CN110399257A - 存储器的检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种存储器的检测方法、电子设备及计算机可读存储介质，方法包括：预先将测试参数存储至设备内置的非易失性存储介质内；在设备***重启过程中，根据所述测试参数对所述设备的存储器进行检测；输出对所述存储器的检测结果。在设备***重启过程中，对设备存储器的性能进行检测，避免了***占用硬件性能导致的存储器读写性能测试结果偏离真实值的问题。
Description
技术领域
本发明实施例涉及电子设备领域，特别涉及一种存储器的检测方法、电子设备及计算机可读存储介质。
背景技术
目前测试存储器的性能主要有两种实现方法：第一种，通过特定的工具对存储器芯片的性能进行检测；第二种，在运行***的情况下对存储器性能进行检测。
然而上述两种方法都具有相应的缺点。具体地，第一种方法需要借助另外的测试工具才能对设备的存储器性能进行检测，用户需另准备测试工具，增加了用户的使用负担；第二种方法可以在***运行的情况下，通过软件算法对存储器性能进行检测，但是，在***运行过程中，***运行的软件会占据部分的硬件设备性能，导致测试出的存储器性能偏离真实值，用户无法获得存储器的真实性能。
发明内容
本发明实施例解决的技术问题为提供一种存储器检测的方法、电子设备及计算机可读存储介质，在设备重启进入***过程中，对设备存储器的性能进行检测，避免了***占用硬件性能导致的存储器读写性能测试结果偏离真实值的问题。
为解决上述问题，本发明实施例提供一种存储器的检测方法，包括：预先将测试参数存储至设备内置的非易失性存储介质内；在设备***重启过程中，根据所述测试参数对所述设备的存储器进行检测；输出对所述存储器的检测结果。
进一步地，所述存储器的检测方法还包括：预先将存储器测试标志符设置为表征测试存储器的值；所述在设备***重启过程中，根据所述测试参数对所述设备的存储器进行检测，具体包括：在所述设备***重启过程中，读取所述测试参数和所述存储器测试标志符；所述存储器测试标志符的值被置为表征测试存储器的值，则根据读取到的所述测试参数对所述设备的存储器进行检测。
进一步地，所述存储器的检测方法，还包括：在读取所述测试参数和所述存储器测试标志符之后，对读取到的所述测试参数进行准确性检测；若所述测试参数通过所述准确性检测，且所述存储器测试标志符的值被置为表征测试存储器的值，则根据读取到的所述测试参数对所述设备的存储器进行检测。
进一步地，所述输出对所述存储器的检测结果，具体包括：将所述存储器的检测结果记录至所述非易失性存储介质内，并将所述存储器测试标志符设置为表征禁止测试存储器的值。
进一步地，所述对读取到的所述测试参数进行准确性检测，具体包括：将读取到的所述测试参数与预设范围比较，如果读取到的所述测试参数位于所述预设范围内，则所述测试参数通过所述准确性检测。
进一步地，所述测试参数包括测试频率、数据块大小、读写操作；所述输出对所述存储器的检测结果，包括：输出对所述存储器的读写性能参数。
进一步地，所述根据所述测试参数对所述设备的存储器进行检测，具体包括：将所述的内存频率锁定为所述测试参数中的测试频率；在所述存储器中写入或读取N次指定大小的数据块，记录所述数据块每次写入或读取所需的时长；所述N为大于1的自然数，所述指定大小为所述测试参数包括的数据块大小；统计所述数据块每次写入或读取所需的平均时长；将所述数据块大小除以所述每次写入所需的平均时长，得到所述存储器的写性能参数；将所述数据块大小除以所述每次读取所需的平均时长，得到所述存储器的读写性能参数。
进一步地，所述存储器具体为双倍速率同步动态随机存储器DDR。
另外，本发明实施例还提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行所述的存储器的检测方法。
另外，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述的存储器的检测方法。
与现有技术相比，本发明实施例提供的技术方案具有以下优点：
不需要通过特定的工具对存储器的性能进行检测，减轻了用户的使用负担；在设备***重启过程存储器的读写性能进行检测，无需考虑***占用硬件性能对测试存储器读写性能的影响，可以得到最接近存储器真实性能的检测结果。
设定存储器测试标志符值用来触发测试和关闭测试程序，避免***运行重启过程中的死循环和重复测试，提高了***运行的稳定性。
