CN110892271A - 微板处理装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种微板处理装置(1),包括:具有用于微板的第一接收器的至少一个托架(2,4),所述至少一个托架(2,4)可在第一水平方向(X)移动;可在垂直方向(Z)移动的至少一个升降器(3,5),因此所述微板(6)可从所述托架(2,4)被移除以及被供应到所述托架(2,4),其中所述托架(2,4)包括通孔,所述通孔的周边至少有一部分在垂直投影中在水平方向上位于保持在托架中的微板(6)的周边缘内;以及升降器(3,5)包括用于微板的第二接收器,所述第二接收器的周边在垂直投影中位于所述通孔的周边缘内,因此可将所述第二接收器在所述垂直方向(Z)不受阻碍地移动通过所述通孔。

Description

微板处理装置
技术领域
本发明涉及微板处理装置,特别是涉及具有用于微板的传送单元的微板处理装置。
背景技术
在现有技术中已知有一种微板处理装置,其中可藉由操作器将微板从微板处理装置的托架移除或将微板***托架。这类操作器需要一定空间,特别是需要在延伸的托架的区域的上方的空间。再者,该操作器因为通常须要在多个方向移动而导致结构复杂。此外,在托架区域中,难以接触布置在操作器上的夹持器。因此,操作器在接触布置在托架上的微板时受到限制。
发明内容
本发明的目的是提供一种简单的微板处理装置,该微板处理装置需要空间不多且使得布置在微板处理装置上的微板容易被接触。微板处理装置的例子有用于电生理学的膜片钳***、吸光微板分析仪、荧光微板分析仪、发光微板分析仪、细胞成像***、用于转染的电穿孔、用于在微板测量填充水平的装置、以及用于微板的微阵列分析仪。
该目的藉由具有权利要求1的特征的微板处理装置来实现。处理装置的其他实施例、处理***、以及将微板导入到微板处理装置的处理区域中的方法和将微板从该处理区域移除的方法由其他权利要求的特征来定义。
根据本发明的微板处理装置包括至少一个具有用于微板的第一接收器的托架,其中所述至少一个托架可在第一水平方向移动,从而所述微板可被导入到所述处理装置的处理区域中以及可从所述处理区域被移除。所述微板处理装置还包括至少一个升降器,所述至少一个升降器可在垂直方向移动,从而所述微板可从所述托架被移除以及被供应到所述托架。所述托架包括通孔,所述通孔的周边至少有一部分在垂直投影中在水平方向上位于保持在所述托架中的微板的周边内。所述升降器包括用于微板的第二接收器,所述第二接收器的周边在垂直投影中位于所述通孔的周边内,从而可将所述第二接收器在所述垂直方向不受阻碍地移动通过所述通孔。这设计节省空间而且简单。再者,这让保持在升降器中的微板易于接触。
一个实施例中,所述第二接收器包括至少一个止挡件,所述至少一个止挡件从第二平面大致在所述垂直方向向上延伸。所述至少一个止挡件可与所述第二接收器一体成型。或者,所述至少一个止挡件可被布置在所述第二接收器上。所述至少一个止挡件经设计以限制放置在所述第二接收器上的微板的横向运动。
一个实施例中,所述第二接收器包括至少两个止挡件,所述至少两个止挡件彼此隔开和/或一体成型。例如,用于限制第一水平方向移动的止挡件可与用于限制第二水平方向移动的止挡件一体成型。例如,多个止挡件可设于所述第二接收器的一边、多边或所有边上。这容许相对于将要保持的微板将所述多个止挡件弹性且最佳地布置。
一个实施例中,将所述多个止挡件经布置和设计成使得所述止挡件可抵靠保持在所述第二接收器中的微板的内侧壁。因此,第二接收器的水平方向的尺寸可以较小。
一个实施例中,所述第二接收器包括至少一个臂,所述臂的表面至少在所述臂的自由端的区域中与第二平面是叠合的。例如,两根、三根、四根或多根臂从所述第二接收器的中央紧固件大致径向地向外延伸。例如,所述臂延伸到所述第二接收器的斜对面的角区域中。有了这种设计,于是无须移动大型重物,而且一个或多个升降器可使用较小型的致动器。再者,水平方向上接触保持的微板的范围变得较大,特别是因为所述第二接收器中没有材料限制与所述微板的中间区域的接触。
一个实施例中,每个止挡件被布置在臂的自由端区域中。这个设计能够减小重量,尤其是当限制所述微板在所述第一水平方向与所述第二水平方向移动的止挡件彼此结合的时候。
