CN111737123A - 一种故障码存储的测试方法、装置、设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种故障码存储的测试方法、装置、设备和存储介质。其中，该方法包括：针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，故障映射库中记录有待测电控单元的每一故障识别变量与标准故障码之间的映射关系；通过比对每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码，确定待测电控单元的故障码存储性能。本发明实施例提供的技术方案，实现电控单元上故障码存储的性能检测，无需预先为电控单元的每一故障码编写对应的测试用例，避免人为编写测试用例的易错率，保证电控单元上故障码存储的准确性和可靠性，提高电控单元上故障码存储测试的可扩展性。

Description

一种故障码存储的测试方法、装置、设备和存储介质

技术领域

本发明实施例涉及车辆数据处理技术领域，尤其涉及一种故障码存储的测试方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

为了保证车辆在行驶过程中的安全性，通常会设置车辆上安装的各个电控单元(Electronic Control Unit，ECU)具备相应的故障自检测功能，使得ECU在检测到故障发生时，直接以故障码的形式来存储该故障，便于检修人员后续采用专用的故障检测设备从ECU中直接读取该故障码，即可方便地排查故障。而为了尽早发现故障检测时可能存在的检测存储失误问题，通常需要在车辆开发阶段针对每一ECU进行故障码存储的白盒测试，以保证故障码存储的准确性。

目前，传统的白盒测试方式通常针对ECU诊断规范里的每一故障码，均预先编写出对应的测试用例，在每个测试用例内编写有针对本次待测故障的期望故障码，进而通过对ECU执行该测试用例所得到的测试故障码与相应的期望故障码进行比对，分析ECU下故障码存储的真实性。

但是，由于ECU诊断规范里的每一故障码均需要编写对应的测试用例，极大增加了测试用例的编写工作量，而且人为编写的测试用例极易出错，无法保证故障码存储的准确性；同时，一旦故障码存储的测试步骤变更，则需要修正全部的测试用例，使得故障码存储测试的扩展性极差。

发明内容

本发明实施例提供了一种故障码存储的测试方法、装置、设备和存储介质，保证电控单元上故障码存储的准确性和可靠性，提高电控单元上故障码存储测试的可扩展性。

第一方面，本发明实施例提供了一种故障码存储的测试方法，该方法包括：

针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，所述故障映射库中记录有所述待测电控单元的每一故障识别变量与标准故障码之间的映射关系；

通过比对每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码，确定所述待测电控单元的故障码存储性能。

第二方面，本发明实施例提供了一种故障码存储的测试装置，该装置包括：

故障码读取模块，用于针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，所述故障映射库中记录有所述待测电控单元的每一故障识别变量与标准故障码之间的映射关系；

存储性能测试模块，用于通过比对每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码，确定所述待测电控单元的故障码存储性能。

第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现本发明任意实施例所述的故障码存储的测试方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例所述的故障码存储的测试方法。

本发明实施例提供了一种故障码存储的测试方法、装置、设备和存储介质，预先构建记录有每一故障识别变量和标准故障码之间的映射关系的故障映射库，然后通过读取待测电控单元基于该故障映射库中记录的每一故障识别变量存储的测试故障码，并与故障映射库中该故障识别变量的标准故障码进行比对，判断待测电控单元的故障码存储性能，实现电控单元上故障码存储的性能检测，无需预先为电控单元的每一故障码编写对应的测试用例，避免人为编写测试用例的易错率，保证电控单元上故障码存储的准确性和可靠性；同时通过故障映射库记录电控单元的每一故障识别变量和标准故障码之间的映射关系，后续对每一故障识别变量的故障码存储进行测试时，可以采用相同的测试步骤，无需更改故障码的测试用例，从而提高电控单元上故障码存储测试的可扩展性。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为本发明实施例一提供的一种故障码存储的测试方法的流程图；

