CN111610404A - 一种测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及电子产品检测技术领域，具体公开一种测试装置。该测试装置包括上料机构、承载机构、检测机构和转移机构，上料机构上设置有多个叠加的承载盘，每个承载盘上设置有多个承载格，每个承载格内均能够容纳一个待测试工件，承载机构用于承载承载盘，检测机构位于承载机构的上方，能够依次对承载盘上的待测试工件进行检测，转移机构被配置为将上料机构上的承载盘转移至承载机构上。本发明提供的测试装置，通过上料机构、承载机构、检测机构和转移机构之间的相互配合，实现了对待测试工件的上料、转移及检测过程，自动化程度较高，降低操作人员的劳动强度，人工成本较低。

Description

一种测试装置
技术领域
本发明涉及电子产品检测技术领域，尤其涉及一种测试装置。
背景技术
随着科学技术的进步，电子***越来越复杂，电子***的可靠性和可维护性要求也越来越高。电路板作为电子***研制和生产中的重要组成部分，其质量的好坏直接影响整个设备的质量，因此，在组装之前需要对电路板的性能进行测试。
现有技术中的测试装置通常包括承载机构和检测组件，承载机构位于检测组件的下方，承载机构用于承载待测试工件，检测组件用于对承载机构上放置的待测试工件进行检测，现有的测试过程通常是：首先操作人员将待测试工件放置于承载机构上，检测组件开始对待测试工件进行检测，当检测组件检测完该工件后，操作人员将该工件取下，再在承载机构上放置另一个待测组件。采用这种测试方法，操作人员一次上料后检测组件只能对一个工件进行测试，使得测试组件的待机时间较长，测试效率较低，且操作人员的劳动强度较大，人工成本较高。
发明内容
本发明的目的在于提供一种测试装置，减少测试组件的待机时间，测试效率较高，降低操作人员的劳动强度，人工成本较低。
如上构思，本发明所采用的技术方案是：
一种测试装置，包括：
上料机构，其上设置有多个叠加的承载盘，每个所述承载盘上设置有多个承载格，每个所述承载格内均能够容纳一个待测试工件；
承载机构，所述承载机构用于承载所述承载盘；
检测机构，其位于所述承载机构的上方，能够依次对所述承载盘上的所述待测试工件进行检测；
转移机构，所述转移机构被配置为将所述上料机构上的所述承载盘转移至所述承载机构上。
作为一种测试装置的优选方案，所述承载机构包括：
Y向驱动件；
Y向位移平台，其与所述Y向驱动件的输出端相连，所述Y向驱动件能够驱动所述Y向位移平台沿Y方向移动；
X向驱动件，其设置于所述Y向位移平台上；
承载板，其与所述X向驱动件的输出端相连，所述X向驱动件能够驱动所述承载板沿X方向移动，所述承载板上用于放置所述承载盘；
其中，所述X方向和所述Y方向相互垂直。
作为一种测试装置的优选方案，所述检测机构包括：
探针组件，其能够抵接于所述待测试工件的表面并对其进行检测；
检测升降驱动件，其用于驱动所述探针组件升降。
作为一种测试装置的优选方案，所述探针组件包括：
检测支架，其与所述检测升降驱动件的输出端相连；
多个检测探针，多个所述检测探针均设置于所述检测支架上，所述检测探针能够抵接于所述待测试工件的表面。
作为一种测试装置的优选方案，所述检测机构还包括距离传感器，所述距离传感器被配置为检测所述检测探针的下降距离。
作为一种测试装置的优选方案，所述检测机构还包括对位相机，所述对位相机设置于所述承载机构的上方，所述对位相机被配置为根据所述待测试工件的位置控制所述X向驱动件和/或所述Y向驱动件工作，以使所述待测试工件与所述检测探针正对设置。
作为一种测试装置的优选方案，多个所述承载格呈阵列排布于所述承载盘上。
作为一种测试装置的优选方案，所述上料机构包括：
上料支撑板，其用于承载多个叠加的所述承载盘；
上料升降驱动组件，其输出端与所述上料支撑板相连，用于驱动所述上料支撑板升降。
作为一种测试装置的优选方案，所述上料升降驱动组件包括：
上料驱动电机；
上料丝杠，其与所述上料驱动电机的输出端相连，并沿竖直方向延伸；
上料螺母，其套设于所述上料丝杠上，所述上料支撑板设置于所述上料螺母上。
作为一种测试装置的优选方案，所述测试装置还包括下料机构，所述转移机构还能够将所述承载机构上的所述承载盘转移至所述下料机构上，所述承载盘用于放置完成检测的工件。
本发明的有益效果为：
