CN112461854A - 一种智能优化盖板终检aoi检测的方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及视觉检测技术领域，具体涉及一种智能优化盖板终检AOI检测的方法及装置，该方法包括：根据盖板上包括型号、尺寸和厚度的盖板类型信息，预设所述盖板的检测策略对应关系，将所述检测策略对应关系预置到盖板检测工线的控制器中；接收待检测盖板并获取其盖板类型信息，与所述检测策略对应关系对比得到检测策略；将所述待检测盖板放置在面阵检测组件上进行检测；将所述待检盖板放在暗场检测组件处移动进行检测；将暗场检测后的所述待检测盖板旋转方向，传送至明暗场检测组件处；在所述明暗场检测组件处进行检测。以此可以智能化对盖板进行全面地、完整地检测，保障检测结果的可靠性，而且盖板检测流程一气呵成，大大提高检测效率。

Description

一种智能优化盖板终检AOI检测的方法及装置

技术领域

本发明涉及视觉检测技术领域，具体涉及一种智能优化盖板终检AOI检测的方法及装置。

背景技术

目前，对于终端设备上的CG盖板(cover glass，终端设备的玻璃盖板)在生产过程中往往经多道工序的加工，而每一工序都会产生各种各样的外观缺陷，因此需要安排对CG盖板产品进行检验。

传统的CG盖板外观缺陷检测是通过人工进行的，检验效果并不理想。随着科技的发展，出现了CG盖板检测设备。由于CG盖板产品包括可视区、油墨区、弧边等部分，而市面上常见的CG盖板检测设备并不能有效地、完整地检测出CG盖板各个部分的缺陷，导致检测结果不可靠，给CG盖板生产带来极大的麻烦。再者，每个不同型号、不同类型的终端设备对应的CG盖板在尺寸、材质、厚度等特性上是不相同的，比如5.5英寸手机与平板电脑的尺寸就不相同，不同类型终端对CG盖板的要求也不尽相同，对应的CG盖板检测方式和检测位置也就不一样，人工调整CG盖板的检测手段也是一件很费劲的工序，而且如果CG盖板的类型较多的话，在人为切换检测手段的过程中很容易出现错误。

因此，行业内亟需一种能解决上述问题的方案。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足而提供一种智能优化盖板终检AOI检测的方法及装置。本发明的目的可以通过如下所述技术方案来实现。

本发明提供一种智能优化盖板终检AOI检测的方法，包括：

根据盖板上包括型号、尺寸和厚度的盖板类型信息，预设所述盖板的检测策略对应关系，将所述检测策略对应关系预置到盖板检测工线的控制器中；

接收待检测盖板并获取其盖板类型信息，与所述检测策略对应关系对比得到检测策略，根据所述检测策略得到面阵检测策略、暗场检测策略、旋转策略及明暗场检测策略；

根据所述面阵检测策略将所述待检测盖板放置在面阵检测组件上进行检测；

根据所述暗场检测策略将所述待检盖板放在暗场检测组件处移动进行检测；

根据所述旋转策略将暗场检测后的所述待检测盖板旋转方向，传送至明暗场检测组件处；

在所述明暗场检测组件处进行检测。

可选地，其中，该方法还包括：

预先设置盖板类型、旋转策略与所述盖板检测工线中旋转编码器的脉冲数的对应关系；

根据所述待检测盖板的盖板类型信息及所述旋转策略，得到对应的旋转编码器获取脉冲数，通过编码器脉冲来监控磁力滚轮的传动速度，并匹配线扫相机；其中，匹配关系为：编码器脉冲数＝磁力滚轮周长/线扫相机最小像素精度。

可选地，其中，所述检测工线包括上料组件、移送组件、面阵检测组件、暗场检测组件、明暗场检测组件、磁力传送组件及旋转组件，所述上料组件、所述面阵检测组件、所述暗场检测组件及所述明暗场检测组件从输入端至输出端依次排列设置。

