CN109725043B - 分析装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种分析装置，包括：导入部，包含试样的长方体形状的分析工具被导入到导入部；设置部，在导入部中分析工具被设置于设置部；照射部件，照射部件被***到形成于分析工具的***孔并接触到底部，向试样照射光；推压部件，推压部件与照射部件相独立地推压分析工具并将设置于设置部的分析工具夹在推压部件与设置部之间，并且将分析工具保持在预定位置；以及测定部件，测定部件通过从照射部件向设置于设置部的分析工具的试样照射的光，来测定试样的成分。

Description

分析装置

技术领域

本发明涉及分析装置以及定位方法。

背景技术

作为分析试样中的成分的分析装置存在例如如专利文献1所示在基片内的毛细管中使试样电泳，测定照射到该试样的光的透射光、反射光，并进行成分分析的装置。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-093350号公报。

发明内容

在这样的分析装置中，希望将向试样照射光的照射部件***到分析工具的***孔，并使照射部件的顶端接触到***孔的底部。并且，在使照射部件接触到分析工具时，要求抑制照射部件、分析工具的破损。

本发明的目的在于，抑制在向分析工具的***孔中***照射部件时的照射部件、分析工具的破损。

在第一方式中，包括：导入部，包含试样的分析工具被导入到所述导入部；设置部，在所述导入部中所述分析工具被设置于所述设置部；照射部件，所述照射部件被***到形成于所述分析工具的***孔并接触到所述***孔的底部，向所述试样照射光；推压部件，所述推压部件与所述照射部件相独立地推压所述分析工具并将设置于所述设置部的所述分析工具夹在所述推压部件与所述设置部之间，并且将所述分析工具保持在预定位置；以及测定部件，所述测定部件通过从所述照射部件向设置于所述设置部的所述分析工具的所述试样照射的光，来测定所述试样的成分。

通过将照射部件***到分析工具的***孔并接触到***孔的底部，能够使照射部件与试样之间的距离接近并维持为恒定，因此朝向试样的光的照射会稳定。另外，通过推压装置来推压设置于设置部的分析工具并夹在与设置部之间，并且保持在预定位置，因此分析工具的位置也会稳定。

照射部件和推压部件是独立的部件。因此，即使例如在照射部件与插通孔的底部接触的状态下，推压部件接近分析工具，照射部件也不会过度地推入到插通孔，能够抑制照射部件、分析工具的损伤。

并且，测定部件通过从照射部件向被导入到导入部且设置于设置部的分析工具的试样照射的光，来测定试样的成分。

在第二方式中，基于第一方式，在将所述照射部件***到所述***孔的状态下，通过所述推压部件推压所述分析工具。

即，在实现了将照射部件***到***孔的状态之后，通过推压部件来推压分析工具，从而能够保持在预定位置。

在第三方式中，基于第一或第二方式，所述推压部件的针对所述分析工具的推压方向与所述照射部件的朝向所述分析工具的接近方向是相同方向。

由此，能够实现使在推压部件推压分析工具时的移动区域与照射部件被***到***孔时的移动区域重叠或接近的结构，能够有助于分析装置的小型化。

在第四方式中，基于第三方式，所述照射部件包括：突出部，所述突出部被保持为能够相对于所述推压部件进退；限制部件，所述限制部件将所述突出部的朝向所述分析工具的突出量限制在一定范围内；以及偏置部件，所述偏置部件将所述突出部向从所述推压部件的突出方向偏置。

由于照射部件具有被保持为能够相对于推压部件进退的突出部，因此能够使该突出部朝向分析工具的***孔进出而***。由于突出部的突出量被限制部件限制在一定范围内，因此能够抑制突出部的过度的突出。突出部通过偏置部件朝向突出方向偏置，因此能够维持从推压部件突出的状态，能够可靠地接触到***孔的底部。

在第五方式中，基于第四方式，所述突出部的突出长度的最大值大于所述***孔的深度。

由此，实现了能够使突出部的顶端可靠地接触到***孔的底部的结构。

在第六方式中，基于第五方式，所述推压部件具备对置壁，所述对置壁与所述分析工具对置且在所述对置壁中形成有插通孔，所述突出部***通到所述插通孔。

由于向插通孔插通突出部，因此能够抑制照射部件朝向突出部的横向(与朝向***孔的***方向正交的方向)的错位。

在第七方式中，基于第六方式，所述限制部件包括：限制板，所述限制板在所述突出部从所述推压部件突出的一侧的相反侧被安装于所述突出部，并且比所述插通孔的孔径更宽；以及一对对置部件，在所述突出部的进退方向的两侧与所述限制板对置。

因此，限制板的移动范围变成一对对置部件之间。并且，在该范围内，也能够可靠地抑制突出部的移动范围，能够抑制突出部从推压部件过度突出。

在第八方式中，基于第七方式，所述对置壁兼用作所述对置部件的一方。

由于对置壁兼用作对置部件的一方，因此与一对对置部件的每一个与对置壁为独立部件的结构相比，能够减少部件数量。

在第九方式中，基于第一方式至第八方式中的任何一者，还包括：定位部件，所述定位部件将所述分析工具定位到所述预定位置，所述推压部件保持通过所述定位部件定位的所述分析工具。

分析工具通过定位部件来定位，并且推压部件保持被定位的分析工具，因此能够将分析工具保持在准确的位置。并且，由于朝向位于准确的位置的分析工具的***孔中***照射部件，因此例如能够抑制照射部件接触到***孔以外的部位。

在第十方式中，基于第一方式至第九方式中的任何一者，所述分析工具包括：基片，具备所述试样在其中泳动的毛细管；以及盒，具备液体槽且与所述基片重叠，所述推压部件朝向所述基片与所述盒的重叠方向推压所述分析工具并将所述分析工具夹在所述推压部件与所述设置部之间，并且使所述基片和所述盒嵌合。

由此，对于盒与基片重叠的结构的分析工具，通过朝向重叠方向推压能够可靠地嵌合。

在第十一方式中，包括：导入部，包含试样的分析工具被导入到所述导入部；设置部，在所述导入部中所述分析工具被设置于所述设置部；照射部件，所述照射部件被***到形成于所述分析工具的***孔，并在从所述***孔的底部的预定位置向所述试样照射光；推压部件，所述推压部件与所述照射部件相独立地推压所述分析工具并将设置于所述设置部的所述分析工具夹在所述推压部件与所述设置部之间，并且将所述分析工具保持在预定位置；以及测定部件，所述测定部件通过从所述照射部件向设置于所述设置部的所述分析工具的所述试样照射的光，来测定所述试样的成分。

