口上，所述PIN针用于导电；
对接口，所述对接口连接所述PIN针，所述对接口包括输入端及输出端，所述对接口用于输入电压及输出电压；
处理模块，所述处理模块连接所述对接口，所述处理模块用于探测所述对接口输入端及输出端的电压情况；
机台端口，所述机台端口连接所述处理模块，所述机台端口用于连接所述对接口的输出端。
可选的，所述对接口功能测试***还包括一通电线路，所述通电线路串联连接所述电源、所述PIN针、所述对接口、所述处理模块及所述机台端口。
可选的，所述通电线路上设有电容组及电阻组。
可选的，所述相邻PIN针之间的间距范围为1.5-2毫米。
本发明还提供一种对接口功能测试方法，其包括以下步骤：
(1)对接口设置PIN针；
(2)对接口的输入端连接电源，输入第一电压；
(3)机台端口接地线，将第一电压下降至第二电压；
(4)处理模块探测对接口的输入端是否有电压；
(5)有电压，将第二电压下降至0V；
(6)无电压，测试结束；
(7)当第二电压下降至0V时，处理模块探测对接口的输出端是否有电压；
(8)有电压，机台端口通电启动；
(9)无电压，测试结束。
可选的，所述步骤(1)中所述PIN针分别以长方形的环绕方式均匀设置于所述对接口上。
可选的，所述步骤(1)中所述对接口具有输入电压及输出电压的功能。
可选的，所述通电线路串联连接所述电源、所述PIN针、所述对接口、所述探测模块及所述机台端口。
可选的，所述通电线路上设有电容组及电阻组，所述电容组用于稳定电压及滤波，所述电阻组用于限制电流。
相较于现有技术，本发明的对接口功能测试***及其方法首先将PIN针以长方形的环绕方式均匀设置对接口上，对接口的输入端连接电源，输入第一电压，其次，将第一电压下降至第二电压，利用处理模块探测对接口的输入端是否有电压，若有电压，将第二电压下降至0V，若无电压，测试失败，接着，当第二电压下降至0V，利用处理模块探测对接口的输出端是否有电压，若有电压，机台端口通电启动，若无电压，测试失败，利用本发明的对接口功能测试***及其方法，不仅解决***式对接口上PIN针数量多且排布单一的问题，克服无法完全接触PIN针的局限性，还减少PIN针与对接口的导电时间，大大提高测试效率。
【附图说明】
图1是本发明的对接口功能测试***的示意图。
图2是本发明的对接口功能测试方法的示意图。
图3是本发明的对接口功能测试***的PIN针于对接口的示意图。
【具体实施方式】
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的一较佳实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图1及图2所示，图1是本发明的对接口功能测试***的示意图，图2是本发明的对接口功能测试方法的示意图，本发明提供一种对接口功能测试***100，其包括：
电源110，所述电源110用于供电；
PIN针120，所述PIN针120连接所述电源110，并且所述PIN针120分别以长方形的环绕方式均匀设置于所述对接口130上，所述PIN针120用于导电；
对接口130，所述对接口130连接所述PIN针120，所述对接口130包括输入端131及输出端132，所述对接口130用于输入电压及输出电压；
处理模块140，所述处理模块140连接所述对接口130，所述处理模块140用于探测输入端131及输出端132的电压情况，所述处理模块140通过电压测试仪来测试对接口130的输入端131及输出端132的电压情况；
机台端口150，所述机台端口150连接所述处理模块140，所述机台端口150用于连接所述对接口130的输出端132。
其中，所述对接口功能测试***100还包括一通电线路，所述通电线路串联连接所述电源110、所述PIN针120、所述对接口130、所述处理模块140及所述机台端口150。
其中，所述通电线路上设有电容组及电阻组，所述电容组用于稳定电压及滤波，所述电阻组用于限制电流。
其中，所述相邻PIN针120之间的间距范围为1.5-2毫米。
本发明还提供一种对接口功能测试方法，其包括以下步骤：