可选地，其中，该方法还包括：

根据所述盖板类型信息记录每个所述待检测盖板中，包括面阵检测结果、暗场检测结果及明暗场检测结果的检测结果；

根据预设的分类策略将所述检测结果对应于所述盖板类型信息分为训练检测数据和校验检测数据；

基于预设的盖板检测函数，利用所述训练检测数据构建盖板检测训练模型；

利用所述校验检测数据校验所述盖板检测训练模型成功时，根据所述盖板检测训练模型及所述待检测盖板的所述盖板类型信息得到对应的预估检测结果；

根据所述预估检测结果获取对应的所述检测策略。

可选地，其中，该方法还包括：

在所述在面阵检测组件上，检测所述待检测盖板弧边是否出现崩边、崩角缺陷；

在暗场检测组件处进行横向线扫检测，检测所述待检测盖板横向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内；

在所述明暗场检测组件处，根据所述明暗场检测策略检测所述待检测盖板正面及背面是否污点，并且，进行纵向线扫检测，检测所述待检测盖板纵向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内。

另一方面，本发明还提供一种智能优化盖板终检AOI检测的装置，包括：检测设置模块、检测策略选取模块、面阵检测控制模块、暗场检测控制模块、旋转传送控制模块及明暗场检测控制模块；其中

所述检测设置模块，根据盖板上包括型号、尺寸和厚度的盖板类型信息，预设所述盖板的检测策略对应关系，将所述检测策略对应关系预置到盖板检测工线的控制器中；

所述检测策略选取模块，与所述检测设置模块相连接，接收待检测盖板并获取其盖板类型信息，与所述检测策略对应关系对比得到检测策略，根据所述检测策略得到面阵检测策略、暗场检测策略、旋转策略及明暗场检测策略；

所述面阵检测控制模块，与所述检测策略选取模块相连接，根据所述面阵检测策略将所述待检测盖板放置在面阵检测组件上进行检测；

所述暗场检测控制模块，与所述检测策略选取模块及面阵检测控制模块相连接，根据所述暗场检测策略将所述待检盖板放在暗场检测组件处移动进行检测；

所述旋转传送控制模块，与所述检测策略选取模块及暗场检测控制模块相连接，根据所述旋转策略将暗场检测后的所述待检测盖板旋转方向，传送至明暗场检测组件处；

所述明暗场检测控制模块，与所述检测策略选取模块及旋转传送控制模块相连接，在所述明暗场检测组件处进行检测。

可选地，其中，该装置还包括：旋转控制参数获取模块，与所述旋转传送控制模块相连接，预先设置盖板类型、旋转策略与所述盖板检测工线中旋转编码器的脉冲数的对应关系；

根据所述待检测盖板的盖板类型信息及所述旋转策略，得到对应的旋转编码器获取脉冲数，通过编码器脉冲来监控磁力滚轮的传动速度，并匹配线扫相机；其中，匹配关系为：编码器脉冲数＝磁力滚轮周长/线扫相机最小像素精度。

可选地，其中，所述检测工线包括上料组件、移送组件、面阵检测组件、暗场检测组件、明暗场检测组件、磁力传送组件及旋转组件，所述上料组件、所述面阵检测组件、所述暗场检测组件及所述明暗场检测组件从输入端至输出端依次排列设置。

可选地，其中，该装置还包括：检测策略训练模块，与所述检测策略选取模块相连接，根据所述盖板类型信息记录每个所述待检测盖板中，包括面阵检测结果、暗场检测结果及明暗场检测结果的检测结果；

根据预设的分类策略将所述检测结果对应于所述盖板类型信息分为训练检测数据和校验检测数据；

基于预设的盖板检测函数，利用所述训练检测数据构建盖板检测训练模型；

利用所述校验检测数据校验所述盖板检测训练模型成功时，根据所述盖板检测训练模型及所述待检测盖板的所述盖板类型信息得到对应的预估检测结果；

根据所述预估检测结果获取对应的所述检测策略。

可选地，其中，所述面阵检测控制模块，用于在所述在面阵检测组件上，检测所述待检测盖板弧边是否出现崩边、崩角缺陷；

所述暗场检测控制模块，用于在暗场检测组件处进行横向线扫检测，检测所述待检测盖板横向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内；

所述明暗场检测控制模块，用于在所述明暗场检测组件处，根据所述明暗场检测策略检测所述待检测盖板正面及背面是否污点，并且，进行纵向线扫检测，检测所述待检测盖板纵向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内。

