CN111208140A - 一种缺陷复检***及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种缺陷复检***及方法,包括:AOI检测线体控制模块LCS1、复检线体控制模块LCS2、AOI检测模块和复检模块;AOI检测线体控制模块LCS1用于控制AOI检测模块,并接收AOI检测结果;复检线体控制模块LCS2用于控制复检模块,并向复检模块发送触发指令;AOI检测模块,用于对面板进行缺陷检测,并将缺陷检测结果上传给线体控制模块LCS1;复检模块,用于从AOI检测线体控制模块LCS1获取缺陷检测结果,对所述缺陷检测结果进行复检;本发明根据上述复检***,复检模块可以直接自动获取到AOI检测结果,提高了复检的工作效率。

Description

一种缺陷复检***及方法
技术领域
本发明属于面板检测领域,更具体地,涉及一种面板缺陷复检***及方法。
背景技术
在AOI缺陷检测过程中,由于光学、机构、算法、相机等一系列原因,可能会导致面板的自动检测结果中出现将非真实缺陷误判为真实缺陷,称之为过检,这种情况会造成面板的等级判定不准确,影响客户出货。
为了能够对面板进行准确的分类,需要对AOI检测***判定NG的面板进行抽样复检,由人工进行点屏查看由AOI自动检测输出的缺陷位置是否有真实的缺陷,由于AOI检测工位和人工复检工位是物理分开的,复检人员想要看到AOI检测结果需要到另外的工位才能看到,严重影响效率。
因此,需要一款能够辅助人工进行复检的***,能够实时显示对应面板的AOI检测结果,并配合人工进行改判,并自动上报真实结果到客户CIM。
发明内容
针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求,本发明提供了一种缺陷检测***及方法,复检模块可以自动获取AOI检测模块的检测结果,并对结果进行改判,将最终得到的复检结果上传,提高了面板复检效率。
为实现上述目的,按照本发明的第一个方面,提供了一种缺陷复检***,包括:AOI检测线体控制模块LCS1、复检线体控制模块LCS2、AOI检测模块和复检模块;
所述AOI检测线体控制模块LCS1用于控制AOI检测模块,并接收AOI检测结果;
所述复检线体控制模块LCS2用于控制复检模块,并向复检模块发送触发指令;
所述AOI检测模块,用于对面板进行缺陷检测,并将缺陷检测结果上传给线体控制模块LCS1;
所述复检模块,用于从AOI检测线体控制模块LCS1获取缺陷检测结果,对所述缺陷检测结果进行复检。
优选地,所述***还包括PLC控制模块,所述PLC控制模块分别与AOI检测线体控制模块LCS1、复检线体控制模块LCS2相连接,并进行逻辑交互。
优选地,所述PLC控制模块向复检线体控制模块LCS2发送触发指令,所述LCS2接收到触发指令后将触发指令转发给复检模块,所述复检模块根据触发指令从LCS1获取所述缺陷检测结果。
优选地,所述触发命令为面板ID或者面板ID和工站号的组合,所述复检模块接收到所述触发命令后,根据所述触发命令从所述LCS1中获取对应面板的缺陷检测结果。
优选地,所述复检模块在获取缺陷检测结果之前,还包括初始化步骤,通过初始化步骤将复检模块与LCS1和LCS2连接。
优选地,所述复检模块还用于将复检的结果上传给复检线体控制模块LCS2,由所述复检线体控制模块LCS2将所述复检的结果上传给客户CIM***。
优选地,所述复检模块包括可编辑的显示模块,操作人员复检后利用可编辑的显示模块对所述缺陷检测结果进行改判,得到复检结果,并将所述复检结果通过显示模块上传。
优选地,所述获取到的缺陷检测结果按照缺陷类别在所述显示模块上分类显示。
优选地,所述显示模块还包括缺陷展现模块,所述缺陷展现模块根据操作人员在所述缺陷检测结果中选中的缺陷在模拟面板上展现相应的形态以及相应的位置信息。
