CN111367734A - 一种测试机中进行压力测试的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种测试机中进行压力测试的方法，所述测试机包含M个测试单板，包括如下步骤：S01：在控制中心对需要进行压力测试的N个测试单板分别进行测试配置，形成配置数据，所述配置数据包括对应测试单板的区别码，测试项目，测试时间和测试顺序；S02：所述控制中心将各个测试单板的配置数据发送至对应的测试单板；S03：所述测试单板获取并解析配置数据，按照所述配置数据和本地存储的测试流程匹配后进行压力测试；S04：所述测试单板将测试结果发送至控制中心。本发明提供的一种测试机进行压力测试的方法，通过控制中心的统一配置，可以灵活地对各个测试单板进行压力测试，减少人工配置，提高整体效率。

Description

一种测试机中进行压力测试的方法
技术领域
本发明涉及集成电路测试领域，具体涉及一种测试机中进行压力测试的方法。
背景技术
半导体自动化测试机中包含多个测试单板，每个测试单板上又包含多个测试芯片，单个测试机要验证多种不同类型的芯片，为了满足生产中的不同使用需求，测试机中的测试单板类型和数量都比较多。现有技术对测试机进行测试单板的压力测试时，因为不同类型测试单板差异较大，需要分别进行针对性的压力测试。
压力测试(Stress Test)，也称为强度测试、负载测试。压力测试是模拟实际应用的软硬件环境及用户使用过程的***负荷，长时间或超大负荷地运行测试软件，来测试被测***的性能、可靠性、稳定性等。
现有技术对每个测试单板进行定制化和差异化的压力测试时，每次都需要编写不同的测试代码对测试项目，测试次数，测试时间和测试顺序进行适配。若同时对多个测试单板进行压力测试时，也需要在控制中心对每个测试单板进行编码适配，之后再对多个测试单板进行依次测试。现有技术压力测试时编码繁琐，当多个测试单板的测试项目、测试时间和测试顺序完全相同时，也需要在控制中心进行两侧编码适配，尤其是进行针对性的压力测试时重复劳动较多，浪费人力，不够灵活。
发明内容
本发明的目的是提供一种测试机进行压力测试的方法，通过控制中心的统一配置，可以灵活地对各个测试单板进行压力测试，减少人工配置，提高整体效率。
为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：一种测试机中进行压力测试的方法，所述测试机包含M个测试单板，包括如下步骤：
S01：在控制中心对需要进行压力测试的N个测试单板分别进行测试配置，形成配置数据，所述配置数据包括对应测试单板的区别码，测试项目，测试时间和测试顺序；M和N均为大于0的正整数，且M大于等于N；
S02：所述控制中心将各个测试单板的配置数据发送至对应的测试单板；
S03：所述测试单板获取并解析配置数据，按照所述配置数据和本地存储的测试流程匹配后进行压力测试；
S04：所述测试单板将测试结果发送至控制中心；
S05：所述控制中心解析并显示各个测试单板的测试结果。
进一步地，所述测试单板包括至少一个芯片，相同种类的芯片对应一个测试项目。
进一步地，所述配置数据还包括测试次数。
进一步地，所述配置数据中测试时间和测试项目一一对应，所述测试单板将每个测试项目对应的测试时间转换为该测试项目的测试次数。
进一步地，所述步骤S03具体包括：
S031：所述测试单板获取并解析配置数据，确定所述配置数据中的测试顺序；
S032：按照所述测试顺序，在本地存储的测试流程中匹配第一个测试项目的测试流程，按照该流程进行第一个测试项目的测试，并执行相应次数的压力测试；
S033：按照步骤S032中方法依次进行各个测试项目的压力测试。
进一步地，所述配置数据中测试时间为各个测试项目的总测试时间；所述测试单板根据本地存储的测试流程将总测试时间分配给每个测试项目；所述测试单板将每个测试项目对应的测试时间转换为该测试项目的测试次数。
进一步地，所述步骤S03具体包括：
S031：所述测试单板获取并解析配置数据，确定所述配置数据中的测试顺序；并根据本地存储的测试流程将测试时间分配给每个测试项目；
S032：在本地存储的测试流程中匹配第一个测试项目的测试流程，按照该流程进行第一个测试项目的测试，并执行相应次数的压力测试；
S033：按照步骤S032中方法依次进行各个测试项目的压力测试。
进一步地，所述测试项目包括CPLD测试、EEPROM测试、DDR测试、CPU测试、CPLD升级中的一种或多种。
进一步地，当所述测试机增加新的测试单板时，所述控制中心对该测试单板进行测试配置，形成对应的配置数据。