本发明提出一种测试装置，该测试装置包括上料机构、承载机构、检测机构和转移机构，在对待测试工件进行检测时，操作人员可以一次性地将多个叠加的承载盘放置于上料机构上，每个承载盘上设置有多个容纳待测试工件的承载格，转移机构能够将上料机构上的承载盘转移至承载机构上，检测机构用于对承载机构上的待测试工件进行检测。通过设置承载盘，承载盘包括多个承载格，每个承载格内均能够容纳一个待测试工件，即经过一次上料就能够实现多个待测试工件的检测，节省了检测机构的待料时间，提高了检测效率。通过上料机构、承载机构、检测机构和转移机构之间的相互配合，实现了对待测试工件的上料、转移及检测过程，自动化程度较高，降低操作人员的劳动强度，人工成本较低。
附图说明
图1是本发明实施例提供的测试装置的结构示意图；
图2是本发明实施例提供的测试装置的承载盘的结构示意图；
图3是本发明实施例提供的测试装置的检测机构的结构示意图；
图4是本发明实施例提供的测试装置的探针组件的结构示意图。
图中：
1-上料机构；11-上料支撑板；12-上料升降驱动组件；10-承载盘；101-承载格；
2-承载机构；21-承载板；22-X向驱动件；23-Y向驱动件；
3-检测机构；31-探针组件；311-检测支架；312-检测探针；32-检测升降驱动件；33-距离传感器；34-对位相机；
4-转移机构；5-机架；6-控制器。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。
如图1-图2所示，本实施例提供了一种测试装置，该测试装置包括上料机构1、承载机构2、检测机构3、转移机构4和机架5，其中，上料机构1、承载机构2、检测机构3和转移机构4均设置于机架5上，机架5起到了整体支撑的作用。具体而言，上料机构1上设置有多个叠加的承载盘10，每个承载盘10上设置有多个承载格101，每个承载格101内均能够容纳一个待测试工件，承载机构2用于承载承载盘10，检测机构3位于承载机构2的上方，能够依次对承载盘10上的待测试工件进行检测，转移机构4被配置为将上料机构1上的承载盘10转移至承载机构2上。其中，转移机构4具体为六轴机械手，六轴机械手为现有技术，本申请不做详细叙述。
为方便叙述，如图1所示，将机架5的长度方向定义为X方向，将机架5的宽度方向定义为Y方向，将机架5的高度方向定义为Z方向，其中，X方向、Y方向和Z方向两两相互垂直，X方向、Y方向和Z方向只是表示空间方向，并没有实质意义。
本实施例提供的检测装置，在对待测试工件进行检测时，操作人员可以一次性地将多个叠加的承载盘10放置于上料机构1上，每个承载盘10上设置有多个容纳待测试工件的承载格101，转移机构4能够将上料机构1上的承载盘10转移至承载机构2上，检测机构3用于对承载机构2上的待测试工件进行检测。通过设置承载盘10，承载盘10包括多个承载格101，每个承载格101内均能够容纳一个待测试工件，即经过一次上料就能够实现多个待测试工件的检测，节省了检测机构3的待料时间，提高了检测效率。通过上料机构1、承载机构2、检测机构3和转移机构4之间的相互配合，实现了对待测试工件的上料、转移及检测过程，自动化程度较高，降低操作人员的劳动强度，人工成本较低。
如图2所示，多个承载格101呈阵列排布于承载盘10上。在本实施例中，每个承载盘10上设置有295个承载格101，295个承载格101呈15×29的阵列排布。当然，在其他实施例中，承载格101的阵列分布方式还可以根据待测试工件的尺寸及实际生产情况进行调整，在此不做限定。
进一步地，如图1所示，承载机构2包括承载板21、X向驱动件22、Y向位移平台和Y向驱动件23，Y向驱动件23设置于机架5上，Y向位移平台与Y向驱动件23的输出端相连，Y向驱动件23能够驱动Y向位移平台沿Y方向移动，X向驱动件22设置于Y向位移平台上，承载板21与X向驱动件22的输出端相连，X向驱动件22能够驱动承载板21沿X方向移动，承载板21上用于放置承载盘10。其中，X向驱动件22具体可以是X向驱动气缸或者X向直线电机，Y向驱动件23具体可以是Y向驱动气缸或者Y向直线电机。通过设置X向驱动件22和Y向驱动件23，使得承载板21能够带动承载盘10沿X方向和/或Y方向运动，以使检测机构3依次对承载盘10上的待测试工件进行检测。
优选地，该测试装置还包括控制器6，检测机构3、X向驱动件22和Y向驱动件23均电连接于控制器6，通过控制器6对检测机构3、X向驱动件22和Y向驱动件23的控制，实现该测试装置对待测试工件的全自动化测试过程。