一个实施例中,所述多个止挡件经布置和设计成使得所述止档件可抵靠保持在所述第二接收器中的微板的外侧壁。藉由此实施例,可以从外部确定保持在升降器中的微板是否正确地抵靠所述止挡件。
一个实施例中,所述托架的所述通孔包括至少一个凹槽,所述凹槽可被横向地向外设置在保持的微板的边缘之外,以及其中所述升降器的接收器包括至少一根臂,在所述垂直方向的投影中所述至少一根臂被布置在所述至少一个凹槽中。因此,确保了所述升降器可不受阻碍地移动通过所述托架的所述凹槽。例如,所述托架包括后凹槽、前凹槽和侧凹槽,以及所述升降器包括相应的后臂、前臂和侧臂。
一个实施例中,所述通孔大致呈矩形。这外形大致对应所述微板的轮廓的垂直投影。因此,所述升降器的第二接收器大致呈矩形,其形状需要与所述通孔对应。
一个实施例中,所述至少一个凹槽的尺寸相等于所述通孔的尺寸的一部分,例如,所述后凹槽和侧凹槽比所述通孔的宽度窄并且比所述通孔的深度浅。
一个实施例中,所述通孔的每一侧设有两个或以上凹槽。在一个凹槽、两个或多个彼此分隔开的凹槽的情况下,所述升降器的所述第二接收器的材料稍微变弱。所述托架的每一边的凹槽数目与对应升降器的臂数目是相关的。
一个实施例中,前凹槽设于所述通孔的一侧,该侧是在所述第一水平方向的前侧,所述前凹槽至少完全贯穿过所述托架的一些部分的前方区域,其中所述托架呈叉状。由于这个形状,当所述升降器升高的时候所述托架能够缩回。
一个实施例中,所述托架包括第一平面,所述通孔从所述第一平面延伸,以及其中设有限制器,所述限制器从所述第一平面在所述垂直方向向上延伸,以致能够限制保持在所述托架中的微板的横向运动。以这种方式可将所述微板定位在所述升降器上的特定位置中并定向。
一个实施例中,所述托架的每一侧设有一个、两个或多个限制器。可藉由彼此分隔开的多个限制器提供一种简单结构,利用该简单结构可对所接纳的微板进行精确定位和定向。
一个实施例中,所述第二接收器的每一侧设有一根、两根或多根臂。所述升降器的臂数目与所述托架的凹槽数目是相关的。
一个实施例中,一个、两个或多个止档件设于一根、两根或所有臂上。例如,所述止挡件可将被***的微板的运动限制于后侧、前侧或所有侧中的一侧,从而可对所述微板进行精确定位和定向。
一个实施例中,设置了致动器和导向件,所述致动器和导向件在操作上连接到所述升降器的所述第二接收器,以及允许所述第二接收器在所述垂直方向移动。例如,所述致动器可以是气压缸或液压缸、或是线性驱动机构、主轴传动机构、链条传动机构、带式传动机构或齿轮驱动机构。传统轨道式导向件或类似物可用于导向。
一个实施例中,设有两个或以上托架和相应数目的与所述托架相关联的升降器,其中微板可藉由至少一个第一托架和至少一个相关联的第一升降器被导入到所述处理装置的处理区域中,以及其中微板可藉由至少一个第二托架和至少一个相关联的第二升降器从所述处理区域被移除。藉由这种设计,可防止将被带入所述处理装置的处理区域中的微板与将从所述处理区域被移除的微板混杂在一起。从第一托架到第二托架的传送在所述处理装置的处理区域中进行。
另一实施例中,设有一个托架和多个与所述托架相关联的升降器。微板可藉由所述一个托架和第一升降器通过第一开口被导入到所述处理装置的处理区域中,以及可藉由所述一个托架和第二升降器通过第二开口从所述处理装置的处理区域被移除。在这情况下,所述一个托架可在所述处理装置的处理区域中沿Y方向移动。例如,因此可将微板堆叠。
上述微板处理装置的各个实施例如果彼此没有冲突,可以任何组合的形式执行。
一种根据本发明的微板处理***包括至少一个根据前述实施例中任一个所述的微板处理装置以及进一步包括至少一个从以下组内选出的部件:存储单元、清洗或分配装置以及操作器,其中,每个部件在垂直方向被布置在所述升降器中的一个的上方。所述微板处理装置可任意地与可与微板结合使用的传统部件或装置结合,这样可显著增加所述微板处理装置可能有的用途。新的微板或已使用的微板可存储在存储单元。例如,该存储单元可包括将微板在壳体或框架中垂直地堆叠。可利用清洗或分配装置把液体输送到所述微板或从所述微板吸取液体。操作器例如可包括夹持件,可利用该夹持件把放置在升降器上的微板抓取并在附近区域移动。该移动可在所有方向进行,以及所述夹持件还可执行枢轴或旋转运动以便将微板定位和定向。
根据本发明的用于将微板导入到根据前述实施例中任一个所述的微板处理装置的处理区域中的方法包括以下步骤:
-将托架在所述处理装置的所述处理区域中从内部位置延伸到外部位置中;
-将至少一个升降器的第二接收器在垂直方向从下部位置穿过所述托架的通孔提升到所述通孔之外的上部位置;
-将微板放置在所述第二接收器上;
-将所述第二接收器从所述上部位置下降到所述下部位置中;
-将所述微板放置在所述托架上;以及
-将所述托架从所述外部位置缩回所述内部位置中。
一个实施例中,所述微板的放置由选自以下组内的一个部件执行:存储单元和操作器。
根据本发明的用于将微板从根据前述实施例中任一个所述的微板处理装置的处理区域移除的方法包括以下步骤:
-将托架在所述处理装置的所述处理区域中从内部位置延伸到外部位置中;
-将至少一个升降器的第二接收器在垂直方向从下部位置穿过所述托架的通孔提升到所述通孔之外的上部位置;
-将微板放置在所述第二接收器上;
-将所述微板从所述第二接收器移除;
-将所述第二接收器从所述上部位置下降到所述下部位置中;以及
-将所述托架从所述外部位置缩回所述内部位置中。
一个实施例中,所述微板的移除由选自以下组内的一个部件执行:存储单元和操作器。
根据本发明的将微板从根据前述实施例中任一个所述的微板处理装置的处理区域移除以及将所述微板导入到所述处理区域中的方法包括以下步骤:
-将微板放置在托架上;
-将所述托架在所述处理装置的所述处理区域中从内部位置延伸到外部位置中;
-将至少一个升降器的第二接收器在垂直方向从下部位置穿过所述托架的通孔提升到所述通孔之外的第一上部位置;
-将所述第二接收器从所述第一上部位置下降到所述下部位置中;
-将微板放置在所述托架上;以及
-将所述托架从所述外部位置缩回所述内部位置中。
一个实施例中,上述方法还包括以下步骤:
-将所述第二接收器从所述第一上部位置下降到第二上部位置中;以及
-将所述第二接收器从所述第二上部位置提升到所述第一上部位置。
上述方法的各个实施例如果彼此没有冲突,可以任何组合的形式执行。
附图说明
本发明的示例性实施例将在下文参考附图有更详细描述。这些实施例仅用于说明目的而不应被视为限制本发明的范围。附图中:
图1示出了根据本发明的微板处理装置的立体图;
图2示出了图1的微板处理装置的托架的立体图;
图3示出了图1的微板处理装置的升降器的立体图;
图4示出了***了微板的升降器的示意性侧剖视图;
图5示出了升降器的接收器的实施例的示意性立体图;
图6示出了升降器的接收器的另一个实施例的示意性立体图;
图7示出了图1的微板处理装置与存储单元的立体剖视图;
图8示出了从图7的存储单元移除微板或将微板导入所述存储单元中的个别步骤的示意图;
图9示出了所述微板处理装置的托架和升降器以及清洗和/或分配装置的示意性侧剖视截面图;
图10示出了微板处理***中的微板处理装置、操作器和吸液装置的示意性立体图。
具体实施方式
图1示出了根据本发明的微板处理装置1的立体图。可在第一水平方向X从正面打开的开口11沿第二水平方向Y设于壳体10上,其中所述壳体10大致完全包围处理区域。托架2,4可在X方向从每个开口11水平地延伸,其中所述开口的每一个可由摺盖12闭合,摺盖12可被枢转到处理装置的内部中。升降器3,5在X方向被布置在壳体10的前面且设在每个开口11的前面,以及可在垂直方向Z移动。每个托架2,4可从壳体10延伸到一个位置,在该位置每个托架2,4在X方向指向使用者的前缘位于每个升降器3,5的前缘的区域。每个托架2,4在Y方向突出对应的升降机3,5的两侧之外
图2示出了图1的微板处理装置的托架2的立体图。托架2的横向范围大致在X方向和Y方向是平的,而托架2在Z方向具有厚度。托架2包括具有第一平面200的第一接收器20,所述第一平面200可保持微板。通孔21设于第一接收器20的区域中以及在Z方向完全延伸穿过托架2。在X方向上看通孔21被布置在托架2的前区域中。在通孔21周围的侧区域和余下的前区域大体上形成支撑物,界定通孔21至侧边和前边。两个后凹槽210与通孔21共同形成以及与通孔21相连。两个后凹槽210彼此分隔开,且在通孔21的Y方向分别与两个边缘中的一个隔开。前凹槽211与通孔21共同形成以及与通孔21相连。前凹槽211完全贯穿过托架2在X方向上的前边缘,因此形成了托架2的叉状设计。侧凹槽212以与通孔21相连的方式设于通孔21的前区域的每一侧,与通孔21共同形成。侧凹槽212大致被布置在通孔21的前角区域中。