图2为本发明实施例二提供的一种故障码存储的测试方法的流程图；

图3为本发明实施例三提供的一种故障码存储的测试装置的结构示意图；

图4为本发明实施例四提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

实施例一

图1为本发明实施例一提供的一种故障码存储的测试方法的流程图。本实施例可适用于任一种对电控单元存储故障码的性能进行测试的情况中。本实施例提供的一种故障码存储的测试方法可以由本发明实施例提供的故障码存储的测试装置来执行，该装置可以通过软件和/或硬件的方式实现，并集成在执行本方法的电子设备中。

具体的，参考图1，该方法具体包括如下步骤：

S110，针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，该故障映射库中记录有待测电控单元的每一故障识别变量与标准故障码之间的映射关系。

具体的，为了保证车辆在行驶过程中的安全性，通常会设置车辆上安装的各个电控单元具备相应的故障自检测功能，每一电控单元在检测到存在某项故障时，直接在该电控单元上以故障码的形式来存储该故障，便于检修人员后续采用专用的故障检测设备从各个电控单元中直接读取所存储的故障码，即可方便地排查故障。此时，为了确保故障排查的准确性，要求每一电控单元在检测到存在某项故障时，能够准确的存储该故障对应的故障码，避免出现电控单元检测到故障A，而误将故障B对应的故障码存储的情况；因此，为了确保每一电控单元上故障码存储的准确性和可靠性，本实施例主要在车辆开发阶段，便对每一电控单元的故障码存储性能进行测试，以确保后续车辆在行驶过程中出现故障时，检修人员能够通过读取所存储的故障码来准确排查出各个电控单元存在的故障，以进行及时维修，从而保证车辆故障的维修效率。

在本实施例中，为了避免人为编写每一电控单元下各个故障码存储的测试用例时，存在测试用例编写极易出错的问题，可以对车辆上故障诊断的控制结构和电控单元的诊断规范进行分析，以确定出每一电控单元上可能存在的故障，并将电控单元上所有可能存在的故障采用对应的故障识别变量进行标记，同时确定出能够准确表示电控单元上所有可能存在的故障信息的标准故障码，进而将每一故障对应的故障识别变量与该故障的标准故障码关联起来，便于后续根据实际的故障识别变量即可查找出对应的标准故障码；此时，为了便于对各个故障对应的故障识别变量与该故障的标准故障码的统一管理，本实施例会预先构建出一个故障映射库，以记录车辆安装的每一电控单元上所有可能存在的故障对应的故障识别变量与标准故障码之间的映射关系，此时通过查找故障映射库，即可获取电控单元可能存在的各个故障识别变量，以及该故障识别变量的标准故障码。

可选的，车辆上会安装多个电控单元，本实施例会对每一电控单元的故障码存储性能进行测试，因此会从多个电控单元中确定出本次需要进行故障码存储性能测试的待测电控单元，通过分析预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，以使待测电控单元通过确认该故障识别变量，来存储该故障识别变量对应的测试故障码，该测试故障码为待测电控单元检测到存在该故障识别变量指示的故障时实际存储的故障码，后续通过比对待测电控单元对每一故障识别变量存储的测试故障码与该故障识别变量的标准故障码，来分析待测电控单元的故障码存储性能。

此外，由于待测电控单元在检测出存在每一故障识别变量指示的故障时，而进行测试故障码的存储时，会耗费一定的存储时间，因此为了确保待测电控单元上测试故障码的读取成功率，本实施例中读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，可以具体包括：根据待测电控单元面向故障识别变量的预设存储时长，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码。

具体的，本实施例中通过对电控单元检测出某项故障进行故障码存储的历史存储过程进行分析，可以预先设定出待测电控单元面向故障识别变量的预设存储时长，因此针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，在确定待测电控单元检测到该故障识别变量后，通常会等待该预设存储时长的一段时间，再去待测电控单元上读取基于该故障识别变量存储的测试故障码，以确保待测电控单元已经该故障识别变量成功存储了对应的测试故障码，避免出现测试故障码读取失败的情况，从而保证待测电控单元上故障码存储的测试性能。