本发明的有益效果为：本发明通过在控制中心统一配置各个测试单板的配置数据，并且各个测试单板中配置数据格式相同，只需要针对不同测试单板更改对应的区别码，测试项目，测试时间和测试顺序；通过在控制中心的一次配置，即可完成多个测试单板的压力测试；同时本发明若想增加新的测试单板，也只需要在控制中心增加新的配置数据即可，本发明可以灵活地对各个测试单板进行压力测试，减少人工配置，提高整体效率。
附图说明
附图1为发明一种测试机中进行压力测试方法的流程图；
附图2为本发明测试机的连接关系示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图对本发明的具体实施方式做进一步的详细说明。
如附图1和2所示，一种测试机中进行压力测试的方法，本发明中压力测试是模拟实际应用的软硬件环境及用户使用过程的***负荷，长时间或超大负荷地运行测试软件，来测试被测***的性能、可靠性、稳定性等。本发明中测试机包含M个测试单板，每个测试单板位于测试机的其中一个槽位中。每个测试单板包括至少一个芯片，相同种类的芯片对应一个测试项目，例如其中一种芯片用于温度测量，则其对应的测试项目即温度测试；其中一种芯片用于电流测量，则其对应的测试项目即电流测试。具体的测试项目与该芯片的组成及性能相关。本发明中测试项目包括但不限于CPLD测试、EEPROM测试、DDR测试、CPU测试、CPLD升级中的一种或多种。本发明具体包括如下步骤：
S01：在控制中心对需要进行压力测试的N个测试单板分别进行测试配置，形成配置数据，配置数据包括对应测试单板的区别码，测试项目，测试时间和测试顺序；M和N均为大于0的正整数，且M大于等于N。
其中，区别码可以采用槽位、或者IP或者其他能够区分测试单板的标记进行表示，只需要将各个测试单板进行区分开即可。测试项目根据测试单板的具体结构进行设置，可以对测试单板中所有芯片均进行配置，也可以仅配置该测试单板中需要测试的芯片，测试顺序即为该测试项目中各个测试项目进行测试的先后顺序。
本发明中配置数据还可以包括测试次数，即每个测试项目对应的测试次数。由于每个测试项目测试一次的时间是固定的，且每次测试的时间存储在测试单板本地存储的测试流程中。因此，配置中测试时间和测试次数之间可以进行转换，即配置数据中测试时间可以转换测试次数，在测试过程中，执行相应测试次数的压力测试。
本发明中当测试机增加新的测试单板时，只需要在控制中心对该测试单板进行测试配置，形成对应的配置数据即可。这样做的好处是可以灵活地对个别测试单板进行个别测试项目的压力测试，也可以对所有测试单板进行批量的相同配置的压力测试；可以根据下发的测试次数进行压力测试，也可以根据下发的压力测试时间进行压力测试。
S02：控制中心将各个测试单板的配置数据发送至对应的测试单板。如附图2所示，控制中心通过SWITCH将这些配置完成的配置数据按照传输协议组装成数据流根据配置数据中的区别码对应各个测试单板，完成这些配置数据的下发。
S03：测试单板获取并解析配置数据，按照所配置数据和本地存储的测试流程匹配后进行压力测试。测试单板根据传输协议依次解析和匹配执行接收到的配置数据，测试单板根据传输协议解析配置数据，依次获取到对应测试单板的测试项目，测试时间和测试顺序。
本地存储的测试流程代表该测试单板中各个测试芯片的具体测试方法。由于每个测试单板中的测试项目均不同，当控制中心的指令发送至测试单板时，测试单板获取并解析配置数据之后，需要与其自身的结构结合起来。不同类型的资源单板针对同一测试项目的测试方法和流程可能都不一致，这个由各测试单板本地存储的测试流程决定：比如资源单板A，有2个CPLD，CPLD1支持16bit方式访问，CPLD2只支持8bit访问；资源单板B，有3个CPLD，都支持16bit方式访问但只要接收到了CPLD测试指令，都会匹配本地的测试流程对CPLD进行压力测试。每个测试单板中本地存储的测试流程具体可以包括如下两部分内容：(1)该测试单板中每个测试项目对应的顺序；(2)每个测试项目的具体测试方法。由于每个测试项目的具体测试方法与其对应的测试芯片的结构和性能相关，因此，可以存储在测试单板本地存储的测试流程中，而不用在控制中心进行配置。
关于配置数据中的测试时间，具有以下两种情况：
第一种，配置数据中测试时间和测试项目一一对应，测试单板将每个测试项目对应的测试时间转换为该测试项目的测试次数。具体包括：
S031：测试单板获取并解析配置数据，确定配置数据中的测试顺序；
S032：按照测试顺序，在本地存储的测试流程中匹配第一个测试项目的测试流程，按照该流程进行第一个测试项目的测试，并执行相应次数的压力测试；若测试项目无法进行匹配，则报错返回；