与现有技术比，本发明的有益效果：

本发明研发了一种智能化的盖板终检AOI装置及其检测方法，根据盖板的自身特性，设置智能化的检测手段切换策略，将盖板依次进行面阵检测、暗场检测、明暗场检测可以对盖板的弧边、可视区域及油墨区等各个部分进行外观缺陷检测，以此可以对盖板进行全面地、完整地检测，保障检测结果的可靠性，而且盖板检测流程一气呵成，大大提高检测效率，并且极大地降低了盖板检测的出错率，提升了检测准确性。

附图说明

为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见的，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它附图。

图1为本发明实施例中的智能优化盖板终检AOI检测的方法的流程示意图；

图2为本发明实施例中第二种智能优化盖板终检AOI检测的方法的流程示意图；

图3为本发明实施例中第三种智能优化盖板终检AOI检测的方法的流程示意图；

图4为本发明实施例中第四种智能优化盖板终检AOI检测的方法的流程示意图；

图5为本发明实施例中的智能优化盖板终检AOI检测的装置的结构示意图；

图6为本发明实施例中第二种智能优化盖板终检AOI检测的装置的结构示意图；

图7为本发明实施例中第三种智能优化盖板终检AOI检测的装置的结构示意图；

图8为本发明实施例中的设备结构示意图。

图9为本发明实施例中设备隐藏保护罩后的结构示意图。

图10为本发明实施例中设备隐藏保护罩后另一角度的结构示意图。

图11为本发明实施例中设备隐藏保护罩及基座后的结构示意图。

图12为本发明实施例中磁力传送组件的结构示意图。

图13为本发明实施例中面阵检测组件的结构示意图。

图14为本发明实施例中暗场检测组件的结构示意图。

图15为本发明实施例中明暗场检测组件的结构示意图。

图16为本发明实施例中旋转组件的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合具体实施例，对本发明的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通的技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明的保护范围。

如图1至图4所示，图1为本实施例中的智能优化盖板终检AOI检测的方法的流程示意图；图2为本实施例中第二种智能优化盖板终检AOI检测的方法的流程示意图；图3为本实施例中第三种智能优化盖板终检AOI检测的方法的流程示意图；图4为本实施例中第四种智能优化盖板终检AOI检测的方法的流程示意图。具体地，该智能优化盖板终检AOI检测的方法包括如下步骤：

步骤101、根据盖板上包括型号、尺寸和厚度的盖板类型信息，预设盖板的检测策略对应关系，将检测策略对应关系预置到盖板检测工线的控制器中。

步骤102、接收待检测盖板并获取其盖板类型信息，与检测策略对应关系对比得到检测策略，根据检测策略得到面阵检测策略、暗场检测策略、旋转策略及明暗场检测策略。

步骤103、根据面阵检测策略将待检测盖板放置在面阵检测组件上进行检测。

步骤104、根据暗场检测策略将待检盖板放在暗场检测组件处移动进行检测。

步骤105、根据旋转策略将暗场检测后的待检测盖板旋转方向，传送至明暗场检测组件处。

步骤106、在明暗场检测组件处进行检测。

在一些可选的实施例中，与图1中不同的是，该智能优化盖板终检AOI检测的方法，还包括：

步骤201、预先设置盖板类型、旋转策略与盖板检测工线中旋转编码器的脉冲数的对应关系。

步骤202、根据待检测盖板的盖板类型信息及旋转策略，得到对应的旋转编码器获取脉冲数，通过编码器脉冲来监控磁力滚轮的传动速度，并匹配线扫相机；其中，匹配关系为：编码器脉冲数＝磁力滚轮周长/线扫相机最小像素精度。

在一些可选的实施例中，与图1中不同的是，该智能优化盖板终检AOI检测的方法，还包括：

步骤301、根据盖板类型信息记录每个待检测盖板中，包括面阵检测结果、暗场检测结果及明暗场检测结果的检测结果。

步骤302、根据预设的分类策略将检测结果对应于盖板类型信息分为训练检测数据和校验检测数据。

步骤303、基于预设的盖板检测函数，利用训练检测数据构建盖板检测训练模型。

步骤304、利用校验检测数据校验盖板检测训练模型成功时，根据盖板检测训练模型及待检测盖板的盖板类型信息得到对应的预估检测结果。

步骤305、根据预估检测结果获取对应的检测策略。

在一些可选的实施例中，与图1中不同的是，该智能优化盖板终检AOI检测的方法，还包括：

步骤401、在面阵检测组件上，检测待检测盖板弧边是否出现崩边、崩角缺陷。

步骤402、在暗场检测组件处进行横向线扫检测，检测待检测盖板横向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内。

