CN111489672B - 显示面板、电子设备和显示面板的控制方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种显示面板、电子设备和显示面板的控制方法，显示面板包括：多个子像素；多个像素电路，像素电路包括：像素测试单元，与至少一个子像素连接，用于为相应的子像素提供测试数据信号；静电释放单元，与像素测试单元连接，用于释放相应的像素测试单元上的残余电荷；其中，像素测试单元和静电释放单元分时开启。本发明通过控制像素测试单元和静电释放单元分时开启，当子像素不发光时，使像素测试单元与静电释放单元之间的静电释放通路导通，以释放相应的像素测试单元上的残余电荷，从而避免了像素测试单元上积攒过多的静电电荷，进而避免了像素测试单元发生严重的静电放电现象，提高了显示面板的显示可靠性和安全性。

Description

显示面板、电子设备和显示面板的控制方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示面板、电子设备和显示面板的控制方法。

背景技术

随着显示技术的发展，平板显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。现有的平板显示装置主要包括液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)及有机发光二极管显示装置(Organic LightEmittingDisplay，OLED)。

静电放电(Electrostatic Discharge，ESD)是无法避免的自然现象，在电子设备制造领域，配向、涂布等多道工艺制程的处理过程中，都有许多的机会产生静电，而进行面板组装时也需要进行薄膜的贴附与分离，从而造成静电。再者，随着面板分辨率增大，会需要更多端口以连接多块电路板，因此，操作人员在进行组装、测试过程中的插拔总数会进一步增加，进而产生静电放电现象，静电放电现象会对面板内的电路组件造成破坏，从而造成点亮画面的异常。

发明内容

基于此，有必要针对静电放电现象会造成面板点亮画面异常的问题，提供一种显示面板、电子设备和显示面板的控制方法。

一种显示面板，包括：

多个子像素；

多个像素电路，所述像素电路包括：

像素测试单元，与至少一个所述子像素连接，用于为连接的所述子像素提供测试数据信号；

静电释放单元，与所述像素测试单元连接，用于在所述像素测试单元关闭时释放所述像素测试单元上的残余电荷；

其中，所述像素测试单元和所述静电释放单元分时开启。

在其中一个实施例中，多个所述子像素呈阵列设置，位于同一列的多个所述子像素连接至同一所述像素测试单元。

在其中一个实施例中，

所述像素测试单元包括第一开关器件，所述第一开关器件与所述子像素连接，用于控制所述子像素的所述测试数据信号的传输通路的通断；

所述静电释放单元包括第二开关器件，所述第二开关器件与所述像素测试单元连接，用于控制所述像素测试单元的静电释放通路的通断；

所述像素电路还包括控制信号线，用于传输控制信号，所述控制信号用于控制所述第一开关器件和所述第二开关器件分时开启。

在其中一个实施例中，所述第一开关器件的开关特性与所述第二开关器件的开关特性相反，其中，所述开关特性包括高电压开启和低电压开启。

在其中一个实施例中，所述像素测试单元还包括测试数据线，多个所述第一开关器件的控制端分别与所述控制信号线连接，多个所述第一开关器件的输入端分别与相应的所述测试数据线连接，多个所述第一开关器件的输出端分别与相应的所述子像素连接。

在其中一个实施例中，所述静电释放单元还包括接地线，多个所述第二开关器件的控制端分别与所述控制信号线连接，多个所述第二开关器件的输入端分别与所述接地线连接，多个所述第二开关器件的输出端分别与相应的所述测试数据线连接。