进一步地，如图3-图4所示，检测机构3包括探针组件31和检测升降驱动件32，探针组件31能够抵接于待测试工件的表面并对其进行检测，检测升降驱动件32用于驱动探针组件31升降。检测升降驱动件32具体为检测升降驱动气缸。当X向驱动件22或者Y向驱动件23驱动承载板21沿X方向或者Y方向移动时，检测升降驱动件32会先驱动探针组件31向上运动，避免待测试工件与探针组件31之间发生干涉，造成待测试工件的损坏。
具体地，如图4所示，探针组件31包括检测支架311和多个检测探针312，检测支架311与检测升降驱动件32的输出端相连，多个检测探针312均设置于检测支架311上，检测探针312能够抵接于待测试工件的表面。当转移机构4将容纳有待测试工件的承载盘10放置于承载板21上后，检测升降驱动件32驱动探针组件31下降，以使多个检测探针312与其中一个待测试工件的表面接触，从而实现对待测试工件的检测。
在本实施例中，检测探针312的数量为592个，592个检测探针312呈阵列排布于检测支架311上，同时用于对待测试工件表面上的各个点进行检测，以保证检测结果的精确性。当然，在其他实施例中，检测探针312的数量还可以根据实际生产情况进行调整，在此不做限定。
进一步地，如图3所示，检测机构3还包括距离传感器33，距离传感器33被配置为检测检测探针312的下降距离。具体而言，距离传感器33电连接于控制器6，在检测升降驱动件32驱动多个检测探针312下降的过程中，距离传感器33能够实时将检测探针312下降的距离传输至控制器6，从而控制检测升降驱动件32的工作和停止，从而避免检测探针312压坏待测试工件。
进一步地，检测机构3还包括对位相机34，对位相机34设置于承载机构2的上方，对位相机34被配置为根据待测试工件的位置控制X向驱动件22和/或Y向驱动件23工作，以使待测试工件与检测探针312正对设置。具体而言，对位相机34电连接于控制器6，对位相机34采集承载板21上的承载盘10的图像，并将该信号传输至控制器6，控制器6控制X向驱动件22和/或Y向驱动件23工作，以使下一个待测试工件与探针组件31正对，从而保证测试过程的有序进行。
进一步地，如图1所示，上料机构1包括上料支撑板11和上料升降驱动组件12，上料支撑板11用于承载多个叠加的承载盘10，上料升降驱动组件12的输出端与上料支撑板11相连，用于驱动上料支撑板11升降。当转移机构4抓取一个承载盘10并将其转移至承载板21上后，上料升降驱动组件12会驱动上料支撑板11向上运动一个承载盘10的厚度的距离，以使转移机构4每次均能够在同一高度抓取承载盘10，简化操作过程。
具体而言，上料升降驱动组件12包括上料驱动电机、上料丝杠和上料螺母，上料丝杠与上料驱动电机的输出端相连，并沿竖直方向(Z方向)延伸，上料螺母套设于上料丝杠上，上料支撑板11设置于上料螺母上。当上料驱动电机工作时，能够驱动上料丝杠旋转，从而使上料螺母带动上料支撑板11沿Z方向移动。
进一步地，该测试装置还包括下料机构5，转移机构4还能够将承载机构2上的承载盘10转移至下料机构5上，承载盘10上放置有完成检测的工件。可以理解的是，下料机构5与上料机构1的具体结构相同，区别仅在于设置位置的不同，上料机构1上承载的承载盘10中容纳有未检测的工件，而下料机构5上承载的承载盘10中容纳有完成检测的工件。
下面结合图1-图4简述该测试装置的工作流程：
(1)操作人员将待测试工件放置于承载盘10的承载格101内，并将叠加的承载盘10放置于上料支撑板11上；
(2)转移机构4抓取位于最上层的承载盘10并将其放置于承载板21上，上料升降驱动组件12驱动上料支撑板11向上运动一个承载盘10厚度的距离；
(3)对位相机34采集承载板21上的承载盘10的图像信息，并将该信息传输至控制器6内，控制器6控制X向驱动件22和/或Y向驱动件23工作，以驱动承载板21沿X方向和/或Y方向运动，以使第一个待测试工件与探针组件31正对；
(4)检测升降驱动件32驱动探针组件31向下运动，以使多个检测探针312抵接于第一个待测试工件的表面，以对该待测试工件进行检测，并将检测结果传输至控制6内；
(5)检测升降驱动件32驱动探针组件31向上运动，控制器6控制X向驱动件22和/或Y向驱动件23工作，以驱动承载板21沿X方向和/或Y方向运动，以使下一个待测试工件与探针组件31正对；
(6)重复步骤(4)和(5)，直至承载盘10上的待测试工件全部完成检测；
