JP2019117315A - 表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法。 - Google Patents

表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法。 Download PDF

Info

Publication number
JP2019117315A
JP2019117315A JP2017251617A JP2017251617A JP2019117315A JP 2019117315 A JP2019117315 A JP 2019117315A JP 2017251617 A JP2017251617 A JP 2017251617A JP 2017251617 A JP2017251617 A JP 2017251617A JP 2019117315 A JP2019117315 A JP 2019117315A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
inspection
capacitance
display device
display panel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2017251617A
Other languages
English (en)
Inventor
修一郎 浅谷
shuichiro Asatani
修一郎 浅谷
北川　大二
Daiji Kitagawa
大二 北川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2017251617A priority Critical patent/JP2019117315A/ja
Priority to CN201811557965.5A priority patent/CN109991769B/zh
Priority to US16/225,916 priority patent/US10964237B2/en
Publication of JP2019117315A publication Critical patent/JP2019117315A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/13338—Input devices, e.g. touch panels
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13452—Conductors connecting driver circuitry and terminals of panels
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0412—Digitisers structurally integrated in a display
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/189—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components characterised by the use of a flexible or folded printed circuit
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/12—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode
    • G02F2201/121—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode common or background
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/12—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode
    • G02F2201/123—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode pixel
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G06F3/0443—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a single layer of sensing electrodes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

【課題】表示パネルとＦＰＣとを互いに接続した後において、上記表示パネルのエッジ付近及び／又は上記ＦＰＣのエッジ付近に設けられた配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することが可能な表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法を提供する。【解決手段】表示パネルと、上記表示パネルに接続されたフレキシブルプリント基板とを有する表示装置であって、上記表示パネルのエッジ及び上記フレキシブルプリント基板のエッジの少なくとも一方に沿って設けられ、かつ、静電容量をもつ容量形成部を有する検査用配線を備える表示装置。【選択図】 図１

Description

本発明は、表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法に関する。より詳しくは、表示パネルと上記表示パネルに接続されたフレキシブルプリント基板とを有する表示装置、上記表示装置の製造方法、及び、上記表示装置の検査方法に関するものである。
液晶ディスプレイ、有機エレクトロルミネッセンスディスプレイ及びプラズマディスプレイ等の表示装置は、画像を表示する表示パネル及び上記表示パネルに接続されたフレキシブルプリント基板（ＦＰＣ：Ｆｌｅｘｉｂｌｅ Ｐｒｉｎｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）を備えており、上記表示パネル及び上記フレキシブルプリント基板には、種々の多数の配線が形成されている。
このような表示装置における配線の不良の有無を検査する方法として、例えば、特許文献１には、多数本の透明電極パターンが形成された透明基板の表面に、導電板を、その間に微小な隙間をあけるか、その間に絶縁フィルムを挟んで重ね合わせ、この状態で、上記各透明電極パターンのうち一本の透明電極パターンと導電板との間における静電容量を測定することを、上記各透明電極パターンの全てについて行い、液晶表示装置の透明電極パターンにショートが存在しているか否かを検査する方法が開示されている。
また、配線の断線の有無を検査する方法に関して、単なる配線のみから構成される診断用の配線を、表示領域を囲むようにＴＦＴ基板上に設け、上記診断用の配線の一方の端部から検査信号を入力し、他方の端部から検査信号を検出する液晶表示装置が存在する。
特開２０００−２５００５７号公報
表示パネル及びＦＰＣを備える表示装置が落下等により外部から衝撃を受けると、表示装置に応力が加わりクラックや割れ（例えば、Ｖ字状の欠け）が発生することがある。これらのクラックや割れは、特に表示パネル及びＦＰＣのエッジ付近に発生し易い。クラックは、表示パネル及び／又はＦＰＣ上の配線を断ち切って断線を生じさせたり、配線の一部を切って半断線を生じさせたりするおそれがある。また、割れにより配線の一部が欠如して断線するおそれがある。
このような、表示パネル及び／又はＦＰＣ上の配線の断線及び半断線は、表示装置の表示不良を引き起こし得る。また、表示装置にタッチパネル（ＴＰ：Ｔｏｕｃｈ Ｐａｎｅｌ）機能が搭載されている場合は、ＴＰ性能に影響が出る可能性がある。
表示装置におけるクラック及び割れは、顕微鏡やＸ線装置を使用して確認するのが一般的だが、クラック及び割れの発生箇所に当たりをつけることが難しく、場所の特定が困難な場合がある。また、クラック及び割れの発生箇所が分っている場合であっても、特にクラックの場合は、その配線が実際に断線又は半断線しているかを顕微鏡やＸ線装置により判断することが困難な場合もある。
また、表示装置に設けられた配線の不良として、断線及び半断線の他にショートも挙げられる。配線のショートは、表示パネルの全体及びＦＰＣの全体で起こる可能性があり、表示パネルのエッジ付近及び／又はＦＰＣのエッジ付近でも発生し得る。
上記特許文献１によれば、液晶表示装置の２枚の透明基板を貼り合わせる前に、各透明電極パターンのショートの有無を検査することができる。しかしながら、配線の断線及び半断線の有無を検査する方法については何ら開示されていない。また、特許文献１に記載の検査方法は、表示パネルの製造後、例えば表示パネルとＦＰＣとを互いに接続した後に利用することができない。
上記単なる配線のみから構成される診断用の配線を用いる検査方法では、他方の端部から検査信号が検出されれば診断用の配線に断線はなく、他方の端部から検査信号が検出されなければ診断用の配線に断線があると判定することができる。ここで、診断用の配線に半断線が発生している場合、半断線の程度が大きければ検査信号が検出されず、配線に断線が発生していると判定される。しかしながら、半断線の程度が小さい場合は検査信号が検出されることがあり、配線に断線が発生していると判定されない可能性がある。また、配線にショートが発生している場合も他方の端部から検査信号が検出されることがあるため、配線にショートが発生していると判定されない可能性がある。このように、この検査方法では、半断線及びショートの有無を検査することは困難である。
本発明は、上記現状に鑑みてなされたものであり、表示パネルとＦＰＣとを互いに接続した後において、表示パネルのエッジ付近及び／又はＦＰＣのエッジ付近に設けられた配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することが可能な表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法を提供することを目的とするものである。
本発明者らは、表示パネルとＦＰＣとを互いに接続した後において、表示パネルのエッジ付近及び／又はＦＰＣのエッジ付近に設けられた配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することが可能な表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法について種々の検討を行った。その結果、静電容量をもつ容量形成部を有する検査用配線を表示パネル及び／又はＦＰＣに新たに設けることに着目した。断線、半断線及びショート等の不良が発生していない良品の表示装置は同じ設計のもと同じ条件で製造されるため、良品の表示装置における上記検査用配線は多少のばらつきがあるものの所定の範囲内の静電容量を有する。しかしながら、上記検査用配線に断線が生じた場合、半断線が生じた場合及びショートが生じた場合はいずれも、上記検査用配線の静電容量は所定の範囲から外れる。したがって、検査対象である表示装置に設けられた上記検査用配線の静電容量を測定することにより、例え表示パネルとＦＰＣとを互いに接続した後であっても、上記検査用配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することが可能となることを見出した。
