CN205943417U - 一种基于amoled技术触控显示面板测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种基于AMOLED技术触控显示面板测试装置,包括数据线输出单元、第一测试单元和第二测试单元,所述数据线输出单元主要由第一数据线输出模块和第二数据线输出模块组成,且第一数据线输出模块和第二数据线输出模块均设有第一输出端、第二输出端、第三输出端、第四输出端、第五输出端和第六输出端,所述第二测试单元主要由第一信号输入线、第二信号输入线和第三信号输入线组成,所述第一测试单元上设有测试单元第一模块和测试单元第二模块。该基于AMOLED技术触控显示面板测试装置,通过将第二测试单元与第一测试单元以及数据线输出单元集成在一起,避免了由于当前技术中测试电路不集成,进而增加了检出率,节省了成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试装置技术领域,具体为一种基于AMOLED技术触控显示面板测试装置。
背景技术
AMOLED(Active-matrixorganiclightemittingdiode,有源矩阵有机发光二极体,简称AMOLED)是目前普遍采用的显示发光设备,随着技术的发展,AMOLED技术逐步走向成熟,同时衍生出很多不同的版本,比如AMOLED、SuperAMOLED、SuperAMOLEDPlus以及SuperAMOLEDAdvanced等等。随着AMOLED技术的成熟,AMOLED的成本逐步增加,测试,生产过程中的高效率测试变得尤为重要,及时测试问题及时解决,不仅提高产品的良率,同时节省了时间,提高了效率。而目前的AMOLED中,面板显示测试电路和阵列基板测试电路是分开的:阵列基板测试电路是测量在镀OLED前基板的性能,面板显示测试电路是测量切割成小显示测试电路后的性能。阵列基板测试电路是测量每一根数据线(data)的情况,而面板显示测试电路是测量相同信号(如单色的红或者绿),采用shortingbar(图形产生器)的方式。而随着PPI(PixelsPerInch,像素数)越来越高,而且采用rendering的方式,一根数据线上有不同的颜色(如红色和绿色),那么数据线(dataline)的信号就是AC(AlternatingCurrent,连续交流信号)信号,这样面板显示测试电路的负载就不能太大,否则面板显示测试电路就驱动不了,而目前面板显示测试电路要绕到显示面板的尾端,所以走线阻抗很大,面对该问题,如何高效准确测试AMOLED显示面板成为本领域人员面临的一大难题。
实用新型内容
针对以上问题,本实用新型提供了一种基于AMOLED技术触控显示面板测试装置,避免了由于当前技术中测试电路不集成,进而增加了检出率,节省了成本,可以有效解决背景技术中的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种基于AMOLED技术触控显示面板测试装置,包括数据线输出单元、第一测试单元和第二测试单元,所述数据线输出单元主要由第一数据线输出模块和第二数据线输出模块组成,且第一数据线输出模块和第二数据线输出模块均设有第一输出端、第二输出端、第三输出端、第四输出端、第五输出端和第六输出端,所述第二测试单元主要由第一信号输入线、第二信号输入线和第三信号输入线组成,所述第一测试单元上设有测试单元第一模块和测试单元第二模块,且测试单元第一模块和测试单元第二模块的内部均设置有第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管和第四晶体管。
作为本实用新型一种优选的技术方案,所述第一测试单元和第二测试单元均与数据线输出单元耦合连接在一起。
作为本实用新型一种优选的技术方案,所述第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管并接在一起,且第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管均与第四晶体管串联在一起。
作为本实用新型一种优选的技术方案,所述第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管和第四晶体管均采用MOSFET管。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该基于AMOLED技术触控显示面板测试装置,通过将第二测试单元与第一测试单元以及数据线输出单元集成在一起,并通过晶体管开关的打开和关闭分别实现面板第一测试单元和第二测试单元的测试,从而避免了由于当前技术中测试电路不集成,其中一个测试电路要绕到面板的尾端而导致的走线阻抗很大的问题,进而增加了检出率,节省了成本。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