步骤403、在明暗场检测组件处，根据明暗场检测策略检测待检测盖板正面及背面是否污点，并且，进行纵向线扫检测，检测待检测盖板纵向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内。

如图5至图16所示，图5为本实施例中的智能优化盖板终检AOI检测的装置的结构示意图；图6为本实施例中第二种智能优化盖板终检AOI检测的装置的结构示意图；图7为本实施例中第三种智能优化盖板终检AOI检测的装置的结构示意图；图8为本实施例中的设备结构示意图；图9为本实施例中设备隐藏保护罩后的结构示意图；图10为本实施例中设备隐藏保护罩后另一角度的结构示意图；图11为本实施例中设备隐藏保护罩及基座后的结构示意图；图12为本实施例中磁力传送组件的结构示意图；图13为本实施例中面阵检测组件的结构示意图；图14为本实施例中暗场检测组件的结构示意图；图15为本实施例中明暗场检测组件的结构示意图；图16为本实施例中旋转组件的结构示意图。

具体地，该智能优化盖板终检AOI检测的装置包括：检测设置模块501、检测策略选取模块502、面阵检测控制模块503、暗场检测控制模块504、旋转传送控制模块505及明暗场检测控制模块506。

其中，检测设置模块501，根据盖板上包括型号、尺寸和厚度的盖板类型信息，预设盖板的检测策略对应关系，将检测策略对应关系预置到盖板检测工线的控制器中。

检测策略选取模块502，与检测设置模块501相连接，接收待检测盖板并获取其盖板类型信息，与检测策略对应关系对比得到检测策略，根据检测策略得到面阵检测策略、暗场检测策略、旋转策略及明暗场检测策略。

面阵检测控制模块503，与检测策略选取模块502相连接，根据面阵检测策略将待检测盖板放置在面阵检测组件上进行检测。

暗场检测控制模块504，与检测策略选取模块502及面阵检测控制模块503相连接，根据暗场检测策略将待检盖板放在暗场检测组件处移动进行检测。

旋转传送控制模块505，与检测策略选取模块502及暗场检测控制模块504相连接，根据旋转策略将暗场检测后的待检测盖板旋转方向，传送至明暗场检测组件处。

明暗场检测控制模块506，与检测策略选取模块502及旋转传送控制模块505相连接，在明暗场检测组件处进行检测。

在一些可选的实施例中，该智能优化盖板终检AOI检测的装置还包括：旋转控制参数获取模块601，与旋转传送控制模块505相连接，预先设置盖板类型、旋转策略与盖板检测工线中旋转编码器的脉冲数的对应关系。

根据待检测盖板的盖板类型信息及旋转策略，得到对应的旋转编码器获取脉冲数，通过编码器脉冲来监控磁力滚轮的传动速度，并匹配线扫相机；其中，匹配关系为：编码器脉冲数＝磁力滚轮周长/线扫相机最小像素精度。

在一些可选的实施例中，该智能优化盖板终检AOI检测的装置中，检测工线包括上料组件、移送组件、面阵检测组件、暗场检测组件、明暗场检测组件、磁力传送组件及旋转组件，上料组件、面阵检测组件、暗场检测组件及明暗场检测组件从输入端至输出端依次排列设置。

在一些可选的实施例中，该智能优化盖板终检AOI检测的装置中，还包括：检测策略训练模块701，与检测策略选取模块502相连接，根据盖板类型信息记录每个待检测盖板中，包括面阵检测结果、暗场检测结果及明暗场检测结果的检测结果。

根据预设的分类策略将检测结果对应于盖板类型信息分为训练检测数据和校验检测数据。

基于预设的盖板检测函数，利用训练检测数据构建盖板检测训练模型。

利用校验检测数据校验盖板检测训练模型成功时，根据盖板检测训练模型及待检测盖板的盖板类型信息得到对应的预估检测结果；根据预估检测结果获取对应的检测策略。

在一些可选的实施例中，该智能优化盖板终检AOI检测的装置中，面阵检测控制模块503，用于在在面阵检测组件上，检测待检测盖板弧边是否出现崩边、崩角缺陷。

暗场检测控制模块504，用于在暗场检测组件处进行横向线扫检测，检测待检测盖板横向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内；