また、表示装置におけるクラック及び割れは、ある程度の範囲（領域）に渡って発生することが多く、同一基板上の配線は部分的にまとめて断線及び／又は半断線を起こし易い。したがって、上記検査用配線に断線及び／又は半断線が発生していれば、上記検査用配線の近傍に配置された配線にも断線及び／又は半断線が発生している可能性が高い。また、配線のショートは互いに隣接する複数の配線間で発生するため、上記検査用配線にショートが発生していれば、上記検査用配線に隣接する少なくとも一本の配線にもショートが発生している可能性が高い。そこで、上記検査用配線を表示パネルのエッジ及びフレキシブルプリント基板のエッジの少なくとも一方に沿って設けることにより、上記検査用配線の近傍、すなわち、特に外部からの衝撃を受け易い表示パネルのエッジ及びＦＰＣのエッジの少なくとも一方のエッジ付近における配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することができることを見出した。これにより、上記課題をみごとに解決することができることに想到し、本発明に到達した。
すなわち、本発明の一態様は、表示パネルと、上記表示パネルに接続されたフレキシブルプリント基板とを有する表示装置であって、上記表示パネルのエッジ及び上記フレキシブルプリント基板のエッジの少なくとも一方に沿って設けられ、かつ、静電容量をもつ容量形成部を有する検査用配線を備える表示装置であってもよい。
上記検査用配線は、配線部と、上記容量形成部として、上記配線部よりも幅の広い幅広部とを有してもよい。
上記幅広部は、上記配線部の一方の端部に位置してもよい。
上記幅広部は、上記配線部の中間部に位置してもよい。
上記検査用配線は、上記幅広部を複数有し、上記複数の幅広部は、互いに間隔を空けて配置されてもよい。
上記複数の幅広部の静電容量は、互いに等しくてもよい。
上記検査用配線は、上記容量形成部として、互いに並走する２本の配線部を含み、上記２本の配線部の一方は、接地されてもよい。
上記検査用配線に接続され、かつ、上記検査用配線の静電容量を検出する静電容量検出部を更に備えてもよい。
上記表示パネル及び上記フレキシブルプリント基板の少なくとも一方に設けられ、かつ、上記検査用配線に接続された外部パッドを更に備えてもよい。
上記検査用配線は、上記フレキシブルプリント基板が取り付けられた部分を除く上記表示パネルの上記エッジの全体と、上記表示パネルに取り付けられた部分を除く上記フレキシブルプリント基板の上記エッジの全体とに沿って設けられてもよい。
本発明の別の一態様は、表示パネルと、上記表示パネルに接続されたフレキシブルプリント基板とを有する表示装置の製造方法であって、静電容量をもつ容量形成部を有する検査用配線を、上記表示パネルのエッジ及び上記フレキシブルプリント基板のエッジの少なくとも一方に沿って形成する形成ステップと、上記表示パネルに上記フレキシブルプリント基板を接続する実装ステップと、上記実装ステップ後に上記検査用配線の静電容量を測定し、当該測定結果に基づいて上記検査用配線の断線、半断線及びショートの有無を検査する検査ステップと、を含む表示装置の製造方法であってもよい。
上記検査ステップにおいて、上記静電容量を所定の閾値と比較してもよい。
上記検査用配線は、配線部と、上記容量形成部として、上記配線部よりも幅の広い幅広部とを有し、上記検査ステップにおいて、上記幅広部に指示体を接触又は近接させてもよい。
本発明の別の一態様は、表示パネルと、上記表示パネルに接続されたフレキシブルプリント基板とを有する表示装置の検査方法であって、上記表示装置は、上記表示パネルのエッジ及び上記フレキシブルプリント基板のエッジの少なくとも一方に沿って設けられ、かつ、静電容量をもつ容量形成部を有する検査用配線を備え、上記検査方法は、上記検査用配線の静電容量を測定し、当該測定結果に基づいて上記検査用配線の断線、半断線及びショートの有無を検査する検査ステップを含む表示装置の検査方法であってもよい。
上記検査ステップにおいて、上記静電容量を所定の閾値と比較してもよい。
上記検査用配線は、配線部と、上記容量形成部として、上記配線部よりも幅の広い幅広部とを有し、上記検査ステップにおいて、上記幅広部に指示体を接触又は近接させてもよい。
本発明によれば、表示パネルとＦＰＣと互いにを接続した後において、上記表示パネルのエッジ付近及び／又は上記ＦＰＣのエッジ付近に設けられた配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することが可能な表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法を提供することができる。
実施形態１の表示装置の平面模式図である。 実施形態１の表示装置が備える表示パネルの断面模式図である。 実施形態１の表示装置が備える表示パネルの平面模式図である。 実施形態１の表示装置が備える集積回路チップの機能ブロック図である。 実施形態２の表示装置の平面模式図である。 実施形態３の表示装置の平面模式図である。 実施形態３の液晶表示装置が備えるＦＰＣ上に設けられた、幅広部周辺の断面模式図である。 実施形態４の表示装置の平面模式図である。 実施形態４の液晶表示装置が備える表示パネルの断面模式図である。 実施形態５の表示装置の平面模式図である。 実施形態６の表示装置の平面模式図である。 実施形態７の表示装置の平面模式図である。
以下、本発明の実施形態について説明する。本発明は、以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の構成を充足する範囲内で、適宜設計変更を行うことが可能である。なお、以下の説明において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略する。また、実施形態及び変形例に記載された各構成は、本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜組み合わされてもよいし、変更されてもよい。
［実施形態１］
図１は、実施形態１の表示装置の平面模式図である。図２は、実施形態１の表示装置が備える表示パネルの断面模式図である。図３は、実施形態１の表示装置が備える表示パネルの平面模式図である。図４は、実施形態１の表示装置が備える集積回路チップの機能ブロック図である。図２は、図１中に示したＬ１−Ｌ２線に沿った断面を示している。
本実施形態の表示装置１は、液晶表示装置であり、液晶組成物を利用して画像を表示するとともに、その表示される画像に基づいて使用者が入力する位置情報を検出することが可能な表示パネル（液晶表示パネル）１０と、表示パネル１０に接続されたフレキシブルプリント基板（ＦＰＣ）２０と、表示パネル１０を駆動及び制御するＬＳＩチップ等の集積回路チップ３０と、を備える。
表示パネル１０は、表示領域ＡＡに画像を表示させるだけでなく、表示領域ＡＡへの指示体の接触及び／又は近接を検出するタッチパネル（ＴＰ）機能を備える。
表示パネル１０は、図１に示すように、全体として縦長な方形状（矩形状）をなしており、その長辺方向がＹ軸方向と、短辺方向がＸ軸方向と、それぞれ一致している。表示パネル１０は、画像を表示可能な表示領域（アクティブエリア）ＡＡと、表示領域ＡＡを取り囲む額縁状（枠状）をなすとともに画像を表示不能な非表示領域（ノンアクティブエリア）ＮＡＡと、に区分されている。この表示パネル１０においては、その長辺方向における一方の端部側（図１に示す上側）に片寄った位置に表示領域ＡＡが配置されている。また、非表示領域ＮＡＡは、表示領域ＡＡを取り囲む略枠状の領域（後述するカラーフィルタ基板１１ａにおける額縁部分）と、長辺方向の他方の端部側（図１に示す下側）に確保された領域（後述するアレイ基板１１ｂのうちカラーフィルタ基板１１ａとは重畳せずに露出する部分）と、からなり、このうちの後者は、表示パネル１０を駆動する集積回路チップ３０と、ＦＰＣ２０と、が実装される実装領域を含む。
ＦＰＣ２０は、可撓性のプリント基板であり、コネクタＣＮと、コネクタＣＮに一端が各々接続された複数の配線（図示省略）を備える。ＦＰＣ２０は、信号供給源である外部（ホスト）の制御回路基板（図示省略）と表示パネル１０（ゲスト）とを接続する。コネクタＣＮは、上記制御回路基板とＦＰＣ２０とを接続する。ＦＰＣ２０の各配線の他端には端子（図示省略）が設けられ、これらの端子を介して表示パネル１０とＦＰＣ２０とが接続される。
集積回路チップ３０は、表示領域ＡＡに画像を表示させるための駆動及び制御を行う機能、及び、表示領域ＡＡへの指示体の接触及び／又は近接を検出するための駆動及び制御を行う機能等を備える。すなわち、図４に示すように、集積回路チップ３０は、表示領域ＡＡに画像を表示させるための液晶ドライバ３１、及び、ＴＰ機能を実現するためのタッチセンサ駆動制御部３２を有している。タッチセンサ駆動制御部３２は、後述する共通電極１６をセンサ電極として機能させるべく各共通電極１６にセンサ信号を供給して静電容量を検出する静電容量検出部３２ａを有すると共に、上記静電容量の変化に基づいて、指示体の接触及び／又は近接の有無を検出するタッチ検出部３２ｂを有する。
表示パネル１０は、一対の基板と、上記一対の基板間に介在し、電圧印加に伴って光学特性が変化する物質である液晶分子を含む液晶層と、を備え、上記一対の基板が液晶層の厚さ分のギャップを維持した状態でシール部によって貼り合わせられている。
図２に示すように、上記一対の基板のうち表面側（正面側）がカラーフィルタ基板１１ａであり、裏面側（背面側）がアレイ基板１１ｂである。カラーフィルタ基板１１ａ及びアレイ基板１１ｂは、それぞれ、高い透光性を有するガラス基板を備えており、当該ガラス基板上に各種の膜を既知のフォトリソグラフィ法などにより積層形成してなるものである。
カラーフィルタ基板１１ａは、図１に示すように、短辺寸法がアレイ基板１１ｂと概ね同等であるものの、長辺寸法がアレイ基板１１ｂよりも小さく、アレイ基板１１ｂに対して長辺方向についての一方（図１に示す上側）の端部を揃えた状態で貼り合わせられている。従って、アレイ基板１１ｂのうち長辺方向についての他方（図１に示す下側）の端部は、図２に示すように、所定範囲にわたってカラーフィルタ基板１１ａが重なり合うことがなく、表裏両板面が外部に露出した状態とされており、ここに既述した実装領域が確保されている。
アレイ基板１１ｂ及びカラーフィルタ基板１１ａの液晶層側の面には、液晶層に含まれる液晶分子を配向させるための配向膜（図示省略）がそれぞれ配置されている。また、アレイ基板１１ｂ及びカラーフィルタ基板１１ａの液晶層とは反対側の面には、それぞれ偏光板（図示省略）が貼り付けられている。
アレイ基板１１ｂ及びカラーフィルタ基板１１ａにおける表示領域ＡＡ内に存在する構成について説明する。アレイ基板１１ｂの内面側（液晶層側、カラーフィルタ基板１１ａとの対向面側）における表示領域ＡＡには、図１に示すように、スイッチング素子である薄膜トランジスタ（ＴＦＴ：Ｔｈｉｎ Ｆｉｌｍ Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）１２及び画素電極１３が多数個ずつマトリクス状に並んで設けられるとともに、これらＴＦＴ１２及び画素電極１３の周りには、格子状をなす多数のゲート配線１４及び多数のソース配線１５が配設されている。ゲート配線１４とソース配線１５とがそれぞれＴＦＴ１２のゲート電極とソース電極とに接続され、画素電極１３がＴＦＴ１２のドレイン電極に接続されている。なお、ゲート配線１４は、非表示領域ＮＡＡに設けられたゲート引出線（図示省略）を介して液晶ドライバ３１（特にゲートドライバ３１ａ）に接続され、各ソース配線１５は、非表示領域ＮＡＡに設けられたソース引出線（図示省略）を介して液晶ドライバ３１（特にソースドライバ３１ｂ）に接続されている。
画素電極１３は、平面視において、縦長の方形状（矩形状）をなしている。そして、アレイ基板１１ｂには、共通電位（基準電位）が供給されることで画素電極１３との間で電界を形成する複数の共通電極１６が設けられている。つまり、本実施形態に係る表示パネル１０では、アレイ基板１１ｂ側に画素電極１３及び共通電極１６を共に形成し、かつ、画素電極１３と共通電極１６とを異なる層に設ける。