图中:1-数据线输出单元;2-第一测试单元;3-第二测试单元;4-第二数据线输出模块;5-第一数据线输出模块;6-第一输出端;7-第二输出端;8-第三输出端;9-第四输出端;10-第五输出端;11-第六输出端;12-第一信号输入线;13-第二信号输入线;14-第三信号输入线;15-测试单元第一模块;16-测试单元第二模块;17-第一晶体管;18-第二晶体管;19-第三晶体管;20-第四晶体管。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
实施例:
请参阅图1,本实用新型提供一种技术方案:一种基于AMOLED技术触控显示面板测试装置,包括数据线输出单元1、第一测试单元2和第二测试单元3,所述数据线输出单元1主要由第一数据线输出模块5和第二数据线输出模块4组成,且第一数据线输出模块5和第二数据线输出模块4均设有第一输出端6、第二输出端7、第三输出端8、第四输出端9、第五输出端10和第六输出端11,所述第二测试单元3主要由第一信号输入线12、第二信号输入线13和第三信号输入线14组成,所述第一测试单元2上设有测试单元第一模块15和测试单元第二模块16,且测试单元第一模块15和测试单元第二模块16的内部均设置有第一晶体管17、第二晶体管18、第三晶体管19和第四晶体管20。
本实用新型的工作原理:限制第一数据线输出模块5的第一输出端6单独输出信号,由于当前是针对第一测试单元2的测试,此时,继续关闭第二测试单元3内所有的晶体管,打开测试单元第二模块16的第四晶体管20,关闭其他晶体管,则测试单元第二模块16的第四晶体管20控制的支路的第一晶体管17、第二晶体管18和第三晶体管19控制的支路关闭;此时只有第一数据线输出模块5中的数据线输出数据,由于只需要得到第一输出端6的输出信号,则仅打开第一数据线输出模块5中的第一个数据线上连接的晶体管,此时,既完成使第一数据线输出模块5的第一输出端6单独输出信号;同样,若使第二数据线输出模块4中的第二输出端7单独输出信号,则打开测试单元第二模块15的第四晶体管20和第二数据线输出模块4的第二输出端7,关闭第一测试单元2中的其他晶体管,即完成限定,使第二数据线测试模块4中第二输出端7单独输出信号。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种基于AMOLED技术触控显示面板测试装置,包括数据线输出单元(1)、第一测试单元(2)和第二测试单元(3),其特征在于:所述数据线输出单元(1)主要由第一数据线输出模块(5)和第二数据线输出模块(4)组成,且第一数据线输出模块(5)和第二数据线输出模块(4)均设有第一输出端(6)、第二输出端(7)、第三输出端(8)、第四输出端(9)、第五输出端(10)和第六输出端(11),所述第二测试单元(3)主要由第一信号输入线(12)、第二信号输入线(13)和第三信号输入线(14)组成,所述第一测试单元(2)上设有测试单元第一模块(15)和测试单元第二模块(16),且测试单元第一模块(15)和测试单元第二模块(16)的内部均设置有第一晶体管(17)、第二晶体管(18)、第三晶体管(19)和第四晶体管(20)。
2.根据权利要求1所述的一种基于AMOLED技术触控显示面板测试装置,其特征在于:所述第一测试单元(2)和第二测试单元(3)均与数据线输出单元(1)耦合连接在一起。
3.根据权利要求1所述的一种基于AMOLED技术触控显示面板测试装置,其特征在于:所述第一晶体管(17)、第二晶体管(18)和第三晶体管(19)并接在一起,且第一晶体管(17)、第二晶体管(18)和第三晶体管(19)均与第四晶体管(20)串联在一起。
4.根据权利要求1所述的一种基于AMOLED技术触控显示面板测试装置,其特征在于:所述第一晶体管(17)、第二晶体管(18)、第三晶体管(19)和第四晶体管(20)均采用MOSFET管。
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WO2019019430A1 (zh) * | 2017-07-24 | 2019-01-31 | 武汉华星光电技术有限公司 | 阵列基板测试电路 |
CN109584760A (zh) * | 2017-09-29 | 2019-04-05 | 上海和辉光电有限公司 | Amoled面板测试电路及测试方法 |
WO2019223623A1 (zh) * | 2018-05-24 | 2019-11-28 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板、显示面板和显示装置 |
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