限制器22,23,24从第一平面200沿着Z方向大致垂直地向上延伸。每个限制器22,23,24与通孔21的水平距离是数毫米,例如1至5毫米。前限制器22从前支撑物的其余部分向上延伸数毫米的距离,例如1至5毫米。后限制器23从后凹槽210附近向上延伸相同距离且与后凹槽分隔开。该分隔开的距离是数毫米,例如1至5毫米。两个后凹槽23的每一个被横向地布置在对应的后凹槽210的外部且邻接后凹槽210。侧限制器24与侧凹槽212连接,大致垂直地向上延伸越过相同距离。布置在托架2的前区域中的两个侧限制器24与相邻的前限制器22从第一平面200一体延伸。布置在托架2的后区域中的两个侧限制器24各自从第一平面200延伸,与对应的相邻后限制器23分隔开。
图3示出了图1的微板处理装置的升降器3的立体图。所述升降器包括第二接收器30,第二接收器30包括第二平面,可将微板放置在所述第二平面上。第二接收器30大体上包括矩形板,所述矩形板的上表面包括第二平面300。臂310,311,312从所述矩形板水平地横向地延伸。后臂310从后缘沿X方向向后延伸,所述后臂各与两个后角中的一个连接。前臂311在X方向从前缘朝前方延伸,在Y方向上与后臂310对齐。侧臂312在Y方向从侧缘横向地向外延伸并且所述侧臂各与两个前角中的一个连接,其中侧臂312的前端面与接收器30的所述板的前端面对齐。在每根臂310,311,312的自由端,设有止挡件32,33,34在Z方向从第二平面300垂直地向上延伸。前止挡件32被布置在每根前臂311的前自由端上,后止挡件33被布置在每根后臂310的后自由端上,以及侧止挡件34被布置在每根侧臂312的侧自由端上。升降器3的第二接收器30在Z方向受导向件所引导并且被固定不受围绕Z轴的旋转的影响,以及可以受控制的方式由致动器35在Z方向驱动移动。升降器3的运动路径由致动器35的运动路径和轨道36限定。
图4示出了***了微板6的升降器3的示意性侧剖视图。微板6位于第二接收器30的第二平面300中的空腔62的底部。微板6在Y方向的横向运动受制于侧止挡件34。前止挡件32和后止挡件33可与微板6的内侧壁接触。微板6的侧向内侧壁61(其也可以是最外面的空腔62的侧壁)与侧止挡件34接触。或者,微板6的外侧壁60搁在第二平面300上并且微板6可通过外侧壁60与止挡件32,33,34接触,如图7和图8所示。或者,所述第二接收器的某些止挡件可碰靠到所述微板的外侧壁,而所述第二接收器的其他止挡件可碰靠到内侧壁。
图5示出了升降器3的接收器30的一个实施例的示意性立体图,接收器30具有彼此分隔开的止挡件或具有以整体形式共同延伸的止挡件。在图中所示的接收器30的左侧(沿Y方向看),所有止挡件从第二平面300延伸并且彼此分隔开。图中示出了圆柱型止挡件。在图中所示的接收器30的右侧(沿Y方向看),前止挡件32与后止挡件33分隔开并从右侧延伸。前止挡件32与前侧止挡件34以整体形式共同延伸。图中所示的实施例中并未设置后侧止挡件。然而,设置该后侧止挡件也是可能的。当然,可以实现的是彼此单独延伸的止挡件以及彼此以整体形式共同延伸的止挡件的所存在的各种可能的组合。
图6示出了升降器3的接收器30的另一个实施例的示意性立体图。图中所示的是第二接收器30,其中所有止挡件32,33,34彼此以一体形式从第二平面300共同延伸并且一起形成闭合的框架。
图7示出了图1的微板处理装置1与存储单元7的立体剖视图。每个存储单元7在Z方向被垂直地布置在升降器3,5的上方。存储单元7包括壳体70,可在壳体70中沿Z方向将微板6堆叠在另一个微板6之上。锁定元件71防止位于壳体70中的微板能够不受制约地穿过下壳体开口。
图8示出了从图7的存储单元7移除微板6或将微板6导入所述存储单元中的个别步骤的示意图。锁定元件71被横向地布置在壳体70上且邻近所述下壳体开口。传感器72,73被布置在所述壳体开口之下且锁定元件71之上,以及能够识别微板6是否位于传感器72,73前面的区域中。以下将描述可如何从所述存储单元取得微板6。图8A示出了空的延伸的托架2和空的升降器3,升降器3的位置在托架2之下。图8B示出了第一传感器72如何检查微板是否位于升降器3上。如果没有微板被识别,所述升降器进一步升高至第二接收器进入所述存储单元的壳体中且位于锁定元件71之上(见图8C)。