(7)转移机构4抓取容纳有完成检测的工件的承载盘10并将其转移至下料机构5，下料机构5将完成检测的工件传输至下一工序。
以上实施方式只是阐述了本发明的基本原理和特性，本发明不受上述实施方式限制，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还有各种变化和改变，这些变化和改变都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (10)

1.一种测试装置，其特征在于，包括：
上料机构(1)，其上设置有多个叠加的承载盘(10)，每个所述承载盘(10)上设置有多个承载格(101)，每个所述承载格(101)内均能够容纳一个待测试工件；
承载机构(2)，所述承载机构(2)用于承载所述承载盘(10)；
检测机构(3)，其位于所述承载机构(2)的上方，能够依次对所述承载盘(10)上的所述待测试工件进行检测；
转移机构(4)，所述转移机构(4)被配置为将所述上料机构(1)上的所述承载盘(10)转移至所述承载机构(2)上。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述承载机构(2)包括：
Y向驱动件(23)；
Y向位移平台，其与所述Y向驱动件(23)的输出端相连，所述Y向驱动件(23)能够驱动所述Y向位移平台沿Y方向移动；
X向驱动件(22)，其设置于所述Y向位移平台上；
承载板(21)，其与所述X向驱动件(22)的输出端相连，所述X向驱动件(22)能够驱动所述承载板(21)沿X方向移动，所述承载板(21)上用于放置所述承载盘(10)；
其中，所述X方向和所述Y方向相互垂直。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述检测机构(3)包括：
探针组件(31)，其能够抵接于所述待测试工件的表面并对其进行检测；
检测升降驱动件(32)，其用于驱动所述探针组件(31)升降。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述探针组件(31)包括：
检测支架(311)，其与所述检测升降驱动件(32)的输出端相连；
多个检测探针(312)，多个所述检测探针(312)均设置于所述检测支架(311)上，所述检测探针(312)能够抵接于所述待测试工件的表面。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述检测机构(3)还包括距离传感器(33)，所述距离传感器(33)被配置为检测所述检测探针(312)的下降距离。
6.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述检测机构(3)还包括对位相机(34)，所述对位相机(34)设置于所述承载机构(2)的上方，所述对位相机(34)被配置为根据所述待测试工件的位置控制所述X向驱动件(22)和/或所述Y向驱动件(23)工作，以使所述待测试工件与所述检测探针(312)正对设置。
7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，多个所述承载格(101)呈阵列排布于所述承载盘(10)上。
8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述上料机构(1)包括：
上料支撑板(11)，其用于承载多个叠加的所述承载盘(10)；
上料升降驱动组件(12)，其输出端与所述上料支撑板(11)相连，用于驱动所述上料支撑板(11)升降。
9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述上料升降驱动组件(12)包括：
上料驱动电机；
上料丝杠，其与所述上料驱动电机的输出端相连，并沿竖直方向延伸；
上料螺母，其套设于所述上料丝杠上，所述上料支撑板(11)设置于所述上料螺母上。
10.根据权利要求1-9任一项所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括下料机构(5)，所述转移机构(4)还能够将所述承载机构(2)上的所述承载盘(10)转移至所述下料机构(5)上，所述承载盘(10)用于放置完成检测的工件。
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