CN112014726B - Dsp芯片测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种DSP芯片测试装置及方法，针对目前DSP芯片测试方法中存在的测试效率低和测试过程繁琐的问题，提供了一种DSP芯片自动化测试实现装置。基于此装置，可以实现在DSP芯片上电的一次测试中随时改变测试参数和测试指令。与目前常用的DSP芯片测试方法相比，DSP芯片测试装置在完成基本DSP芯片测试功能的基础上，增加了FPGA与服务器的数据传输通道，使测试工作与各项参数的配置更加灵活。通过服务器操作界面，测试过程中可以实时配置测试参数和在线更新测试指令而无需修改FPGA测试工程代码。

Description

DSP芯片测试装置及方法

技术领域

本发明涉及DSP芯片测试技术领域，特别涉及一种DSP芯片测试装置及方法。

背景技术

随着国产数字信号处理芯片的发展，DSP芯片的研发初期，在没有完整的DSP芯片使用开发工具之前需要对DSP芯片功能进行测试，往往需要使用基于FPGA的测试平台对DSP芯片进行测试。目前常用的DSP芯片测试装置是：针对DSP芯片特性，设计FPGA测试电路板与相应的DSP芯片管脚连接，与DSP芯片实现通信，从而对DSP芯片的功能进行测试。

相关技术中的具体测试步骤为：第一步，FPGA上电复位完成后进入工作状态，DSP芯片初始状态配置信息均在FPGA复位完成后按预定值输出。第二步，FPGA在数据传输中处于master模式，按照数据发送时序从FPGA预先存储的数据ROM里将DSP测试指令数据发送给DSP芯片。第三步，FPGA在数据传输中处于slave模式，按照数据接收时序从IO端口处接收DSP测试结果并存在相应的结果RAM里，测试人员通过串口数据通道访问FPGA内部的测试结果数据RAM，并根据DSP测试结果数据判断DSP芯片相应功能的正确性。

该技术框架下的DSP芯片测试方法实现了对DSP芯片测试指令的输入和测试结果数据的采集，但是每一次测试只能测试预先存储在FPGA数据ROM里的测试用例和测试参数，测试用例的更换和改变测试参数需要重新修改FPGA测试工程代码，而且需用使用串口通信的方式将测试结果从FPGA中提取出来，测试效率较低，测试过程繁琐。

发明内容

本发明的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种DSP芯片测试装置及方法，解决DSP芯片测试中，每一次测试只能测试预先存储在FPGA数据ROM里的测试用例和测试参数，导致测试效率较低、测试过程繁琐的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供一种DSP芯片测试装置，所述测试装置包括服务器和FPGA芯片，所述服务器和所述FPGA芯片通信连接；

所述FPGA芯片用于：接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，将所述DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数输入到待测试的DSP芯片进行测试，并在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器；其中，所述DSP芯片测试结果包括DSP芯片运算结果。

作为进一步的改进，所述服务器和所述FPGA芯片通过PCIE传输协议实现通信连接。

作为进一步的改进，所述FPGA芯片包括DMA控制逻辑模块、PCIE接口逻辑模块、测试指令数据缓存模块、DSP参数配置处理模块、DSP测试结果RAM模块，所述PCIE接口逻辑模块、测试指令数据缓存模块、DSP参数配置处理模块、DSP测试结果RAM模块分别与所述DMA控制逻辑模块连接；