通过将照射部件***到分析工具的***孔并位于从***孔的底部的预定位置，能够使照射部件与试样之间的距离维持为恒定，因此朝向试样的光的照射会稳定。另外，通过推压装置来推压设置于设置部的分析工具并夹在与设置部之间，并且保持在预定位置，因此分析工具的位置也会稳定。

照射部件和推压部件是独立的部件。因此，即使例如在照射部件从插通孔的底部处于预定位置的状态下，推压部件接近分析工具，照射部件也不会过度地推入到插通孔，能够抑制照射部件、分析工具的损伤。

并且，测定部件通过从照射部件向被导入到导入部且设置于设置部的分析工具的试样照射的光，来测定试样的成分。

在第十二方式中，基于第十一方式，在将所述照射部件***到所述***孔的状态下，通过所述推压部件推压所述分析工具。

即，在实现了将照射部件***到***孔的状态之后，通过推压部件来推压分析工具，从而能够保持在预定位置。

在第十三方式中，基于第十一或第十二方式，所述推压部件的针对所述分析工具的推压方向与所述照射部件的朝向所述分析工具的接近方向是相同方向。

由此，能够实现使在推压部件推压分析工具时的移动区域与照射部件被***到***孔时的移动区域重叠或接近的结构，能够有助于分析装置的小型化。

在第十四方式中，基于第十三方式，所述照射部件包括：突出部，所述突出部被保持为能够相对于所述推压部件进退；限制部件，所述限制部件将所述突出部的朝向所述分析工具的突出量限制在一定范围内；以及偏置部件，所述偏置部件将所述突出部向从所述推压部件的突出方向偏置，所述分析装置具有限制壁，所述限制壁用于限制所述限制部件朝向所述分析工具的接近方向的移动，通过所述限制壁将所述限制部件限制在所述预定位置，所述照射部件从所述***孔的底部被固定在所述预定位置。

由于照射部件具有被保持为能够相对于推压部件进退的突出部，因此能够使该突出部朝向分析工具的***孔进出而***。由于突出部的突出量被限制部件限制在一定范围内，因此能够抑制突出部的过度的突出。突出部通过偏置部件朝向突出方向偏置，因此能够维持从推压部件突出的状态，能够可靠地从***孔的底部维持在预定的位置。

限制部件朝向分析工具的移动通过限制壁限制在预定位置，因此能够可靠地限制该移动。

在第十五方式中，基于第十四方式，所述照射部件接触到所述***孔的底部。

由此，使照射部件与试样之间的距离接近，并能够维持为一定。

在本发明中，能够抑制在向分析工具的***孔中***照射部件时的照射部件、分析工具的破损。

附图说明

图1是示出第一实施方式的分析装置的外观的立体图；

图2是示出用于分析装置中的分析的分析工具的立体图；

图3是示出图2所示的分析工具的分解立体图；

图4是图2所示的分析工具的4-4线截面图；

图5是示出第一实施方式的分析装置的内部的导入部及其附近的主视图；

图6是示出第一实施方式的分析装置的内部的导入部及其附近的俯视图；

图7是示出第一实施方式的分析装置的内部的导入部及其附近的主视图；

图8是示出第一实施方式的分析装置的内部的导入部及其附近的俯视图；

图9是示出第一实施方式的分析装置的内部的导入部及其附近的立体图；

图10是示出第一实施方式的分析装置的推压部件的立体图；

图11是示出第一实施方式的分析装置中通过穿孔销来穿孔了密封膜的状态的截面图；

图12是以分析工具倾斜的状态示出第一实施方式的分析装置的内部的导入部及其附近的主视图；

图13是以分析工具倾斜的状态示出第一实施方式的分析装置的内部的导入部及其附近的侧视图；

图14是示出在第一实施方式的分析装置的内部将照射部件***到分析工具的状态的主视图；

图15是示出在第一实施方式的分析装置的内部将照射部件***到分析工具的状态的主视图；

图16是示出在第一实施方式的分析装置的内部通过推压部件推压了分析工具的状态的主视图；

图17是示出分析装置的试样分析的中途状态的分析工具的状态图；

图18是示出分析装置的试样分析的中途状态的分析工具的状态图；

图19是示出分析装置的试样分析的中途状态的分析工具的状态图；

图20是示出在第一实施方式的分析装置的内部将供电探针***到分析工具的状态的主视图；

图21是示出在第一实施方式的分析装置的内部将供电探针***到分析工具的状态的俯视图；

图22是示出分析装置的试样分析的中途状态的分析工具的状态图；

图23是示出在第二实施方式的分析装置中通过穿孔销穿孔了密封膜的状态的截面图；

图24是示出在第三实施方式的分析装置中通过穿孔销穿孔了密封膜的状态的截面图；

图25是示出在第四实施方式的分析装置中通过穿孔销穿孔了密封膜的状态的截面图；

图26是示出在参考例的分析装置中通过穿孔销穿孔了密封膜的状态的截面图；

图27是示出在第五实施方式的分析装置的内部中将照射部件***到分析工具的状态的主视图；

图28是示出在第五实施方式的分析装置的内部中将照射部件***到分析工具的状态的主视图；

图29在第五实施方式的分析装置的内部中通过推压部件推压了分析工具的状态的主视图。

具体实施方式

[第一实施方式]

针对第一实施方式的分析装置，以下参照附图进行说明。本实施方式的分析装置例如为分析包含于血液中的糖化血红蛋白的量的装置。血液是试样的一个例子，也有时被称为待测体。糖化血红蛋白是分析装置的分析对象的一个例子。

＜分析装置的外观构成＞

如图1所示，分析装置102具有框体104。在本实施方式中，框体104以大致长方体的箱状形成。以下，将分析装置102中的上下方向、宽度方向、以及深度方向分别由箭头U、箭头W、箭头D表示。箭头W方向、箭头D方向、以及合成了箭头W方向和箭头D方向的方向均为水平方向。另外，将分析装置102的深度方向的里侧以及跟前侧分别由箭头DA、箭头DB表示。

在框体104设置有未图示的触控面板。分析作业的作业者参照被显示在触控面板上的信息的同时，接触触控面板，由此能够操作分析装置102。

另外，在框体104设置有未图示的打印机。分析装置102能够通过打印机来印刷分析了试样的结果。

在框体104的跟前面108设置有开闭盖114。开闭盖114能够在突出位置(用双点划线表示)与容纳位置(用实线表示)之间滑动，突出位置是通过开闭机构116而移动到跟前侧的位置，容纳位置是向里侧移动而与跟前面108处于同一个面的位置。在开闭盖114处于突出位置的状态下，托盘118与开闭盖114一同露出到框体104的跟前侧。能够在该托盘放置包含待测体(试样)的分析工具42。