在其中一个实施例中，所述第一开关器件为N型MOS管，所述第二开关器件为P型MOS管。

在其中一个实施例中，还包括：

源极驱动芯片，用于提供所述子像素的显示数据信号；

显示数据线，设于所述源极驱动芯片和所述子像素之间，用于传输所述显示数据信号。

在其中一个实施例中，每个所述像素电路包括多个所述静电释放单元。

一种电子设备，包括如上述的显示面板。

一种显示面板的控制方法，用于控制前述的显示面板，包括：

控制静电释放单元关闭，并控制像素测试单元开启，以向相应的子像素提供测试数据信号；

控制所述像素测试单元关闭，并控制所述静电释放单元开启，以释放相应的所述像素测试单元上的残余电荷。

上述显示面板、电子设备和显示面板的控制方法，所述显示面板包括：多个子像素；多个像素电路，所述像素电路包括：像素测试单元，与至少一个所述子像素连接，用于为相应的所述子像素提供测试数据信号；静电释放单元，与所述像素测试单元连接，用于释放相应的所述像素测试单元上的残余电荷；其中，所述像素测试单元和所述静电释放单元分时开启。本发明通过控制像素测试单元和静电释放单元分时开启，即当像素测试单元开启且静电释放单元关闭时，像素测试单元发送测试数据信号至多个子像素，子像素接收到测试数据信号后发光；当静电释放单元开启且像素测试单元关闭时，子像素不发光，像素测试单元与静电释放单元之间的静电释放通路导通，以释放相应的像素测试单元上的残余电荷，从而避免了像素测试单元上积攒过多的静电电荷，进而避免了像素测试单元发生严重的静电放电现象，提高了显示面板的显示可靠性和安全性。

附图说明

图1为一实施例的显示面板的结构示意框图；

图2为一实施例的显示面板的结构图；

图3为一实施例的显示面板处于放电阶段的信号时序图；

图4为图3实施例的显示面板的结构图；

图5为一实施例的显示面板处于测试阶段的信号时序图；

图6为图5实施例的显示面板的结构图；

图7为一实施例的绑定后的显示面板的结构图；

图8为一实施例的绑定后的显示面板处于ESD防护阶段的信号时序图；

图9为图8实施例的显示面板的结构图；

图10为一实施例的绑定后的显示面板处于放电阶段的信号时序图；

图11为图10实施例的显示面板的结构图；

图12为一实施例的显示面板的控制方法的流程图。

元件标号说明：

子像素：100；第一子像素：110；第二子像素120；第三子像素：130；像素电路：200；像素测试单元：210；第一开关器件：211；测试数据线：212；第一测试数据线：2121；第二测试数据线：2122；第三测试数据线：2123；第四测试数据线：2124；第五测试数据线：2125；第六测试数据线：2126；静电释放单元：220；第二开关器件：221；接地线：222；控制信号线：230；测试焊盘区：240；源极驱动芯片：300；显示数据线：400；柔性电路板：500；控制信号：510；接地信号：520；面板电源线：600

具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳的实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使本申请的公开内容的理解更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

在下面的实施例中，当层、区域或元件被“连接”时，可以解释为层、区域或元件不仅被直接连接还通过置于其间的其他组成元件被连接。例如，当层、区域、元件等被描述为被连接或连接时，层、区域、元件等不仅可以被直接连接或被直接连接，还可以通过置于其间的另一层、区域、元件等被连接或被连接。

在下文中，尽管可以使用诸如“第一”、“第二”等这样的术语来描述各种组件，但是这些组件不必须限于上面的术语。上面的术语仅用于将一个组件与另一组件区分开。还将理解的是，以单数形式使用的表达包含复数的表达，除非单数形式的表达在上下文中具有明显不同的含义。

当诸如“……中的至少一种(个)(者)”的表述位于一列元件(元素)之后时，修饰整列元件(元素)，而不是修饰该列中的个别元件(元素)。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。申请文件中使用的，术语“和/或”包括一个或更多个相关所列项的任意组合和所有组合。还应当理解的是，术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在，但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。

图1为一实施例的显示面板的结构示意框图，如图1所示，在本实施例中，包括多个子像素100和多个像素电路200。

其中，像素电路200包括像素测试单元210和静电释放单元220，像素测试单元210与至少一个子像素100连接，用于为连接的子像素100提供测试数据信号；静电释放单元220与像素测试单元210连接，用于在像素测试单元210关闭时释放像素测试单元210上的残余电荷，且像素测试单元210和静电释放单元220分时开启。

多个子像素100构成规则排列，多个子像素100的规则排列可以是标准RGB排列，即子像素100包括红、绿、蓝三种颜色，三种颜色的子像素100在水平方向上依次顺序排列，且在竖直方向上的多个子像素100的颜色相同；多个子像素100的规则排列也可以是Pentile排列，即每个像素中包括一个绿色子像素100、1/2个红色子像素100和1/2个蓝色子像素100，并共同构成钻石形排列。本实施例不具体限定子像素100的排列方式，而且，本实施例也不限定显示面板中包含的子像素100的颜色的数量，前述两个示例中的子像素100都具有红、绿、蓝三种颜色，在其他示例中，子像素100也可以具有红、绿、蓝、白四种颜色，以下实施例中均以三种颜色的子像素100为例进行说明，具体分别为第一子像素110、第二子像素120和第三子像素130。

