CN109633302A - 阻抗测试结构 - Google Patents

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Abstract

本发明提出一种阻抗测试结构，包括：一第一基板，所述第一基板包括一第一电极与一第二电极，所述第一电极与所述第二电极彼此绝缘分离；及一第二基板，所述第二基板具有一电性器件，所述电性器件包括一第三电极与一第四电极，所述第三电极与所述第四电极彼此电连接；其中，所述第一电极通过一导电元件连接至所述第三电极，所述第二电极通过所述导电元件连接至所述第四电极。

Description

阻抗测试结构
技术领域
本发明涉及显示器的技术领域，特别涉及一种阻抗测试结构。
背景技术
在制作有机发光二极管(organic light emitting diode，OLED)或液晶显示器(liquid crystal display，LCD)的过程中，热压接合(thermocompression bonding)的工艺被广泛应用。热压接合是使OLED或LCD结构中的两个部件之间达成电气连接。具体实现方法是先将一种异方性导电胶膜((anisotropic conductive film，ACF)贴附于其中一个部件的电极上，然后通过定位设备使另一个部件的电极与所述其中一个部件的电极进行对位，再于一定的压力和热量的作用下使异方性导电胶膜(anisotropic conductive film，ACF)将此两个部件的电极彼此紧密接合以完成电连接。
如图1所示，为了检测热压接合效果是否正常/异常，现有技术一般是在软性电路板(flexible printed circuit，FPC)10上左右两侧各额外形成至少两个阻抗测试点L1、L2、R1、R2，其中一侧的两个测试点L1、L2所在的电路回路在显示面板20上是连接起来的，另一侧的两个测试点R1、R2所在的电路回路在显示面板20上是连接起来的。
虽然现有技术可以确实地检测接合效果，但是这样的结构设计需要在显示面板20和软性电路板10上各额外预留形成至少四个电极，以作为阻抗测试点而检测接合效果。在显示装置的尺寸为越来越小的趋势下，显示面板20和软性电路板10的尺寸也越来越小，显示面板20和软性电路板10均无足够空间可用于专门预留形成四个电极。
因此，有必要提供一种阻抗测试结构，以解决现有技术所存在的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种阻抗测试结构，以解决现有技术中显示面板和软性电路板无足够空间可用于额外预留形成电极以作为阻抗测试点的技术问题。
为解决上述技术问题，本发明提供一种阻抗测试结构，其特征在于，包括：
一第一基板，所述第一基板包括一第一电极与一第二电极，所述第一电极与所述第二电极彼此绝缘分离；及
一第二基板，所述第二基板具有一电性器件，所述电性器件包括一第三电极与一第四电极，所述第三电极与所述第四电极彼此电连接；
其中，所述第一电极通过一导电元件连接至所述第三电极，所述第二电极通过所述导电元件连接至所述第四电极。
根据本发明一优选实施例，所述第一基板更包括一第五电极与一第六电极，所述第五电极与所述第六电极彼此绝缘分离；及所述电性器件更包括一第七电极与一第八电极，所述第七电极与所述第八电极彼此电连接；其中，所述第五电极通过所述导电元件连接至所述第七电极，所述第六电极通过所述导电元件连接至所述第八电极。
根据本发明一优选实施例，所述第一电极与所述第二电极设置在所述第一基板的一侧，所述第三电极与所述第四电极设置在所述电性器件的一侧，所述第一基板的所述侧与所述电性器件的所述侧相对应；及所述第五电极与所述第六电极设置在所述第一基板的另一侧，所述第七电极与所述第八电极设置在所述电性器件的另一侧，所述第一基板的所述另一侧与所述电性器件的所述另一侧相对应。
根据本发明一优选实施例，所述导电元件是一异方性导电胶膜。
根据本发明一优选实施例，所述第一基板是一软性电路板，所述第二基板是一显示面板，及所述电性器件是一驱动晶片；所述驱动晶片用于驱动所述显示面板。
本发明还提供一种阻抗测试结构，其特征在于，包括：
一第一基板，所述第一基板包括一第一电极与一第二电极，所述第一电极与所述第二电极彼此绝缘分离；及
一第二基板，所述第二基板具有一电性器件，所述电性器件包括一第三电极与一第四电极，所述第三电极与所述第四电极彼此电连接；
其中，所述第一电极通过一导电元件连接至所述第三电极，所述第二电极通过所述导电元件连接至所述第四电极；
其中，所述导电元件是一异方性导电胶膜。
根据本发明一优选实施例，所述第一基板更包括一第五电极与一第六电极，所述第五电极与所述第六电极彼此绝缘分离；及所述电性器件更包括一第七电极与一第八电极，所述第七电极与所述第八电极彼此电连接；其中，所述第五电极通过所述导电元件连接至所述第七电极，所述第六电极通过所述导电元件连接至所述第八电极。
根据本发明一优选实施例，所述第一电极与所述第二电极设置在所述第一基板的一侧，所述第三电极与所述第四电极设置在所述电性器件的一侧，所述第一基板的所述侧与所述电性器件的所述侧相对应；及所述第五电极与所述第六电极设置在所述第一基板的另一侧，所述第七电极与所述第八电极设置在所述电性器件的另一侧，所述第一基板的所述另一侧与所述电性器件的所述另一侧相对应。