明暗场检测控制模块506，用于在明暗场检测组件处，根据明暗场检测策略检测待检测盖板正面及背面是否污点，并且，进行纵向线扫检测，检测待检测盖板纵向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内。

下面结合附图8至附图16及具体实施例详细论述本发明：

一种盖板终检AOI设备，用于应用实施上述的智能优化盖板终检AOI检测的方法，该智能优化盖板终检AOI检测的装置设置于该盖板终检AOI设备中，用于控制检测工线。该盖板终检AOI设备，包括基座1和至少一组设置在基座1上的检测工线2，优选设置为两组检测工线2，各组检测工线2可以并排设置在基座1上，方便管理。检测工线2包括上料组件21、移送组件23、面阵检测组件22、暗场检测组件24、明暗场检测组件25、磁力传送组件26及旋转组件27。上料组件21、面阵检测组件22、暗场检测组件24及明暗场检测组件25从输入端至输出端依次排列设置，根据该位置设置，盖板从上料组件21上料后先进行盖板的面阵检测，面阵检测组件22检测盖板的弧边是否出现崩边、崩角缺陷，然后再进行暗场检测，暗场检测组件24检测盖板的可视区域是否在横向方向上出现划痕缺陷，再进行明暗场检测，明暗场检测盖板的正面和背面是否出现污点、气泡、缺口等缺陷，同时也检测盖板的可视区域是否在竖向方向上出现划痕缺陷。由于进行面阵检测时盖板是固定不动的，而进行暗场检测及明暗场检测时，需要对盖板进行线扫来检测是否有相应的缺陷，为了提供适应的检测条件，磁力传送组件26固定在基座1上并横跨暗场检测组件24及明暗场检测组件25，磁力传送组件26设置在面阵检测组件22的后侧，用于带动盖板移动经过暗场检测组件24及明暗场检测组件25，磁力传送组件26利用磁体的吸力和斥力相互作用的原来对盖板传送，进而磁力传送组件26在移送过程与盖板无接触，不会对盖板造成磨损，也不会在盖板上留下痕迹。由于面阵检测时盖板固定不动，盖板不直接传送，而是通过移送组件23吸附来传送，移送组件23设于上料组件21、面阵检测组件22及暗场检测组件24的旁侧，移送组件23吸附上料组件21的盖板送至面阵检测组件22上检测，待面阵检测组件22完后再吸附盖板放置在磁力传送组件26上传送至后续工序检测。旋转组件27设于暗场检测组件24和明暗场检测组件25的旁侧，暗场检测组件24检测盖板横向方向上的划痕缺陷，为了检测全面，旋转组件27在暗场检测组件24对盖板检测完后使盖板旋转成竖向，进而对盖板进行竖向方向上的划痕缺陷检测。

本实施例中提供的一种盖板终检AOI设备，磁力传送组件26包括传送基座261、传送驱动装置262、旋转编码器263及若干个磁力滚轮264，磁力滚轮264间隔设置在传送基座261上，暗场检测组件24及明暗场检测组件25的位于磁力滚轮264的间隙中，避免磁力传送组件26对检测视觉造成影响，传送驱动装置262与磁力滚轮264传动连接以驱动磁力滚轮264运行，旋转编码器263安装在传送基座261上并与磁力滚轮264电性连接，旋转编码器263获取磁力滚轮264的脉冲数，再通过编码器脉冲来监控磁力滚轮264的传动速度，并匹配暗场检测组件24及明暗场检测组件25中的线扫相机的参数，进而使得传送速率与线扫相机相适应，避免磁力传送组件26的传送速率过快而线扫相机检测不完全。