S033：按照步骤S032中方法依次进行各个测试项目的压力测试。
第二种，配置数据中测试时间为各个测试项目的总测试时间；测试单板根据本地存储的测试流程将总测试时间分配给每个测试项目；测试单板将每个测试项目对应的测试时间转换为该测试项目的测试次数。步骤S03具体包括：
S031：测试单板获取并解析配置数据，确定配置数据中的测试顺序；并根据本地存储的测试流程将测试时间分配给每个测试项目；
S032：在本地存储的测试流程中匹配第一个测试项目的测试流程，按照该流程进行第一个测试项目的测试，并执行相应次数的压力测试；若测试项目无法进行匹配，则报错返回；
S033：按照步骤S032中方法依次进行各个测试项目的压力测试。
S04：测试单板将测试结果发送至控制中心。具体的控制中心为用户端，资测试单板在每个压力测试单项结束后都会将测试结果返回给用户端。
S05：控制中心解析并显示各个测试单板的测试结果。用户端解析之后将对应测试结果和测试进展呈现给用户，方便用户实时了解压力测试进展。
本发明通过在控制中心统一配置各个测试单板的配置数据，并且各个测试单板中配置数据格式相同，只需要针对不同测试单板更改对应的区别码，测试项目，测试时间和测试顺序；通过在控制中心的一次配置，即可完成多个测试单板的压力测试；同时本发明若想增加新的测试单板，也只需要在控制中心增加新的配置数据即可，本发明可以灵活地对各个测试单板进行压力测试，减少人工配置，提高整体效率。
以上所述仅为本发明的优选实施例，所述实施例并非用于限制本发明的专利保护范围，因此凡是运用本发明的说明书及附图内容所作的等同结构变化，同理均应包含在本发明所附权利要求的保护范围内。

Claims (9)

1.一种测试机中进行压力测试的方法，所述测试机包含M个测试单板，其特征在于，包括如下步骤：
S01：在控制中心对需要进行压力测试的N个测试单板分别进行测试配置，形成配置数据，所述配置数据包括对应测试单板的区别码，测试项目，测试时间和测试顺序；M和N均为大于0的正整数，且M大于等于N；
S02：所述控制中心将各个测试单板的配置数据发送至对应的测试单板；
S03：所述测试单板获取并解析配置数据，按照所述配置数据和本地存储的测试流程匹配后进行压力测试；
S04：所述测试单板将测试结果发送至控制中心；
S05：所述控制中心解析并显示各个测试单板的测试结果。
2.根据权利要求1所述的一种测试机进行压力测试的方法，其特征在于，所述测试单板包括至少一个芯片，相同种类的芯片对应一个测试项目。
3.根据权利要求1所述的一种测试机中测试单板进行压力测试的方法，其特征在于，所述配置数据还包括测试次数。
4.根据权利要求1所述的一种测试机中测试单板进行压力测试的方法，其特征在于，所述配置数据中测试时间和测试项目一一对应，所述测试单板将每个测试项目对应的测试时间转换为该测试项目的测试次数。
5.根据权利要求4所述的一种测试机中测试单板进行压力测试的方法，其特征在于，所述步骤S03具体包括：
S031：所述测试单板获取并解析配置数据，确定所述配置数据中的测试顺序；
S032：按照所述测试顺序，在本地存储的测试流程中匹配第一个测试项目的测试流程，按照该流程进行第一个测试项目的测试，并执行相应次数的压力测试；
S033：按照步骤S032中方法依次进行各个测试项目的压力测试。
6.根据权利要求1所述的一种测试机中测试单板进行压力测试的方法，其特征在于，所述配置数据中测试时间为各个测试项目的总测试时间；所述测试单板根据本地存储的测试流程将总测试时间分配给每个测试项目；所述测试单板将每个测试项目对应的测试时间转换为该测试项目的测试次数。
7.根据权利要求6所述的一种测试机中测试单板进行压力测试的方法，其特征在于，所述步骤S03具体包括：
S031：所述测试单板获取并解析配置数据，确定所述配置数据中的测试顺序；并根据本地存储的测试流程将测试时间分配给每个测试项目；
S032：在本地存储的测试流程中匹配第一个测试项目的测试流程，按照该流程进行第一个测试项目的测试，并执行相应次数的压力测试；
S033：按照步骤S032中方法依次进行各个测试项目的压力测试。
8.根据权利要求1所述的一种测试机进行压力测试的方法，其特征在于，所述测试项目包括CPLD测试、EEPROM测试、DDR测试、CPU测试、CPLD升级中的一种或多种。
9.根据权利要求1所述的一种测试机进行压力测试的方法，其特征在于，当所述测试机增加新的测试单板时，所述控制中心对该测试单板进行测试配置，形成对应的配置数据。
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