每个子像素100在像素测试单元210的控制下发光，且多个子像素100可以连接至同一个像素测试单元210的信号输出端，并共用该像素测试单元210，即，当像素测试单元210向与其相连接的多个子像素100发送点亮的测试数据信号时，多个子像素100同时发光；当像素测试单元210停止向与其相连接的多个子像素100发送点亮的测试数据信号，间隔一定的时间至存储电容中存储的电荷耗尽后，多个子像素100熄灭。

进一步地，为了测试绑定(bonding)制程前的显示面板，测试数据信号由测试信号机按照预设的规则输出红、绿、蓝、白、闪烁等画面的测试数据信号，使显示面板在测试数据信号的控制下显示设定的画面，并通过测试设备或操作人员对测试中的显示面板进行检测或观察，以对显示面板进行初步筛选，从而防止存在mura、亮色度不均匀等现象的显示面板进入绑定制程，进而提高生产良率并降低生产成本。

静电释放单元220与像素测试单元210连接，且像素测试单元210和静电释放单元220分时开启，即像素测试单元210和静电释放单元220不同时开启。具体地，当像素测试单元210开启且静电释放单元220关闭时，像素测试单元210发送测试数据信号至多个子像素100，子像素100接收到测试数据信号后发光；当静电释放单元220开启且像素测试单元210关闭时，子像素100不发光，像素测试单元210与静电释放单元220之间的静电释放通路导通，以释放相应的像素测试单元210上的残余电荷，从而避免了像素测试单元210上积攒过多的静电电荷，进而避免了像素测试单元210发生严重的静电放电现象，提高了显示面板的显示可靠性和安全性。

进一步地，可以根据待点灯测试的画面的数量和显示面板的静电电荷的累积速度，选择恰当的像素测试单元210和静电释放单元220的开启时间和频次，从而在确保显示面板不会受到静电损伤的前提下，提高点灯测试的效率。具体地，可以使像素测试单元210每输出一个画面的测试像素信号后，执行一次关闭像素测试单元210并开启静电释放单元220的操作，从而最大程度上地避免静电电荷的累积；也可以使像素测试单元210输出设定数量的画面的测试像素信号后，执行一次关闭像素测试单元210并开启静电释放单元220的操作；还可以使像素测试单元210输出全部画面的测试像素信号后，执行关闭像素测试单元210并开启静电释放单元220的操作，从而提高显示面板的点灯测试的效率。

在一个实施例中，每个像素电路包括多个静电释放单元220，且每个静电释放单元220均与像素测试单元210连接，即多个静电释放单元220并联连接。本实施例中设置多个静电释放单元220，其中一个作为常规使用的静电释放单元220，剩余的作为备用使用的静电释放单元220。可以理解的是，静电放电现象会对像素测试单元210造成严重损伤，因此，若常规使用的静电释放单元220发生短路或断路等问题时，可以通过备用使用的静电释放单元220执行放电，从而防止像素测试单元210损坏，进而提高显示面板的测试准确性和可靠性。

在一个实施例中，多个子像素100呈阵列设置，位于同一列的多个子像素100连接至同一像素测试单元210。本实施例使多个子像素100阵列设置，可以降低子像素100的设计难度和制备难度，此外可以理解的是，在点灯测试阶段，无需使显示面板显示设定的画面，因此也不需要复杂的控制电路和控制逻辑，因此，使位于同一列的多个子像素100连接至同一像素测试单元210，可以使一个像素测试单元210驱动较多的子像素100，从而提高像素测试单元210的利用率，降低显示面板中的像素测试单元210的数量和相应的布线数量，改善显示面板的布线效率和加工难度。