本实施例中提供的一种盖板终检AOI设备，如图6所示，面阵检测组件22包括面阵相机221、面阵检测座222及面阵移动件223，面阵相机221和面阵检测座222可以设置在基座1内部，可以起到保护作用，面阵相机221夹持在面阵移动件223上，其中面阵移动件223由多个滑块和滑轨组合而成，可以通过气缸驱动或电机驱动，以此带动面阵相机221进行x方向、y方向及z方向移动，适应不同的盖板检测位置。面阵检测座222包括面阵检测底板2221、面阵检测面板2223及面阵检测板支撑块2222，面阵检测底板2221中部设有面阵检测通孔，面阵相机221通过该面阵检测通孔对放置在面阵检测面板2223上的盖板进行检测，面阵检测板支撑块2222设于面阵检测底板2221上并架接面阵检测面板2223，且面阵检测面板2223位于面阵相机221上方，以配合面阵相机221的光路，面阵检测面板2223的侧边设有面阵发光条，面阵发光条照亮检测的盖板，提供检测亮度。

本实施例中提供的一种盖板终检AOI设备，暗场检测组件24对盖板的可视区域横向方向上进行检测。暗场检测组件24包括暗场线扫相机241、暗场移动件242及两个互为对称的暗场光源件243，暗场线扫相机241夹持在暗场移动件242上，且暗场线扫相机241位于两个暗场光源件243间隔空间的上方，暗场线扫相机241随着暗场移动件242可以进行x方向、y方向及z方向上的移动，其中暗场移动件242由滑块及滑轨组合而成，为了实现精准的微调，在z方向上可以设置螺杆244，通过对螺杆施力来带动滑块在滑轨上移动。暗场光源件243包括暗场光源座2431及暗场发光条2432，暗场发光条2432转动连接在暗场光源座2431上，以此可以转动暗场发光条2432进而给不同角度的盖板的检测亮度补给。

本实施例中提供的一种盖板终检AOI设备，明暗场检测组件25包括明暗场光源件251、第一明暗场线扫相机252、第二明暗场线扫相机253、第三明暗场线扫相机254、第一明暗场移动件255、第二明暗场移动件256及第三明暗场移动件257，第一明暗场线扫相机252夹持在第一明暗场移动件255上并位于明暗场光源件251上方，用于检测盖板正面的缺陷问题，第二明暗场线扫相机253夹持在第二明暗场移动件256上并位于明暗场光源件251下方，用于检测盖板背面的缺陷问题，第三明暗场线扫相机254夹持在第三明暗场移动件257上并倾斜设置在第二明暗场线扫相机253旁侧，用于对盖板的可视区域横向方向上检测。

为了达到明暗场检测的目的，设置一个适应的明暗场光源件251，明暗场光源件251为长方体状，明暗场光源件251内部设有若干发光体，明暗场光源件251的顶部设有弧形凹面2511，弧形凹面2511为透视面，磁力传送组件26位于该明暗场光源件251的上方，盖板传送至弧形凹面2511处进行线扫检测。第一明暗场线扫相机252位于弧形凹面2511上方检测盖板的正面，第二明暗场线扫相机253位于弧形凹面2511下方检测盖板的背面，第三明暗场线扫相机254位于弧形凹面2511侧下方，检测盖板的可视区。第三明暗场线扫相机254在检测过程中，其移动轨迹与弧形凹面2511相似。为了确保顺利线扫检测，第三明暗场移动件257包括调角件258，调角件258设有弧形滑槽，第三明暗场线扫相机254通过调角滑块与调角件258的弧形滑槽滑动连接。

本实施例中提供的一种盖板终检AOI设备，旋转组件27包括旋转基座273、吸附件272、旋转驱动装置274及移位件271，移位件271固定在旋转基座273上，旋转驱动装置274固定在移位件271上，吸附件272与旋转驱动装置274的输出端电性连接，吸附件272可以是真空吸附或电磁吸附，旋转驱动装置274可以是电机驱动，吸附件272吸住盖板后进行转动，将横向平放的盖板转变成竖向平放。同样地，移位件271也是由多个滑块与滑轨组合而成，通过电机或气缸提供动力可实现x方向、y方向及z方向的移动。

本实施例中提供的一种盖板终检AOI设备，如图1所示，还包括防护罩3，防护罩3固定在基座1上并包裹检测工线2，起到保护的作用，防护罩3的顶部设置有空气过滤器4，可以有效避免空气夹带尘土等污染物进入，防止对盖板的检测造成不利影响。