S120，通过比对每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码，确定待测电控单元的故障码存储性能。

具体的，在读取到待测电控单元基于故障映射库中记录的每一故障识别变量存储的测试故障码之后，本实施例会在故障映射库中查找出该故障识别变量的标准故障码，进而通过比对待测电控单元基于每一故障识别变量存储的测试故障码与该故障识别变量在故障映射库中映射的标准故障码，判断两者是否一致，若每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码均一致，则确定待测电控单元能够准确存储所检测出的具体故障下的故障码，也就是待测电控单元上存储的故障码能够准确代表该待测电控单元的故障检测结果；然而，如果存在某一故障识别变量对应的测试故障码与该故障识别变量在故障映射库中映射的标准故障码不一致，则确定待测电控单元存在故障码存储缺陷，需要对该待测电控单元的故障码存储功能进行改进，以提高电控单元上故障码存储的准确性和可靠性。

本实施例提供的技术方案，预先构建记录有每一故障识别变量和标准故障码之间的映射关系的故障映射库，然后通过读取待测电控单元基于该故障映射库中记录的每一故障识别变量存储的测试故障码，并与故障映射库中该故障识别变量的标准故障码进行比对，判断待测电控单元的故障码存储性能，实现电控单元上故障码存储的性能检测，无需预先为电控单元的每一故障码编写对应的测试用例，避免人为编写测试用例的易错率，保证电控单元上故障码存储的准确性和可靠性；同时通过故障映射库记录电控单元的每一故障识别变量和标准故障码之间的映射关系，后续对每一故障识别变量的故障码存储进行测试时，可以采用相同的测试步骤，无需更改故障码的测试用例，从而提高电控单元上故障码存储测试的可扩展性。

实施例二

图2为本发明实施例二提供的一种故障码存储的测试方法的流程图。本发明实施例是在上述实施例的基础上进行优化。可选的，本实施例主要对于待测电控单元基于故障映射库中记录的每一故障识别变量存储对应测试故障码的具体过程进行详细的解释说明。

具体的，参见图2，本实施例的方法具体可以包括：

S210，遍历故障映射库中记录的故障识别变量，并向待测电控单元发送当前遍历的故障识别变量，以使待测电控单元在故障码列表中存储基于该故障识别变量确定的测试故障码。

可选的，为了保证电控单元上故障码存储测试的全面性，本实施例需要测试待测电控单元对于故障映射库中记录的每一故障识别变量对应的测试故障码的存储准确性，此时可以通过遍历故障映射库中记录的每一故障识别变量，按顺序每次获取一个故障识别变量进行待测电控单元的故障码存储测试，每遍历得到一个故障识别变量后，将当前遍历的故障识别变量发送给待测电控单元，使得待测电控单元接收到该故障识别变量后，确认本次检测到存在该故障识别变量指示的故障，进而存储该故障对应的测试故障码。

示例性的，为了避免测试故障码的丢失，在待测电控单元上会维护一个故障码列表，用于存储待测电控单元基于故障映射库中记录的每一故障识别变量确定的测试故障码；因此，待测电控单元接收到该故障识别变量后，会将基于该故障识别变量确定的测试故障码存储到该故障码列表中，后续从该故障码列表中读取各个故障识别变量对应的测试故障码。

同时，待测电控单元上还会配置有故障识别接口，用于识别当前遍历的故障识别变量。

S220，针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，该故障映射库中记录有待测电控单元的每一故障识别变量与标准故障码之间的映射关系。

可选的，为了保证待测电控单元上各个故障识别变量对应的测试故障码的读取准确性，本实施例在向待测电控单元发送当前遍历的故障识别变量之前，还可以包括：向待测电控单元发送对应的故障码清除请求，以使待测电控单元清除故障码列表中已存储的测试故障码。