所述PCIE接口逻辑模块用于实现FPGA芯片与服务器之间的PCIE传输协议通信；

所述测试指令数据缓存模块用于存储DSP芯片测试指令的机器码；

所述DSP参数配置处理模块用于存储DSP芯片测试参数；

所述DSP测试结果RAM模块用于存储DSP芯片的运算结果；

所述DMA控制逻辑模块用于根据服务器下发的指令协调各模块数据的发送、处理和存储。

作为进一步的改进，所述FPGA芯片还包括DSP数据解码模块，所述DSP数据解码模块分别与所述DMA控制逻辑模块以及DSP测试结果RAM模块连接；

所述DSP数据解码模块用于：对原始的DSP芯片的运算结果进行解码，以便于提取运算数据保存在相应的DSP测试结果RAM模块中。

作为进一步的改进，所述测试装置还包括FPGA测试板卡，所述FPGA芯片安装在所述FPGA测试板卡上。

作为进一步的改进，所述测试装置还包括DSP测试板卡，所述待测试的DSP芯片安装在所述DSP测试板卡上。

第二方面，本发明实施例提供一种DSP芯片测试方法，设置有服务器、FPGA芯片、待测试的DSP芯片，服务器和待测试的DSP芯片分别与所述FPGA芯片通信连接，所述测试方法包括：

接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，将所述DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数输入到待测试的DSP芯片进行测试；

在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器；其中，所述DSP芯片测试结果包括DSP芯片运算结果。

作为进一步的改进，所述服务器和所述FPGA芯片通过PCIE传输协议实现通信连接。

作为进一步的改进，所述接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，具体包括以下步骤：

利用DMA控制FPGA芯片通过PCIE传输协议接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数。

作为进一步的改进，所述在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器，具体包括以下步骤：

在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，对原始的DSP芯片的运算结果进行解码，将解码后的所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器。

有益效果：上述的DSP芯片测试装置及方法，针对目前DSP芯片测试方法中存在的测试效率低和测试过程繁琐的问题，提供了一种DSP芯片自动化测试实现装置。基于此装置，可以实现在DSP芯片上电的一次测试中随时改变测试参数和测试指令。与目前常用的DSP芯片测试方法相比，DSP芯片测试装置在完成基本DSP芯片测试功能的基础上，增加了FPGA与服务器的数据传输通道，使测试工作与各项参数的配置更加灵活。通过服务器操作界面，测试过程中可以实时配置测试参数和在线更新测试指令而无需修改FPGA测试工程代码。测试过程中测试人员只需将数字文本形式的DSP测试指令通过服务器写入FPGA开发板的测试指令数据缓存模块，输入开始测试命令，即可开始DSP芯片功能测试，等待测试完成后通过服务器读取FPGA测试结果RAM模块获取数据文本形式的DSP返回运算数据，DS芯片开发人员即可对测试结果进行判断。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步地说明；

图1为一个实施例中DSP芯片测试装置的DSP芯片测试环境框图。

图2为其中一个实施例中DSP芯片测试方法的流程示意图。

图3为另一个实施例中DSP芯片测试方法的流程示意图。

图4为一个实施例中对原始的DSP芯片的运算结果进行解码的解码过程示意图。

具体实施方式

本部分将详细描述本发明的具体实施例，本发明之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本发明的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本发明保护范围的限制。

现有技术中，每一次DSP芯片测试中，只能测试预先存储在FPGA数据ROM里的测试用例和测试参数，导致测试效率较低、测试过程繁琐。

为了解决上述技术问题，本发明的设计构思是：DSP芯片测试装置框图如图1所示，DSP芯片自动化测试实现装置主要由X86测试服务器、FPGA测试控制台和DSP芯片测试电路板组成。X86测试服务器将机器码文件作为DSP芯片的测试指令，该指令以十六进制文件的形式存放于测试服务器上，通过PCIE接口将该指令文件DMA到FPGA测试控制台内部的指令缓存中，由FPGA按照DSP的工作时序将测试指令DMA到DSP芯片的指令缓存中开始进行测试，待DSP运算完成后，FPGA测试控制台将测试结果数据先存入内部的缓存中，然后通过PCIE接口以DMA的方式将测试结果送至芯片测试服务器上进行保存，与测试例的标准结果进行比对。