本发明的另一个方面,还提供了一种利用上述缺陷检测***进行缺陷复检的方法,包括:AOI检测模块向AOI检测线体控制模块LCS1上传缺陷检测结果,复检模块接收到复检线体控制模块LCS2的触发命令后,根据触发命令从AOI检测线体控制模块LCS1获取对应的面板缺陷检测结果,复检模块对所述缺陷检测结果进行复检,并将复检结果上传。
总体而言,通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比,能够取得下列有益效果:
(1)本发明提供的一种缺陷检测***,复检模块通过AOI检测线体控制模块LCS1模块可以自动获取AOI检测模块的检测结果,并对结果进行改判,本方案不需要复检人员去AOI检测工位查看相应的缺陷检测结果,提高了复检效率。
(2)本发明提供的一种缺陷检测***,通过复检模块中的显示模块,可以直观地获取到对应面板的缺陷信息以及缺陷种类,便于复检人员选取相应种类的缺陷进行复检。
(3)本发明提供的一种缺陷检测***,通过复检模块中的显示模块,可以在模拟面板上展现相应缺陷的形态以及相应的位置信息,便于复检人员更直观地获取相应缺陷的信息,快速找准相应位置进行复检。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种缺陷复检***;
图2是本发明实施例提供的另一种缺陷复检***;
图3是本发明实施例提供的缺陷复检流程图;
图4是本发明实施例提供的复检模块中的显示模块界面示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
如图1所示,为本发明实施例提供的一种缺陷复检***,包括AOI检测线体控制模块LCS1、复检线体控制模块LCS2、AOI检测模块和复检模块;AOI检测线体控制模块LCS1用于控制AOI检测模块,并接收AOI检测结果;复检线体控制模块LCS2用于控制复检模块,并向复检模块发送触发指令;AOI检测模块,用于对面板进行缺陷检测,并将缺陷检测结果上传给线体控制模块LCS1;复检模块,用于从AOI检测线体控制模块LCS1获取缺陷检测结果,对所述缺陷检测结果进行复检。
通过上述***,使得复检模块和AOI检测模块可以通过AOI检测线体控制模块LCS1进行交互,使得复检人员可以在复检工位很方便地就可以获得上游AOI检测结果,并根据检测结果进行复检,极大地提高了复检的工作效率。
可选地,如图2所示,所述复检***还包括PLC控制模块,所述PLC控制模块分别与AOI检测线体控制模块LCS1、复检线体控制模块LCS2相连接,并进行逻辑交互,LCS1和LCS2可以交由PLC控制模块统一管理。
可选地,所述PLC控制模块向复检线体控制模块LCS2发送触发指令,所述LCS2接收到触发指令后将触发指令转发给复检模块,所述复检模块根据触发指令从LCS1获取所述缺陷检测结果。所述触发命令为面板ID或者面板ID和工站号的组合,所述复检模块接收到所述触发命令后,根据所述触发命令从所述LCS1中获取对应面板的缺陷检测结果。根据触发指令获取缺陷检测结果,可以使得复检更有针对性,获取需要的面板的缺陷检测结果进行复检。
下面结合图3介绍整个***的工作流程。
如图3所示,对复检模块进行初始化通信,使得复检模块连接LCS1与LCS2,然后复检模块等待接收触发信号,触发信号可以为面板ID,或者为面板ID和工站号的组合等。AOI检测***对待测面板进行缺陷检测,并将检测结果实时上传给LCS1。PLC负责整个控制***,包括利用LCS1控制检测***和利用LCS2控制复检***。PLC向LCS2发送触发信号,LCS2接收到触发信号后将相应的触发信号转发给复检模块,复检模块根据触发信号的信息,如面板ID,从LCS1获取相应面板的缺陷检测信息。具体为,复检模块向LCS1发送请求获取面板缺陷信息的请求信息,请求信息中携带面板ID和/或工站号,LCS1接收到相应的请求信息后,根据请求信息,向复检模块发送相应的面板缺陷检测信息。复检模块实时检测是否获得所有相应的缺陷检测信息,如果没有获取到所有的缺陷检测信息,则再次发送相应的请求信息,直到获取完所有的缺陷检测信息,可选的,复检所获得的所有相应的缺陷检测信息为随机抽样得到的缺陷检测信息。复检模块获取到所有的缺陷检测信息后,开始进入复检流程,进行人工复检,根据人工复检结果,对接收到的缺陷检测信息进行改判。具体地,例如,删除过检的缺陷信息,增加漏检的缺陷信息,改判缺陷信息的类型等。然后将复检结果上传给LCS1和LCS2,并由LCS2最终发送给客户CIM***。