图2为一实施例的显示面板的结构图，如图2所示，在本实施例中，像素测试单元210包括第一开关器件211，第一开关器件211与子像素100连接，用于控制相应子像素100的测试数据信号的传输通路的通断；静电释放单元220包括第二开关器件221，第二开关器件221与像素测试单元210连接，用于控制相应像素测试单元210的静电释放通路的通断；像素电路200还包括控制信号线230，用于传输控制信号，控制信号用于控制第一开关器件211和第二开关器件221分时开启。

本实施例采用同一条控制信号线230同时控制像素测试单元210和静电释放单元220，既可以减少显示面板中的信号线数量，又可以使第一开关器件211和第二开关器件221在同一时间其一且开启另一关闭，因此可以提高像素测试单元210和静电释放单元220的同步性，从而获得更好的显示效果。具体地，控制信号具有第一电压和第二电压，当控制信号输出第一电压时，第一开关器件211开启，像素测试单元210相应地开启，对多个子像素100进行点灯测试；当控制信号输出第二电压时，第二开关器件221开启，静电释放单元220相应地开启，对多个像素测试单元210进行静电释放。

在一个实施例中，全部第一开关器件211的开关特性相同，全部第二开关器件221的开关特性相同，且第一开关器件211的开关特性与第二开关器件221的开关特性相反。在一个示例中，第一开关器件211为N型MOS管，第二开关器件221为P型MOS管本实施例的MOS管结构简单、性能稳定，因此可以降低显示面板的制造难度和控制难度。需要说明的是，第一开关器件211和第二开关器件221不局限于前述的MOS管，也可以是其他具有开关功能的三极管、门电路等结构。

继续参考图2，如图2所示，在一个实施例中，像素测试单元210还包括测试数据线212，例如在本实施例中，具体包括第一测试数据线2121、第二测试数据线2122、第三测试数据线2123、第四测试数据线2124、第五测试数据线2125和第六测试数据线2126，多个第一开关器件211的控制端分别与控制信号线230连接，多个第一开关器件211的输入端分别与相应的测试数据线212连接，多个第一开关器件211的输出端分别与相应的子像素100连接。

具体地，本实施例的第一开关器件211高电压开启，即当控制信号线230上传输高电压信号时，多个第一开关器件211全部开启，使第一开关器件211的输入端和输出端相导通，测试数据线212上的测试数据信号通过第一开关器件211传输至相应的子像素100，从而控制相应的子像素100发光。

在一个实施例中，静电释放单元220还包括接地线222，多个第二开关器件221的控制端分别与控制信号线230连接，多个第二开关器件221的输入端分别与接地线222连接，多个第二开关器件221的输出端分别与相应的测试数据线212连接。进一步地，如图2所示，由于全部的第二开关器件221的开关特性相同，所以，可以将相邻的第二开关器件221的输入端和输出端依次串联连接，采用此连接方式也可第二开关器件221开启时，让每条测试数据线212分别直接地或间接地连接至接地线222，从而进一步降低第二开关器件221的布线长度，减少显示面板中的布线密度。

进一步地，如图2所示，显示面板还具有至少一个测试焊盘区240，测试焊盘区240中设有多个测试焊盘，每个测试焊盘分别连接至一条测试数据线212，进行点灯测试时，测试数据信号从测试信号机输出，从测试焊盘输入至相应的测试数据线212。再进一步地，显示面板可以具有两个测试焊盘区240，以从同一根测试数据线212的两端同时输入相同的测试数据信号，从而避免了数据传输距离过长导致的抗干扰能力下降，进而提高了测试数据信号的传输稳定性。

图3为一实施例的显示面板处于放电阶段的信号时序图，图4为图3实施例的显示面板的结构图，如图3所示，当信号输出至图3中虚线框区域时，控制信号线230输出低电压信号，第一测试数据线2121至第六测试数据线2126不输出测试数据信号，如图4所示，在显示面板中的第一开关器件211全部断开，第二开关器件221全部导通，显示面板处于放电阶段，释放像素测试单元210中的静电，同时，接地线222还作为静电屏蔽线，从而防止显示面板中的第一开关器件211和第二开关器件221被静电放电现象击伤，即本实施例无需添加额外的静电屏蔽线，而是将接地线222复用为静电屏蔽线，从而减少了显示面板中的布线数量，同时确保测试阶段的正确显示。