X86服务器负责加载DSP芯片参数配置信息、测试指令代码、控制FPGA控制台的测试流程和测试运算结果的输出，并打印测试运算结果。FPGA测试控制台负责对X86服务器的测试指令进行处理并送至DSP芯片测试板进行运算，并收集运算结果，送回X86测试服务器。测试过程中测试人员先将十六进制数据形式的测试指令通过测试服务器写入FPGA测试台中，然后由测试服务器控制FPGA测试台再将测试指令写入到DSP芯片中进行运算，DSP芯片的运算结果先存入FPGA测试台缓存中，由测试服务器负责控制到处测试结果并进行分析。

为了便于本领域技术人员理解本发明，以下对本发明涉及的技术术语作出说明。

FPGA(Field Programmable Gate Array，中文名：现场可编程逻辑门阵列)是在PAL、GAL等可编程器件的基础上进一步发展的产物。它是作为专用集成电路(ASIC)领域中的一种半定制电路而出现的，既解决了定制电路的不足，又克服了原有可编程器件门电路数有限的缺点。

DSP(Digital Signal Processing，中文名：数字信号处理)是一门涉及许多学科而又广泛应用于许多领域的新兴学科。20世纪60年代以来，随着计算机和信息技术的飞速发展，数字信号处理技术应运而生并得到迅速的发展。

DMA(Direct Memory Access，直接存储器访问)是所有现代电脑的重要特色，它允许不同速度的硬件装置来沟通，而不需要依赖于CPU的大量中断负载。否则，CPU需要从来源把每一片段的资料复制到暂存器，然后把它们再次写回到新的地方。

RAM(英语：Random Access Memory，中文为：随机存取存储器)，也叫主存，是与CPU直接交换数据的内部存储器。它可以随时读写(刷新时除外)，而且速度很快，通常作为操作***或其他正在运行中的程序的临时数据存储介质。RAM工作时可以随时从任何一个指定的地址写入(存入)或读出(取出)信息。它与ROM的最大区别是数据的易失性，即一旦断电所存储的数据将随之丢失。RAM在计算机和数字***中用来暂时存储程序、数据和中间结果。

板卡是一种印制电路板，简称PCB板，制作时带有插芯，可以***计算机的主电路板(主板)的插槽中，用来控制硬件的运行，比如显示器、采集卡等设备，安装驱动程序后，即可实现相应的硬件功能。

下面，将通过几个具体的实施例对本发明实施例提供的DSP芯片测试装置进行详细介绍和说明。

如图1所示，在一个实施例中，提供了一种DSP芯片测试装置。测试装置包括服务器和FPGA芯片，服务器和FPGA芯片通信连接；FPGA芯片用于：接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，将DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数输入到待测试的DSP芯片进行测试，并在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将DSP芯片测试结果发送至服务器；其中，DSP芯片测试结果包括DSP芯片运算结果。

可以理解的是，DSP芯片测试装置增加了的FPGA与服务器的数据传输通道，加载相关的驱动后，通过服务器输入相关的测试指令，能够配置DSP芯片测试参数、测试指令和读取测试结果文件。实现了DSP芯片测试参数调整、测试指令和测试结果传输的灵活性。在无需改变DSP芯片配置参数和测试指令的情况下，只需输入一条测试指令即可完成对DSP芯片的一次测试，可以非常方便、灵活、快捷的以一种自动化的方式对DSP芯片进行反复的测试。

具体的，服务器和FPGA芯片通过PCIE传输协议实现通信连接。DSP芯片测试配置参数、测试指令和测试结果的传输通道是基于PCIE传输协议的数据传输，相对于传统测试方法中的串口数据传输，数据传输速度大大提高。

参照图1，在一些实施例中，FPGA芯片包括DMA控制逻辑模块、PCIE接口逻辑模块、测试指令数据缓存模块、DSP参数配置处理模块、DSP测试结果RAM模块，PCIE接口逻辑模块、测试指令数据缓存模块、DSP参数配置处理模块、DSP测试结果RAM模块分别与DMA控制逻辑模块连接；PCIE接口逻辑模块用于实现FPGA芯片与服务器之间的PCIE传输协议通信；测试指令数据缓存模块用于存储DSP芯片测试指令的机器码；DSP参数配置处理模块用于存储DSP芯片测试参数；DSP测试结果RAM模块用于存储DSP芯片的运算结果；DMA控制逻辑模块用于根据服务器下发的指令协调各模块数据的发送、处理和存储。