画素電極１３には、平面視において、Ｘ軸方向及びＹ軸方向に対して斜めに設けられた複数のスリット１３ａが、互いに間隔を空けて並設されている。画素電極１３と共通電極１６との間に電位差が生じたとき、スリット１３ａによってフリンジ電界（斜め電界）が印加されるようになっており、そのフリンジ電界を利用して液晶層に含まれる液晶分子の配向状態を適切にスイッチングすることができる。つまり、本実施形態に係る表示パネル１０は、ＦＦＳ（Ｆｒｉｎｇｅ Ｆｉｅｌｄ Ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ）モードの液晶表示装置である。
各共通電極１６は、集積回路チップ３０により画像を表示するために駆動されると共に、タッチ検出のセンサ電極（ＴＰパッド）として駆動される。複数の共通電極１６は、表示領域ＡＡの全面に設けられる電極を分割したセグメントに相当する。図３に示すように、各共通電極１６は、表示領域ＡＡ内において、Ｘ軸方向に複数個×Ｙ軸方向に複数個の画素電極１３に対向可能な大きさを有する四角形状に形成されており、Ｘ軸方向及びＹ軸方向に向かってマトリクス状に配置されている。すなわち、複数の共通電極１６が、タイル状に敷設されている。各共通電極１６は、センサ配線１６ａで集積回路チップ３０の実装領域まで引き出され、集積回路チップ３０内のタッチセンサ駆動制御部３２の静電容量検出部３２ａに接続されている。
各共通電極１６は、ゲート配線１４等の他の重畳する導電部材との間で一定の静電容量（寄生容量）を形成している。指示体が各共通電極１６に近づくと、上記指示体と各共通電極１６との間に新たな静電容量が発生する。本実施形態では、この静電容量の変化を検知して、指示体の接触及び／又は近接の有無を検出する自己容量方式のタッチ検出機能を備えているが、相互容量方式のタッチ検出機能を採用することもできる。
本実施形態では、図３に示すように、表示領域ＡＡを分割し、各分割領域の各共通電極１６に画像を表示するための駆動信号を入力する時間（ＬＣＤ時間）と、各ＬＣＤ時間の終わりに、表示される画像に基づいて使用者が入力する位置情報を共通電極１６により検出する時間（ＴＰ時間）と、を分割して設けることにより、ＬＣＤ時間に共通電極１６を駆動して画像を表示すると共に、ＴＰ時間に共通電極１６をＴＰパッドとして駆動してＴＰ信号を得る。このようにして、表示パネル１０は、画像を表示する表示機能と、表示される画像に基づいて使用者が入力する位置情報を検出する位置入力機能と、を併有することができる。例えば、１秒間の表示コマ数が６０コマ（６０Ｈｚ）である場合に、１コマあたり２回のＴＰスキャンを行うことにより、ＴＰスキャンのレポートレートを１２０Ｈｚとすることができる。
カラーフィルタ基板１１ａの内面側（液晶層側、アレイ基板１１ｂとの対向面側）における表示領域ＡＡには、Ｒ（赤色）、Ｇ（緑色）、Ｂ（青色）等の各着色部が、アレイ基板１１ｂ側の各画素電極１３と平面視において重畳するよう、多数個マトリクス状に並列して配置されたカラーフィルタが設けられている。
表示パネル１０のアレイ基板１１ｂにおける非表示領域ＮＡＡでは、表示パネル１０のエッジに沿って検査用配線７１が表示領域ＡＡを取り囲むように設けられている。主に液晶パネル１０上を引き回される検査用配線７１は、ゲート配線１４、ゲート引出線、ソース配線１５及びソース引出線より外側の領域（アレイ基板１１ｂのエッジのより近く）に設けられており、表示領域ＡＡ内に設けられたいずれの配線及び電極にも電気的に接続されていない。
検査用配線７１は、配線部７１ａと、配線部７１ａよりも幅の広い幅広部７１ｂと、を有する。静電容量は面積に比例して増大することから、線状である配線部で形成される静電容量は小さく、検出することが困難である。一方、本実施形態では、幅広部７１ｂが二次元的な広がりを有し、一定の面積を有するため、検査用配線７１とグランド層７１ｃ（例えば、ゲート配線１４が設けられる層（ゲートメタル層）に配置され、かつ、検査用配線７１と重畳する他の導電部材）との間で一定の静電容量（寄生容量）を検出可能な大きさで形成することができる。したがって、幅広部７１ｂは、容量形成部として機能し、容量形成部はグランド層と重畳している。幅広部７１ｂを有する検査用配線７１の寄生容量は、例えば、１０〜１００ｐＦである。幅広部７１ｂと重畳する領域に、上記他の導電部材が配置されていない場合は、幅広部７１ｂと重畳する領域に、別途、導電部材を形成してグランド層７１ｃとしてもよい。
配線部７１ａは、ゲート配線１４又はソース配線１５と同じ階層に形成された部材であり、ゲート配線１４又はソース配線１５と同材料を用いて形成される。配線部７１ａは、例えば、チタン、アルミニウム、モリブデン、銅、クロム等の金属、又は、それらの合金を含む層である。
幅広部７１ｂは、共通電極１６と同じ階層に形成された部材であり、共通電極１６と同材料を用いて形成される。幅広部７１ｂは、例えば、酸化インジウムスズ（ＩＴＯ）、酸化インジウム亜鉛（ＩＺＯ）、酸化亜鉛（ＺｎＯ）、酸化スズ（ＳｎＯ）等の透明導電膜材料、又は、それらの合金から形成された電極パッドである。配線部７１ａ及び幅広部７１ｂとは、例えば、コンタクトホールを介して電気的に接続されている。なお、幅広部７１ｂは、配線部７１ａと同じ材料を用いて、配線部７１ａの幅を広げることにより形成されてもよい。この場合、配線部７１ａと幅広部７１ｂとは同一の階層に形成される。
ＦＰＣ２０では、ＦＰＣ２０のエッジに沿って検査用配線７２がコネクタＣＮに接続された他の配線を取り囲むように設けられている。主にＦＰＣ２０上を引き回される検査用配線７２は、コネクタＣＮにＦＰＣ２０上で接続された他の配線より外側の領域（ＦＰＣ２０のエッジのより近く）に設けられており、少なくともＦＰＣ２０上ではコネクタＣＮに接続されていない。
検査用配線７２は、配線部７２ａと、配線部７２ａよりも幅の広い幅広部７２ｂと、を有する。検査用配線７２についても、検査用配線７１と同様に、幅広部７２ｂが二次元的な広がりを有し、一定の面積を有し、かつ、表示パネル１０上に設けられているため、検査用配線７２とグランド層７１ｃ（例えば、ゲート配線１４が設けられる層（ゲートメタル層）に配置され、かつ、検査用配線７２と重畳する他の導電部材）との間で一定の静電容量（寄生容量）を検出可能な大きさで形成することができる。したがって、幅広部７２ｂは、容量形成部として機能する。検査用配線７２の寄生容量は、例えば、１０〜１００ｐＦである。幅広部７２ｂと重畳する領域に、上記他の導電部材が配置されていない場合は、幅広部７２ｂと重畳する領域に、別途、導電部材を形成してグランド層７１ｃとしてもよい。配線部７２ａのうち表示パネル１０上に設けられた部分は、配線部７１ａと同様に形成することができ、配線部７２ａのうちＦＰＣ２０上に設けられた部分は、ＦＰＣ２０上の他の配線と同材料を用いて形成され、例えば銅箔をパターニングすることにより形成することができる。幅広部７２ｂは、幅広部７１ｂと同様に形成することができる。
検査用配線７１及び７２は、それぞれ、集積回路チップ３０内のタッチセンサ駆動制御部３２の静電容量検出部３２ａと電気的に接続される。集積回路チップ３０はタッチセンサ駆動制御部３２を備えるため、集積回路チップ３０に新たな回路を設けずとも、タッチセンサ駆動制御部３２が備える静電容量検出部３２ａを活用することにより、上記センサ信号と同様の検査信号（例えば矩形波）を検査用配線７１及び７２に入力し、検査用配線７１及び７２の静電容量をそれぞれ測定することができる。
断線等の不良が発生していない良品の表示装置１は同じ設計のもと同じ条件で製造されるため、静電容量をもつ幅広部７１ａ及び７２ａ（容量形成部）をそれぞれ有する検査用配線７１及び７２は、良品の表示装置１であれば多少のばらつきがあるものの所定の範囲内の静電容量をそれぞれ有する。しかしながら、検査用配線７１、７２の配線部７１ａ、７２ａに断線、半断線及びショートの少なくとも１つが生じると、検査用配線７１、７２の静電容量は上記所定の範囲から外れる。例えば、配線部７１ａ、７２ａに断線又は半断線が生じている場合、検査用配線７１、７２の静電容量は減少し、上記所定の範囲を下回る。一方、配線部７１ａ、７２ａにショートが生じている場合、検査用配線７１、７２の静電容量は増加し、上記所定の範囲を上回る。したがって、断線、半断線及びショート等の不良が発生していない良品の表示装置１について検査用配線７１及び７２の静電容量を予め調べ、検査用配線７１及び７２の静電容量について良品の基準となる所定の閾値をそれぞれ設定しておき、検査対象である表示装置１に設けられた検査用配線７１及び７２の静電容量を、それぞれ上記所定の閾値と比較することにより、検査対象の表示装置１に設けられた検査用配線７１及び７２の断線、半断線及びショートの有無を検査する（すなわち、検査用配線７１及び７２に断線、半断線及びショートの少なくとも１つが発生しているか否かを検査する）ことが可能となる。上記所定の閾値は、断線等の不良が発生していない良品の表示装置１を例えば２０台用意し、各表示装置１について検査用配線７１及び７２の静電容量をそれぞれ測定して決定することができる。
表示装置におけるクラック及び割れは、ある程度の範囲（領域）に渡って発生することが多く、同一基板上の配線は部分的にまとめて断線及び／又は半断線を起こし易い。したがって、検査用配線７１、７２に断線及び／又は半断線が発生していれば、検査用配線７１、７２の近傍に配置された配線にも断線及び／又は半断線が発生している可能性が高い。また、配線のショートは互いに隣接する複数の配線間で発生するため、検査用配線７１、７２にショートが発生していれば、検査用配線７１、７２に隣接する少なくとも一本の配線にもショートが発生している可能性が高い。本実施形態では、検査用配線７１を表示パネル１０のエッジに沿って設け、検査用配線７２をＦＰＣ２０のエッジに沿って設けることにより、検査用配線７１及び７２の近傍、すなわち、特に外部からの衝撃を受け易い表示パネル１０のエッジ付近及びＦＰＣ２０のエッジ付近における配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することができる。
また、本実施形態の表示装置１は、検査用配線７１、７２自体に静電容量を持たせており、上述の特許文献１に記載の、基板貼り合わせ前の透明基板に重ね合わされる導電板といった特別な部材は不要であるため、特許文献１とは異なり、表示パネル１０を製造し、表示パネル１０とＦＰＣ２０とを互いに接続した後において、配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することができる。したがって、表示装置１の出荷後に発生した配線の断線、半断線及びショートについても検査することができる。
また、上述の診断用の配線を用いて断線の有無を検査する方法では、診断用の配線が単なる配線であるため、検査信号の検出の有無により断線の有無を判定することになる。したがって、診断用の配線に半断線が生じているものの、一部が繋がっているために検査信号が検出されれば、配線に断線はないと判定される可能性がある。また、診断用の配線と電位が与えられていない配線との間でショートが発生した場合は、配線に不良が発生していない場合と同様に検査信号が検出されるため、上述の診断用の配線を用いてショートの有無を検出することはできない。一方、本実施形態では、検査用配線７１、７２が容量形成部を備えるため、検査用配線７１、７２の静電容量を検出することができる。検査用配線７１、７２に断線が生じている場合、その静電容量は大きく減少する。検査用配線７１、７２に半断線が生じている場合は、断線している場合ほどではないがその静電容量は減少する。また、検査用配線７１、７２と電位が与えられていない配線との間でショートが発生した場合、当該配線の容量分が追加されて検査用配線７１、７２の静電容量は増加し、検査用配線７１、７２と固定電位を有する配線との間でショートが発生した場合、検査用配線７１、７２の静電容量を測定できなくなる。したがって、本実施形態では、検査用配線７１、７２の静電容量の変化の程度から、配線の断線だけでなく、半断線及びショートの有無も検出することができる。