根据本发明一优选实施例，所述第一基板是一软性电路板，所述第二基板是一显示面板，及所述电性器件是一驱动晶片；所述驱动晶片用于驱动所述显示面板。
相较于现有技术，本发明利用第一基板与电性器件上的原本存在的电极作为阻抗测试点，而无需在第一基板与所述第二基板上额外预留形成电极以作为阻抗测试点，即可检测第一基板的电极与第二基板的电极是否分别通过热压接合而导通，从而使得第一基板与第二基板的尺寸可进一步被缩小。
附图说明
图1为根据现有技术的阻抗测试结构的平面示意图。
图2为根据本发明实施例的阻抗测试结构的平面示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
请参照图2，图2为根据本发明实施例的阻抗测试结构的平面示意图。
如图2所示，本发明的实施例的阻抗测试结构包括一第一基板10与一第二基板20。第二基板20具有一显示区域21。所述第一基板10包括一第一电极e1与一第二电极e2，所述第一电极e1与所述第二电极e2彼此绝缘分离(即连接至所述第一电极e1的导线41与连接至所述第二电极e2的导线42彼此绝缘分离)。所述第二基板20具有一电性器件30，所述电性器件30包括一第三电极e3与一第四电极e4，所述第三电极e3与所述第四电极e4彼此电连接(例如通过导线43而彼此电连接)。其中，所述第一电极e1通过一导电元件(例如异方性导电胶膜，未示出)连接至所述第三电极e3，所述第二电极e2通过所述导电元件连接至所述第四电极e4。
经由本实施例上述所揭结构，已可以利用检测设备来进行阻抗测试，以检测第一基板与第二基板之间的热压接合效果。但，在一优选实施例中，所述第一基板10更包括一第五电极e5与一第六电极e6，所述第五电极e5与所述第六电极e6彼此绝缘分离(即连接至所述第五电极e5的导线44与连接至所述第六电极e6的导线45彼此绝缘分离)；及所述电性器件30更包括一第七电极e7与一第八电极e8，所述第七电极e7与所述第八电极e8彼此电连接(例如通过所述电性器件30上的导线46而彼此电连接)；其中，所述第五电极e5通过所述导电元件连接至所述第七电极e7，所述第六电极e6通过所述导电元件连接至所述第八电极e8。
为了确实检测第一基板10的全部电极与第二基板20的全部电极是否均通过热压接合而彼此电连接，所述第一电极e1与所述第二电极e2设置在所述第一基板10的一侧，所述第三电极e3与所述第四电极e4设置在所述电性器件30的一侧，所述第一基板10的所述侧与所述电性器件30的所述侧相对应。又，所述第五电极e5与所述第六电极e6设置在所述第一基板10的另一侧，所述第七电极e7与所述第八电极e8设置在所述电性器件30的另一侧，所述第一基板10的所述另一侧与所述电性器件30的所述另一侧相对应。
需说明的是，所述第一电极e1、第二电极e2、所述第三电极e3、所述第四电极e4、所述第五电极e5、所述第六电极e6、所述第七电极e7、所述第八电极e8均是所述第一基板10与所述电性器件30上所原本存在的电极，而非为了进行阻抗测试而额外预留形成的电极。
在没有导电的情况下，所述第一电极e1、第二电极e2、所述第三电极e3、所述第四电极e4、所述第五电极e5、所述第六电极e6、所述第七电极e7、所述第八电极e8可用于作为阻抗测试点。在导电的情况下，所述第一电极e1、第二电极e2、所述第三电极e3、所述第四电极e4、所述第五电极e5、所述第六电极e6、所述第七电极e7、所述第八电极e8可在其电路回路实现原有的电气作用。因此，原本存在的电极可实现两种功能，藉此减少所述第一基板10与所述第二基板20上的电极数量，从而使得所述第一基板10与所述第二基板20的尺寸可进一步被缩小。另外，本发明不需要为了进行阻抗测试而额外预留形成电极，所述第一基板10与所述第二基板20上的电极数量可被减少，这样的电极数量的减少在一定程度上可以降低所述第一基板10与所述第二基板20之间接合偏位的概率，从而提高接合良率。
以(organic light emitting diode，OLED)或液晶显示器(liquid crystaldisplay，LCD)作为示例，所述第一基板10可以是一软性电路板，所述第二基板20可以是一显示面板，及所述电性器件30可以是一驱动晶片；所述驱动晶片用于驱动所述显示面板。然而，本发明的第一基板、第二基板及电性器件不限于具有该等功能的特定结构；只要第一基板与第二基板的结构足以实现对第一基板与第二基板之间的接合进行阻抗测试，所述第一基板与第二基板的结构即落入本发明所欲保护的范围内。
相较于现有技术，本发明利用第一基板10与电性器件30上的原本存在的电极作为阻抗测试点，而无需在第一基板10与第二基板20上额外预留形成电极以作为阻抗测试点，即可检测第一基板的电极与第二基板的电极是否分别通过热压接合而导通，从而使得第一基板10与第二基板20的尺寸可进一步被缩小。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (9)