布置在锁定元件71之上的第二传感器73表示微板6是否确实位于存储单元7内以及当微板6并非位于存储单元7内时终止处理。使用者可通过声音和/或影像被告知没有微板。如果至少一个微板位于所述存储单元中,处理得以继续。一旦存储单元接纳了微板6,锁定元件71枢转到旁边并释放存储单元7的下壳体开口(见图8D)。接着,升降器3被下降直至保持的微板6穿过锁定元件71的介入区域(见图8E)。任选地,可使用第一传感器72来测定所述微板的高度。第二传感器73任选地可表示所述微板已穿过所述介入区域。锁定元件71被枢转到所述介入区域中,从而放置在上方的微板被保持(见图8F),升降器3再被向下移动(见图8G),其中保持在升降器3的微板6在托架2经过的时候仍然搁在升降器3。然后,托架2以及放置在托架2上的微板6缩回至微板处理装置的处理区(见图8I)。如果微板6将要被导入到存储单元7中,所述微板被所述升降器从所述托架带走,第一传感器72检查是否确实有微板位于所述升降器上,而所述升降器经由所述锁定元件在所述存储装置中移动直到所述微板经过所述锁定元件。任选任选地,可由所述第二传感器检测到所述微板已经过锁定元件。接着所述升降器再次被降低。所述锁定元件可被偏置使得所述锁定元件可被一种力从下向上推,而在没有该种力的时候所述锁定元件再次自动向下移动。所述锁定元件可被致动器向上枢转。
图9示出了所述微板处理装置的托架2和升降器3以及清洗和/或分配装置8的示意性侧剖视截面图。清洗和/或分配装置8包括可移动头部80,管道被布置成一行在可移动头部80上,其中可利用所述管道将液体输送到微板6的空腔62中或从空腔62抽走。抽吸管81通常比分配管82长。为了将液体输送到所述空腔或从所述空腔抽走,所述管道被降低到所述空腔中。由于微板6包括邻接的多行的空腔,所述管道须逐行被推出所述空腔,使得所述管道不会与微板相撞。由于本发明中Z方向的垂直运动可由升降器3来执行,清洗和/或分配装置8的头部只须在水平方向移动,这样简化了所述装置,减少了在垂直方向和水平方向的所需空间。为了抽走液体,升降器3将微板6提升到第一上部位置,在所述第一上部位置,抽吸管81位于空腔62的底部的正上方。在分配时,所述升降机使所述微板下降到第二位置,在所述第二位置,抽吸管81位于空腔62的边缘之上。或者,所述头部也可包括仅一条或多条管道。在这情况下,所述头部必须可在两个水平方向X和Y移动。然而,垂直方向Z的空间需求得以减少。
图10示出了微板处理***中的微板处理装置1、操作器和吸液装置92的示意性立体图。具有臂90的操作器9在Z方向设于升降器3上方,其中夹持件91设于臂90的下自由端以及可用于从旁边夹持微板6。在升降器3处于升高位置时,可从旁边随意地接触到保持在升降器3上的微板6,这样大大促进使用操作器9的夹持件91进行抓取。再者,由于升降器3能够提升所保持的微板至一定高度,导致所述操作器在Z方向需要的垂直运动路径缩短,从而所述操作器在Z方向的整体高度得以减少。臂90可在两个水平方向X和Y移动,从而所述微板可藉由所述操作器放置在微板处理装置1上方并且横向偏离微板处理装置1。例如,所述微板可放置在例如吸液装置的任何装置的工作面上。
附图标记列表
1 微板处理装置 34 侧止档件
10 壳体 35 致动器
11 开口 36 导向件
12 摺盖 4 第二托架
2 第一托架 5 第二升降器
20 第一接收器 6 微板
200 第一平面 60 外侧壁
21 通孔 61 内侧壁
210 后凹槽 62 空腔
211 前凹槽 7 存储单元
212 侧凹槽 70 壳体
22 前限制器 71 锁定元件
23 后限制器 72 第一传感器
24 侧限制器 73 第二传感器
3 第一升降器 8 清洗/分配装置
30 第二接收器 80 头部
300 第二平面 81 抽吸管
310 后臂 82 分配管
311 前臂 9 操作器
312 侧臂 90 臂
32 前止档件 91 夹持件
33 后止档件 92 吸液装置
X 第一水平方向
Y 第二水平方向
Z 垂直方向

Claims (20)

1.一种微板处理装置(1),所述微板处理装置(1)包括至少一个托架(2,4),所述至少一个托架(2,4)具有用于微板(6)的第一接收器(20),其中所述至少一个托架(2,4)可在第一水平方向(X)移动,从而所述微板(6)可被导入到所述处理装置的处理区域中以及可从所述处理区域被移除;至少一个升降器(3,5),所述至少一个升降器(3,5)可在垂直方向(Z)移动,从而所述微板(6)可从所述托架(2,4)被移除以及被供应到所述托架(2,4),