本実施形態では、タッチセンサ駆動制御部３２が備える静電容量検出部３２ａを利用することにより、検査用配線７１、７２の静電容量を測定することが可能であるため、表示装置１に配線の検査機能を持たせるために静電容量を測定するための回路を別途設ける必要がない。検査用配線７１、７２の静電容量は、例えば、静電容量検出部３２ａが備える積算器（積分回路）を用いて測定することができる。
また、本実施形態では、静電容量検出部３２ａを活用することにより検査用配線７１、７２の静電容量を測定することができるため、検査用配線７１及び７２にそれぞれ備えられた幅広部７１ｂ及び７２ｂは、タッチ検出のためのＴＰパッドのように用いることができる。検査用配線７１、７２に断線及び半断線が発生していなければ、幅広部７１ｂ、７２ｂに指示体を接触させることで検査用配線７１、７２の静電容量が増加する信号（ＴＰシグナル）が得られる。一方、検査用配線７１において、集積回路チップ３０内のタッチセンサ駆動制御部３２の静電容量検出部３２ａから幅広部７１ｂへ向かうルートＲＰの途中に断線又は半断線が発生している場合、幅広部７１ｂに指示体を接触させても検査用配線７１の静電容量が変化しない、または、僅かしか変化せず、上記ＴＰシグナルが得られない。同様に、検査用配線７２において、集積回路チップ３０内のタッチセンサ駆動制御部３２の静電容量検出部３２ａから幅広部７２ｂへ向かうルートＲＦの途中に断線又は半断線が発生している場合、幅広部７２ｂに指示体を接触させても検査用配線７２の静電容量が変化しない、または、僅かしか変化せず、上記ＴＰシグナルが得られない。
以上のように、本実施形態では、検査用配線７１、７２の静電容量を所定の閾値と比較せずとも、幅広部７１ｂ、７２ｂをＴＰパッドのように用い、幅広部７１ｂ、７２ｂをタッチした際にＴＰシグナルが見られるか否かによって、検査用配線７１、７２の断線及び半断線の有無を容易に検査することができる。
本実施形態の表示パネル１０は、ＴＰ機能を備えた液晶表示パネルである。したがって、表示領域ＡＡ内に設けられた配線の断線、半断線及びショートの有無については、検査用配線７１、７２と同様の方法により、表示領域ＡＡ内に位置するＴＰパッドを用いて検査することができる。すなわち、本実施形態の表示装置１は、表示領域ＡＡの内側及び外側のいずれについても、配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することができる。
表示パネル及びＦＰＣを備える表示装置を製造する際に、異方性導電膜（ＡＣＦ：Ａｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃ Ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅ Ｆｉｌｍ）を用いて表示パネルとＦＰＣとを圧着により互いに接続する場合、表示パネルとＦＰＣとの圧着が不充分であると、表示パネル上の配線とＦＰＣ上の配線とが充分に接続されず、断線又は半断線が生じることがある。検査用配線７２がＦＰＣ２０及び表示パネル１０に跨って配置され、かつ、表示パネル１０及びＦＰＣ２０がＡＣＦを用いて圧着により互いに接続される場合、圧着が不充分であれば、検査用配線７２に断線及び／又は半断線が発生する可能性がある。したがって、検査用配線７２の静電容量を測定し、検査用配線７２の静電容量が上記所定の閾値を下回っていれば、ＡＣＦの圧着不良による配線の断線及び／又は半断線が発生している可能性があると判定することができる。
また、ＡＣＦを用いて集積回路チップを表示パネルに接続する場合、表示パネルと集積回路チップとの圧着が不充分であると、表示パネル１０上の配線と集積回路チップ上の端子との間で断線及び／又は半断線が生じることがある。本実施形態では、集積回路チップ３０のバンプに接続されるチップ接続用端子を始点として検査用配線７１、７２が設けられているため、ＡＣＦを用いて集積回路チップ３０を表示パネル１０に接続する場合、圧着が不充分であれば、検査用配線７１、７２に断線及び／又は半断線が発生する可能性がある。したがって、検査用配線７１、７２の静電容量を測定し、検査用配線７１、７２の静電容量が上記所定の閾値を下回っていれば、ＡＣＦの圧着不良による配線の断線及び／又は半断線が発生している可能性があると判定することができる。
配線部７１ａは、集積回路チップ３０のバンプに接続されるチップ接続用端子を始点として、表示パネル１０が有する２つの長辺のうちの一方の長辺側へと引き出され、その長辺と、表示パネル１０が有する２つの短辺のうちのＦＰＣ２０が取り付けられていない方の短辺と、２つの長辺のうちの他方の長辺とに沿って延設され、更に、他方の長辺とＦＰＣ２０が取り付けられた短辺とから形成されるコーナー部付近に設けられた幅広部７１ｂに電気的に接続されている。このように、検査用配線７１は、表示パネル１０のエッジに沿って表示領域ＡＡを周回している。このような態様とすることにより、表示パネル１０のエッジ付近における配線の断線、半断線及びショートの有無をより広い範囲で検査することが可能となる。
配線部７２ａは、集積回路チップ３０のバンプに接続されるチップ接続用端子を始点として、表示パネル１０が有する２つの長辺のうち他方の長辺側（配線部７１ａが引き出された方とは反対側）へと引き出され、ＦＰＣ２０と表示パネル１０との接続辺以外のＦＰＣ２０のエッジに沿って延設され、更に、表示パネル１０の一方の長辺とＦＰＣ２０が取り付けられた短辺とから形成されるコーナー部付近に設けられた幅広部７２ｂに電気的に接続されている。このように、検査用配線７２は、ＦＰＣ２０のエッジに沿って、コネクタＣＮ及びコネクタＣＮに接続された配線が設けられた領域を周回している。このような態様とすることにより、ＦＰＣ２０のエッジ付近における配線の断線、半断線及びショートの有無をより広い範囲で検査することが可能となる。
また、検査用配線７１及び７２は、２本で、ＦＰＣ２０が取り付けられた部分を除く表示パネル１０のエッジの全体と、表示パネル１０に取り付けられた部分を除くＦＰＣ２０のエッジの全体とに沿って設けられている。これにより、表示パネル１０のエッジ付近及びＦＰＣ２０のエッジ付近における配線の断線、半断線及びショートの有無を特に広い範囲で検査することができる。なお、「エッジの全体」とは、「エッジの実質的に全体」を含むものとする。
幅広部７１ｂ及び７２ｂは、それぞれ、配線部７１ａ及び７２ａの一方の端部に位置する（接続される）。このような態様とすることにより、上述のように配線部７１ａ及び７２ａをそれぞれ、表示パネル１０のエッジ及びＦＰＣ２０のエッジに沿って長距離に渡って配置することができるため、より広い範囲で配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することが可能となる。
各幅広部７１ｂ、７２ｂは静電容量をもつことが可能であれば、その形状は特に限定されない。各幅広部７１ｂ、７２ｂの形状としては、例えば、共通電極１６と同じく四角形状が挙げられる。また、本実施形態の幅広部７１ｂ及び７２ｂは、非表示領域ＮＡＡのうち、アレイ基板１１ｂとカラーフィルタ基板１１ａとが互いに重畳しない部分に設けられるが、幅広部７１ｂ及び７２ｂは、非表示領域ＮＡＡのうち、アレイ基板１１ｂとカラーフィルタ基板１１ａとが互いに重畳する部分に設けられてもよい。
配線部７１ａ及び幅広部７１ｂの寸法は、それぞれ特に限定されないが、配線部７１ａの幅は、例えば５０μｍであり、幅広部７１ｂの面積は、例えば１〜４ｍｍ２である。配線部７２ａ及び幅広部７２ｂの寸法も、それぞれ特に限定されないが、配線部７２ａの幅は、例えば５０μｍであり、幅広部７２ｂの面積は、例えば１〜４ｍｍ２である。
ここで、図２を用いて、幅広部７１ｂ及び７２ｂの形成部における断面構造について説明する。なお、図２は、配線部７１ａ及び幅広部７１ｂを図示しているが、幅広部７２ｂの形成部も幅広部７１ｂの形成部と同様の断面構造を有している。図２に示すように、幅広部７１ｂ、７２ｂの上面にはカラーフィルタ基板１１ａのガラス基板等の保護部材が配置されない。したがって、各幅広部７１ｂ、７２ｂの上面に、取り外し可能な粘着剤付きシール等の保護部材を貼付する、又は、各幅広部７１ｂ、７２ｂの上面を防湿の絶縁材（防湿の樹脂等）で覆うことが好ましい。このような態様とすることにより、各幅広部７１ｂ、７２ｂをＴＰパッドとして利用する際には上記保護部材を取り外し、又は、上記絶縁材を剥がし、それ以外の場合は上記保護部材又は上記絶縁材で各幅広部７１ｂ、７２ｂを保護することにより、幅広部７１ｂ、７２ｂが露出する時間を減らし、幅広部７１ｂ、７２ｂが露出により腐食するのを防ぐことができる。
［実施形態２］
本実施形態では、本実施形態に特有の特徴について主に説明し、上記実施形態と重複する内容については説明を省略する。実施形態１では、表示パネル１０のエッジに沿って設けられる配線部７１ａの端部に幅広部７１ｂを設けるが、本実施形態では、表示パネル１０のエッジに沿って設けられる配線部７１ａの中間部に幅広部７１ｂを設ける。図５は、実施形態２の表示装置の平面模式図である。
図５に示すように、表示パネル１０のエッジに沿って設けられ、主に液晶パネル１０上を引き回される検査用配線７１は、配線部７１ａの中間部に幅広部７１ｂを備え、かつ、検査用配線７１の両端部は共に集積回路チップ３０内のタッチセンサ駆動制御部３２の静電容量検出部３２ａに接続されている。表示パネル１０には、検査信号を入力する２つルートの（ルートＲＰ１及びＲＰ２）が設けられている。
時計回りのルートＲＰ１で配線部７１ａに検査信号を入力すると、幅広部７１ｂの手前の左側の配線部７１ａに断線及び／又は半断線が発生している場合、検査用配線７１の静電容量は上記所定の閾値から減少するが、左側の配線部７１ａに断線及び半断線等の不良が発生していない場合、検査用配線７１の静電容量は上記所定の閾値内に収まる。同様に、半時計回りのルートＲＰ２で配線部７１ａに検査信号を入力すると、幅広部７１ｂの手前の右側の配線部７１ａに断線及び／又は半断線が発生している場合、検査用配線７１の静電容量は上記所定の閾値から減少するが、右側の配線部７１ａに断線及び半断線等の不良が発生していない場合、検査用配線７１の静電容量は上記所定の閾値内に収まる。このように、幅広部７１ｂを配線部７１ａの中間部に設けることにより、表示パネル１０の左側の配線の断線及び半断線の有無、並びに、右側の配線の断線及び半断線の有無をそれぞれ検査することが可能となり、表示パネル１０側において配線の断線及び／又は半断線が発生している箇所を絞り込むことができる。なお、上記実施形態と同様に、本実施形態における検査用配線７１の静電容量が上記所定の閾値を上回るか否かにより、検査用配線７１にショートが発生しているか否かを検査することができる。
本実施形態では、ＦＰＣ２０のエッジに沿って設けられ、主にＦＰＣ２０上を引き回される検査用配線７２において、配線部７２ａの端部に幅広部７２ｂを設けるが、ＦＰＣ２０側においても、配線部７２ａの中間部に幅広部７２ｂを設けて、配線部７２ａの両端部を共に静電容量検出部３２ａに接続してもよい。このような態様とすることにより、ＦＰＣ２０についても、表示パネル１０と同様に、配線の断線及び／又は半断線が発生している箇所を絞り込むことができる。
［実施形態３］
本実施形態では、本実施形態に特有の特徴について主に説明し、上記実施形態と重複する内容については説明を省略する。上記実施形態では、検査用配線７１及び７２が、それぞれ、１つの幅広部７１ｂ及び７２ｂを有するが、本実施形態では、検査用配線７１が複数の幅広部７１ｂを備え、検査用配線７２も複数の幅広部７２ｂを備える。図６は、実施形態３の表示装置の平面模式図である。図７は、実施形態３の液晶表示装置が備えるＦＰＣ上に設けられた、幅広部周辺の断面模式図である。
図６に示すように、表示パネル１０のエッジに沿って設けられ、主に液晶パネル１０上を引き回される検査用配線７１は、配線部７１ａ及び複数の幅広部７１ｂを有する。配線部７１ａの中間部では、複数の幅広部７１ｂが互いに間隔を空けながら配線部７１ａと電気的に接続されている。