具体的，本实施例在遍历故障映射库中记录的故障识别变量，并向待测电控单元发送当前遍历的故障识别变量之前，首先会向待测电控单元发送一个故障码清除请求，以指示待测电控单元将其上设置的故障码列表中当前已经存储有的其他故障识别变量对应的测试故障码进行完全清除，在清空该故障码列表之后，再将当前遍历的故障识别变量发送给待测电控单元，此时待测电控单元会将基于当前遍历的故障识别变量确定的测试故障码存储到该故障码列表中，使得该故障码列表中仅会存储当前遍历的故障识别变量对应的测试故障码，而不会存储其他故障识别变量对应的测试故障码，从而保证故障码列表在不同遍历时刻下所存储的测试故障码面向的故障识别变量的唯一性。

因此，本实施例中读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，可以具体包括：读取待测电控单元上故障码列表中现有的测试故障码。

具体的，由于待测电控单元上故障码列表中仅会存储当前遍历的故障识别变量对应的测试故障码，而不会存储其他故障识别变量对应的测试故障码，因此在读取待测电控单元基于当前遍历的故障识别变量存储的测试故障码时，可以直接读取待测电控单元上故障码列表中现有的全部测试故障码，作为当前遍历的故障识别变量对应的测试故障码，无需对已存储的测试故障码面向的故障识别变量进行区分，从而提高故障码读取效率。

S230，通过比对每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码，确定待测电控单元的故障码存储性能。

本实施例提供的技术方案，预先构建记录有每一故障识别变量和标准故障码之间的映射关系的故障映射库，然后通过读取待测电控单元基于该故障映射库中记录的每一故障识别变量存储的测试故障码，并与故障映射库中该故障识别变量的标准故障码进行比对，判断待测电控单元的故障码存储性能，实现电控单元上故障码存储的性能检测，无需预先为电控单元的每一故障码编写对应的测试用例，避免人为编写测试用例的易错率，保证电控单元上故障码存储的准确性和可靠性；同时通过故障映射库记录电控单元的每一故障识别变量和标准故障码之间的映射关系，后续对每一故障识别变量的故障码存储进行测试时，可以采用相同的测试步骤，无需更改故障码的测试用例，从而提高电控单元上故障码存储测试的可扩展性。

实施例三

图3为本发明实施例三提供的一种故障码存储的测试装置的结构示意图，如图3所示，该装置可以包括：

故障码读取模块310，用于针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，该故障映射库中记录有待测电控单元的每一故障识别变量与标准故障码之间的映射关系；

存储性能测试模块320，用于通过比对每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码，确定待测电控单元的故障码存储性能。

本实施例提供的技术方案，预先构建记录有每一故障识别变量和标准故障码之间的映射关系的故障映射库，然后通过读取待测电控单元基于该故障映射库中记录的每一故障识别变量存储的测试故障码，并与故障映射库中该故障识别变量的标准故障码进行比对，判断待测电控单元的故障码存储性能，实现电控单元上故障码存储的性能检测，无需预先为电控单元的每一故障码编写对应的测试用例，避免人为编写测试用例的易错率，保证电控单元上故障码存储的准确性和可靠性；同时通过故障映射库记录电控单元的每一故障识别变量和标准故障码之间的映射关系，后续对每一故障识别变量的故障码存储进行测试时，可以采用相同的测试步骤，无需更改故障码的测试用例，从而提高电控单元上故障码存储测试的可扩展性。

进一步的，上述待测电控单元上维护有故障码列表，用于存储待测电控单元基于故障映射库中记录的每一故障识别变量确定的测试故障码。

进一步的，上述故障码存储的测试装置，还可以包括：

故障变量遍历模块，用于遍历故障映射库中记录的故障识别变量，并向待测电控单元发送当前遍历的故障识别变量，以使待测电控单元在故障码列表中存储基于该故障识别变量确定的测试故障码。