可以理解的是，FPGA测试板卡中DMA控制逻辑功能，DMA控制逻辑模块全程控制DSP芯片的测试流程，是整个DSP芯片测试装置的控制中枢，控制着各信号之间的时序和各模块协同工作的时间窗，保证整个测试过程的顺利运行。

参照图1，在一些实施例中，FPGA芯片还包括DSP数据解码模块，DSP数据解码模块分别与DMA控制逻辑模块以及DSP测试结果RAM模块连接；DSP数据解码模块用于：对原始的DSP芯片的运算结果进行解码，以便于提取运算数据保存在相应的DSP测试结果RAM模块中。

可以理解的是，根据DSP芯片的数据处理特点，在FPGA芯片内开发相对应的数据解码模块对接收的DSP芯片运算结果进行解码后提取有效数据进行保存，减少了冗余数据的保存，节省了数据存储空间。

具体的，测试装置还包括FPGA测试板卡，FPGA芯片安装在FPGA测试板卡上。测试装置还包括DSP测试板卡，待测试的DSP芯片安装在DSP测试板卡上。

可以理解的是，通过设置FPGA测试板卡和DSP测试板卡便于FPGA芯片和DSP芯片的安装，加快测试效率。

参照图2，该DSP芯片测试方法，设置有服务器、FPGA芯片、待测试的DSP芯片，服务器和待测试的DSP芯片分别与FPGA芯片通信连接。具体的，服务器和FPGA芯片通过PCIE传输协议实现通信连接。

可以理解的是，DSP芯片测试配置参数、测试指令和测试结果的传输通道是基于PCIE传输协议的数据传输，相对于传统测试方法中的串口数据传输，数据传输速度大大提高。

该DSP芯片测试方法具体包括如下步骤：

步骤S102：接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，将DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数输入到待测试的DSP芯片进行测试。

需要说明的是，接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，具体包括以下步骤：

步骤S1021：利用DMA控制FPGA芯片通过PCIE传输协议接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数。

步骤S104：在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将DSP芯片测试结果发送至服务器；其中，DSP芯片测试结果包括DSP芯片运算结果。

需要说明的是，在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将DSP芯片测试结果发送至服务器，具体包括以下步骤：

步骤S1041：在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，对原始的DSP芯片的运算结果进行解码，将解码后的DSP芯片测试结果发送至服务器。

可以理解的是，根据DSP芯片的数据处理特点，在FPGA芯片内开发相对应的数据解码模块对接收的DSP芯片运算结果进行解码后提取有效数据进行保存，减少了冗余数据的保存，节省了数据存储空间。

如图1所示，本方法提供的操作主要在服务器端，在服务器端开发了整套DSP芯片测试硬件平台专用的测试软件和相关的驱动，只需在服务器端输入相关的指令即可实现对DSP芯片的测试参数配置、DSP测试指令输入和DSP测试结果返回的控制，从而实现在服务器端可以控制整个DSP芯片的测试流程。FPGA测试板卡主要由基于FPGA芯片的测试硬件电路组成，FPGA芯片内部逻辑中PCIE接口逻辑模块主要作用是与服务器进行信息交互；测试指令数据缓存模块中存储DSP芯片测试指令的机器码，供***实时调用；DSP参数配置处理模块中存储需要配置的DSP芯片测试参数，控制DSP芯片参数的配置；DMA控制逻辑模块为FPGA工程的顶层模块，根据服务器下发的指令协调各模块数据的发送、处理和存储；DSP数据解码模块负责对原始的DSP芯片运算结果进行解码，从而提取有效的运算数据保存在相应的存储模块中；DSP测试结果RAM模块负责存储DSP芯片的运算结果。