また、ＦＰＣ２０のエッジに沿って設けられ、主にＦＰＣ２０上を引き回される検査用配線７２は、配線部７２ａ及び複数の幅広部７２ｂを有する。配線部７２ａの中間部では、複数の幅広部７２ｂが互いに間隔を空けながら配線部７２ａと電気的に接続されている。
このように、本実施形態では、静電容量を有する複数の幅広部７１ｂが並列に接続され、また、静電容量を有する複数の幅広部７２ｂが並列に接続されており、断線等の不良が発生していない良品の表示装置１における検査用配線７１及び７２の静電容量は、それぞれ、複数の幅広部７１ｂが有する静電容量の総和、及び、複数の幅広部７２ｂが有する静電容量の総和に略等しくなる。しかしながら、例えば、各検査用配線７１、７２のどこかの場所で断線が発生すると、断線が発生した部分よりも先の静電容量は、各検査用配線７１、７２の静電容量に含まれなくなるため、各検査用配線７１、７２の静電容量はその分だけ減少することとなる。
検査用配線７１及び７２の静電容量は、それぞれ、検査信号が入力される側から順に、電気的に接続された幅広部７１ｂ及び７２ｂの静電容量を積算した値に相当するため、各検査用配線７１、７２について、良品の基準となる所定の閾値を決定しておき、検査対象の各検査用配線７１、７２の静電容量が上記閾値に対してどの程度減少しているかにより、各検査用配線７１、７２において断線が発生している箇所を大まかに絞り込むことができる。また、複数の幅広部７１ｂのそれぞれ、及び、複数の幅広部７２ｂのそれぞれについて良品の静電容量を測定しておくことにより、上記閾値に対する減少幅と各幅広部７１ｂ、７２ｂの静電容量とを比較することが可能となるため、各検査用配線７１、７２において断線が発生している箇所をより絞り込むことができる。
複数の幅広部７１ｂは、静電容量が互いに等しいことが好ましく、複数の幅広部７２ｂは、静電容量が互いに等しいことが好ましい。ここで、静電容量が等しいとは、静電容量が実質的に等しい場合を含む。このような態様とすることにより、検査用配線７１及び７２の静電容量は、それぞれ、複数の幅広部７１ｂ及び７２ｂの数に対して比例的に増加するため、配線の断線が発生している箇所を更に絞り込むことが可能となる。一例として、検査用配線７１が１９個の幅広部７１ｂを有し、１９個の幅広部７１ｂの静電容量が互い等しい場合について説明する。複数の幅広部７１ｂの静電容量が互いに等しい場合、検査用配線７１の静電容量は、電気的に接続されている幅広部７１ｂの数に対して比例的に増加するので、例えば、検査対象の表示装置１が備える検査用配線７１の静電容量が、良品の表示装置１における検査用配線７１の静電容量の１６／１９に減少している場合、集積回路チップ３０側から数えて１６番目の幅広部７１ｂと１７番目の幅広部７１ｂとの間で検査用配線７１に断線が発生していると推定することができ、配線の断線の位置を更に絞り込むことができる。検査用配線７２についても同様の手法により配線の断線が発生している箇所を更に絞り込むことができる。
複数の幅広部７１ｂは、面積が互いに等しいことが好ましく、複数の幅広部７２ｂは、面積が互いに等しいことが好ましい。ここで、面積が等しいとは、面積が実質的に等しい場合を含む。複数の幅広部７１ｂの面積を互いに等しくすることにより、複数の幅広部７１ｂの静電容量を互いに容易に等しくすることができる。また、複数の幅広部７２ｂの面積を互いに等しくすることにより、複数の幅広部７２ｂの静電容量を互いに容易に等しくすることができる。
検査用配線７２が有する複数の幅広部７２ｂのうち、少なくとも２つの幅広部７２ｂは、断線し易いＦＰＣ２０の折り曲げ箇所ＢＲを挟むように配置されることが好ましい。このような態様とすることにより、断線し易いＦＰＣ２０の折り曲げ箇所ＢＲにおける配線の断線、半断線及びショートの有無を容易に検査することができる。
図７を用いて、ＦＰＣ２０上に設けられた幅広部７２ｂ周辺の構造について説明する。ＦＰＣ２０上において幅広部７２ｂが配置される部分では、ＦＰＣ２０の裏面側から正面側に向かって、カバーレイ８１、接地されているグランド層８２、ベースフィルム８３及び幅広部７２ｂが順に積層されている。また、幅広部７２ｂの端部と、ＦＰＣ２０上に設けられた配線部７２ａとは、カバーレイ８４により覆われている。カバーレイ８１及び８４は、いずれも絶縁体の保護膜である。上記実施形態１及び２の液晶表示装置１が備えるＦＰＣ２０は片面配線を想定しているが、本実施形態では、ベースフィルム８３の両面に配線（グランド層８２及び幅広部７２ｂ）が設けられた両面配線のＦＰＣ２０を想定している。
図７に示すように、ＦＰＣ２０上に設けられた幅広部７２ｂの上面の少なくとも一部は露出している。したがって、実施形態１において表示パネル１０上に設けられた幅広部７２ｂと同様に、幅広部７２ｂの上面に、取り外し可能な粘着剤付きシール等の保護部材を貼付する、又は、各幅広部７２ｂの上面を防湿の絶縁材（防湿の樹脂等）で覆うことが好ましい。また、ＦＰＣ上に設けられた幅広部７２ｂの上面をカバーレイで被覆することも好ましい。このような態様とすることにより、幅広部７２ｂをＴＰパッドとして利用するまでは上記カバーレイで幅広部７２ｂを保護し、ＴＰパッドとして利用する際に上記カバーレイを剥がすことが可能であるため、幅広部７２ｂが露出する時間を減らし、幅広部７２ｂが露出により腐食するのを防ぐことができる。
［実施形態４］
本実施形態では、本実施形態に特有の特徴について主に説明し、上記実施形態と重複する内容については説明を省略する。上記実施形態１〜３では、検査用配線７１及び７２が、それぞれ、幅広部７１ｂ及び７２ｂを有するが、本実施形態では、検査用配線７１及び７２が、それぞれ、容量形成部として、互いに並走する２本の配線部を有する。上記実施形態１〜３では、液晶パネル１０上の幅広部７１ｂ、７２ｂを液晶パネル１０上の他の導電部材と重畳させる（上下に配置する）ことにより静電容量を形成しているが、本実施形態では液晶パネル１０上の幅広部７１ｂ、７２ｂを液晶パネル１０上の他の導電部材と重畳させることができない場合を想定し、静電容量を形成する部材同士を並走させる（左右に配置する）。また、上記実施形態３ではＦＰＣ２０の一方の面に設けられた幅広部７２ｂを他方の面に設けられたグランド層８２と重畳させることにより静電容量を形成しており、両面配線のＦＰＣ２０を想定しているが、本実施形態では、片面配線を想定し、静電容量を形成する部材同士を並走させる。図８は、実施形態４の表示装置の平面模式図である。図９は、実施形態４の液晶表示装置が備える表示パネルの断面模式図である。
図８及び９に示すように、表示パネル１０のエッジに沿って設けられ、主に液晶パネル１０上を引き回される検査用配線７１は、容量形成部として、互いに並走する２本の配線部７１ａ１及び７１ａ２を有する。２本の配線部７１ａ１及び７１ａ２のうち一方の配線部７１ａ１は、集積回路チップ３０を介して接地されてグランドライン（ＧＮＤライン）として機能する。その結果、２本の配線部７１ａ１及び７１ａ２は、キャパシタを構成し、２本の配線部７１ａ１及び７１ａ２の間には所定の大きさの静電容量が形成される。２本の配線部７１ａ１及び７１ａ２の間隔は、特に限定されず、所望の容量に応じて適宜設定可能であるが、例えば、１〜２０μｍの範囲内に収まっていてもよい。本実施形態では、他方の配線部７１ａ２を、グランドラインとして機能する一方の配線部７１ａ１よりも液晶パネル１０のエッジ側に設けたが、一方の配線７１ａ１を他方の配線７１ａ２よりも液晶パネル１０のエッジ側に設けてもよい。
同様に、ＦＰＣ２０のエッジに沿って設けられ、主にＦＰＣ２０上を引き回される検査用配線７２は、容量形成部として、互いに並走する２本の配線部７２ａ１及び７２ａ２を有し、２本の配線部７２ａ１及び７２ａ２のうち一方の配線部７２ａ１は、集積回路チップ３０を介して接地されてグランドライン（ＧＮＤライン）として機能する。その結果、２本の配線部７２ａ１及び７２ａ２は、キャパシタを構成し、２本の配線部７２ａ１及び７２ａ２の間には所定の大きさの静電容量が形成される。２本の配線部７２ａ１及び７２ａ２の間隔は、特に限定されず、所望の容量に応じて適宜設定可能であるが、例えば、１〜２０μｍの範囲内に収まっていてもよい。本実施形態では、他方の配線部７２ａ２を、グランドラインとして機能する一方の配線部７２ａ１よりもＦＰＣ２０のエッジ側に設けたが、一方の配線７２ａ１を他方の配線７２ａ２よりもＦＰＣ２０のエッジ側に設けてもよい。
他方の配線部７１ａ２及び７２ａ２は、各々、集積回路チップ３０内のタッチセンサ駆動制御部３２の静電容量検出部３２ａに接続され、検出ラインとして機能し、配線の断線、半断線及びショートを検査するための検査信号が入力される。
所定の静電容量をもつ２本の配線部７１ａ１及び７１ａ２（容量形成部）を有する検査用配線７１は、良品の表示装置１であれば所定の閾値内の静電容量を有する。しかしながら、検査用配線７１の配線部７１ａ１及び／又は７１ａ２に断線及び／又は半断線が生じると、その発生個所に応じて、検査用配線７１の静電容量は減少し、上記所定の閾値を下回る。断線及び／又は半断線の発生個所が検査用配線７１の集積回路チップ３０側の端部に近いほど、検査用配線７１の静電容量の減少幅は大きくなる傾向にある。したがって、２本の配線部７１ａ１及び７１ａ２間の静電容量をモニターし、上記所定の閾値と比較することにより、検査対象の表示装置１における検査用配線７１の断線及び半断線の有無を検査できるとともに、それらの発生個所をある程度絞り込むことができる。２本の配線部７２ａ１及び７２ａ２（容量形成部）を有する検査用配線７２についても同様にして、断線及び半断線の有無を検査できるとともに、それらの発生個所をある程度絞り込むことができる。なお、検査用配線７１の静電容量が増加している場合は、配線部７１ａ１及び／又は７１ａ２がショートしており、検査用配線７２の静電容量が増加している場合は、配線部７２ａ１及び／又は７２ａ２がショートしていると判定することができる。
並走する配線部７１ａ１及び７１ａ２の間には、全長に渡り同じ誘電率を有する材料が配置され、かつ、２本の配線部７１ａ１及び７１ａ２の間隔は、全長に渡り同一であることが好ましい。このような態様とすることにより、検査用配線７１の静電容量は、２本の配線部７１ａ１及び７１ａ２の長さに対して比例的に増加することとなる。そのため、検査対象の表示装置１が備える検査用配線７１の静電容量が、上記所定の閾値に対してどの程度減少しているかにより、検査対象における検査用配線７１のどこで断線が発生しているかをより容易に特定することができる。例えば、検査用配線７１の静電容量の実測値が、上記所定の閾値の静電容量の略４０％になる場合、タッチセンサ駆動制御部３２側の端部から略４０％の位置で配線部７１ａ１及び／又は７１ａ２に断線が発生している可能性があると推定することができる。同様の観点から、並走する配線部７２ａ１及び７２ａ２の間には、全長に渡り同じ誘電率を有する材料が配置され、かつ、２本の配線部７２ａ１及び７２ａ２の間隔は、全長に渡り同一であることが好ましい。ここで、全長とは、実質的に全長であってもよく、また、間隔が同一とは、間隔が実質的に同一である場合も含む。更に、同じ誘電率を有する材料とは、実質的に同じ誘電率を有する材料を含み、同じ材料（実質的に同じ材料を含む）であってもよい。
本実施形態では、２本の配線部７１ａ１及び７１ａ２を同一層で並走させるが、２本の配線部７１ａ１及び７１ａ２は、それぞれ、絶縁層を介した上層及び下層に重ねて配置してもよい。同様に、２本の配線部７２ａ１及び７２ａ２を同一層で並走させるが、表示パネル１０上に設けられた部分については、それぞれ、絶縁層を介した上層及び下層に重ねて配置してもよい。また、配線部７２ａ１及び７２ａ２のＦＰＣ２０上に設けられた部分については、それぞれ、ベースフィルムを介した表面層及び裏面層に重ねて配置してもよい。
［実施形態５］