＜分析工具的构成＞

如图2～图4所示，作为一个例子，本实施方式的分析工具42为具有基片44和盒46的结构。在基片44之上重叠了盒46的状态下，将箭头D1侧设为里侧而被设置在分析装置102的托盘118。在分析工具42中，为方便起见，将在被设置在分析装置102的托盘118的状态下的上下方向、宽度方向、以及深度方向分别由箭头U、箭头W、箭头D表示。另外，将分析工具42的里侧以及跟前侧分别由箭头D1、箭头D2表示。

基片44是贴合当俯视观察(箭头A1方向观察)时相同外形的两张板材(上板44A和下板44B)而形成的。在板材44A、44B贴合的状态下，基片44为板状的部件。在基片44以水平方向放置的状态下，基片44的板厚度方向与铅垂方向一致。并且，盒46在铅垂方向、即在基片44的板厚度方向重叠于基片44。

在基片44形成有多个流路48。

流路48各自的断面形状、当俯视观察基片44时的形状不受限定，可以在一个位置或者多个位置弯曲，也可以是直线形状。

这些流路48的流路截面积被设定为当通过后面叙述的泵172(参照图11)来加压液体时，被加压的液体在这些流路48中流动的程度。

在流路48的端部形成有凸部50，该凸部50朝向盒46突出。凸部50为如后面所述那样穿孔底面膜58的穿孔突起的一个例子。

在盒46形成有多个液体槽52。

这些液体槽52是形成于盒46的上部的凹陷部分，上表面由密封膜54密封。在本实施方式中，也如图4所示，用一张密封膜54密封多个液体槽52，但密封膜54可以针对每个液体槽52而分离。关于密封膜54的材质，只要密封于液体槽52内的液体以未被汽化等的方式密封、且通过后面叙述的分析装置所具备的穿孔部件来穿孔即可，例如可以列举出包含PET的多层结构的层压薄膜。

在液体槽52的下部形成有与基片44的流路连通的连通部56。在多个液体槽52的一部分例如装入有稀释液、泳动液等液体LA。装入了液体的液体槽52的连通部56的下部由底面膜58密封。

此外，在基片44的流路48中，可以在比后面叙述的毛细管68更靠近液体流动的上游侧的位置设置过滤器。通过该过滤器，能够去除液体以外的异物，能够实现不会流到毛细管68的结构。

在与多个液体槽52之中特定的两个连通部56对应的流路48之间形成有毛细管68。毛细管68的流路截面积设定为使存在于流路48中的液体以毛细管现象流动。因此，毛细管68的流路截面积小于流路48的任意流路截面积。并且，在毛细管68的两侧的连通部56设置有电极62。

如图21所述，在盒46的一侧面46A形成有与电极62的每一个对应的侧面孔64。侧面孔64是从分析工具42的两个侧面中的一个(一侧面46A)到达电极62的孔。如后面所述，将分析装置102的供电探针194(供电部件的一个例子)***到盒46的侧面孔64，并与电极62接触，由此能够在两个电极62之间施加电压。

此外，盒46的一侧面46A和另一侧面46B与分析工具42的一侧面42A和另一侧面42B相同。

在本实施方式中，毛细管68是上板44A覆盖形成于下板44B的槽部的结构。因此，实质上，毛细管68形成于基片44的下板44B。

在分析工具42(盒46和基片44)的毛细管68的中间位置，从上表面侧形成有***孔70。在本实施方式中，在基片44的上板44A也形成有***孔70的一部分。

***孔70中***分析装置102的照射部件176(参照图4)。该照射部件176是从顶端的照射部176A向在毛细管68内电泳的试样照射光的部件。照射部件176的照射部176A与***孔70的底部70B接触。

如图3所示，在基片44的与分析工具42的另一侧面42B相同的一侧形成有当俯视观察时为等腰三角形形状的切入72。切入72是凹部71的一个例子。切入72具有朝向分析工具42的导入方向(里侧，箭头D1方向)倾斜的两个倾斜面72A、72B。后面叙述的定位销140A与切入72嵌合。并且，倾斜面72A、72B与定位销140A接触。

另外，在基片44的与切入72不同的位置处也形成有切入73作为凹部71。该切入73与切入72不同，当俯视观察时为大致梯形形状或者长方形形状，后面叙述的定位销140B与其嵌合。并且，背面71D与定位销140B接触。

作为凹部71，除了上述的切入72和切入73的构成以外，还可以具备三个以上的切入，并且其形状也不限于切入72或者切入73的形状。不管是哪种情况，只要它是接触或嵌合到分析装置的定位销等接触部件且能够定位分析工具的组合，对形状没有限制。

此外，在盒46的另一侧面46B形成有用于避免与定位销140A、140B的接触的避让部46C(参照图9)。

分析工具42中，在基片44的上方安装盒46，在该状态下，形成于盒46的爪部74与基片44卡合，基片44与盒46一体化。并且，在一体化的状态下，通过将基片44与盒46相对靠近，能够将盒46与基片44嵌合。在基片44与盒46的一体化状态和嵌合状态下，分析工具42形成大致长方体的外形。另外，在基片44与盒46的嵌合状态下，能够进行在毛细管68内电泳的试样的成分的分析。

关于基片44与盒46的嵌合作业，可以由分析作业者进行，但如后面所述，也可在分析装置102中进行。在嵌合状态下，通过位于与底面膜58对应的位置的凸部50来穿孔底面膜58。该凸部50是穿孔底面膜58的穿孔突起的一个例子，底面膜58形成液体槽52的底面，但只要是能够开封底面膜58的形状，可以采用任意形状。

如上所述，作为分析工具42示出了由基片44和盒46构成的一个例子，但只要是具备如下构成的形状，可以是任意形状：一侧面被推入到后面叙述的分析装置102所具备的推入部件128，并且在通过推入部件128推入之后，其与一侧面相反侧的另一侧面与接触部件接触。例如，不限于长方体形状，可以列举出椭圆柱形状、任意的侧面为台阶形状的圆柱形形状等。另外，优选的是在分析工具42的内部包含导入泳动液和试样的毛细管、且进行试样的电泳的构成，但只要是能够被导入到本发明的分析装置102、且包含能够进行定位和测定的试样的分析工具，就可以是任意的构成。例如不限于用于电泳法的分析工具，可以列举出用于电化学测定法、比色测定法、免疫学测定法等的分析工具。不管在哪种情况下，均能够用于测定装置中要求分析工具的定位的情况。