参照图3，提供本发明DSP测试方法的一个优选的实施方式，包括以下操作步骤：

步骤1：DSP芯片测试准备，芯片测试开始之前需要先对***进行软件包部署，软件包部署包括：FPGA配置文件固化和部署PCIE驱动，由于更改DSP芯片测试指令和配置参数无需更该FPGA测试工程代码，所以开发完成的FPGA配置文件已保存与FPGA测试板卡上的flash芯片上，上电即可自动加载，很大程度地提高了DSP芯片的测试效率，将pcie_driver文件上传至测试服务器，编译xdma、tools文件下文件即可完成PCIE驱动的部署。

步骤2：将DSP芯片测试指令写入FPGA中的DSP指令缓存，首先将制作好的256位形式的测试指令机器码文件存放到服务器指定目录(服务器硬盘的任何存储目录下)，在服务器中输入加载DSP芯片测试指令命令，测试指令文件将会通过PCIE通道导入到FPGA指令缓存内，以备DSP芯片测试过程中实时调用。

步骤3：将DSP芯片测试参数写入FPGA参数配置缓存，将测试指令文件导入到FPGA指令缓存内后，在对DSP芯片进行测试前，根据导入的测试指令的测试要求，要对测试程序中的各种参数进行配置，具体参数包括：DSP芯片PLL及基本参数配置、DSP测试指令基地址配置、DSP测试指令数据数量和指令数量配置。

步骤4：输入开始测试指令对DSP芯片开始进行测试，输入开始测试指令后FPGA首先调用配置参数模块中的配置参数，配给DSP芯片的相关管脚，将DSP芯片内部相关参数配置成测试所需要的值，然后切换成master模式按照wishbone总线协议的时序将测试指令数据缓存模块中的测试指令发送至DSP芯片，发送完指令后FPGA切换成slave模式，等待DSP芯片运算完成后在wishbone总线上接收DSP运算结果，并对运算结果进行解码保存在相应的存储模块中，解码存储过程如图4所示。

步骤5：获取DSP芯片测试结果，获取DSP测试结果分两步完成：先将FPGA接收的结果缓存数据写入服务器缓存：DSP测试完成后，通过在命令窗口输入读取结果命令，即可将FPGA结果缓存中的内容发送至服务器缓存中；然后，将服务器缓存数据生成结果文件：将FPGA结果缓存中的数据发送至服务器后，通过在命令窗口中输入生成结果文件命令，即可生成DSP运算结果文件。

步骤6：测试完成，将输出运算结果文件与正确值对比，用以判断DSP芯片运算的对错及相关性能。至此，一次DSP芯片测试完成。

本发明实施例涉及的关键模块及技术说明如下：

1、服务器与FPGA测试板卡之间的PCIE通道驱动程序及控制指令

基于PCIE协议的通道驱动程序及控制指令是实现自动化测试关键部分，服务中的驱动程序和FPGA中的PCIE接口逻辑控制模块共同搭建了整个DSP芯片测试装置进行实时信息交互的通道。

2、DMA控制逻辑模块

本方法的实现中，DMA控制逻辑模块起着至关重要的作用，该模块控制测试数据在服务器与DSP芯片之间的传输交互、执行服务器下发的测试指令和相关数据在FPGA缓存中的存取。

3、对DSP运算结果解码存储模块

DSP芯片的设计一般支持64位、32位、16位、8位等位宽的数据运算，DSP运算结果解码模块根据服务器下发的DSP芯片测试指令和DSP芯片返回运算结果的相关参数信息，通过对数据进行解码，只将有效的数据保存至存储RAM中，避免无效数据的存储，有效地提高了存储空间的利用率，从而使***支持更大运算量的DSP芯片测试指令。