此外，由于线扫相机需要与检测产品的传送保持同步才不至于出现检测精准等问题，根据实验可知，如果产品传送过快，会导致盖板不能完整检测，但如果过慢，则产品图像出现被拉伸的情况，同样会导致检测不精准。因此，本发明还提供一种盖板外观检测方法，该检测方法基于上述盖板终检AOI设备，通过编码器的线触发输入来同步线扫相机和检测的产品，具体包括：

待检测的盖板放置在上料组件21上传输，由于面阵组件需要固定盖板不动，不直接通过传送带传送，而是通过移送组件23抓取。移送组件23吸附待检测的盖板并将盖板放置在面阵检测组件22上，检测盖板弧边是否出现崩边、崩角缺陷，若在盖板弧边出现发亮，则说明出现崩边、崩角等缺陷。

将盖板放在暗场检测组件24处移动，进行横向线扫检测，检测盖板横向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内。

由于不同方向性划伤只在一个运动方向拍照时无缝同时兼顾，容易导致漏检，因此再设置明暗场检测组件25来对盖板增加另一方向的线扫检测。将盖板旋转方向，将原来横向平放的盖板转变成竖向平放，再放在明暗场检测组件25处移动，检测盖板正面及背面是否污点，并且，进行纵向线扫检测，检测盖板纵向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内。

同时，设置旋转编码器263获取脉冲数，通过编码器脉冲来监控磁力滚轮264的传动速度，并匹配线扫相机。其中，匹配关系为：编码器脉冲数＝磁力滚轮264周长/线扫相机最小像素精度，根据该匹配关系算出来的参数进行调整，使得线扫相机和检测的产品同步。

以上借助具体实施例对本发明做了进一步描述，但是应该理解的是，这里具体的描述，不应理解为对本发明的实质和范围的限定，本领域内的普通技术人员在阅读本说明书后对上述实施例做出的各种修改，都属于本发明所保护的范围。

Claims (10)

1.一种智能优化盖板终检AOI检测的方法，其特征在于，包括：

根据盖板上包括型号、尺寸和厚度的盖板类型信息，预设所述盖板的检测策略对应关系，将所述检测策略对应关系预置到盖板检测工线的控制器中；

接收待检测盖板并获取其盖板类型信息，与所述检测策略对应关系对比得到检测策略，根据所述检测策略得到面阵检测策略、暗场检测策略、旋转策略及明暗场检测策略；

根据所述面阵检测策略将所述待检测盖板放置在面阵检测组件上进行检测；

根据所述暗场检测策略将所述待检盖板放在暗场检测组件处移动进行检测；

根据所述旋转策略将暗场检测后的所述待检测盖板旋转方向，传送至明暗场检测组件处；

在所述明暗场检测组件处进行检测。

2.根据权利要求1所述的智能优化盖板终检AOI检测的方法，其特征在于，还包括：

预先设置盖板类型、旋转策略与所述盖板检测工线中旋转编码器的脉冲数的对应关系；

根据所述待检测盖板的盖板类型信息及所述旋转策略，得到对应的旋转编码器获取脉冲数，通过编码器脉冲来监控磁力滚轮的传动速度，并匹配线扫相机；其中，匹配关系为：编码器脉冲数＝磁力滚轮周长/线扫相机最小像素精度。

3.根据权利要求1所述的智能优化盖板终检AOI检测的方法，其特征在于，所述检测工线包括上料组件、移送组件、面阵检测组件、暗场检测组件、明暗场检测组件、磁力传送组件及旋转组件，所述上料组件、所述面阵检测组件、所述暗场检测组件及所述明暗场检测组件从输入端至输出端依次排列设置。

4.根据权利要求1所述的智能优化盖板终检AOI检测的方法，其特征在于，还包括：

根据所述盖板类型信息记录每个所述待检测盖板中，包括面阵检测结果、暗场检测结果及明暗场检测结果的检测结果；

根据预设的分类策略将所述检测结果对应于所述盖板类型信息分为训练检测数据和校验检测数据；

基于预设的盖板检测函数，利用所述训练检测数据构建盖板检测训练模型；

利用所述校验检测数据校验所述盖板检测训练模型成功时，根据所述盖板检测训练模型及所述待检测盖板的所述盖板类型信息得到对应的预估检测结果；

根据所述预估检测结果获取对应的所述检测策略。

5.根据权利要求1所述的智能优化盖板终检AOI检测的方法，其特征在于，还包括：

在所述在面阵检测组件上，检测所述待检测盖板弧边是否出现崩边、崩角缺陷；

在暗场检测组件处进行横向线扫检测，检测所述待检测盖板横向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内；

