CN111796713B - 显示面板 - Google Patents

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Abstract

本申请提供了一种显示面板，本申请中显示面板的非显示区域内设置有测试模块，测试模块至少包括测试端子、测试电路、以及连接测试端子与测试电路的测试引线；其中，测试端子表面形成有刻蚀保护层，且刻蚀保护层位于触控层的驱动电极层和感应电极层之间，测试端子为感应电极层对于非显示区延伸的部分，延伸的部分与刻蚀保护层的电性连接，增加了测试端子搭接的面积，又减少触控层中触控电极的弯折角度，提高测试引线的稳定性，增加了显示面板触控层测试的可靠性和有效性，同时当用户使用时发生异常时，可以在不破坏显示面板的情况下，直接量测测试模块，从而对异常进行分析，降低了显示面板维修的成本。

Description

显示面板
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板。
背景技术
目前，一体化的触控显示面板主要包括两种类型：将触控传传感器设置在显示面板的偏光片与彩膜基板之间的外嵌型(On-Cell)；以及将触控感器嵌入到显示面板的像素结构之中的内嵌型(In-Cell)。
在内嵌型低温多晶硅触控显示面板制造中电性检测常为破坏性测试，无法使用产品电路直接进行测试，需要在显示面板中触控层伸出引线，然后测试电路用探针测量引线的电压电压、电流、或电阻值，用这些电压、电流、或电阻参数来判断液晶显示面板运行是否正常，由于触控层中感应电极层和触控电极的厚度非常薄，且触控电极的弯折的角度大，极容易在平坦化层边缘处断裂，导致测试失败，再加上显示面板的膜层较多，一般将将测试模块放置于显示面板边角处等非显示区域，这更增加了测试的难度。
综上所述，需要提出一种显示面板，解决现有技术中低温多晶硅显示面板中不容易测试触控层运行参数，容易出现测试数值不准确，极大影响着显示面板的品质判断的技术问题。
发明内容
本发明提供一种显示面板，能够解决现有技术中低温多晶硅显示面板中不容易测试触控层运行参数，容易出现测试数值不准确，极大影响着显示面板的品质判断的技术问题。
为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：
本发明提供一种显示面板，包括显示区域、以及位于位于所述显示区域外的非显示区域，所述非显示区域内设置有测试模块，所述测试模块至少包括测试端子、测试电路、以及连接所述测试端子与所述测试电路的测试引线；其中，所述测试端子表面形成有刻蚀保护层。
根据本发明一优选实施例，所述刻蚀保护层为金属层，该金属层的材料为钼、钛和钽中一种或两种以上的金属材料。
根据本发明一优选实施例，所述显示面板包括TFT阵列，所述TFT阵列包括栅极金属、源/漏极金属、以及像素电极，在所述非显示区内，所述测试端子与所述源/漏极金属同层制备，所述引线与所述像素电极同层制备，所述引线与所述测试端子通过过孔搭接。
根据本发明一优选实施例，所述显示面板内还设置有触控层，所述触控层包括驱动电极层和感应电极层，在所述非显示区内，所述测试端子为所述感应电极层的延伸部，且所述刻蚀保护层位于所述驱动电极层和感应电极层之间。
根据本发明一优选实施例，所述刻蚀保护层包括水平覆盖段、以及连接所述水平覆盖段的坡形覆盖段，所述水平覆盖段覆盖所述测试端子表面，所述坡形覆盖段覆盖所述测试端子的端部、且延伸至所述测试端子背侧的膜层端部。
根据本发明一优选实施例，所述感应电极层与所述刻蚀保护层的图案化形状相同，避免所述感应电极层过刻蚀。
根据本发明一优选实施例，所述感应电极层和所述刻蚀保护层与所述源/漏极金属同一道光罩制备而成。
根据本发明一优选实施例，测试引线包括第一引线和第二引线，所述测试端子包括第一端子和第二端子，所述第一引线与所述第一端子电性连接，所述第二引线与所述第二端子电性连接，且所述第一端子和所述第二端子对称设置于所述显示面板的两侧边角处。
根据本发明一优选实施例，所述测试电路设置有测试仪器，所述测试仪器包括电流表、电压表、电阻测试仪中一种或一种以上组合仪器。
根据本发明一优选实施例，所述显示面板为内嵌式触控液晶面板。
本发明的有益效果：本申请提供了一种显示面板，本申请中显示面板包括显示区域、以及位于位于显示区域外的非显示区域，非显示区域内设置有测试模块，测试模块至少包括测试端子、测试电路、以及连接测试端子与测试电路的测试引线；其中，测试端子表面形成有刻蚀保护层，且刻蚀保护层位于触控层的驱动电极层和感应电极层之间，测试端子为感应电极层对于非显示区延伸的部分，延伸的部分与刻蚀保护层的电性连接，增加了测试端子搭接的面积，又减少触控层中触控电极的弯折角度，提高测试引线的稳定性，增加了显示面板触控层测试的可靠性和有效性，同时当用户使用时发生异常时，可以在不破坏显示面板的情况下，直接量测测试模块，从而对异常进行分析，降低了显示面板维修的成本。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请提供一种显示面板俯视结构示意图。
图2为本申请提供一种显示面板中触控层测试模块示意图。
图3为本申请提供一种显示面板中测试端子与测试电路连接示意图。
图4为本申请提供一种显示面板中测试模块的膜层示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示，图中虚线表示在结构中并不存在的，仅仅说明结构的形状和位置。
本发明针对现有技术中低温多晶硅显示面板中不容易测试触控层运行参数，容易出现测试数值不准确，极大影响着显示面板的品质判断的技术问题，本实施例能够解决该缺陷。