在测试存储器性能之前，对读取到的存储的测试参数进行准确性检测，避免了测试参数错误导致的检测结果偏差，增加了测试结果的可信度和可靠性。
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
图1为本发明一实施例提供的一种存储器的检测方法的流程示意图。
图2为本发明一实施例提供的一种存储器的检测方法中对存储器进行读写性能测试的流程示意图。
具体实施方式
由背景技术可知，现有对存储器的检测方法有待改进。
为解决上述问题，本发明实施提供一种存储器的检测方法、电子设备及计算机可读存储介质。
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的各实施例进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本发明各实施例中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施例的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。
本发明一实施例提供一种存储器的检测方法。
本发明实施例中测试存储器读写性能所用的数据块不局限于16进制数据块A5(0xA5)和16进制数据块5A(0x5A)，采用任一组互为反码的数据块，例如0xFF和0x00，都可实现本发明实施例中的对存储器读写性能的测试。本发明实施例中，测试存储器读写性能当中写入数据块和读取数据块的次数不限定于10次，可以是大于1的自然数。图1为本发明一实施例的流程示意图。参考图1，存储器的检测方法包括以下步骤：
S11、预先将测试参数存储至设备内置的非易失性存储介质内。
设备可以为手持移动终端，如手机、平板电脑、可穿戴设备等，以及计算平台，如个人计算机等。
本实施例中以检测的存储器为双倍速率同步动态随机存储器(Double DataRate，DDR)的性能作为示例进行详细说明，但本发明实施例检测得到存储器并不局限于DDR，还可以是嵌入式多媒体卡(eMMC)等其它类型的存储器。
本实施例中，非易失性存储介质以嵌入式多媒体卡(eMMC，Embedded Multi MediaCard，eMMC)为举例，但在其他实施中，非易失性存储介质并不限定于eMMC，可以是通用闪存存储(UFS，Universal Flash Storage)、安全数码卡(SD卡，Secure Digital MemoryCard)、TF(Tranfrash)卡等其它非易失性存储介质。
更具体地，可以将测试参数存储至eMMC中的misc分区中。
测试参数包括测试频率、数据块大小以及读写操作。本实施例中，设备中可以内置有应用程序如app，可以利用该应用程序将测试参数存储至非易失性存储介质。需要说明的是，在其他实施例中，也可以利用外接设备或者外接模块，将测试参数存储至非易失性存储介质内。
S12、在设备***重启过程中，根据所述测试参数对所述设备的存储器进行检测。
为了便于确定开始检测的时间点，可以设置触发检测的触发信号。具体地，预先将存储器测试标志符(DDR test trigger)设置为表征测试存储器的值；在设备***重启过程中，读取测试参数和存储器测试标志符；存储器测试标志符的值被置为表征测试存储器的值，则根据读取到的测试参数对设备的存储器进行检测。举例来说，存储器测试标志符的值被置为1时，表征开始测试存储器；存储器测试标志符的值被置为0时，表征结束测试存储器。
在根据读取到的测试参数对设备的存储器进行检测之前，还包括：在读取测试参数和所述存储器测试标志符之后，对读取到的测试参数进行准确性检测；若测试参数通过准确性检测，且存储器测试标志符的值被置为表征测试存储器的值，则根据读取到的测试参数对所述设备的存储器进行检测。
上述准确性检测，有利于保证实际进行测试的测试参数与预先存储的测试参数保持一致，及时的发现由于存储错误导致的非易失性存储介质内的测试参数与预先存储的测试参数不同的问题，进而进一步的保证测试结果的准确性。
对读取到的测试参数进行准确性检测，具体包括：将读取到的测试参数与预设范围比较，如果读取到的测试参数位于预设范围内，则测试参数通过准确性检测。具体地，可以通过接口函数进行准确性检测，接口函数能够解析出测试参数中的测试频率、数据块大小以及读写操作，以便于进行比较判断。