＜分析装置的内部构成＞

如图5～图8所示，在分析装置102的框体104(参照图1)的内部，在容纳了托盘118的位置设置有导入部120。托盘118退避到框体104内(向里侧移动)，由此被放置在托盘118的分析工具42被导入到导入部120。导入部120是导入分析工具42的部位，分析工具42具备电极62，电极62用于在毛细管68中使试样电泳。

导入部120具有设置部122、该设置部122的上方的推压部件124以及测定部件126。如后面叙述，测定部件126是在向导入部120导入分析工具42的状态下，测定包含于该分析工具42中的试样的成分的部件。更具体而言，在本实施方式中，测定部件126是利用被照射到在分析工具42的毛细管68中泳动的试样的光测定试样的成分的部件。作为一个例子，如图4所示，测定部件126包括吸光度传感器186和测定部190，测定部190基于该吸光度传感器186的数据来确定试样的成分的种类、量。

从深度方向(箭头D方向)观察分析装置102时，设置部122具有位于预定高度的一般部122A、以及在该一般部122A的宽度方向的中央部向上方突出的台座部122B。分析工具42被设置在设置部122的台座部122B。在台座部122B设置了分析工具42的状态下，分析工具42的上表面42T和流路48成为水平。

如图5和图7所示，在导入部120设置有推入部件128。

在推入部件128通过未图示的保持机构保持有推入杆134。推入杆134能够朝向分析工具42的一侧面46A进退。推入杆134的顶端部是与分析工具42的一侧面46A接触而推入的推入部134P。

在推入杆134安装有未图示的推入弹簧。并且，推入杆134通过同样未图示的推入马达经由该推入弹簧在箭头P1方向被推压，顶端的推入部134P与分析工具42的一侧面46A接触。在该状态下，推入杆134进一步向分析工具42移动，向箭头P1方向推压分析工具42。但是，如后面所述，在分析工具42的基片44与定位销140A、140B接触、分析工具42的箭头P1方向的移动被阻止的状态下，通过压缩推入弹簧，来抑制推入杆134过度推入分析工具42的情况。推入部件的具体构成不限于上述，只要是与分析工具42的一侧面46A接触且能够将分析工具42向箭头P1方向推入的构成，则可以是任意构成。

在分析工具42中，在形成了基片44的切入72的一侧(另一侧面42B侧)、即在推入杆134的相反侧竖立设置有一个或者多个定位销(在本实施方式中，在深度方向隔开间隙而竖立设置有两个定位销140A、140B)。定位销140A、140B是凸部的一个例子，也是接触部件的一个例子。并且，通过推入部件128和接触部件(定位销140A、140B)来构成定位部件的一个例子，该定位部件将分析工具42定位在预定位置。

也如图9中所示，定位销140A、140B均形成为圆柱形形状，顶端部(上端部)为圆锥形状。另外，定位销140A、140B的高度是到达放置于台座部122B的分析工具42的下板44B但未到达上板44A的高度。并且，定位销140A、140B所在的上板44A的附近成形为小于下板44B，即使在因尺寸误差而定位销高的情况下，也不会到达上板44A。

跟前侧的定位销140A在深度方向(箭头D方向)位于基片44的形成了切入72的位置。与此相对，里侧的定位销140B在深度方向(箭头D方向)上在切入72的里侧位于形成了凹部71的位置。

如图6所示，定位销140A、140B的宽度方向(箭头W方向)的位置在只是分析工具42导入到导入部120的状态下，为与该分析工具42不接触的位置。并且，通过推入杆134朝向箭头P1方向推压分析工具42，由此基片44的下板44B与定位销140A、140B接触，分析工具42在宽度方向(箭头W方向)被定位。

这里，在切入72的两个倾斜面72A、72B中的任何一者与定位销140A接触的情况下，分析工具42也向深度方向(箭头D方向)移动。然后，如图8所示，倾斜面72A、72B两者被定位在与定位销140A接触的位置。

接触部件和凸部的构成不限于上述，但只要是如下构成，就可以是任意构成：在分析工具42朝向箭头P1方向被推入而移动时，与分析工具42的形成了凹部71的一侧(另一侧面42B侧)接触，并在宽度方向(箭头W方向)被定位。尤其是，接触部件和凸部的构成能够与分析工具的形状对应地形成，但接触部件优选为凸部。当接触部件为凸部时，能够实现分析工具可靠地接触到凸状的部分(突出的部分)的结构。作为凸部的接触部件进一步优选为从设置分析工具的设置部突出的销(定位销140A、140B为其一个例子)。在凸部为销的结构中，能够由简单的结构构成凸部。

也如图10所示，在设置部122的上方设置有推压部件124。推压部件124具有对置壁142，对置壁142与被导入到导入部120的分析工具42的上表面对置。对置壁142通过上下驱动机构144上下移动。

在本实施方式中，上下驱动机构144具有通过控制装置146来驱动控制的升降马达148。并且，升降马达148的驱动力经由未图示的弹簧而作用到对置壁142，以使得对置壁142升降。

通过升降马达148的驱动，对置壁142经由弹簧而下降，对置壁142与分析工具42的上表面42T接触。具有如下结构：在该接触之后，即使升降马达148进一步驱动，未图示的弹簧被压缩，对置壁142也不会再下降。由此，实现对置壁142不会过度推压分析工具42的结构。

对置壁142具有壁主体160和紧贴片材162，壁主体160具有预定的刚性，紧贴片材162被粘贴到该壁主体160的下表面。紧贴片材162与壁主体160和分析工具42的盒46相比弹性低，相对于外力而言容易弹性变形。

即，在对置壁142朝向分析工具42被推入的状态下，与壁主体160、盒46相比，紧贴片材162在厚度方向(上下方向)被更容易弹性压缩。由此，如图16所示，紧贴片材162在对置壁142下降时，紧贴到分析工具42的上表面42T。对置壁142也是紧贴部的一个例子。

尤其是，本实施方式的分析工具42具有多个液体槽52，但与这些多个液体槽52对应地，一个紧贴片材162紧贴到分析工具42的上表面42T。并且，能够在对置壁142与设置部122之间，将分析工具42朝向高度方向、即朝向基片44与盒46的重叠方向推压而夹住。

在壁主体160上与液体槽52的每一个对应地设置有多个(在本实施方式中，与液体槽52相同的数量)穿孔销164。穿孔销164是穿孔部件的一个例子。穿孔销164均与紧贴片材162相比朝向下方突出。通过对置壁142下降，能够用穿孔销164在所对应的液体槽52穿孔密封膜54。