1.一种阻抗测试结构，其特征在于，包括：
一第一基板，所述第一基板包括一第一电极与一第二电极，所述第一电极与所述第二电极彼此绝缘分离；及
一第二基板，所述第二基板具有一电性器件，所述电性器件包括一第三电极与一第四电极，所述第三电极与所述第四电极彼此电连接；
其中，所述第一电极通过一导电元件连接至所述第三电极，所述第二电极通过所述导电元件连接至所述第四电极。
2.根据权利要求1所述的阻抗测试结构，其特征在于，
所述第一基板更包括一第五电极与一第六电极，所述第五电极与所述第六电极彼此绝缘分离；及
所述电性器件更包括一第七电极与一第八电极，所述第七电极与所述第八电极彼此电连接；
其中，所述第五电极通过所述导电元件连接至所述第七电极，所述第六电极通过所述导电元件连接至所述第八电极。
3.根据权利要求2所述的阻抗测试结构，其特征在于，
所述第一电极与所述第二电极设置在所述第一基板的一侧，所述第三电极与所述第四电极设置在所述电性器件的一侧，所述第一基板的所述侧与所述电性器件的所述侧相对应；及
所述第五电极与所述第六电极设置在所述第一基板的另一侧，所述第七电极与所述第八电极设置在所述电性器件的另一侧，所述第一基板的所述另一侧与所述电性器件的所述另一侧相对应。
4.根据权利要求2所述的阻抗测试结构，其特征在于，所述导电元件是一异方性导电胶膜。
5.根据权利要求4所述的阻抗测试结构，其特征在于，所述第一基板是一软性电路板，所述第二基板是一显示面板，及所述电性器件是一驱动晶片；所述驱动晶片用于驱动所述显示面板。
6.一种阻抗测试结构，其特征在于，包括：
一第一基板，所述第一基板包括一第一电极与一第二电极，所述第一电极与所述第二电极彼此绝缘分离；及
一第二基板，所述第二基板具有一电性器件，所述电性器件包括一第三电极与一第四电极，所述第三电极与所述第四电极彼此电连接；
其中，所述第一电极通过一导电元件连接至所述第三电极，所述第二电极通过所述导电元件连接至所述第四电极；
其中，所述导电元件是一异方性导电胶膜。
7.根据权利要求6所述的阻抗测试结构，其特征在于，
所述第一基板更包括一第五电极与一第六电极，所述第五电极与所述第六电极彼此绝缘分离；及
所述电性器件更包括一第七电极与一第八电极，所述第七电极与所述第八电极彼此电连接；
其中，所述第五电极通过所述导电元件连接至所述第七电极，所述第六电极通过所述导电元件连接至所述第八电极。
8.根据权利要求7所述的阻抗测试结构，其特征在于，
所述第一电极与所述第二电极设置在所述第一基板的一侧，所述第三电极与所述第四电极设置在所述电性器件的一侧，所述第一基板的所述侧与所述电性器件的所述侧相对应；及
所述第五电极与所述第六电极设置在所述第一基板的另一侧，所述第七电极与所述第八电极设置在所述电性器件的另一侧，所述第一基板的所述另一侧与所述电性器件的所述另一侧相对应。
9.根据权利要求6所述的阻抗测试结构，其特征在于，所述第一基板是一软性电路板，所述第二基板是一显示面板，及所述电性器件是一驱动晶片；所述驱动晶片用于驱动所述显示面板。
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