进一步的，上述故障码存储的测试装置，还可以包括：

故障码清除模块，用于向待测电控单元发送对应的故障码清除请求，以使待测电控单元清除故障码列表中已存储的测试故障码。

相应的，上述故障码读取模块310，可以具体用于：

读取待测电控单元上故障码列表中现有的测试故障码。

进一步的，上述待测电控单元上配置有故障识别接口，用于识别当前遍历的故障识别变量。

进一步的，上述故障码读取模块310，还可以具体用于：

根据待测电控单元面向故障识别变量的预设存储时长，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码。

本实施例提供的故障码存储的测试装置可适用于上述任意实施例提供的故障码存储的测试方法，具备相应的功能和有益效果。

实施例四

图4为本发明实施例四提供的一种电子设备的结构示意图。如图4所示，该车辆包括处理器40、存储装置41和通信装置42；电子设备中处理器40的数量可以是一个或多个，图4中以一个处理器40为例；电子设备的处理器40、存储装置41和通信装置42可以通过总线或其他方式连接，图4中以通过总线连接为例。

存储装置41作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的故障码存储的测试方法对应的模块(例如，用于故障码存储的测试装置中的故障码读取模块310和存储性能测试模块320)。处理器40通过运行存储在存储装置41中的软件程序、指令以及模块，从而执行电子设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述的故障码存储的测试方法。

存储装置41可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作***、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外，存储装置41可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储装置41可进一步包括相对于处理器40远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至车辆。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

通信装置42可用于实现电子设备间网络连接或者移动数据连接。

本实施例提供的一种电子设备可用于执行上述任意实施例提供的故障码存储的测试方法，具备相应的功能和有益效果。

实施例五

本发明实施例五还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时可实现上述任意实施例中的故障码存储的测试方法。

该方法具体包括：

针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，该故障映射库中记录有待测电控单元的每一故障识别变量与标准故障码之间的映射关系；

通过比对每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码，确定待测电控单元的故障码存储性能。

当然,本发明实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质,其计算机可执行指令不限于如上所述的方法操作,还可以执行本发明任意实施例所提供的故障码存储的测试方法中的相关操作。

通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

值得注意的是，上述故障码存储的测试装置的实施例中，所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并不用于限制本发明，对于本领域技术人员而言，本发明可以有各种改动和变化。凡在本发明的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种故障码存储的测试方法，其特征在于，包括：

针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，所述故障映射库中记录有所述待测电控单元的每一故障识别变量与标准故障码之间的映射关系；

通过比对每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码，确定所述待测电控单元的故障码存储性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测电控单元上维护有故障码列表，用于存储所述待测电控单元基于所述故障映射库中记录的每一故障识别变量确定的测试故障码。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码之前，还包括：

遍历所述故障映射库中记录的故障识别变量，并向所述待测电控单元发送当前遍历的故障识别变量，以使所述待测电控单元在所述故障码列表中存储基于该故障识别变量确定的测试故障码。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在向所述待测电控单元发送当前遍历的故障识别变量之前，还包括：

向所述待测电控单元发送对应的故障码清除请求，以使所述待测电控单元清除所述故障码列表中已存储的测试故障码；

相应的，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，包括：

读取所述待测电控单元上所述故障码列表中现有的测试故障码。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述待测电控单元上配置有故障识别接口，用于识别当前遍历的故障识别变量。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，包括：

根据所述待测电控单元面向故障识别变量的预设存储时长，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码。

7.一种故障码存储的测试装置，其特征在于，包括：

故障码读取模块，用于针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，所述故障映射库中记录有所述待测电控单元的每一故障识别变量与标准故障码之间的映射关系；

存储性能测试模块，用于通过比对每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码，确定所述待测电控单元的故障码存储性能。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述待测电控单元上维护有故障码列表，用于存储所述待测电控单元基于所述故障映射库中记录的每一故障识别变量确定的测试故障码。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一所述的故障码存储的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的故障码存储的测试方法。

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