CN109377943A - 一种像素单元的补偿方法及显示装置 - Google Patents

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曹春
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Abstract

本申请公开了一种像素单元的补偿方法及显示装置，用以在显示过程中对像素电路进行老化补偿，避免显示过程中出现的亮度衰减。本申请实施例提供的一种像素单元的补偿方法，所述像素单元包括发光二极管以及驱动所述发光二极管发光的驱动晶体管，所述补偿方法包括：数据写入阶段，对所述驱动晶体管的栅极输入数据信号；复位阶段，对所述发光二极管的阳极进行复位；电压采集阶段，驱动所述发光二极管发光，并采集所述发光二极管阳极的电压。

Description

一种像素单元的补偿方法及显示装置
技术领域
本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种像素单元的补偿方法及显示装置。
背景技术
有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)等电致发光二极管具有自发光、低能耗等优点，是当今电致发光显示面板应用研究领域的热点之一。OLED显示产品，通过控制流经OLED电流大小，来控制其发光显示。因其显示结构中薄膜晶体管(TFT)以及OLED自身易老化的特性，长时间的显示过程中OLED器件的材料特性逐渐变差，导致像素的亮度不断衰减。并且由于不同颜色的子像素采用不同的OLED发光材料，因此不同颜色的子像素的亮度的衰减速度也会不一致，从而导致有机发光显示器的白平衡出现漂移。现有技术采用在OLED产品出厂前进行老化处理的方式，但该方式会降低OLED器件的寿命，并且会增加生产时间，影响产线的生产效率。
有鉴于此，如何在显示过程中进行OLED老化补偿，避免显示过程中会出现亮度衰减，是本领域技术人员亟需解决的问题。
发明内容
本申请实施例提供了一种像素单元的补偿方法及显示装置，用以在显示过程中对像素电路进行老化补偿，避免显示过程中出现的亮度衰减。
本申请实施例提供的一种像素单元的补偿方法，所述像素单元包括发光二极管以及驱动所述发光二极管发光的驱动晶体管，所述补偿方法包括：
数据写入阶段，对所述驱动晶体管的栅极输入数据信号；
复位阶段，对所述发光二极管的阳极进行复位；
电压采集阶段，驱动所述发光二极管发光，并采集所述发光二极管阳极的电压。
本申请实施例提供的像素单元的补偿方法，可以在显示过程中对发光二极管的阳极的电压进行采集，这样，后续可以根据采集到的发光二极管的阳极电压，可以确定发光二极管的老化程度，从而可以在显示过程中利用采集到的发光二极管阳极的电压对发光二极管进行老化补偿，避免显示过程中出现的亮度衰减，提高产品显示效果，提升用户体验。
可选地，在电压采集阶段之后，该方法还包括：
电压补偿阶段，根据所述电压采集阶段采集的所述发光二极管阳极的电压对所述像素单元的所述发光二极管阳极的电压进行补偿。
可选地，所述像素单元还包括第一开关晶体管，所述第一开关晶体管的栅极与第一扫描信号端连接，所述第一开关晶体管的第一极与数据信号端连接，所述第一开关晶体管的第二极与所述驱动晶体管的栅极连接；
所述对所述驱动晶体管的栅极输入数据信号，具体包括：
对所述第一扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第一开关晶体管打开，并对所述数据信号端加载所述数据信号，使所述驱动晶体管的栅极输入数据信号。
可选地，所述像素单元还包括：第二开关晶体管，所述第二开关晶体管的栅极与第二扫描信号端连接，所述第二开关晶体管的第一极与所述发光二极管的阳极连接，所述第二开关晶体管的第二级与检测信号线连接；
所述对所述发光二极管的阳极进行复位，具体包括：
对所述第二扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管打开，对所述检测信号线加载复位信号，使所述发光二极管的阳极输入复位信号。
可选地，所述像素单元还包括第一开关晶体管，所述第一开关晶体管的栅极与第一扫描信号端连接，所述第一开关晶体管的第一极与数据信号端连接，所述第一开关晶体管的第二极与所述驱动晶体管的栅极连接；
所述对所述发光二极管的阳极进行复位还包括：对所述第二扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管打开的同时，对所述第一扫描信号端加载第二电平信号，控制所述第一开关晶体管关闭。
可选地，所述数据写入阶段具体包括：
对所述第一扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第一开关晶体管打开，并对所述数据信号端加载所述数据信号，使所述驱动晶体管的栅极输入数据信号，同时对所述第二扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管打开，对所述检测信号线加载复位信号，使发光二极管的阳极输入复位信号；