S101：对接口设置PIN针；
S102：对接口的输入端连接电源，输入第一电压；
S103：机台端口接地线，将第一电压下降至第二电压；
S104：处理模块探测对接口的输入端是否有电压；
S105：有电压，将第二电压下降至0V；
S106：无电压，测试结束；
S107：当第二电压下降至0V时，处理模块探测对接口的输出端是否有电压；
S108：有电压，机台端口通电启动；
S109：无电压，测试结束。
其中，所述步骤S101中所述PIN针分别以长方形的环绕方式均匀设置于所述对接口上。
其中，所述步骤S101中所述对接口具有输入电压及输出电压的功能。
其中，所述通电线路串联连接所述电源、所述PIN针、所述对接口、所述探测模块及所述机台端口。
其中，所述通电线路上设有电容组及电阻组，所述电容组用于稳定电压及滤波，所述电阻组用于限制电流。
请参阅图3所示，图3是本发明的对接口功能测试***的PIN针于对接口的示意图，所述PIN针120的排布方式为以长方形的环绕方式均匀设置于所述对接口130上，所述PIN针120位于所述对接口130的一侧面，所述对接口130通过以长方形环绕方式设置的PIN针120来实现完全接通电源110，从而避免接触不良。
相较于现有技术，本发明的对接口功能测试***100及其方法首先将PIN针120以长方形的环绕方式均匀设置对接口130上，对接口130的输入端131连接电源110，输入第一电压，其次，将第一电压下降至第二电压，利用处理模块140探测对接口130的输入端131是否有电压，若有电压，将第二电压下降至0V，若无电压，测试失败，接着，当第二电压下降至0V，利用处理模块140探测对接口130的输出端132是否有电压，若有电压，机台端口150通电启动，若无电压，测试失败，利用本发明的对接口功能测试***100及其方法，不仅解决***式对接口上PIN针120数量多且排布单一的问题，克服无法完全接触PIN针120的局限性，还减少PIN针120与对接口130的导电时间，大大提高测试效率。
需指出的是，本发明不限于上述实施方式，任何熟悉本专业的技术人员基于本发明技术方案对上述实施例所作的任何简单修改，等同变化与修饰均落入本发明的保护范围。
Claims (4)
1.一种对接口功能测试***，其包括：
电源，所述电源用于供电；
PIN针，所述PIN针连接所述电源；
对接口，所述对接口连接所述PIN针，所述对接口包括输入端及输出端，所述对接口用于输入电压及输出电压；
所述PIN针分别以长方形的环绕方式均匀设置于所述对接口上且所述PIN针位于所述对接口的一侧面，所述PIN针用于导电，所述对接口通过以长方形环绕方式设置的PIN针来实现完全接通电源，从而避免接触不良；
处理模块，所述处理模块连接所述对接口，所述处理模块用于探测所述对接口输入端及输出端的电压情况；
机台端口，所述机台端口连接所述处理模块，所述机台端口用于连接所述对接口的输出端；
所述对接口功能测试***通过以下方法进行测试：
（1）对接口设置PIN针；
（2）对接口的输入端连接电源，输入第一电压；
（3）机台端口接地线，将第一电压下降至第二电压；
（4）处理模块探测对接口的输入端是否有电压；
（5）有电压，将第二电压下降至0V；
（6）无电压，测试结束；
（7）当第二电压下降至0V时，处理模块探测对接口的输出端是否有电压；
（8）有电压，机台端口通电启动；
（9）无电压，测试结束。
2.根据权利要求1所述的对接口功能测试***，其特征在于，所述对接口功能测试***还包括一通电线路，所述通电线路串联连接所述电源、所述PIN针、所述对接口、所述处理模块及所述机台端口。
3.根据权利要求2所述的对接口功能测试***，其特征在于，所述通电线路上设有电容组及电阻组，所述电容组用于稳定电压及滤波，所述电阻组用于限制电流。
4.根据权利要求1所述的对接口功能测试***，其特征在于，相邻所述PIN针之间的间距范围为1.5-2毫米。
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