本実施形態では、本実施形態に特有の特徴について主に説明し、上記実施形態と重複する内容については説明を省略する。上記実施形態１〜４では、集積回路チップ３０に備えられたタッチセンサ駆動制御部３２の静電容量検出部３２ａを用いて検査用配線７１及び７２の静電容量を測定するが、本実施形態では集積回路チップ３０にタッチセンサ駆動制御部３２が搭載されていない態様について説明する。また、本実施形態では、液晶パネル１０及びＦＰＣ２０の両方に１本の検査用配線を引き回す点で実施形態１〜４と異なる。
本実施形態では、表示装置に外部パッドを設け、検査対象となる表示装置とは異なる他の検査装置を上記外部パッドに接続することにより、検査用配線の静電容量を測定する。したがって、本実施形態の表示装置は、表示パネルにタッチ検出機能を備えていない表示装置に好ましく用いられる態様である。図１０は、実施形態５の表示装置の平面模式図である。
本実施形態の表示装置１が備える表示パネル１０は、上記実施形態１〜４の表示パネル１０とは異なりタッチ検出機能を備えておらず、集積回路チップ４０にはタッチセンサ駆動制御部３２が搭載されていない。本実施形態の表示装置１は、ＦＰＣ２０のエッジにおいて２つの外部パッド（第１の外部パッド９１及び第２の外部パッド９２）と、液晶パネル１０上及びＦＰＣ２０上を引き回される検査用配線７３を備える。
検査用配線７３は、配線部７３ａ及び複数の幅広部７３ｂを有し、配線部７３ａの一方の端部は第１の外部パッド９１に電気的に接続されており、配線部７３ａの他方の端部は第２の外部パッド９２に電気的に接続されている。また、配線部７３ａの中間部には複数の幅広部７３ｂが配置されている。複数の幅広部７３ｂは、ＦＰＣ２０の取付部付近の表示パネル１０の２つのコーナー部にそれぞれ設けられた第１及び第２のパネル幅広部７３ｂと、それら２つのコーナー部以外のコーナー部に設けられた第３のパネル幅広部７３ｂと、第１及び第２のパネル幅広部７３ｂ付近のＦＰＣ２０上にそれぞれ設けられた第１及び第２のＦＰＣ幅広部７３ｂとを含んでいる。表示パネル１０及びＦＰＣ２０上には、検査信号を入力する２つのルート（ルートＲ１及びＲ２）が設けられている。
本実施形態では、検査用配線７３の静電容量を検出するための検査信号を、外部の検査装置から外部パッド９１又は９２を通して入力し、かつ、検査用配線７３の静電容量を、外部パッド９１又は９２を通して外部の検査装置により測定することができる。したがって、表示装置１にタッチセンサ駆動制御部３２が搭載されていない場合であっても、配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することができる。
また、第１の外部パッド９１から時計回りのルートＲ１で配線部７３ａに検査信号を入力した際、検査用配線７３の静電容量が上記所定の閾値からの大きく減少する場合、表示パネル１０及びＦＰＣ２０の左側で配線の断線及び／又は半断線が発生している可能性が高いと推定することができる。また、第２の外部パッド９２から反時計回りのルートＲ２で配線部７３ａに検査信号を入力した際、検査用配線７３の静電容量の上記所定の閾値からの減少幅が大きい場合、表示パネル１０及びＦＰＣ２０の右側で配線の断線及び／又は半断線が発生している可能性が高いと推定することができる。
このように、配線部７３ａの両端部にそれぞれ外部パッド９１、９２を設け、かつ、配線部７３ａの中間部に幅広部７３ｂを配置することにより、２つのルートで配線の断線及び／又は半断線の有無をそれぞれ検査することが可能となり、配線の断線及び／又は半断線が発生している箇所を絞り込むことができる。
本実施形態では、幅広部７３ｂを表示パネル１０及びＦＰＣ２０の両者に設けることにより、表示パネル１０側又はＦＰＣ２０側のいずれにおいて配線の断線及び／又は半断線が発生しているかを絞り込むことができる。また、表示パネル１０及びＦＰＣ２０の接続部分と、ＦＰＣ２０の折り曲げ箇所ＢＲとの両側に、第１のパネル幅広部７３ｂ及び第１のＦＰＣ幅広部７３ｂが配置されるとともに、第２のパネル幅広部７３ｂ及び第２のＦＰＣ幅広部７３ｂが配置されていることから、これらの箇所での断線、半断線及びショートについても検査することができる。
また、検査用配線７３は、１本で、ＦＰＣ２０が取り付けられた部分を除く表示パネル１０のエッジの全体と、表示パネル１０に取り付けられた部分を除くＦＰＣ２０のエッジの全体とに沿って設けられている。これにより、表示パネル１０のエッジ付近及びＦＰＣ２０のエッジ付近における配線の断線、半断線及びショートの有無を特に広い範囲で検査することができる。このような観点からは、第１の外部パッド９１及び第２の外部パッド９２は、互いに隣接することが好ましい。
本実施形態では、ＦＰＣ２０のエッジに第１の外部パッド９１及び第２の外部パッド９２を設けるが、第１の外部パッド９１及び第２の外部パッド９２が設けられる位置は特に限定されず、表示パネル１０上に第１の外部パッド９１及び第２の外部パッド９２が設けられてもよく、第１の外部パッド９１及び第２の外部パッド９２のうちの一方が表示パネル１０上に設けられ、他方がＦＰＣ２０上に設けられてもよい。
本実施形態のように２つの外部パッド９１、９２を設ける場合、配線部７３ａの中間部（特に中央部）に１つの幅広部７３ｂが配置されていれば、配線の断線が発生している箇所を絞り込むことができるが、実施形態３のように配線部７３ａの中間部に複数の幅広部７３ｂを更に配置することにより、配線の断線が発生している箇所をより絞り込むことができる。
本実施形態では配線部７３ａ及び幅広部７３ｂを有する検査用配線７３を用いるが、実施形態４のように、互いに並走する２本の配線部を有する検査用配線を用いてもよい。この場合、２本の配線部のうち一方は、その端部に接続した外部パッドを介して接地し、他方の配線部には、その端部に接続した外部パッドを介して外部の検査装置から検査信号を入力する。
本実施形態では検査用配線７３の両端部に外部パッド９１及び９２を設けるが、外部パッドは検査用配線７３の一方の端部のみに設けてもよい。その場合は、配線部及び複数の幅広部を有する検査用配線を用いたり、互いに並走する２本の配線部を有する検査用配線を設けたりすることにより、配線の断線の発生箇所を絞り込むことができる。
本実施形態では、外部パッド９１及び９２は、それぞれ、検査用配線７３の一方及び他方の端部に設けられるが、外部パッド９１及び９２は検査用配線７３の両端部以外（例えば、検査用配線７３の中間部）に設けられてもよい。
［実施形態６］
本実施形態では、本実施形態に特有の特徴について主に説明し、上記実施形態と重複する内容については説明を省略する。上記実施形態１〜４では、液晶ドライバ３１及びタッチセンサ駆動制御部３２を有する集積回路チップ３０が液晶パネル１０上に配置されるが、本実施形態では、液晶ドライバ及びタッチセンサ駆動制御部を有する集積回路チップをＦＰＣ上に実装する。すなわち、本実施形態では、液晶ドライバ及びタッチセンサ駆動制御部を有する集積回路チップを実装したＦＰＣ（ＣＯＦ：Ｃｈｉｐ Ｏｎ Ｆｉｌｍ）を用いる。また、本実施形態では、液晶パネル１０及びＦＰＣ２０の両方に検査用配線７３を引き回す点で実施形態１〜４と異なり、集積回路チップが液晶ドライバ及びタッチセンサ駆動制御部の両方を有する点で実施形態５と異なる。図１１は、実施形態６の表示装置の平面模式図である。
図１１に示すように、本実施形態の表示装置１が備えるＦＰＣ２０は両面配線を想定しており、ＦＰＣ２０の表面側には、液晶ドライバ３１及びタッチセンサ駆動制御部３２を有する集積回路チップ３０が実装されている。本実施形態では、集積回路チップ３０をＦＰＣ２０の表面側に実装するが、ＦＰＣ２０の裏面側に実装してもよい。
表示パネル１０のエッジ及びＦＰＣ２０のエッジに沿って設けられ、液晶パネル１０上及びＦＰＣ２０上を引き回される検査用配線７３は、配線部７３ａ及び複数の幅広部７３ｂを有し、配線部７３ａの両端部は、それぞれ、集積回路チップ３０内のタッチセンサ駆動制御部３２の静電容量検出部３２ａと電気的に接続される。また、配線部７３ａの中間部には複数の幅広部７３ｂが配置されている。複数の幅広部７３ｂは、ＦＰＣ２０の取付部付近の表示パネル１０の２つのコーナー部にそれぞれ設けられた第１及び第２のパネル幅広部７３ｂと、それら２つのコーナー部以外のコーナー部に設けられた第３のパネル幅広部７３ｂと、第１及び第２のパネル幅広部７３ｂ付近のＦＰＣ２０上にそれぞれ設けられた第１及び第２のＦＰＣ幅広部７３ｂとを含んでいる。表示パネル１０及びＦＰＣ２０上には、検査信号を入力する２つのルート（ルートＲ１及びＲ２）が設けられている。
表示装置１では、第１、第２及び第３パネル幅広部７３ｂを液晶パネル１０上の他の導電部材と重畳させることにより静電容量を形成し、また、両面配線のＦＰＣ２０の一方の面に設けられた第１及び第２のＦＰＣ幅広部７３ｂを他方の面に設けられた導電部材（グランド層）と重畳させることにより静電容量を形成している。
時計回りのルートＲ１で配線部７３ａに検査信号を入力した際、検査用配線７３の静電容量が上記所定の閾値からの大きく減少する場合、表示パネル１０及びＦＰＣ２０の左側で配線の断線及び／又は半断線が発生している可能性が高いと推定することができる。また、反時計回りのルートＲ２で配線部７３ａに検査信号を入力した際、検査用配線７３の静電容量の上記所定の閾値からの減少幅が大きい場合、表示パネル１０及びＦＰＣ２０の右側で配線の断線及び／又は半断線が発生している可能性が高いと推定することができる。
このように、配線部７３ａの両端部を静電容量検出部３２ａと電気的に接続し、かつ、配線部７３ａの中間部に幅広部７３ｂを配置することにより、２つのルートで配線の断線及び／又は半断線の有無をそれぞれ検査することが可能となり、配線の断線及び／又は半断線が発生している箇所を絞り込むことができる。
［実施形態７］
本実施形態では、本実施形態に特有の特徴について主に説明し、上記実施形態と重複する内容については説明を省略する。上記実施形態１〜４では、液晶ドライバ３１及びタッチセンサ駆動制御部３２を有する集積回路チップ３０が液晶パネル１０上に配置されるが、本実施形態では、液晶ドライバ及びタッチセンサ駆動制御部を有する集積回路チップをＦＰＣ上に実装する。すなわち、本実施形態では、ＣＯＦを用いる。また、本実施形態では、液晶パネル１０上及びＦＰＣ２０上を引き回される検査用配線７３が、容量形成部として、互いに並走する２本の配線部を有する点で実施形態６と異なる。図１２は、実施形態７の表示装置の平面模式図である。
図１２に示すように、本実施形態の表示装置１が備えるＦＰＣ２０は片面配線を想定しており、ＦＰＣ２０の裏面側には、液晶ドライバ３１及びタッチセンサ駆動制御部３２を有する集積回路チップ３０が実装されている。
表示パネル１０のエッジ及びＦＰＣのエッジに沿って設けられ、液晶パネル１０上及びＦＰＣ２０上を引き回される検査用配線７３は、容量形成部として、互いに並走する２本の配線部７３ａ１及び７３ａ２を有する。２本の配線部７３ａ１及び７３ａ２のうち一方の配線部７３ａ１は、集積回路チップ３０を介して接地されてグランドラインとして機能する。その結果、２本の配線部７３ａ１及び７３ａ２は、キャパシタを構成し、２本の配線部７３ａ１及び７３ａ２の間には所定の大きさの静電容量が形成される。２本の配線部７３ａ１及び７３ａ２の間隔は、特に限定されず、所望の容量に応じて適宜設定可能であるが、例えば、１〜２０μｍの範囲内に収まっていてもよい。本実施形態では、他方の配線部７３ａ２を、グランドラインとして機能する一方の配線部７３ａ１よりも液晶パネル１０のエッジ側に設けたが、一方の配線７３ａ１を他方の配線７３ａ２よりも液晶パネル１０のエッジ側に設けてもよい。
他方の配線部７３ａ２は、集積回路チップ３０内のタッチセンサ駆動制御部３２の静電容量検出部３２ａに接続され、検出ラインとして機能し、配線の断線、半断線及びショートを検査するための検査信号が入力される。そして、実施形態４における検査用配線７１、７２と同様にして、配線部７３ａ１及び７３ａ２を有する本実施形態の検査用配線７３を用いて、配線の断線、半断線及びショートの有無を判定することができる。
［実施形態８］