可选地,复检模块包括可编辑的显示模块,操作人员复检后利用可编辑的显示模块对所述缺陷检测结果进行改判,得到复检结果,并将所述复检结果通过显示模块上传。
具体地,如图4所示,为本发明的显示模块示意图。复检人员进行人工复检后,直接在可编辑的界面上对接收到的缺陷检测结果进行改判,如果复检人员认为该缺陷为过检时,可以直接删除掉,在复检流程完毕后,复检人员判断该面板的复检结果是OK还是NG,点击对应的按钮上报相对应的信息给LCS2软件,由LCS2转发给客户CIM***。
可选地,复检模块将获取到的缺陷检测结果按照缺陷类别在所述显示模块上分类显示。具体地,如图4所示,缺陷检测类型一般包括点缺陷、线缺陷、Mura缺陷、外观缺陷和其它缺陷等,复检人员可能只关注其中的某一类或者某几类缺陷,将获得的缺陷检测结果在显示模块上分类显示,可以便于复检人员快速选择自己需要进行复检的缺陷类型。
可选地,显示模块还包括缺陷展现模块,所述缺陷展现模块根据操作人员在所述缺陷检测结果中选中的缺陷展现相应的形态。具体地,如图4所示,当复检人员在左侧选中相应的缺陷后,相应的缺陷的形态会在右侧展示,为了便于复检人员更加直观地知晓缺陷的位置,可以用用九宫格控件模拟面板显示缺陷位置,并在九宫格下方显示缺陷的具体坐标,使得复检人员可以快速定位缺陷位置进行复检。
本发明还提供了一种利用所述缺陷复检***进行缺陷复检的方法,包括如下步骤,AOI检测模块向AOI检测线体控制模块LCS1上传缺陷检测结果,复检模块接收到复检线体控制模块LCS2的触发命令后,根据触发命令从AOI检测线体控制模块LCS1获取对应的面板缺陷检测结果,复检模块对所述缺陷检测结果进行复检,并将复检结果上传。
本实施例还提供了一种电子设备,其包括至少一个处理器、以及至少一个存储器,其中,存储器中存储有计算机程序,当计算机程序被处理器执行时,使得处理器执行上述缺陷检测方法。本实施例中,处理器和存储器的类型不作具体限制,例如:处理器可以是微处理器、数字信息处理器、片上可编程逻辑***等;存储器可以是易失性存储器、非易失性存储器或者它们的组合等。
该电子设备也可以与一个或多个外部设备(如键盘、指向终端、显示器等)通信,还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备交互的终端通信,和/或与使得该电子设备能与一个或多个其它计算终端进行通信的任何终端(例如网卡,调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口进行。并且,电子设备还可以通过网络适配器与一个或者多个网络(例如局域网(Local Area Network,LAN),广域网(Wide Area Network,WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。
本实施例还提供了一种计算机可读介质,其存储有可由电子设备执行的计算机程序,当所述计算机程序在电子设备上运行时,使得所述电子设备执行上述缺陷检测方法中相应的步骤。计算机可读介质的类型包括但不限于SD卡、U盘、固定硬盘、移动硬盘等存储介质。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种缺陷复检***,其特征在于,包括:AOI检测线体控制模块LCS1、复检线体控制模块LCS2、AOI检测模块和复检模块;
所述AOI检测线体控制模块LCS1用于控制AOI检测模块,并接收AOI检测结果;
所述复检线体控制模块LCS2用于控制复检模块,并向复检模块发送触发指令;
所述AOI检测模块,用于对面板进行缺陷检测,并将缺陷检测结果上传给线体控制模块LCS1;