在通过推压部件124来推压分析工具42且紧贴片材162紧贴到分析工具42的上表面42T的状态下，如图11所示，各自的穿孔销164的下端位于密封膜54的下侧、即位于所对应的液体槽52的内部。并且，在通过穿孔销164形成的孔部HP与穿孔销164之间产生间隙GP。

如图10所示，在与多个液体槽52之中例如预先装入了液体的液体槽52对应的穿孔销164(在图10的例子中为穿孔销164A、164E，但不限于此)的顶端形成有弯曲部165。在弯曲部165中，在与推压部件124的推压方向(下方向)交叉的方向(在图10的例子中，大致直角)上，穿孔销164弯曲。在形成了这样的弯曲部165的穿孔销164中，与未形成弯曲部165的穿孔销164相比，能够更大地穿孔密封膜54，孔部HP与穿孔销164之间产生的间隙GP也更大。

在对置壁142(紧贴片材162和壁主体160)以围绕每个穿孔销164的形状形成有空间凹部166，空间凹部166具有朝向上侧凹陷的形状。即，在作为紧贴部的一个例子的对置壁142上形成有空间凹部166。空间凹部166是在穿孔销164的周围将对置壁142朝向从每个液体槽52分离的方向部分凹陷的部分。通过具有这样的空间凹部166，每个液体槽52与对置壁142之间形成密闭空间168。这样利用分析装置102的空间凹部166以及分析工具42的上表面而在穿孔部件的穿孔部位的周围在与分析工具42之间形成密闭空间168的构成成为密闭部件。当然，根据分析装置102以及分析工具42的形状，能够适当变更密闭空间的形状、形成方法、以及密闭部件的形状。

在对置壁142上与空间凹部166的每一个对应地设置有气体导入管170作为气体导入部件的一个例子。气体导入管170的下端是气体出入口170A，气体出入口170A是相对于密闭空间168而流体出入的气体出入口170A。在本实施方式中，在多个气体导入管170的任何一个中，其下端位置、即气体出入口170A的位置均是与空间凹部166的上表面166T相同的位置，为气体导入管170的气体出入口170A不向空间凹部166突出而位于密闭空间168的结构。

泵172与气体导入管170连接。通过泵172的驱动，能够向密闭空间168送出空气或者从密闭空间168吸引空气。此外，能够相对于多个气体导入管170经由分支管共同设置一个泵172，在该情况下可以采取通过未图示的阀门来将空气的流路切换为任意的气体导入管170的结构。

如图11所示，气体导入管170和穿孔销164在水平方向(深度方向和宽度方向中至少一个方向)上偏离。即，气体导入管170的气体出入口170A位于沿着密封膜54的膜面从穿孔销164的穿孔部位(孔部HP)偏离的位置。

上述的穿孔销164是穿孔部件的一个例子。作为穿孔部件，只要能够穿孔分析工具42中的液体槽52的上表面的密封膜54，就可以是任意形状。另外，上述的气体导入管170也是气体导入部件的一个例子，只要能够向密闭空间导入气体，就可以是任意形状。但是，在本实施方式中，穿孔部件和气体导入部件是独立的部件。不管是哪种情况，均为能够抑制液体槽52的液体附着到朝向分析工具42的液体槽52导入气体的气体导入部件的形状，并且均为能够抑制液体槽52的液体朝向气体出入口流入的形状。

如图10所示，在对置壁142形成有插通孔174。在插通孔174中插通有照射部件176。来自未图示的发光部的光例如通过光纤等来引导到照射部件176。照射部件176是从顶端的照射部176A照射该光的部件。实质上，可以将照射部件176作为光纤的一部分而构成。此外，可以具备射出预定的波长区域的光的LED基片、光学过滤器、透镜等，另外，发光部可以是具备狭缝等的形状。

照射部件176***通到插通孔174，因此抑制了相对于对置壁142朝向水平方向的偏移。

插通孔174的位置是与在导入部120中定位于预定位置的分析工具42的***孔70对应的位置。另外，照射部件176的外径小于插通孔174的内径。由此，变成能够向***孔70***照射部件176的结构。照射部件176的下侧部分是与紧贴片材162相比朝向下侧突出的突出部176T。

在照射部件176的上部、即从推压部件124突出的一侧的相反侧安装有宽度比插通孔174宽的限制板178。限制板178是将突出部的朝向分析工具的突出量限制在一定范围内的限制部件的一个例子，但只要具有限制的功能，就可以采用任意形状。另外，从对置壁142朝向上方竖立设置一根或者多根支柱180，支柱180贯通限制板178。

在支柱180的顶端形成有宽度比支柱180宽的对置板182。限制板178位于对置壁142与对置板182之间，限制板178由支柱180引导的同时可上下移动，但该上下方向的移动范围限制在对置壁142与对置板182之间。由此，突出部176T的突出范围(从对置壁142突出的突出长度)也能够限制在预定范围内，并能够抑制突出部176T过度地从对置壁142突出。对置壁142与对置板182成对，并在突出部176T的进退方向的两侧与限制板178对置。即，对置壁142与对置板182是一对对置部件的一个例子。并且，对置壁142兼用作对置部件的一部分。由此，与将对置壁142设成独立于对置部件的部件的结构相比，部件数量更少。

弹簧184介于限制板178与对置板182之间。通过该弹簧184的偏置力，照射部件176经由限制板178被向下方偏置。施加该偏置力的弹簧184是将突出部176T向从推压部件124突出的方向偏置的偏置部件的一个例子。只要具有这样的偏置的功能，偏置部件就可以采用任意形状。由此，照射部件176的突出部176T能够以预定的突出长度维持从对置壁142突出的状态。另外，如图14和图15所示，突出部176T朝向下方的移动范围通过限制板178与对置壁142的接触来限制在预定范围内。

如图14所示，在限制板178与对置壁142接触的状态下，突出部176T的突出长度TL的最大值大于***孔70的深度SD。

因此，当对置壁142下降、照射部件176被***到***孔70时，顶端的照射部176A与***孔70的底部70B接触。由此，照射部件176和限制板178恒定保持与对置壁142之间的位置关系而下降，直到照射部176A与底部70B接触为止。

在该状态下，即使对置壁142想要进一步朝向下方移动，由于在限制板178与对置板182之间存在间隙，因此也会缩小该间隙(压缩弹簧184的同时)，对置壁142朝向下方移动，但照射部件176不会朝向下方移动(参照图16)。

在本实施方式中，推压部件124的针对分析工具42的推压方向(对置壁142接近分析工具42的方向)与照射部件176的朝向分析工具42的接近方向是相同方向。推压部件124的移动轨迹与照射部件的移动轨迹部分重叠，因此与这些移动轨迹不重叠而分离的结构相比，能够以节省空间的方式配置这些部件。