本实施例中，根据测试参数对设备的存储器进行检测，包括：将存储器的内存频率锁定为测试参数中的测试频率；在存储器中写入或读取N次指定大小的数据块，记录数据块每次写入或读取所需的时长；N为大于1的自然数，指定大小为测试参数包括的数据块大小；统计数据块每次写入或读取所需的平均时长；将数据块大小除以单次写入所需的平均时长，得到存储器的写性能参数；将数据块大小除以每次读取所需的平均时长，得到存储器的读性能参数。
为了更准确的获取读写性能参数，在存储器中写入或读取N次指定大小的数据块，包括：数据块包括第一数据块和第二数据块，且第二数据块为第一数据块的反码；在存储器中写入或读取N/2次指定大小的第一数据块，记录第一数据块每次写入或读取所需的时长为第一时长；在存储器中写入或读取N/2次指定大小的第二数据块，记录第二数据块每次写入或读取所述的时长为第二时长；统计所述第一数据块和所述第二数据块每次写入或读取所需的平均时长；将数据块大小除以每次读取所需的平均时长，得到存储器的写性能参数。
采用互为反码的两个数据块分别读写N/2次，可以避免特定的数据块所导致的读写测试结果偏差。举例来说，通过读或写数据01010101和10101010两个数据块，01010101和10101010即为互为反码的两个数据块；再利用这两个数据块进行读写性能测试时，每一比特(bit)数据位都测试了两种状态(0和1)的读写时间，计算单次读或者写的平均时间，避免了数据块中0和1出现次数不同所导致的存储器读写测试结果偏差，进而进一步地保证测试结果的准确性。
图2为存储器读写性能测试的流程示意图，具体执行步骤如下：
S21、判断需要进行的是读测试还是写测试；
如果是写测试，执行以下步骤：
S22、往存储器地址中写入指定大小的第一数据块N/2次，记录写入所需的第一时长；
S23、再往存储器地址中写入指定大小的第二数据块N/2次，记录写入所需的第二时长；
S24、统计单次写入的平均时长，将数据块大小除以单次写入平均时长，得到存储器的写性能。
如果是读测试，执行以下步骤：
S25、先往存储器地址中写入指定大小的第一数据块；
S26、读取第一数据块N/2次，记录读取所需的第一时长；
S27、往存储器地址中写入指定大小的第二数据块；
S28、读取第二数据块N/2次，记录读取所需的第二时长；
S29、统计单次读取的平均时长，将数据块大小除以单次读取平均时长，得到存储器的读性能。
第一数据块与第二数据块为互为反码的数据块，N为大于1的自然数。
以下将结合具体例子对读写测试进行详细说明：
如果是写操作，将存储器的频率锁定为测试参数中的测试频率；
记录当前的时间点A，往存储器地址中写入测试参数中指定大小的数据块0xA5(0x代表字符为16进制，即16进制字符数据A5)，写入完成后记录时间点B，通过B减A获得一次写0xA5的时间；记录当前的时间点C，往存储器地址中写入测试参数中指定大小的数据块0x5A(16进制数据5A，为数据块0xA5的反码)，写入完成后记录时间点D，通过D减C获得一次写0x5A的时间；通过写0xA5和0x5A各10次获取20次的时间，求平均得到单次写数据的时间T，再通过数据块大小除以时间T得到写的性能测试结果。
如果是读操作，将存储器的频率锁定为测试参数中的测试频率；
先往存储器的地址中写入测试参数中指定大小的数据块0xA5，然后记录时间点A，之后开始读写入的数据块0xA5，读取完成后获取时间点B，B减A获取一次读0xA5的时间；再往存储器的地址中写入测试参数中所设定大小的数据块0x5A，然后记录时间点C，之后开始读这些地址中的数据，读取完成后获取时间点D，D减C获取一次读0x5A的时间；通过读0xA5和0x5A各10次获取20次的时间,求平均得到单次读数据的时间T，再通过数据块大小除以时间T得到读的性能测试结果。
上述读写测试步骤，通过内置在设备内的测试程序执行。
S13、输出对存储器的检测结果。
本实施例中，将存储器的检测结果记录至非易失性存储介质内，以便于用户随时调取检测结果。并且，还可以将存储器测试标志符设置为表征禁止测试存储器的值，从而给出停止测试的指令。
在接收到停止测试的指令后，也就说当在存储器测试标志符设置于表征禁止测试存储器的值时，设备***完成重启过程。以设备的***为android为例，在接收到停止测试的指令后，设备进入android***。
在设备完成重启过程后，可以利用设备内的应用程序读取检测结果并向用户进行显示。需要说明的是，也可以通过外接设备或者外接模块，读取检测结果。
所述输出对所述存储器的检测结果，包括：输出对所述存储器的读写性能参数。