图5为一实施例的显示面板处于测试阶段的信号时序图，图6为图5实施例的显示面板的结构图，如图5所示，当信号输出至图中虚线框区域时，控制信号线230输出高电压信号，第一测试数据线2121至第六测试数据线2126输出相应的测试数据信号，如图6所示，在显示面板中的第二开关器件221全部断开，第一开关器件211全部导通，显示面板处于点灯测试阶段，有效显示区域(AA区)中的子像素100在测试数据信号的控制下发光，从而进行测试。

图7为一实施例的绑定后的显示面板的结构图，如图7所示，在本实施例中，显示面板还包括源极驱动芯片300和显示数据线400。其中：

源极驱动芯片300，用于提供子像素100的显示数据信号；

显示数据线400，设于源极驱动芯片300和子像素100之间，用于传输显示数据信号。

源极驱动芯片300产生每个子像素100的显示数据信号，并通过显示数据线400传输至相应的子像素100，进一步地，控制信号线230和接地线222与柔性电路板500绑定在一起，从而从外部获取控制信号510和接地信号520。

在传统的电子设备的设计过程中，为了在绑定之前对面板进行点灯测试，需要使用特定的点灯测试的电路设计，并需要在进行点灯之后，通过激光切断测试线路，并将测试线路的控制端与低电压相接，从而使正常的面板显示不会受到测试线路的影响，避免测试线路与显示线路之间出现异常逆流现象。但是，在后续制程中，随时都有预期外的静电放电现象产生，使测试线路的控制端被静电击伤，进而使测试线路与显示线路之间发生导通，从而导致显示画面发生显示异常的现象。

但是，本实施例的显示面板在执行点灯测试后，由于第一开关器件211和第二开关器件221的控制作用，所以无需进行激光切断测试线路的操作，从而减少了工艺制程和工艺时间，而且本实施例的面板在显示时，接地线222还可以作为静电释放线和静电屏蔽线，从而进一步提高了显示面板的静电防护功能和可靠性。

图8为一实施例的绑定后的显示面板处于ESD防护阶段的信号时序图，图9为图8实施例的显示面板的结构图，如图8所示，当信号输出至图8中虚线框区域时，面板电源线600输出低电压信号，面板处于关闭状态，控制信号线230输出低电压信号，第一测试数据线2121至第六测试数据线2126不输出测试数据信号，如图9所示，在显示面板中的第一开关器件211全部断开，第二开关器件221全部导通，接地线222作为静电屏蔽线，从而防止显示面板中的第一开关器件211和第二开关器件221被静电放电现象击伤，即本实施例无需添加额外的静电屏蔽线，而是将接地线222复用为静电屏蔽线，从而减少了显示面板中的布线数量，同时提高了显示面板的显示可靠性。

图10为一实施例的绑定后的显示面板处于放电阶段的信号时序图，图11为图10实施例的显示面板的结构图，如图10所示，当信号输出至图中虚线框区域时，面板电源线600输出低电压信号，面板处于关闭状态，控制信号线230输出高电压信号，第一测试数据线2121至第六测试数据线2126不输出测试数据信号，如图11所示，在显示面板中的第二开关器件221全部断开，第一开关器件211全部导通，接地线222作为静电释放线。

进一步地，当面板电源线600输出高电压信号时，面板处于开启状态，控制信号线230输出低电压信号，显示面板中的子像素100在显示数据信号的控制下显示相应的画面。

在一个实施例中，还提供了一种电子设备，包括如上述的显示面板，具体地，包括：多个子像素100；多个像素电路200，像素电路200包括：像素测试单元210，与至少一个子像素100连接，用于为相应的子像素100提供测试数据信号；静电释放单元220，与像素测试单元210连接，用于释放相应的像素测试单元210上的残余电荷；其中，像素测试单元210和静电释放单元220分时开启。

图12为一实施例的显示面板的控制方法的流程图，本实施例的显示面板的控制方法用于控制前述多个实施例中的显示面板，如图12所示，在本实施例中，控制方法包括步骤S100至S200。