在导入部120中，在被设置在预定位置的分析工具42的***孔70的下方位置设置有吸光度传感器186。从照射部件176朝向在毛细管68内电泳的试样照射光，基于透过了试样的透射光，通过测定部件126来进行测定。例如，吸光度传感器186基于该透射光来检测吸光度。另外，例如，测定部件例如具备光电二极管、光电IC(集成电路，Integrated Circuit)等。

如图10所示，在对置壁142作为倾斜检测部的一个例子还安装有多个倾斜检测杆188。倾斜检测部是检测被导入到导入部120的分析工具42的、即相对于水平方向的倾斜(具体而言，是否倾斜)的部件。能够在如图12所示在宽度方向倾斜的情况和如图13所示在深度方向倾斜的情况两者中进行该倾斜的检测。倾斜检测杆188的每一个被保持为相对于对置壁142而言上下可移动。

倾斜检测杆188的下端的位置为如图5和图7所示那样被导入到导入部120的分析工具42未倾斜的状态下不与分析工具42接触的位置。但是，如图12和图13所示，分析工具42被设定在预定的位置以使得其倾斜时与倾斜检测杆188的下端接触。并且，在倾斜检测杆188与分析工具42接触的状态下对置壁142进一步下降时，倾斜检测杆188相对于对置壁142而言相对地向上移动。控制装置146在检测出倾斜检测杆188的这样的上方移动时，判断为分析工具42倾斜，能够进行预定的处理。

如图5～8所示，分析工具42的多个侧面孔64的每一个对应的供电探针194突出至导入部120。供电探针194通过由控制装置146控制的未图示的马达的驱动力相对于分析工具42的一侧面46A前进或后退。

供电探针194是供电部件的一个例子。多个供电探针194的每一个相对于分析工具42的一侧面46A前进，被***到所对应的侧面孔64，并与电极62接触。

供电探针194位于在导入部120中被保持在预定位置的分析工具42的侧方，在侧方以外并不存在。因此，实现能够在避开了供电探针194的位置配置各种部件的结构。例如，推压部件124被配置在分析工具42的上方，推压部件124与供电探针194之间的干扰被抑制。另外，设置部122被配置在分析工具42的下方，供电探针194与设置部122之间的干扰也被抑制。此外，作为供电部件，只要能够向电极62供电，形状就不特别限制。

接着，针对本实施方式的分析装置102的作用以及分析工具42的试样的成分的分析方法进行说明。

首先，在分析工具42的流路48的一部分中填充试样(在本实施方式中为血液)。

从分析装置102的触控面板进行预定的输入操作，由此如图1中的双点划线所示，开闭盖114朝向跟前侧移动，托盘118露出。

在该托盘118放置含有试样的分析工具42的状态下，推压托盘118和开闭盖114(或者从分析装置102的未图示的触控面板进行预定的操作)，使托盘118朝向里侧移动。由此，如图5所示，分析工具42被导入到导入部120。并且，分析工具42被设置在设置部122的台座部122B。

分析装置102具有倾斜检测部。因此，在该状态下，分析装置102通过该倾斜检测部来进行分析工具42的倾斜检测。具体而言，控制装置146驱动升降马达148，将推压部件124的对置壁142下降到预定位置。

这时，如图12或者图13所示，当分析工具42倾斜时，多个倾斜检测杆188的一部分与分析工具42接触。在该情况下，控制装置146停止升降马达148的驱动，并进行与分析工具42的倾斜对应的预定的处理。这里所称的“预定的处理”例如包括临时停止试样的成分分析，并且将分析工具42的倾斜通知给作业者等的处理。

由于设置多个倾斜检测杆188，因此能够抑制倾斜检测的精度由于分析工具42的倾斜方向、倾斜量(倾斜角度)而下降的情况。

此外，检测分析工具42的倾斜的倾斜检测部的结构不限于上述。例如，也可以是从多个位置朝向分析工具42照射光而检测倾斜的结构。

在分析工具42未倾斜(包含倾斜处于允许范围内的情况)的情况下，控制装置146进行针对分析工具42的定位(执行定位方向)。此外，在该状态下，如图6所示，分析工具42的切入72与定位销140A不接触，凹部71与定位销140B也不接触。

控制装置146驱动未图示的推入马达，并通过推入杆134来推入分析工具42的一侧面46A。由此，如图7和图8所示，分析工具42的基片44与定位销140A、140B接触，因此分析工具42被定位在预定位置。

尤其，在本实施方式中，定位销140A的高度是到达基片44的下板44B但达不到上板44A的高度。并且，基片44的下板44B与定位销140A、140B接触，由此分析工具42被定位。在基片44的下板44B形成有毛细管68，因此实质上能够准确地定位该毛细管68。

在基片44形成有切入72。分析工具42接近定位销140A，倾斜面72A和倾斜面72B中的任何一者与定位销140A接触，并且在分析工具42被推入时，分析工具42还朝向深度方向(箭头D方向)移动。并且，如图8所示，分析工具42被定位在倾斜面72A和倾斜面72B两者与定位销140A接触的位置。即，分析工具42不仅在宽度方向(箭头W方向)被定位，还在深度方向(箭头D方向：朝向导入部120的导入方向)被定位。

在该状态下，定位销140A嵌合到切入72，定位销140B嵌合到切入73，因此能够抑制分析工具42在被定位的状态下朝向深度方向的错位。

接着，控制装置146驱动升降马达148，并使对置壁142下降。由此，如图14所示，照射部件176也下降，并接近分析工具42。分析工具42已经被定位到预定位置，***孔70也被定位，因此照射部件176被***到***孔70而不会接触到分析工具42的上表面42T。

并且，如图15所示，照射部件176的下端的照射部176A与***孔70的底部70B接触。在该状态下，如图16所示，即使升降马达148进一步被驱动，照射部件176和限制板178也不会下降，因此能够抑制照射部件176的照射部176A被强力推压到底部70B而受损的情况。

另外，通过对置壁142的下降，多个穿孔销164的每一个穿孔所对应的液体槽52的密封膜54。并且，紧贴片材162紧贴到分析工具42的上表面42T。

在该状态下，如图11所示，在多个液体槽52的每一个中，在穿孔销164的穿孔位置的周围，在与分析工具42之间形成密闭空间168。紧贴片材162在面接触的状态下紧贴于分析工具42的上表面42T，因此与例如紧贴部件以线状接触的结构相比，能够将密闭空间168更可靠地维持为密闭状态。