其特征在于,
所述托架(2,4)包括通孔(21),所述通孔(21)的周边至少有一部分在垂直投影中在水平方向上位于保持在所述托架(2,4)中的微板(6)的周边内;
以及在于,
所述升降器(3,5)包括用于微板(6)的第二接收器(30),所述第二接收器(30)的周边在垂直投影中位于所述通孔(21)的周边内,从而可将所述第二接收器(30)在所述垂直方向(Z)不受阻碍地移动通过所述通孔(21)。
2.根据权利要求1所述的微板处理装置(1),其特征在于,所述第二接收器(30)包括至少一个止挡件(32,33,34),所述至少一个止挡件(32,33,34)从第二平面(300)大致在所述垂直方向(Z)向上延伸。
3.根据权利要求2所述的微板处理装置(1),其特征在于,所述止挡件(32,33,34)经布置和设计成使得所述止档件可抵靠保持在所述第二接收器(30)中的微板(6)的内侧壁(61)。
4.根据权利要求2所述的微板处理装置(1),其特征在于,所述止挡件(32,33,34)经布置和设计成使得所述止档件可抵靠保持在所述第二接收器(30)中的微板(6)的外侧壁(60)。
5.根据权利要求4所述的微板处理装置(1),其特征在于,所述托架(2)的所述通孔(21)包括至少一个凹槽(210,211,212),所述凹槽被横向地向外设置在保持的微板(6)的边缘之外,以及在于所述升降器(3,5)的接收器(31)包括至少一根臂(310,311,312),在所述垂直方向(Z)的投影中所述至少一根臂被布置在所述至少一个凹槽(210,211,212)中。
6.根据前述权利要求中任一项所述的微板处理装置(1),其特征在于,所述通孔(21)大致呈矩形。
7.根据权利要求5或6所述的微板处理装置(1),其特征在于,所述通孔(21)的每一侧设有一个、两个或以上凹槽(210,211,212)。
8.根据权利要求5至7中任一项所述的微板处理装置(1),其特征在于,前凹槽(211)设于所述通孔(21)的一侧上,所述一侧是在所述第一水平方向(X)上的前侧,所述前凹槽至少完全贯穿过所述托架(2,4)的一些部分的前方区域,其中所述托架(2,4)呈叉状。
9.根据前述权利要求中任一项所述的的微板处理装置(1),其特征在于,所述托架(2,4)包括第一平面(200),所述通孔(21)从所述第一平面(200)延伸,以及在于设有限制器(22,23,24),所述限制器从所述第一平面(200)在所述垂直方向(Z)向上延伸,以致能够限制保持在所述托架(2,4)中的微板(6)的横向运动。
10.根据前述权利要求中任一项所述的的微板处理装置(1),其特征在于,一根、两根或多根臂(311,312,313)设于所述第二接收器(30)的每一侧上。
11.根据权利要求5至10中任一项所述的微板处理装置(1),其特征在于,一个、两个或多个止档件(32,33,34)设于一根、两根或所有臂(311,312,313)上。
12.根据前述权利要求中任一项所述的的微板处理装置(1),其特征在于,设置了致动器(35)和导向件(36),所述致动器(35)和导向件(36)在操作上连接到所述升降器(3,5)的所述第二接收器(30),以及允许所述第二接收器(30)在所述垂直方向(Z)移动。
13.根据前述权利要求中任一项所述的的微板处理装置(1),其特征在于,设有两个或以上托架(2,4)和两个或以上与所述托架相关联的升降器(3,5),其中微板(6)可藉由至少一个第一托架(2)和至少一个相关联的第一升降器(3)被导入到所述处理装置(1)的处理区域中,以及在于微板(6)可藉由至少一个第二托架(4)和至少一个相关联的第二升降器(5)从所述处理区域被移除。
14.一种微板处理***,所述微板处理***包括至少一个根据前述权利要求中任一项所述的微板处理装置(1)以及进一步包括至少一个从以下组内选出的部件:存储单元(7)、清洗或分配装置(8)以及操作器(9),其特征在于,每个部件在垂直方向(Z)被布置在升降器(3,5)中的一个的上方。
15.一种将微板(6)导入到根据权利要求1至13中任一项所述的微板处理装置(1)的处理区域中的方法,所述方法包括以下步骤:
-将托架(2,4)在所述处理装置(1)的所述处理区域中从内部位置延伸到外部位置中;
-将至少一个升降器(3,5)的第二接收器(30)在垂直方向(Z)从下部位置通过所述托架(2,4)的通孔(21)提升到所述通孔(21)之外的上部位置;
-将微板(6)放置在所述第二接收器(30)上;
-将所述第二接收器(30)从所述上部位置下降到所述下部位置中;
-将所述微板(6)放置在所述托架(2,4)上;以及
-将所述托架(2,4)从所述外部位置缩回所述内部位置中。
16.根据权利要求15所述的方法,其特征在于,所述微板(6)的放置由选自以下组内的一个部件执行:存储单元(7)和操作器(9)。
17.一种将微板(6)从根据权利要求1至13中任一项所述的微板处理装置(1)的处理区域移除的方法,所述方法包括以下步骤:
-将托架(2,4)在所述处理装置(1)的所述处理区域中从内部位置延伸到外部位置中;
-将至少一个升降器(3,5)的第二接收器(30)在垂直方向(Z)从下部位置通过所述托架(2,4)的通孔(21)提升到所述通孔(21)之外的上部位置;
-将微板(6)放置在所述第二接收器(30)上;
-将所述微板(6)从所述第二接收器(30)移除;
-将所述第二接收器(30)从所述上部位置下降到所述下部位置中;以及
-将所述托架(2,4)从所述外部位置缩回所述内部位置中。
18.根据权利要求17所述的方法,其特征在于,所述微板(6)的移除选自以下组内的一个部件执行:存储单元(7)和操作器(9)。
19.一种将微板(6)从根据权利要求1至13中任一项所述的微板处理装置(1)的处理区域移除以及将所述微板(6)导入到所述处理区域中的方法,所述方法包括以下步骤:
-将微板(6)放置在托架(2,4)上;
-将所述托架(2,4)在所述处理装置(1)的所述处理区域中从内部位置延伸到外部位置中;
-将至少一个升降器(3,5)的第二接收器(30)在垂直方向(Z)从下部位置通过所述托架(2,4)的通孔(21)提升到所述通孔(21)之外的第一上部位置;
-将所述第二接收器(30)从所述第一上部位置下降到所述下部位置中;
-将微板(6)放置在所述托架(2,4)上;以及
-将所述托架(2,4)从所述外部位置缩回所述内部位置中。
20.根据权利要求19所述的方法还包括以下步骤:
-将所述第二接收器(30)从所述第一上部位置下降到第二上部位置中;以及
-将所述第二接收器(30)从所述第二上部位置提升到所述第一上部位置。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4393598A1 (en) * 2022-12-27 2024-07-03 TECAN Trading AG Temperature equalizing plate for a microplate reader and microplate reader with such a temperature equalizing plate

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0301583A2 (en) * 1987-07-31 1989-02-01 Fujirebio Kabushiki Kaisha Automatic immunological analysing apparatus
JPH07244052A (ja) * 1994-03-07 1995-09-19 Cosmo Tec:Kk 液体分注装置
JP2001188044A (ja) * 1999-12-28 2001-07-10 Hamamatsu Photonics Kk 発光測定装置、蛍光測定装置、発光測定方法及び蛍光測定方法
US6343906B1 (en) * 1998-11-18 2002-02-05 Cybio Instruments Gmbh Arrangement for transporting microtitration plates in an automatic handling machine
US20020176803A1 (en) * 2001-05-25 2002-11-28 Hamel Marc F. Automated pipetting system
