CN109974642B - 一种测量机用两用顶尖组件 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种测量机用两用顶尖组件，属于轴类检测技术领域，所述顶尖组件包括锥柄和位于所述锥柄上端的小顶尖，所述的小顶尖***滑动套设有大顶尖，所述的小顶尖根部设有大顶尖支撑座，所述的大顶尖底部设有两个围绕其轴心均匀布置的支撑脚，所述的大顶尖支撑座上设有支撑脚让位槽，相应的，相邻两个所述支撑脚之间设有支撑座让位槽，所述的支撑脚与大顶尖支撑座之间设有限位销。本发明无需拆装即可满足大、小尺寸的曲轴或凸轮轴测量，能保证生产效率和支承精度，使用操作简单方便。

Description

一种测量机用两用顶尖组件
技术领域
本发明涉及轴类检测技术领域，更具体地说，它涉及一种测量机用两用顶尖组件。
背景技术
使用轴类专用测量设备对曲轴和凸轮轴进行测量可以有效提高测量效率和精度。在轴类专用测量设备上测量曲轴或凸轮轴时，通常采用的立式顶尖支承，如专用测量设备ADCOLE采用立式顶尖支承轴类，以消除轴类自重对测量结果的影响。目前，对于不同规格曲轴或凸轮轴，需要用相应规格的顶尖支承，如尺寸较大的曲轴或凸轮轴需要尺寸较大的顶尖支承，尺寸较小的曲轴或凸轮轴需要尺寸较小的顶尖支承，频繁更换不同规格的顶尖，一方面会导致生产效率低下，另一方面会降低设备支承精度。
发明内容
本发明要解决的技术问题是针对现有技术的上述不足，本发明提供一种无需拆装即可满足大、小尺寸的曲轴或凸轮轴测量的测量机用两用顶尖组件。
本发明的技术方案是：一种测量机用两用顶尖组件，包括锥柄和位于所述锥柄上端的小顶尖，所述的小顶尖***滑动套设有大顶尖，所述的小顶尖根部设有大顶尖支撑座，所述的大顶尖底部设有两个围绕其轴心均匀布置的支撑脚，所述的大顶尖支撑座上设有支撑脚让位槽，相应的，相邻两个所述支撑脚之间设有支撑座让位槽，所述的支撑脚与大顶尖支撑座之间设有限位销。
作为进一步地改进，所述支撑脚上方的大顶尖两侧分别设有一条自所述大顶尖***向其轴心方向延伸的细槽，两条所述的细槽之间为对称布置的结构，并且，两条所述的细槽分别与两个所述的支撑脚位置相对应。
进一步地，两条所述细槽的根部分别设有径向贯穿所述大顶尖的工艺孔。
进一步地，所述的小顶尖上端设有限制所述大顶尖滑动范围的限位卡环。
进一步地，所述的大顶尖内设有与所述小顶尖***相适配的导向孔、位于所述导向孔上端的限位卡环容纳腔，所述限位卡环的直径大于所述导向孔的直径。
进一步地，所述的限位销位于所述的支撑脚底部，所述的大顶尖支撑座顶面设有第一限位销孔。
进一步地，所述的支撑脚让位槽底面设有第二限位销孔。
进一步地，所述的大顶尖支撑座底部设有用于拆卸所述锥柄的拆卸槽。
进一步地，所述的锥柄与所述的小顶尖、大顶尖支撑座之间为一体成型的结构。
有益效果
本发明与现有技术相比，具有的优点为：
1、本发明的大顶尖可以在小顶尖上轴向滑动和转动，当使用小顶尖时，大顶尖的支撑脚***大顶尖支撑座上的支撑脚让位槽使小顶尖穿过大顶尖上端，当使用大顶尖时，大顶尖向上升起并旋转使支撑脚与大顶尖支撑座对齐，大顶尖将小顶尖覆盖，限位销***第一限位销孔，本发明无需拆装即可满足大、小尺寸的曲轴或凸轮轴测量，能保证生产效率和支承精度，使用操作简单方便。
2、本发明通过在大顶尖上径向割出两条对称布置的细槽，大顶尖位于细槽上下的两部分通过两个工艺孔之间的实体连接，使得大顶尖位于细槽上下的两部分具有一定的挠性，保证大顶尖与被测工件准确接触，同时也能保证两个支撑脚同时与大顶尖支撑座有效接触，提高大顶尖支撑的稳定性。
附图说明
图1为本发明的***图；
图2为本发明中小顶尖工作的主视结构示意图；
图3为本发明中小顶尖工作的左视结构示意图；
图4为图2中A-A方向的剖视图；
图5为本发明中大顶尖工作的主视结构示意图；
图6为本发明中大顶尖工作的左视结构示意图；
图7为本发明中大顶尖的主视结构示意图；
图8为本发明中大顶尖的左视结构示意图；
图9为图8中C-C方向的剖视图；
图10为图7中B-B方向的剖视图；
图11为本发明中小顶尖的主视结构示意图；
图12为本发明中小顶尖的左视结构示意图；
图13为图11中D-D方向的剖视图。
其中：1-锥柄、2-小顶尖、3-大顶尖、4-大顶尖支撑座、5-支撑脚、6-支撑脚让位槽、7-支撑座让位槽、8-限位销、9-第一限位销孔、10-细槽、11-工艺孔、12-限位卡环、13-导向孔、14-限位卡环容纳腔、15-第二限位销孔、16-拆卸槽、17-卡环安装槽。
具体实施方式
下面结合附图中的具体实施例对本发明做进一步的说明。
参阅图1-13，一种测量机用两用顶尖组件，包括锥柄1和位于锥柄1上端的小顶尖2，小顶尖2***滑动套设有大顶尖3，小顶尖2与大顶尖3之间为间隙配合，小顶尖2与大顶尖3之间的配合精度为量具级，小顶尖2根部设有大顶尖支撑座4，锥柄1与小顶尖2、大顶尖支撑座4之间为一体成型的结构，工作强度高。大顶尖3底部设有两个围绕其轴心均匀布置的支撑脚5，大顶尖支撑座4上设有支撑脚让位槽6，相应的，相邻两个支撑脚5之间设有支撑座让位槽7，支撑脚5与大顶尖支撑座4之间上设有限位销8，在本实施例中，限位销8位于支撑脚5底部，大顶尖支撑座4顶面设有第一限位销孔9。大顶尖3可以在小顶尖2上轴向滑动和转动，当使用小顶尖2时，大顶尖3的支撑脚5***大顶尖支撑座4上的支撑脚让位槽6使小顶尖2穿过大顶尖3上端；当使用大顶尖3时，大顶尖3向上升起并旋转使支撑脚5与大顶尖支撑座4对齐，大顶尖3将小顶尖2覆盖，限位销8***第一限位销孔9以限制大顶尖3转动；本发明无需拆装即可满足大、小尺寸的曲轴或凸轮轴测量，能保证生产效率和支承精度，使用操作简单方便。
在本实施例中，支撑脚5上方的大顶尖3两侧分别设有一条自大顶尖3***向其轴心方向延伸的细槽10，两条细槽10之间为对称布置的结构，并且，两条细槽10分别与两个支撑脚5位置相对应，即细槽10位于支撑脚5正上方，细槽10的尺寸为0.1mm～0.3mm，可以用线切割加工出来。两条细槽10的根部分别设有径向贯穿大顶尖3的工艺孔11，大顶尖3位于细槽10上下的两部分通过两个工艺孔11之间的实体连接，使得大顶尖3位于细槽10上下的两部分具有一定的挠性，保证大顶尖3与被测工件准确接触，同时也能保证两个支撑脚5同时与大顶尖支撑座4有效接触，提高大顶尖3支撑的稳定性。工艺孔11可以方便在线切割加工时进行穿线操作，同时工艺孔11可以减少应力集中，提高挠性。
在本实施例中，小顶尖2上端设有限制大顶尖3滑动范围的限位卡环12，大顶尖3内设有与小顶尖2***相适配的导向孔13、位于导向孔13上端的限位卡环容纳腔14，限位卡环容纳腔14，小顶尖2与导向孔13之间的配合精度为量具级，限位卡环12的直径大于导向孔13的直径，限位卡环容纳腔14的直径大于限位卡环12的直径，限位卡环12用于防止大顶尖3从小顶尖2上脱落，提高使用安全性。支撑脚让位槽6底面设有第二限位销孔15，当限位销8***第二限位销孔15时可以限制大顶尖3转动，在测量过程防止中大顶尖3产生振动。大顶尖支撑座4底部设有用于拆卸锥柄1的拆卸槽16，可以使用工具***拆卸槽16将锥柄1从测量机上撬出。
以上仅是本发明的优选实施方式，应当指出对于本领域的技术人员来说，在不脱离本发明结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些都不会影响本发明实施的效果和专利的实用性。