综上，本发明实施例提供的一种DSP芯片测试装置及方法，具有以下的优点：

1、DSP芯片自动化测试和测试参数实时配置功能，支持实时更改测试用例和测试参数，在不改变测试的前提下，通过配置测试参数，可使DSP芯片工作在不同的工作模式和工作频率，大大增强了DSP芯片测试的灵活性。

2、服务器与FPGA测试板卡之间的通道驱动程序及与之相匹配的控制指令，该功能模块的开发使用使测试人员通过电脑屏幕就可实现DSP测试过程中的人机交互，很大程度改善了测试人员的工作环境。

3、FPGA测试板卡中DMA控制逻辑功能，DMA控制逻辑模块全程控制DSP芯片的测试流程，是整个DSP芯片测试装置的控制中枢，控制着各信号之间的时序和各模块协同工作的时间窗，保证测试过程顺利运行。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

Claims (8)

1.一种DSP芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置包括服务器和FPGA芯片，所述服务器和所述FPGA芯片通信连接；

所述FPGA芯片用于：接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，将所述DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数输入到待测试的DSP芯片进行测试，并在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器；其中，所述DSP芯片测试结果包括DSP芯片运算结果；

所述FPGA芯片包括DMA控制逻辑模块、PCIE接口逻辑模块、测试指令数据缓存模块、DSP参数配置处理模块、DSP测试结果RAM模块，所述PCIE接口逻辑模块、测试指令数据缓存模块、DSP参数配置处理模块、DSP测试结果RAM模块分别与所述DMA控制逻辑模块连接；

所述PCIE接口逻辑模块用于实现FPGA芯片与服务器之间的PCIE传输协议通信；

所述测试指令数据缓存模块用于存储DSP芯片测试指令的机器码；

所述DSP参数配置处理模块用于存储DSP芯片测试参数；

所述DSP测试结果RAM模块用于存储DSP芯片的运算结果；

所述DMA控制逻辑模块用于根据服务器下发的指令协调各模块数据的发送、处理和存储；

通过服务器操作界面，测试过程中可以实时配置测试参数和在线更新测试指令而无需修改FPGA测试工程代码。

2.如权利要求1所述的DSP芯片测试装置，其特征在于，所述服务器和所述FPGA芯片通过PCIE传输协议实现通信连接。

3.如权利要求1所述的DSP芯片测试装置，其特征在于，所述FPGA芯片还包括DSP数据解码模块，所述DSP数据解码模块分别与所述DMA控制逻辑模块以及DSP测试结果RAM模块连接；

所述DSP数据解码模块用于：对原始的DSP芯片的运算结果进行解码，以便于提取运算数据保存在相应的DSP测试结果RAM模块中。

4.如权利要求1所述的DSP芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括FPGA测试板卡，所述FPGA芯片安装在所述FPGA测试板卡上。

5.如权利要求1所述的DSP芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括DSP测试板卡，所述待测试的DSP芯片安装在所述DSP测试板卡上。

6.一种DSP芯片测试方法，其特征在于，设置有服务器、FPGA芯片、待测试的DSP芯片，服务器和待测试的DSP芯片分别与所述FPGA芯片通信连接，所述测试方法包括：

接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，将所述DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数输入到待测试的DSP芯片进行测试；

在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器；其中，所述DSP芯片测试结果包括DSP芯片运算结果；

所述接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，具体包括以下步骤：

利用DMA控制FPGA芯片通过PCIE传输协议接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数；

通过服务器操作界面，测试过程中可以实时配置测试参数和在线更新测试指令而无需修改FPGA测试工程代码。

7.根据权利要求6所述的一种DSP芯片测试方法，其特征在于，所述服务器和所述FPGA芯片通过PCIE传输协议实现通信连接。

8.根据权利要求6所述的一种DSP芯片测试方法，其特征在于，所述在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器，具体包括以下步骤：

在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，对原始的DSP芯片的运算结果进行解码，将解码后的所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器。