本実施形態では、本実施形態に特有の特徴について主に説明し、上記実施形態と重複する内容については説明を省略する。本実施形態は、上記実施形態１〜７の表示装置の製造方法について説明する。
本実施形態の表示装置１の製造方法は、表示パネル１０及びＦＰＣ２０を有する表示装置１の製造方法であって、静電容量をもつ容量形成部を有する検査用配線７１及び７２（又は７３）を、表示パネル１０のエッジ及びＦＰＣ２０のエッジに沿って形成する形成ステップと、表示パネル１０にＦＰＣ２０を接続する実装ステップと、上記実装ステップ後に検査用配線７１及び７２（又は７３）の静電容量を測定し、当該測定結果に基づいて検査用配線７１及び７２（又は７３）の断線、半断線及びショートの有無を検査する検査ステップと、を含む。
表示装置１は、検査用配線７１及び７２（又は７３）自体に静電容量を持たせており、上述の特許文献１に記載の、基板貼り合わせ前の透明基板に重ね合わされる導電板といった特別な部材は不要であるため、特許文献１とは異なり、表示パネル１０を製造し、表示パネル１０にＦＰＣ２０を実装した後でも、配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することができる。
上記形成ステップにおいて、検査用配線７１及び７２（又は７３）のうち表示パネル１０上に設けられる部分については、表示パネル１０が有する他の配線又は電極と同時に形成することができる。検査用配線７１及び７２（又は７３）のうちＦＰＣ２０上に設けられる部分については、例えば、ＦＰＣ２０上に設けられた他の配線と同時に形成することができる。
上記検査ステップでは、検査用配線７１及び７２（又は７３）の静電容量を上記所定の閾値と比較してもよい。このような態様とすることにより、配線の断線、半断線及びショートの有無を、上記静電容量の測定値が上記所定の閾値に収まるか否かによりすることにより判定することができる。例えば、上記静電容量の測定値が上記所定の閾値に収まる場合は検査用配線７１及び７２（又は７３）に断線、半断線及びショートが発生していないと判定することができ、上記所定の閾値から外れる場合は検査用配線７１及び７２（又は７３）に断線、半断線及びショートの少なくとも１つが発生していると判定することができる。
また、検査用配線７１及び７２（又は７３）が幅広部７１ｂ及び７２ｂ（又は７３ｂ）をそれぞれ有する場合は、上記検査ステップにおいて、幅広部７１ｂ及び７２ｂ（又は７３ｂ）に指示体を接触又は近接してもよい。このような態様とすることにより、幅広部７１ｂ及び７２ｂ（又は７３ｂ）をタッチした際にＴＰシグナルが見られるか否かによって、検査用配線７１及び７２（又は７３）の断線及び半断線の有無を容易に検査することができる。
［実施形態９］
本実施形態では、本実施形態に特有の特徴について主に説明し、上記実施形態と重複する内容については説明を省略する。本実施形態は、上記実施形態１〜７の表示装置の検査方法について説明する。
本実施形態の表示装置１の検査方法は、表示パネル１０及びＦＰＣ２０を有する表示装置１の検査方法であって、表示パネル１０のエッジ及びＦＰＣ２０のエッジの少なくとも一方に沿って設けられ、かつ、静電容量をもつ容量形成部を有する検査用配線７１及び７２（又は７３）の静電容量を測定し、当該測定結果に基づいて検査用配線７１及び７２（７３）の断線、半断線及びショートの有無を検査する検査ステップを含む。
表示装置１は、検査用配線７１及び７２（又は７３）自体に静電容量を持たせており、上述の特許文献１に記載の、基板貼り合わせ前の透明基板に重ね合わされる導電板といった特別な部材は不要であるため、特許文献１とは異なり、表示パネル１０を製造し、表示パネル１０にＦＰＣ２０を実装した後でも、配線の断線、半断線及びショートの有無を検査することができる。
上記検査ステップでは、検査用配線７１及び７２（又は７３）の静電容量を上記所定の閾値と比較してもよい。このような態様とすることにより、配線の断線、半断線及びショートの有無を、上記静電容量の測定値が上記所定の閾値に収まるか否かによりすることにより判定することができる。例えば、上記静電容量の測定値が上記所定の閾値に収まる場合は検査用配線７１及び７２（又は７３）に断線、半断線及びショートが発生していないと判定することができ、上記所定の閾値から外れる場合は検査用配線７１及び７２（又は７３）に断線、半断線及びショートの少なくとも１つが発生していると判定することができる。
また、検査用配線７１及び７２（又は７３）が幅広部７１ｂ及び７２ｂ（又は７３ｂ）をそれぞれ有する場合は、上記検査ステップにおいて、幅広部７１ｂ及び７２ｂ（又は７３ｂ）に指示体を接触又は近接してもよい。このような態様とすることにより、幅広部７１ｂ及び７２ｂ（又は７３ｂ）をタッチした際にＴＰシグナルが見られるか否かによって、検査用配線７１及び７２（又は７３）の断線及び半断線の有無を容易に検査することができる。
［変形例１］
上記実施形態１〜４では、検査用配線７１及び７２が表示パネル１０及びＦＰＣ２０にそれぞれ設けられる態様について説明したが、検査用配線７１又は７２の一方のみを表示パネル１０又はＦＰＣ２０の一方のみに設けてもよい。また、上記実施形態５〜７では、検査用配線７３が表示パネル１０及びＦＰＣ２０に設けられる態様について説明したが、検査用配線７３は表示パネル１０又はＦＰＣ２０の一方のみに設けられてもよい。
［変形例２］
上記実施形態５以外の実施形態では、集積回路チップ３０上に液晶ドライバ３１及びタッチセンサ駆動制御部３２が搭載されているが、液晶ドライバ３１及びタッチセンサ駆動制御部３２はそれぞれ別の集積回路チップに設けられていてもよい。
［変形例３］
上記各実施形態では、ＦＰＣ２０が取り付けられた部分を除く表示パネル１０のエッジの全体と、表示パネル１０に取り付けられた部分を除くＦＰＣ２０のエッジの全体とに沿って少なくとも１本の検査用配線を設ける態様について説明したが、表示パネル１０及びＦＰＣ２０の各々において検査用配線を配置する領域は特に限定されず、例えば、検査用配線７１を表示パネル１０が有する４つの辺のうち、図１に示す上側及び右側の２辺のみに沿って延設してもよい。
［変形例４］
上記実施形態５以外の実施形態における表示装置１は、共通電極１６がセンサ電極の機能も兼ね備えたインセル型のタッチパネルを備えるが、共通電極１６にＴＰ機能を持たせず、共通電極１６とは別に、カラーフィルタ基板１１ａの表面側にセンサ電極を設け、オンセル型のタッチパネルを設けてもよい。
［変形例５］
上記各実施形態では、表示パネル１０が液晶表示パネルである態様について説明したが、表示パネル１０は、有機エレクトロルミネッセンスパネル又はプラズマディスプレイパネル等、液晶表示パネルとは異なる表示方式の表示パネルであってもよい。
［変形例６］
上記各実施形態では、表示パネル１０の形状が矩形状である態様について説明したが、表示パネル１０は、矩形状以外の形状を有する異形パネルであってもよい。
［変形例７］
上記実施形態１〜４では、表示パネル１０上を引き回された検査用配線とＦＰＣ２０上を引き回された検査用配線とがいずれも容量形成部として、幅広部、又は、互いに並走する２本の配線部を有する態様について説明したが、それらの検査用配線のうち一方が容量形成部として幅広部を有し、他方が容量形成部として互いに並走する２本の配線部を有していてもよい。
［変形例８］
上記実施形態１〜４において、液晶パネル１０上に設けられた集積回路チップ３０は、ＦＰＣ２０上に実装されてもよく、ＦＰＣ２０上の集積回路チップ３０内の静電容量検出部３２ａに検査用配線７１、７２を接続してもよい。同様に、実施形態５において、液晶パネル１０上に設けられた集積回路チップ３０は、ＦＰＣ２０上に実装されてもよい。反対に、上記実施形態６〜７において、ＦＰＣ２０上に設けられた集積回路チップ３０は、液晶パネル１０上に実装されてもよく、液晶パネル１０上の集積回路チップ３０内の静電容量検出部３２ａに検査用配線７３を接続してもよい。
１：表示装置
１０：表示パネル
１１ａ：カラーフィルタ基板
１１ｂ：アレイ基板
１２：薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）
１３：画素電極
１３ａ：スリット
１４：ゲート配線
１５：ソース配線
１６：共通電極
１６ａ：センサ配線
２０：フレキシブルプリント基板（ＦＰＣ）
３０、４０：集積回路チップ
３１：液晶ドライバ
３１ａ：ゲートドライバ
３１ｂ：ソースドライバ
３２：タッチセンサ駆動制御部
３２ａ：静電容量検出部
３２ｂ：タッチ検出部
７１、７２、７３：検査用配線
７１ａ、７１ａ１、７１ａ２、７２ａ、７２ａ１、７２ａ２、７３ａ、７３ａ１、７３ａ２：配線部
７１ｂ、７２ｂ、７３ｂ：幅広部
７１ｃ：グランド層
８１、８４：カバーレイ
８２：グランド層
８３：ベースフィルム
９１、９２：外部パッド
ＡＡ：表示領域
ＢＲ：折り曲げ箇所
ＣＮ：コネクタ
ＮＡＡ：非表示領域
Ｒ、Ｒ１、Ｒ２、ＲＦ、ＲＰ、ＲＰ１、ＲＰ２：ルート

Claims (16)

  1. 表示パネルと、前記表示パネルに接続されたフレキシブルプリント基板とを有する表示装置であって、
    前記表示パネルのエッジ及び前記フレキシブルプリント基板のエッジの少なくとも一方に沿って設けられ、かつ、静電容量をもつ容量形成部を有する検査用配線を備えることを特徴とする表示装置。
  2. 前記検査用配線は、配線部と、前記容量形成部として、前記配線部よりも幅の広い幅広部とを有することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
  3. 前記幅広部は、前記配線部の一方の端部に位置することを特徴とする請求項２に記載の表示装置。
  4. 前記幅広部は、前記配線部の中間部に位置することを特徴とする請求項２に記載の表示装置。
  5. 前記検査用配線は、前記幅広部を複数有し、
    前記複数の幅広部は、互いに間隔を空けて配置されることを特徴とする請求項２〜４のいずれかに記載の表示装置。
  6. 前記複数の幅広部の静電容量は、互いに等しいことを特徴とする請求項５に記載の表示装置。
  7. 前記検査用配線は、前記容量形成部として、互いに並走する２本の配線部を含み、
    前記２本の配線部の一方は、接地されることを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
  8. 前記検査用配線に接続され、かつ、前記検査用配線の静電容量を検出する静電容量検出部を更に備えることを特徴とする請求項１〜７のいずれかに記載の表示装置。
  9. 前記表示パネル及び前記フレキシブルプリント基板の少なくとも一方に設けられ、かつ、前記検査用配線に接続された外部パッドを更に備えることを特徴とする請求項１〜７のいずれかに記載の表示装置。
  10. 前記検査用配線は、前記フレキシブルプリント基板が取り付けられた部分を除く前記表示パネルの前記エッジの全体と、前記表示パネルに取り付けられた部分を除く前記フレキシブルプリント基板の前記エッジの全体とに沿って設けられることを特徴とする請求項１〜９のいずれかに記載の表示装置。
  11. 表示パネルと、前記表示パネルに接続されたフレキシブルプリント基板とを有する表示装置の製造方法であって、
    静電容量をもつ容量形成部を有する検査用配線を、前記表示パネルのエッジ及び前記フレキシブルプリント基板のエッジの少なくとも一方に沿って形成する形成ステップと、
    前記表示パネルに前記フレキシブルプリント基板を接続する実装ステップと、
    前記実装ステップ後に前記検査用配線の静電容量を測定し、当該測定結果に基づいて前記検査用配線の断線、半断線及びショートの有無を検査する検査ステップと、を含むことを特徴とする表示装置の製造方法。
  12. 前記検査ステップにおいて、前記静電容量を所定の閾値と比較することを特徴とする請求項１１に記載の表示装置の製造方法。
  13. 前記検査用配線は、配線部と、前記容量形成部として、前記配線部よりも幅の広い幅広部とを有し、