WO2006017737A2 (en) * 2004-08-06 2006-02-16 Cetek Corporation Microtiter plate scrubbing device
US20070020152A1 (en) * 2005-07-20 2007-01-25 Costello John J Iii Kinematic wellplate mounting method
US7360984B1 (en) * 2000-03-15 2008-04-22 Roche Diagnostics Corp. Automatic analyzer and part feeding device used for the analyzer
US20140191109A1 (en) * 2013-01-04 2014-07-10 Meso Scale Technologies, Llc Assay Apparatuses, Methods and Reagants
DE202016102244U1 (de) * 2016-04-27 2016-05-17 Analytik Jena Ag Vorrichtung zur Führung und Zustellung einer Mikroplatte zu mehreren Handhabungsplätzen entlang einer Linearführung

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0301583A2 (en) * 1987-07-31 1989-02-01 Fujirebio Kabushiki Kaisha Automatic immunological analysing apparatus
JPH07244052A (ja) * 1994-03-07 1995-09-19 Cosmo Tec:Kk 液体分注装置
US6343906B1 (en) * 1998-11-18 2002-02-05 Cybio Instruments Gmbh Arrangement for transporting microtitration plates in an automatic handling machine
JP2001188044A (ja) * 1999-12-28 2001-07-10 Hamamatsu Photonics Kk 発光測定装置、蛍光測定装置、発光測定方法及び蛍光測定方法
US7360984B1 (en) * 2000-03-15 2008-04-22 Roche Diagnostics Corp. Automatic analyzer and part feeding device used for the analyzer
US20020176803A1 (en) * 2001-05-25 2002-11-28 Hamel Marc F. Automated pipetting system
WO2006017737A2 (en) * 2004-08-06 2006-02-16 Cetek Corporation Microtiter plate scrubbing device
US20070020152A1 (en) * 2005-07-20 2007-01-25 Costello John J Iii Kinematic wellplate mounting method
US20140191109A1 (en) * 2013-01-04 2014-07-10 Meso Scale Technologies, Llc Assay Apparatuses, Methods and Reagants
DE202016102244U1 (de) * 2016-04-27 2016-05-17 Analytik Jena Ag Vorrichtung zur Führung und Zustellung einer Mikroplatte zu mehreren Handhabungsplätzen entlang einer Linearführung

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