另外，在该状态下，分析工具42在设置分析工具42的设置部122与推压部件124之间以上下方向夹住，因此盒46与基片44被嵌合。并且，如图17所示，凸部50分别穿孔所对应的底面膜58，因此液体能够从具有被穿孔的底面膜58的液体槽52朝向下方流出。但是，盒46与基片44在上下方向紧贴，因此能够抑制液体从底面膜58被穿孔的液体槽52朝向盒46与基片44之间的间隙漏出。

分析工具42被推压部件124推压，并保持在设置部122与推压部件124之间，因此分析工具42的错位被抑制。在本实施方式中，通过定位部件来定位分析工具42，因此通过推压部件124推压分析工具42，能够维持定位分析工具42的状态。

另外，即使在盒46与基片44之间的嵌合中需要较大力的结构中，也通过设置部122和推压部件124来夹住分析工具42而推压，因此能够可靠地使盒46与基片44嵌合。并且，能够维持实现了将照射部件176***到***孔70的状态的状态，同时通过推压部件124来推压分析工具42。

这里，控制装置146驱动泵172(参照图11)，在预定时刻进行对于特定的液体槽52的气体的供应和吸引。在穿孔销164的穿孔位置，在穿孔销164与密封膜54之间产生间隙GP，因此在密闭空间168与所对应的液体槽52之间能够进行通过该间隙GP的空气的移动。

作为一个例子，首先，如图17所示，进行向一个液体槽52(在图17中，左侧的液体槽52)的空气的导入(加压)等。由此，试样在液体LA中被稀释搅拌，并通过特定的流路48而输送到其他液体槽52。

另外，如图18所示，进行向与上述不同的液体槽(在图18中右侧的液体槽52)的空气的导入(加压)等。由此，相应的液体槽52的液体LA被填充到与该液体槽52相连的流路48。并且，如图19所示，通过毛细管现象，液体被填充到毛细管68。

如此，穿孔密封膜54的穿孔销164和向密闭空间168导入气体(流体)的气体导入管170是彼此不同的部件。并且，每个气体导入管170的下端的气体出入口170A位于所对应的密闭空间168的内部。因此，能够抑制液体槽52的液体渗入到气体导入管170的内部。例如，能够抑制在前一次试样的分析时稀释试样残留在气体导入管170的内部，还能够抑制该残留的稀释试样与下一次分析时的稀释试样混合的事态。

另外，在本实施方式中，相对于穿孔销164的穿孔部位，气体出入口170A位于沿着密封膜54的膜面从穿孔部位偏离的位置。因此，液体槽52的液体即使通过穿孔销164与密封膜54之间的间隙而到达密闭空间168，也能够抑制该液体流入到气体出入口170A。

并且，例如即使在由于穿孔销164对密封膜54的穿孔而构成密封膜54的部件的一部分变成碎片的情况下，由于气体出入口170A远离穿孔部位，因此也能够抑制该碎片混入到气体出入口170A。

接着，控制装置146驱动未图示的推入马达，如图20和图21所示，使供电探针194接近分析工具42的一侧面46A。供电探针194分别***到所对应的侧面孔64，并接触到电极62。在该阶段，分析工具42在深度方向被定位。即，在与供电探针194接近分析工具42的方向交叉(在图21的例子中，正交)的方向上定位分析工具42，因此供电探针194的顶端不会抵接到分析工具42的一侧面46A而可靠地***到侧面孔64。

在该状态下，如图22所示，控制装置146从供电探针194朝向电极62之间施加预定的电压。由此，试样的成分在毛细管68中电泳。另外，这时，控制装置146从照射部件176的照射部176A照射光。并且，通过吸光度传感器186来检测被电泳的稀释试样的吸光度，并测定试样的成分。

这时，照射部件176的照射部176A与***孔70的底部70B接触。即，照射部176A是如下状态：位于与毛细管68之间的距离较近的位置，并且该距离维持为恒定。因此，能够稳定地向在毛细管68内电泳的试样照射光。

另外，由于在推压部件124的对置壁142与设置部122之间夹住分析工具42且保持在预定位置，因此分析工具42的位置会稳定。在分析工具42的基片44形成有毛细管68，因此毛细管68的位置也会稳定。因此，能够更准确地进行试样的成分分析。

在试样的成分分析结束之后，控制装置146使供电探针194退让而从侧面孔64拔出，同时使对置壁142上升，解除分析装置102的推压，并且从***孔70拔出照射部件176。并且，使推入杆134退让，并远离分析装置102。

然后，将开闭盖114和托盘118移动到跟前侧，并能够取出分析工具42。分析结束之后的分析工具42能够废弃。

在本实施方式中，分析工具42中容纳作为测定对象的试样以及测定所需的液体(稀释液LA和泳动液LB)而包装。在分析装置102中，无需预先设置测定所需的液体，并且也不需要临时储存这些液体的储存部以及将这些液体输送到测定部位的泵等。因此，作为分析装置102，能够实现结构的简单化、小型化。

在上述中，作为接触部件的一个例子，列举出棒状的定位销140A、140B，但作为接触部件，不限于这样的棒状的销，例如可以是板状的部件。当作为接触部件而使用棒状的销时，与板状的部件相比，即使在更狭窄的空间中也能够配置接触部件。通过设置多个棒状的销，与仅设置一个棒状的销的构成相比，能够抑制与销接触的分析工具42的旋转，并能够稳定地定位。

[第二～第五实施方式、参考例]

接着，针对第二～第五实施方式以及参考例进行说明。在以下的各实施方式以及参考例中，分析装置的整体构成与第一实施方式相同，因此省略详细的说明。另外，针对与第一实施方式相同的要素、部件等，标注相同的符号，并省略详细的说明。

在图23所示的第二实施方式的分析装置202中，气体导入管170的下端部分与空间凹部166的上表面106相比朝向下方突出，构成突出部170B。气体导入管170的下端部分也是包含气体出入口170A的顶端部分。

在第二实施方式中，如此气体导入管170的下端部分突出。因此，即使流入到密闭空间168内的液体沿着上表面106朝向气体导入管170移动，也能够通过气体导入管170的管自身阻挡液体，来抑制该液体流入到气体出入口170A。

在图24所示的第三实施方式的分析装置302中，形成有从空间凹部166的上表面106向下方延伸的壁部件196。壁部件196位于穿孔销164与气体导入管170之间的位置。另外，壁部件196的下端的位置是不与密封膜54接触且在与密封膜54之间产生间隙的位置。

在第三实施方式中，由于具有这样的壁部件196，因此即使流入到密闭空间168内的液体沿着上表面106朝向气体导入管170移动，也能够通过壁部件196来阻挡液体。由此，能够抑制该液体流入到气体出入口170A。作为壁部件196，只要这样位于穿孔部件(作为一个例子的穿孔销164)与气体导入部件(作为一个例子的气体导入管170)之间的位置，形状就不受限制。即，不依赖于壁部件的形状，在密闭空间168内能够阻挡液体沿着上表面106朝向气体导入管170移动。