    前記検査ステップにおいて、前記幅広部に指示体を接触又は近接させることを特徴とする請求項１１又は１２に記載の表示装置の製造方法。
  14. 表示パネルと、前記表示パネルに接続されたフレキシブルプリント基板とを有する表示装置の検査方法であって、
    前記表示装置は、前記表示パネルのエッジ及び前記フレキシブルプリント基板のエッジの少なくとも一方に沿って設けられ、かつ、静電容量をもつ容量形成部を有する検査用配線を備え、
    前記検査方法は、前記検査用配線の静電容量を測定し、当該測定結果に基づいて前記検査用配線の断線、半断線及びショートの有無を検査する検査ステップを含むことを特徴とする表示装置の検査方法。
  15. 前記検査ステップにおいて、前記静電容量を所定の閾値と比較することを特徴とする請求項１４に記載の表示装置の検査方法。
  16. 前記検査用配線は、配線部と、前記容量形成部として、前記配線部よりも幅の広い幅広部とを有し、
    前記検査ステップにおいて、前記幅広部に指示体を接触又は近接させることを特徴とする請求項１４又は１５に記載の表示装置の検査方法。
JP2017251617A 2017-12-27 2017-12-27 表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法。 Pending JP2019117315A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017251617A JP2019117315A (ja) 2017-12-27 2017-12-27 表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法。
CN201811557965.5A CN109991769B (zh) 2017-12-27 2018-12-19 显示装置、显示装置的制造方法、及显示装置的检查方法
US16/225,916 US10964237B2 (en) 2017-12-27 2018-12-19 Display device, method for producing display device, and method for inspecting display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017251617A JP2019117315A (ja) 2017-12-27 2017-12-27 表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法。

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2019117315A true JP2019117315A (ja) 2019-07-18

Family

ID=66950514

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017251617A Pending JP2019117315A (ja) 2017-12-27 2017-12-27 表示装置、表示装置の製造方法、及び、表示装置の検査方法。

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10964237B2 (ja)
JP (1) JP2019117315A (ja)
CN (1) CN109991769B (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102578498B1 (ko) * 2018-10-24 2023-09-14 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치
CN110673766A (zh) * 2019-09-26 2020-01-10 京东方科技集团股份有限公司 一种触控显示面板及其检测方法
KR20210114789A (ko) * 2020-03-11 2021-09-24 동우 화인켐 주식회사 터치 센서 모듈 및 이를 포함하는 화상 표시 장치

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2610328B2 (ja) * 1988-12-21 1997-05-14 株式会社東芝 液晶表示素子の製造方法
JPH07181509A (ja) * 1993-12-24 1995-07-21 Sharp Corp 液晶表示装置およびその製造方法
JPH0822024A (ja) * 1994-07-05 1996-01-23 Mitsubishi Electric Corp アクティブマトリクス基板およびその製法
TW446831B (en) * 1997-09-25 2001-07-21 Samsung Electronics Co Ltd Liquid crystal display having an electrostatic discharge protection circuit and a method for testing display quality using the circuit
JP2000250057A (ja) 1999-03-04 2000-09-14 Rohm Co Ltd 液晶表示装置における透明電極パターンの検査方法
JP2002009407A (ja) * 2000-06-20 2002-01-11 Sharp Corp 配線基板
US6755000B2 (en) * 2001-07-18 2004-06-29 Richard Duk Wone Hahn Plaster molding system
JP4098049B2 (ja) * 2001-11-30 2008-06-11 シャープ株式会社 表示パネル
JP2005043783A (ja) * 2003-07-25 2005-02-17 Oht Inc 液晶表示パネルの検査装置及び液晶パネルの検査方法
JP2005274328A (ja) * 2004-03-24 2005-10-06 Seiko Epson Corp 検査装置、検査方法及び電気光学装置の製造方法
CN101023463B (zh) * 2004-09-22 2011-08-03 夏普株式会社 驱动单片型液晶屏的驱动电路及其液晶显示装置
JP2008015366A (ja) * 2006-07-07 2008-01-24 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示装置および表示装置の検査方法
JP2009086077A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Hitachi Displays Ltd タッチパネルを搭載した液晶表示装置及びその製造方法
JP5513262B2 (ja) * 2010-06-02 2014-06-04 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
TWI526889B (zh) * 2012-02-15 2016-03-21 富士通電子零件有限公司 觸控面板及位置檢測方法
WO2013150732A1 (ja) * 2012-04-04 2013-10-10 シャープ株式会社 Ｅｓｄ試験検査装置およびｅｓｄ試験検査方法
US9324252B2 (en) * 2012-04-16 2016-04-26 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Wiring structure of wiring area on liquid crystal displaying panel and testing method of liquid crystal displaying panel
JP5923417B2 (ja) * 2012-09-14 2016-05-24 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置及びカバー部材
CN104969283B (zh) * 2013-02-26 2017-06-16 夏普株式会社 显示装置
JP6337424B2 (ja) * 2013-06-12 2018-06-06 三菱電機株式会社 液晶表示装置および液晶表示装置の検査方法
CN103513454B (zh) * 2013-08-29 2015-06-10 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其检测方法和制备方法
JP6381381B2 (ja) * 2014-09-12 2018-08-29 キヤノン株式会社 電子機器
US9287329B1 (en) * 2014-12-30 2016-03-15 Lg Display Co., Ltd. Flexible display device with chamfered polarization layer
JP2016157274A (ja) * 2015-02-25 2016-09-01 京セラディスプレイ株式会社 タッチパネル付液晶表示装置
JP2017044829A (ja) * 2015-08-26 2017-03-02 三菱電機株式会社 液晶表示装置
JP6577846B2 (ja) * 2015-11-25 2019-09-18 株式会社ジャパンディスプレイ 検出装置及び表示装置
JP2019086575A (ja) * 2017-11-02 2019-06-06 シャープ株式会社 表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20190197932A1 (en) 2019-06-27
US10964237B2 (en) 2021-03-30
CN109991769A (zh) 2019-07-09
CN109991769B (zh) 2021-12-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9740071B2 (en) Display device
US8866782B2 (en) Display device
TWI537638B (zh) 附有輸入裝置之顯示裝置
JP5438798B2 (ja) アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の製造方法または検査方法、および表示装置の製造方法または検査方法
KR101682755B1 (ko) 전자 컴포넌트, 터치 패널 및 이를 이용하는 액정 표시 장치
WO2018159395A1 (ja) 配線基板及び表示装置
JP4881030B2 (ja) 表示装置
JP2011095451A (ja) 横電界方式の液晶表示装置
CN109991769B (zh) 显示装置、显示装置的制造方法、及显示装置的检查方法
JP5930061B2 (ja) タッチパネル
KR20140134620A (ko) 전자 컴포넌트, 터치 패널 및 이를 이용하는 액정 표시 장치
JP2014139829A (ja) 表示装置
JP2014006482A (ja) 表示装置用基板及びそれを備えた表示装置
JP6112432B2 (ja) 座標入力装置
KR102222274B1 (ko) 액정표시장치
US11106316B2 (en) Display panel having overlapping position detection lead-out lines disposed in different layers
JP6395889B2 (ja) タッチパネル
WO2016158179A1 (ja) タッチパネル、タッチパネルの検査方法及びタッチパネルの製造方法
WO2019021924A1 (ja) 表示パネル