本实施例提供的检测方法，预先将测试参数存储至设备内置的非易失性存储介质内，在设备***重启过程中，根据所述测试参数对所述设备的存储器进行检测，避免了***占用硬件性能导致的存储器读写性能测试结果偏离真实值的问题，从而给出更加准确的存储器性能检测结果。
本发明实施例还提供一种对存储器进行检测的电子设备，所述电子设备包括至少一个处理器；以及，与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以实现上述的检测方法。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述的存储器的检测方法。
本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一个设备(可以是单片机，芯片等)或处理器(processor)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本发明的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本发明的精神和范围。
Claims (10)
1.一种存储器的检测方法，其特征在于，包括：
预先将测试参数存储至设备内置的非易失性存储介质内；
在设备***重启过程中，根据所述测试参数对所述设备的存储器进行检测；
输出对所述存储器的检测结果。
2.根据权利要求1所述的存储器的检测方法，其特征在于，还包括：
预先将存储器测试标志符设置为表征测试存储器的值；
所述在设备***重启过程中，根据所述测试参数对所述设备的存储器进行检测，具体包括：
在所述设备***重启过程中，读取所述测试参数和所述存储器测试标志符；
所述存储器测试标志符的值被置为表征测试存储器的值，则根据读取到的所述测试参数对所述设备的存储器进行检测。
3.根据权利要求2所述的存储器的检测方法，其特征在于，在根据读取到的所述测试参数对所述设备的存储器进行检测之前，还包括：
在读取所述测试参数和所述存储器测试标志符之后，对读取到的所述测试参数进行准确性检测；
若所述测试参数通过所述准确性检测，且所述存储器测试标志符的值被置为表征测试存储器的值，则根据读取到的所述测试参数对所述设备的存储器进行检测。
4.根据权利要求2所述的存储器的检测方法，其特征在于，所述输出对所述存储器的检测结果，具体包括：
将所述存储器的检测结果记录至所述非易失性存储介质内，并将所述存储器测试标志符设置为表征禁止测试存储器的值。
5.根据权利要求3所述的存储器的检测方法，其特征在于，所述对读取到的所述测试参数进行准确性检测，具体包括：
将读取到的所述测试参数与预设范围比较，如果读取到的所述测试参数位于所述预设范围内，则所述测试参数通过所述准确性检测。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的存储器的检测方法，其特征在于，所述测试参数包括测试频率、数据块大小、读写操作；
所述输出对所述存储器的检测结果，包括：输出对所述存储器的读写性能参数。
7.根据权利要求6所述的存储器的检测方法，其特征在于，所述根据所述测试参数对所述设备的存储器进行检测，具体包括：
将所述存储器的频率锁定为所述测试参数中的测试频率；
在所述存储器中写入或读取N次指定大小的数据块，记录所述数据块每次写入或读取所需的时长；所述N为大于1的自然数，所述指定大小为所述测试参数包括的数据块大小；
统计所述数据块每次写入或读取所需的平均时长；
将所述数据块大小除以所述每次写入所需的平均时长，得到所述存储器的写性能参数；将所述数据块大小除以所述每次读取所需的平均时长，得到所述存储器的读写性能参数。
8.根据权利要求1至5中任一项所述的存储器的检测方法，其特征在于，所述存储器具体为双倍速率同步动态随机存储器DDR。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
至少一个处理器；以及，
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至8中任一项所述的存储器的检测方法。
10.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至9中任一项所述的存储器的检测方法。
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