图25所示的第四实施方式的分析装置402是兼具第二实施方式的结构(在气体导入管170的下端部分形成有突出部170B)和第三实施方式的结构(形成有壁部件196)的结构。因此，在第四实施方式中，能够更可靠地抑制流入到密闭空间168内的液体流入到气体出入口170A。

图26中部分示出参考例的分析装置502。在图26所示的结构中，气体导入管170兼用作穿孔销164，在气体导入管170的顶端能够穿孔密封膜54。另外，在气体导入管170的侧面形成有气体出入口170A，以使其位于密封膜54的上侧、即位于密闭空间168的内部。

即使在参考例的结构中，气体出入口170A也不位于液体槽52，因此能够抑制液体槽52的液体流入到气体出入口170A。

在上述的第一实施方式～第四实施方式以及参考例中，具有作为照明部件176的顶端部分的照射部176A与***孔70的底部70B接触，并且照明部件176朝向分析工具42的接近(下降)受限制的结构。与此相对，还可以具有限制照明部件176朝向分析工具42的接近的结构。

从上述的观点出发，图27～图29中部分示出还具有限制照明部件176朝向分析工具42的接近的结构的第五实施方式的分析装置502。

在第五实施方式的分析装置502中，在限制板178设置有比对置壁142更向侧方挤出的挤出部178D。挤出部178D例如可以通过整体上大型(宽度宽)地形成限制壁178来构成，也可以将限制板178以部分呈棒状突出的方式形成。

在分析装置502的框体104(参照作为第一实施方式示出的图1)内设置有限制壁504。如图28所示，限制壁504设置于预定位置，以使得在限制板178与对置壁142一同下降并位于预定高度位置的状态下，挤出部178D接触到限制壁504。在该状态下，照明部件176的照射部176A从***孔70的底部70B位于预定位置，挤出部178D接触到限制壁504，因此限制板178不会进一步下降。

在这样的结构的第五实施方式中，在照明部件176的照射部176A从***孔70的底部70B位于预定位置的状态下，能够物理地限制限制板178的下降。并且，在该状态下，能够从照射部176A朝向在毛细管68内电泳的试样照射光。

第五实施方式的结构例如为在因分析工具42的个体差异而底部70B的高度位置不同的情况下能够有效采用的结构。

在第五实施方式中，照射部176A可以接触到底部70B，也可以不接触到底部70B。在照射部176A接触到底部70B的结构中，照射部176A相对于底部70B的位置会稳定。另外，能够将弹簧184的偏置力分散作用到分析工具42和限制壁504。与此相对，若照射部176A不接触到底部70B，则能够实现不会将弹簧184的偏置力作用到分析工具42的结构。

作为在照射部176A接触到底部70B的情况下的照明部件176的动作，限制板178与对置壁142一同下降，照射部176A与底部70B的接触和挤出部178D与限制壁504的接触大致同时。但是，实质上，能够采用首先照射部176A与底部70B接触，产生底部70B的位置处的分析工具42的微小变形(不会影响分析的程度)的同时，挤出部178D与限制壁504接触的动作顺序。与此相反，也可以是首先挤出部178D与限制壁504接触，限制壁504变形的同时，照射部176A与底部70B接触的动作。

作为在照射部176A不接触到底部70B的情况下的照明部件176的动作，在照射部176A与底部70B接触之前，挤出部178D与限制壁504接触。即，若在该阶段停止照明部件176的下降，则挤出部178D被限制壁504支承并限制进一步的下降，因此能够维持照射部176A不与底部70B接触的状态。

Claims (9)

1.一种分析装置，包括：

导入部，包含试样的分析工具被导入到所述导入部；

设置部，在所述导入部中所述分析工具被放置于所述设置部；

对置壁，设置在所述设置部的上方，从上表面到下表面设置有插通孔；

支柱，从所述对置壁朝向上方竖立设置；

对置板，形成在所述支柱的顶端；

限制板，由所述支柱引导并且能够在所述对置壁与所述对置板之间上下移动；

弹簧，设置在所述限制板与所述对置板之间，对所述限制板施加向下的力，以保持所述限制板与所述对置壁接触的状态；

照射部件，以从所述限制板向下方延伸的方式安装于所述限制板，并向所述试样照射光；

驱动机构，使所述对置壁向下方移动，以使得从所述对置壁突出的所述照射部件的顶端与形成于所述分析工具的***孔的底部接触；以及

测定部件，所述测定部件通过从所述照射部件向放置于所述设置部的所述分析工具的所述试样照射的光，来测定所述试样的成分，

所述照射部件被***到所述对置壁的所述插通孔并从所述对置壁向下方突出。

2.根据权利要求1所述的分析装置，其中，

在将所述照射部件***到所述***孔的状态下，通过所述对置壁推压所述分析工具。

3.根据权利要求1或2所述的分析装置，其中，

所述对置壁接近所述分析工具的方向与所述照射部件的朝向所述分析工具的接近方向是相同方向。

4.根据权利要求3所述的分析装置，其中，

所述照射部件具有突出部，所述突出部被保持为能够相对于所述对置壁进退，

所述限制板将所述突出部的朝向所述分析工具的突出量限制在一定范围内，

所述弹簧将所述突出部向从所述对置壁的突出方向偏置。

5.根据权利要求4所述的分析装置，其中，

所述突出部被***到所述分析工具的***孔，所述突出部的突出长度的最大值大于所述***孔的深度。

6.根据权利要求4所述的分析装置，其中，

所述突出部***通到所述插通孔。

7.根据权利要求6所述的分析装置，其中，

所述限制板在所述突出部从所述对置壁突出的一侧的相反侧被安装于所述突出部，并且比所述插通孔的孔径更宽，

所述对置壁和所述对置板是在所述突出部的进退方向的两侧与所述限制板对置的一对对置部件。

8.根据权利要求1或2所述的分析装置，还包括：

定位部件，所述定位部件将所述分析工具定位到所述设置部上的预定位置，

所述对置壁保持通过所述定位部件定位的所述分析工具。

9.根据权利要求1或2所述的分析装置，其中，

所述分析工具包括：

基片，具备所述试样在其中泳动的毛细管；以及

盒，具备液体槽且与所述基片重叠，

所述对置壁朝向所述基片与所述盒的重叠方向推压所述分析工具并将所述分析工具夹在所述对置壁与所述设置部之间，并且使所述基片和所述盒嵌合。

Images