如图1和图2所示，本申请提供一种显示面板100，该显示面板100优选为内嵌式触控液晶面板，包括显示区域101、以及位于显示区域101外的非显示区域102，非显示区域102内设置有测试模块103，测试模块103至少包括测试端子1033、测试电路1031、以及连接测试端子1033与测试电路1031的测试引线1032，本实施例中非显示区域102包括非显示区1021、非显示区1022以及非显示区1023，测试模块103优选设置在非显示区1021和非显示区1023中，非显示区1022设置有显示面板100的绑定区，该绑定区设置有覆晶薄膜和相应的驱动芯片。其中，测试电路1031设置有测试仪器，该仪器包括电流表、电压表、电阻测试仪中一种或一种以上组合仪器，测试引线1032包括第一引线10321和第二引线10322，测试端子1033包括第一端子10331和第二端子10332，第一引线10321与第一端子10331电性连接，第二引线10322与第二端子10332电性连接，且第一端子10331和第二端子10332分别设置在非显示区1021和非显示区1023中，测试电路1031用于测试第一端子10331和第二端子10332之间的电流、电压、或电阻参数，用这些电流、电压以及电阻值来判断显示面板100的正常工作的情况。
本申请中显示面板还包括TFT阵列，TFT阵列包括柔性基板、设于柔性基板表面的第一金属层、设于第一金属层表面的缓冲层、设于缓冲层上的源/漏极金属、设于源/漏极金属上的平坦化层、设于平坦化层表面的像素电极、在非显示区内，测试端子与源/漏极金属同层制备，引线与像素电极同层制备，引线与测试端子通过平坦化层中过孔搭接。显示面板内还设置有触控层，触控层包括驱动电极层和感应电极层，驱动电极层和感应电极层均为银、铜、铝、钼、钛的单一或几种膜层网格，驱动电极层和感应电极层之间形成有感应电容，感应电容与触控显示驱动芯片连接，当感应电容发生相应变化时，触控显示驱动芯片采用分时驱动方法获取相应电容变化值，然后根据电容变化值输出相应的电性号。本实施中在非显示区内，刻蚀保护层位于驱动电极层和感应电极层之间，刻蚀保护层的材料为钼、钛和钽中一种或两种以上的金属材料。刻蚀保护层包括水平覆盖段、以及连接水平覆盖段的坡形覆盖段，水平覆盖段覆盖测试端子表面，坡形覆盖段覆盖测试端子的端部、且延伸至测试端子背侧的膜层端部，测试端子为感应电极层和刻蚀保护层靠近相应平坦化层的端部，刻蚀保护层和感应电极层图案化形状相同，可防止感应电极层在光罩制程过刻蚀，起到了保护感应电极层的作用，同时减少触控层中触控电极的弯折角度。
具体地，如图3和图4所示，在非显示区102中，由于现有技术中测试端子为感应电极层对于非显示区的延伸部，且该延伸部的厚度较薄，且位于测试端子表面的驱动电极层层存在斜坡，容易折断，造成触控层检测的精度低，容易出现测试模块的失效，极大影响着触控面板的品质判断的技术问题，因此本实施例在测试端子表面设置有刻蚀保护层，该刻蚀保护层增加测试端子与引线的搭接面积，又减少了触控层中驱动电极层的坡度，解决了显示面板中不容易测试触控层运行参数，容易出现测试数值不准确，极大影响着显示面板的品质判断的技术问题，提高液晶显示面板的测试稳定性。
如图3所示，显示面板100的平坦化层1041上设置过孔，测试引线通过过孔与测试端子1033电性连接，测试电路1031可以设置在显示面板的内部也可以设置在显示面板的外部，本实施例中测试端子1033设置为双层金属，包括感应电极层以及覆盖感应电极层的刻蚀保护层，刻蚀保护层和感应电极层图案化形状相同，刻蚀保护层的材料为钼、钛和钽中一种或两种以上的金属材料。图4为图3中A1-A2的剖视图，如图4所示，显示面板包括阵列基板、与阵列基板相对设置的彩膜基板、以及阵列基板与彩膜基板之间的液晶层，阵列基板对于非显示区中设置有衬底基板1051、位于衬底基板1051表面的第一金属层1052、位于第一金属层1052表面的缓冲层1053、位于缓冲层1053表面的第二金属层1054、位于第二金属层1054表面的第三金属层1055、位于第三金属层1055表面的的ITO电极层1056、以及位于第三金属层1055与ITO电极层1056之间的平坦化层1041，平坦化层1041靠近第三金属层1055和第二金属层1054的位置设置有多个过孔，本实施例中测试端子1033包括第二金属层1054和第三金属层1055，第一金属层1052为栅极层，第二金属层1054为感应电极层，ITO电极层1056为驱动电极层，第三金属层1055为刻蚀保护层。其中，第一金属层1052与阵列基板中栅极同层设置，第二金属层1054和第三金属层1055与阵列基板中源/漏极同层设置，第三金属层1055覆盖第二金属层1054，且图案化形状相同，第三金属层1055和第二金属层1054均通过平坦化层1041开设的过孔与测试引线电性连接。液晶层包括胶框、液晶、以及隔垫物，胶框让液晶两侧玻璃能够紧密黏住；液晶一般为椭圆状，顺着长轴方向串接，每一列的液晶为一个液晶畴，任意相邻的两个液晶畴彼此独立，且任意相邻的两个液晶畴之间的边界为连续地变化的区域，液晶的偏转角度由位于液晶层两侧的公共电极层和像素电极层之间的电场大小决定的。彩膜基板包括第二衬底、制备于第二衬底表面的色阻层，色阻层之间设置有黑色矩阵，以及制备于色阻层上公共电极，黑色矩阵防止背光源在透过液晶层和第一基板中红、绿、蓝三种色阻图案后产生混光现象，以避免显示异常，同时黑色矩阵本身具有反光效果，能够对从外界入射到其表面的光进行反射。公共电极层通常为氧化铟锡的透明导电薄膜，厚度一般为20nm到40nm，公共电极层采用溅射方法沉积所得。
本申请提供了一种显示面板，本申请中显示面板包括显示区域、以及位于位于显示区域外的非显示区域，非显示区域内设置有测试模块，测试模块至少包括测试端子、测试电路、以及连接测试端子与测试电路的测试引线；其中，测试端子表面形成有刻蚀保护层，且刻蚀保护层位于触控层的驱动电极层和感应电极层之间，测试端子为感应电极层对于非显示区延伸的部分，延伸的部分与刻蚀保护层的电性连接，增加了测试端子搭接的面积，又减少触控层中触控电极的弯折角度，提高测试引线的稳定性，增加了显示面板触控层测试的可靠性和有效性，同时当用户使用时发生异常时，可以在不破坏显示面板的情况下，直接量测测试模块，从而对异常进行分析，降低了显示面板维修的成本。
综上，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (7)