S100：控制静电释放单元220关闭，并控制像素测试单元210开启，以向相应的子像素100提供测试数据信号；

S200：控制像素测试单元210关闭，并控制静电释放单元220开启，以释放相应的像素测试单元210上的残余电荷。

根据本文中所描述的本申请概念的实施方式的电子或电气装置和/或任何其它相关装置或部件(例如，包括显示面板和显示面板驱动器的显示装置，其中，显示面板驱动器还包括驱动控制器、栅极驱动器、伽马基准电压发生器、数据驱动器和发射驱动器)可利用任何适当的硬件、固件(例如专用集成电路)、软件或软件、固件和硬件的组合来实现。例如，这些装置的各种部件可形成在一个集成电路(IC)芯片上或形成在单独的IC芯片上。另外，这些装置的各种部件可实现在柔性印刷电路膜、带载封装(TCP)、印刷电路板(PCB)上或形成在一个衬底上。另外，这些装置的各种部件可为在一个或更多个计算装置中在一个或更多个处理器上运行从而执行计算机程序指令以及与其它***部件交互以执行本文中所描述的各种功能的进程或线程。计算机程序指令存储在存储器中，该存储器可使用标准存储装置(例如，如随机存取存储器(RAM)实现在计算装置中。计算机程序指令也可存储在其它非暂时性计算机可读介质(例如，如CD-ROM、闪存驱动器等)中。而且，本领域技术人员应该认识到，各种计算装置的功能可组合或集成到单个计算装置中，或者特定计算装置的功能可分布在一个或更多个其它计算装置上，而不背离本申请概念的示例性实施方式的精神和范围。

虽然在文中已经特别描述了显示面板的示例性实施例，但是很多修改和变化对于本领域技术人员将是显而易见的。因此，将理解的是，可除了如文中特别描述的那样以外地实施根据本申请的原理构成的显示面板。本申请还被限定在权利要求及其等同物中。

应该理解的是，虽然图12的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图12中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

多个子像素；

多个像素电路，所述像素电路包括：

像素测试单元，与至少一个所述子像素连接，用于为连接的所述子像素提供测试数据信号；

静电释放单元，与所述像素测试单元连接，用于在所述像素测试单元关闭时释放所述像素测试单元上的残余电荷；

其中，所述像素测试单元和所述静电释放单元分时开启；

所述像素测试单元包括第一开关器件，所述第一开关器件与所述子像素连接，用于控制所述子像素的所述测试数据信号的传输通路的通断；

所述静电释放单元包括开关特性相同的多个第二开关器件，所述第二开关器件与所述像素测试单元连接，用于控制所述像素测试单元的静电释放通路的通断；

所述像素电路还包括控制信号线，用于传输控制信号，所述控制信号用于控制所述第一开关器件和所述第二开关器件在点灯测试阶段分时交替开启，所述控制信号还用于根据待点灯测试的画面的数量和显示面板的静电电荷的累积速度，选择所述像素测试单元和所述静电释放单元的开启时间和频次，以使得显示面板在不会受到静电损伤的前提下，提高点灯测试的效率。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，多个所述子像素呈阵列设置，位于同一列的多个所述子像素连接至同一所述像素测试单元。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关器件的开关特性与所述第二开关器件的开关特性相反，其中，所述开关特性包括高电压开启和低电压开启。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述像素测试单元还包括测试数据线，多个所述第一开关器件的控制端分别与所述控制信号线连接，多个所述第一开关器件的输入端分别与相应的所述测试数据线连接，多个所述第一开关器件的输出端分别与相应的所述子像素连接。

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述静电释放单元还包括接地线，多个所述第二开关器件的控制端分别与所述控制信号线连接，多个所述第二开关器件的输入端分别与所述接地线连接，多个所述第二开关器件的输出端分别与相应的所述测试数据线连接。

6.根据权利要求3至5任一项所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关器件为N型MOS管，所述第二开关器件为P型MOS管。

7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括：

源极驱动芯片，用于提供所述子像素的显示数据信号；

显示数据线，设于所述源极驱动芯片和所述子像素之间，用于传输所述显示数据信号。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每个所述像素电路包括多个所述静电释放单元。

9.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求1至8任一项所述的显示面板。

10.一种显示面板的控制方法，用于控制如权利要求1至8任一项所述的显示面板，其特征在于，包括：

控制静电释放单元关闭，并控制像素测试单元开启，以向相应的子像素提供测试数据信号；

控制所述像素测试单元关闭，并控制所述静电释放单元开启，以释放相应的所述像素测试单元上的残余电荷。