Claims (5)

1.一种测量机用两用顶尖组件，其特征在于：包括锥柄（1）和位于所述锥柄（1）上端的小顶尖（2），所述的小顶尖（2）***滑动套设有大顶尖（3），所述的小顶尖（2）根部设有大顶尖支撑座（4），所述的大顶尖（3）底部设有两个围绕其轴心均匀布置的支撑脚（5），所述的大顶尖支撑座（4）上设有支撑脚让位槽（6），相应的，相邻两个所述支撑脚（5）之间设有支撑座让位槽（7），所述的支撑脚（5）与大顶尖支撑座（4）之间设有限位销（8）；
所述支撑脚（5）上方的大顶尖（3）两侧分别设有一条自所述大顶尖（3）***向其轴心方向延伸的细槽（10），两条所述的细槽（10）之间为对称布置的结构，并且，两条所述的细槽（10）分别与两个所述的支撑脚（5）位置相对应；
两条所述细槽（10）的根部分别设有径向贯穿所述大顶尖（3）的工艺孔（11）；所述的小顶尖（2）上端设有限制所述大顶尖（3）滑动范围的限位卡环（12）；
所述的锥柄（1）与所述的小顶尖（2）、大顶尖支撑座（4）之间为一体成型的结构。
2.根据权利要求1所述的一种测量机用两用顶尖组件，其特征在于：所述的大顶尖（3）内设有与所述小顶尖（2）***相适配的导向孔（13）、位于所述导向孔（13）上端的限位卡环容纳腔（14），所述限位卡环（12）的直径大于所述导向孔（13）的直径。
3.根据权利要求1所述的一种测量机用两用顶尖组件，其特征在于：所述的限位销（8）位于所述的支撑脚（5）底部，所述的大顶尖支撑座（4）顶面设有第一限位销孔（9）。
4.根据权利要求3所述的一种测量机用两用顶尖组件，其特征在于：所述的支撑脚让位槽（6）底面设有第二限位销孔（15）。
5.根据权利要求1所述的一种测量机用两用顶尖组件，其特征在于：所述的大顶尖支撑座（4）底部设有用于拆卸所述锥柄（1）的拆卸槽（16）。
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