所述复检模块,用于从AOI检测线体控制模块LCS1获取缺陷检测结果,对所述缺陷检测结果进行复检。
2.如权利要求1所述的缺陷复检***,其特征在于,还包括PLC控制模块,所述PLC控制模块分别与AOI检测线体控制模块LCS1、复检线体控制模块LCS2相连接。
3.如权利要求2所述的缺陷复检***,其特征在于,所述PLC控制模块向复检线体控制模块LCS2发送触发指令,所述LCS2接收到触发指令后将触发指令转发给复检模块,所述复检模块根据触发指令从LCS1获取所述缺陷检测结果。
4.如权利要求1所述的缺陷复检***,其特征在于,所述触发命令为面板ID或者面板ID和工站号的组合,所述复检模块接收到所述触发命令后,根据所述触发命令从所述LCS1中获取对应面板的缺陷检测结果。
5.如权利要求1所述的缺陷复检***,其特征在于,所述复检模块在获取缺陷检测结果之前,还包括通过初始化将复检模块与LCS1和LCS2连接。
6.如权利要求1所述的缺陷复检***,其特征在于,所述复检模块还用于将复检的结果上传给复检线体控制模块LCS2,由所述复检线体控制模块LCS2将所述复检的结果上传给客户CIM***。
7.如权利要求1所述的缺陷复检***,其特征在于,所述复检模块包括可编辑的显示模块,复检后利用可编辑的显示模块对所述缺陷检测结果进行编辑,得到复检结果,并将所述复检结果通过显示模块上传。
8.如权利要求7所述的缺陷复检***,其特征在于,所述获取到的缺陷检测结果按照缺陷类别在所述显示模块上分类显示。
9.如权利要求7所述的缺陷复检***,其特征在于,所述显示模块还包括缺陷展现模块,所述缺陷展现模块根据在所述缺陷检测结果中选中的缺陷在模拟面板上展现相应的形态以及相应的位置信息。
10.一种利用如权利要求1-9任意一项所述的缺陷复检***进行缺陷复检的方法,其特征在于:
AOI检测模块向AOI检测线体控制模块LCS1上传缺陷检测结果,复检模块接收到复检线体控制模块LCS2的触发命令后,根据触发命令从AOI检测线体控制模块LCS1获取对应的面板缺陷检测结果,复检模块对所述缺陷检测结果进行复检,并将复检结果上传。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111624970A (zh) * 2020-06-16 2020-09-04 武汉精立电子技术有限公司 一种信息上报方法、装置、设备及生产控制***
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111624970A (zh) * 2020-06-16 2020-09-04 武汉精立电子技术有限公司 一种信息上报方法、装置、设备及生产控制***
CN112079074A (zh) * 2020-08-28 2020-12-15 苏州富强科技有限公司 用于键盘复检的传送机构的控制方法、传送机构
CN112079074B (zh) * 2020-08-28 2022-05-20 苏州富强科技有限公司 用于键盘复检的传送机构的控制方法、传送机构
CN112827857A (zh) * 2020-12-30 2021-05-25 凌云光技术股份有限公司 一种基于aoi检测的人工重新判定装置、方法和***
CN115532656A (zh) * 2021-06-30 2022-12-30 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板缺陷检测方法、设备和***
CN115780323A (zh) * 2022-10-21 2023-03-14 中国电器科学研究院股份有限公司 一种废旧液晶屏回收利用方法
CN116344378A (zh) * 2023-03-31 2023-06-27 江苏神州新能源电力有限公司 一种光伏板生产用智能检测***及其检测方法
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