1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区域、以及位于位于所述显示区域外的非显示区域，所述非显示区域内设置有测试模块，所述测试模块至少包括测试端子、测试电路、以及连接所述测试端子与所述测试电路的测试引线；其中，所述测试端子表面形成有刻蚀保护层，所述刻蚀保护层为金属层，该金属层的材料为钼、钛和钽中一种或两种以上的金属材料；
所述显示面板内还设置有触控层，所述触控层包括驱动电极层和感应电极层，在所述非显示区域内，所述测试端子为所述感应电极层的延伸部，且所述刻蚀保护层位于所述驱动电极层和感应电极层之间，所述刻蚀保护层包括水平覆盖段、以及连接所述水平覆盖段的坡形覆盖段，所述水平覆盖段覆盖所述测试端子表面，所述坡形覆盖段覆盖所述测试端子的端部、且延伸至所述测试端子背侧的膜层端部。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括TFT阵列，所述TFT阵列包括栅极金属、源/漏极金属、以及像素电极，在所述非显示区内，所述测试端子与所述源/漏极金属同层制备，所述引线与所述像素电极同层制备，所述引线与所述测试端子通过过孔搭接。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述感应电极层与所述刻蚀保护层的图案化形状相同，避免所述感应电极层过刻蚀。
4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述感应电极层和所述刻蚀保护层与所述源/漏极金属同一道光罩制备而成。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，测试引线包括第一引线和第二引线，所述测试端子包括第一端子和第二端子，所述第一引线与所述第一端子电性连接，所述第二引线与所述第二端子电性连接，且所述第一端子和所述第二端子对称设置于所述显示面板的两侧边角处。
6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试电路设置有测试仪器，所述测试仪器包括电流表、电压表、电阻测试仪中一种或一种以上组合仪器。
7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板为内嵌式触控液晶面板。
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