在所述明暗场检测组件处，根据所述明暗场检测策略检测所述待检测盖板正面及背面是否污点，并且，进行纵向线扫检测，检测所述待检测盖板纵向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内。

6.一种智能优化盖板终检AOI检测的装置，其特征在于，包括：检测设置模块、检测策略选取模块、面阵检测控制模块、暗场检测控制模块、旋转传送控制模块及明暗场检测控制模块；其中

所述检测设置模块，根据盖板上包括型号、尺寸和厚度的盖板类型信息，预设所述盖板的检测策略对应关系，将所述检测策略对应关系预置到盖板检测工线的控制器中；

所述检测策略选取模块，与所述检测设置模块相连接，接收待检测盖板并获取其盖板类型信息，与所述检测策略对应关系对比得到检测策略，根据所述检测策略得到面阵检测策略、暗场检测策略、旋转策略及明暗场检测策略；

所述面阵检测控制模块，与所述检测策略选取模块相连接，根据所述面阵检测策略将所述待检测盖板放置在面阵检测组件上进行检测；

所述暗场检测控制模块，与所述检测策略选取模块及面阵检测控制模块相连接，根据所述暗场检测策略将所述待检盖板放在暗场检测组件处移动进行检测；

所述旋转传送控制模块，与所述检测策略选取模块及暗场检测控制模块相连接，根据所述旋转策略将暗场检测后的所述待检测盖板旋转方向，传送至明暗场检测组件处；

所述明暗场检测控制模块，与所述检测策略选取模块及旋转传送控制模块相连接，在所述明暗场检测组件处进行检测。

7.根据权利要求6所述的智能优化盖板终检AOI检测的装置，其特征在于，还包括：旋转控制参数获取模块，与所述旋转传送控制模块相连接，预先设置盖板类型、旋转策略与所述盖板检测工线中旋转编码器的脉冲数的对应关系；

根据所述待检测盖板的盖板类型信息及所述旋转策略，得到对应的旋转编码器获取脉冲数，通过编码器脉冲来监控磁力滚轮的传动速度，并匹配线扫相机；其中，匹配关系为：编码器脉冲数＝磁力滚轮周长/线扫相机最小像素精度。

8.根据权利要求6所述的智能优化盖板终检AOI检测的装置，其特征在于，所述检测工线包括上料组件、移送组件、面阵检测组件、暗场检测组件、明暗场检测组件、磁力传送组件及旋转组件，所述上料组件、所述面阵检测组件、所述暗场检测组件及所述明暗场检测组件从输入端至输出端依次排列设置。

9.根据权利要求6所述的智能优化盖板终检AOI检测的装置，其特征在于，还包括：检测策略训练模块，与所述检测策略选取模块相连接，根据所述盖板类型信息记录每个所述待检测盖板中，包括面阵检测结果、暗场检测结果及明暗场检测结果的检测结果；

根据预设的分类策略将所述检测结果对应于所述盖板类型信息分为训练检测数据和校验检测数据；

基于预设的盖板检测函数，利用所述训练检测数据构建盖板检测训练模型；

利用所述校验检测数据校验所述盖板检测训练模型成功时，根据所述盖板检测训练模型及所述待检测盖板的所述盖板类型信息得到对应的预估检测结果；

根据所述预估检测结果获取对应的所述检测策略。

10.根据权利要求6所述的智能优化盖板终检AOI检测的装置，其特征在于，所述面阵检测控制模块，用于在所述在面阵检测组件上，检测所述待检测盖板弧边是否出现崩边、崩角缺陷；

所述暗场检测控制模块，用于在暗场检测组件处进行横向线扫检测，检测所述待检测盖板横向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内；

所述明暗场检测控制模块，用于在所述明暗场检测组件处，根据所述明暗场检测策略检测所述待检测盖板正面及背面是否污点，并且，进行纵向线扫检测，检测所述待检测盖板纵向上是否出现划痕，以及出现的划痕是否在误差范围内。

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