使所述发光二极管的阳极输入复位信号之后，对所述第一扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第一开关晶体管打开，并对所述数据信号端加载所述数据信号，使所述驱动晶体管的栅极输入数据信号，同时对所述第二扫描信号端加载第二电平信号，控制所述第二开关晶体管关闭，所述驱动晶体管导通对所述发光二极管的阳极充电。
可选地，所述像素电路还包括连接于所述驱动晶体管的栅极和所述第一极之间的第一电容；使所述发光二极管的阳极输入复位信号之后，还包括：所述第一电容存储所述驱动晶体管的栅极和所述第一极之间的电压。
可选地，所述驱动所述发光二极管发光，采集所述发光二极管阳极的电压，具体包括：
对所述第一扫描信号端加载第二电平信号，控制所述第一开关晶体管关闭，使所述第一电容存储的电压控制所述驱动晶体管导通，对所述发光晶体管的阳极充电直到所述发光二极管发光；
对所述第二扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管打开，通过所述第二开关晶体管对所述检测信号线充电；
通过所述检测信号线采集所述检测信号线充电后的电压。
可选地，所述检测信号线与驱动芯片连接，所述驱动芯片用于控制复位信号开关打开对所述检测信号线提供复位信号以及采集所述检测信号线充电后的电压；
所述补偿方法还包括：
在所述数据补偿阶段以及所述复位阶段，所述驱动芯片对所述复位信号开关加载第一电平信号，控制所述复位信号开关打开对所述检测信号线提供复位信号；
在所述电压采集阶段，所述驱动芯片对所述复位信号开关加载第二电平信号，控制所述复位信号开关关闭。
本申请实施例提供的一种显示装置，所述显示装置包括像素单元，采用本申请实施例提供的上述补偿方法对所述像素单元进行补偿。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种像素电路的补偿方法示意图；
图2为本申请实施例提供的I-V关系曲线示意图；
图3为本申请实施例提供的一种像素电路的示意图；
图4为本申请实施例提供的一种像素电路的电路时序图。
具体实施方式
本申请实施例提供了一种像素单元的补偿方法，所述像素单元包括发光二极管以及驱动所述发光二极管发光的驱动晶体管，如图1所示，所述补偿方法包括：
S101、数据写入阶段，对所述驱动晶体管的栅极输入数据信号；
S102、复位阶段，对所述发光二极管的阳极进行复位；
S103、电压采集阶段，驱动所述发光二极管发光，并采集所述发光二极管阳极的电压。
本申请实施例提供的像素单元的补偿方法，可以在显示过程中对发光二极管的阳极的电压进行采集，这样，后续可以根据采集到的发光二极管的阳极电压，可以确定发光二极管的老化情况，从而可以在显示过程中利用采集到的发光二极管阳极的电压对发光二极管进行老化补偿，避免显示过程中出现的亮度衰减，提高产品显示效果，提升用户体验。
可选地，在电压采集阶段之后，该方法还包括：
电压补偿阶段，根据所述电压采集阶段采集的所述发光二极管阳极的电压对所述像素单元的所述发光二极管阳极的电压进行补偿。
本申请实施例提供的像素电路的补偿方法，可以预先通过实验测的OLED在显示过程中的老化情况，例如可以通过寿命老化的测试单元模块(Lifetime Cell，LTC)测试得到如图2所示的OLED随时间变化的电流(I)-电压(V)关系曲线。可以根据获得的I-V关系曲线建立OLED老化模型，例如可以建立电压查找表。需要说明的是，可以通过本申请实施例提供的像素电路的补偿方法，可以在发光二极管未发生老化状态下，采集发光二极管未老化状态的阳极的电压，这样，便可以确定发光二极管老化前后的电压差，根据发光二极管老化前后的电压差，在查找表中确定电压变化量ΔV，将ΔV写入数据电压，从而实现对所述像素单元的所述发光二极管阳极的电压进行补偿。
在具体实施中，可以对显示产品的每个子像素进行发光二极管阳极的电压的采集以及补偿。
可选地，如图3所示，所述像素单元还包括第一开关晶体管TFT1，所述第一开关晶体管TFT1的栅极与第一扫描信号端GATE1连接，所述第一开关晶体管TFT1的第一极与数据信号端DATA连接，所述第一开关晶体管TFT1的第二极与所述驱动晶体管TFT3的栅极连接；
所述对所述驱动晶体管TFT3的栅极输入数据信号，具体包括：
对所述第一扫描信号端GATE1加载第一电平信号，控制所述第一开关晶体管TFT1打开，并对所述数据信号端DATA加载所述数据信号，使所述驱动晶体管TFT3的栅极输入数据信号。
可选地，如图3所示，所述像素单元还包括：第二开关晶体管TFT2，所述第二开关晶体管TFT2的栅极与第二扫描信号端GATE2连接，所述第二开关晶体管TFT2的第一极与所述发光二极管OLED的阳极连接，所述第二开关晶体管TFT2的第二级与检测信号线SL连接；
所述对所述发光二极管OLED的阳极进行复位，具体包括：
对所述第二扫描信号端GATE2加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管TFT2打开，对所述检测信号线SL加载复位信号VPRESL，使所述发光二极管OLED的阳极输入复位信号。
可选地，所述对所述发光二极管OLED的阳极进行复位还包括：对所述第二扫描信号端GATE2加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管TFT2打开的同时，对所述第一扫描信号端GATE1加载第二电平信号，控制所述第一开关晶体管TFT2关闭。
可选地，所述数据写入阶段具体包括：
对所述第一扫描信号端GATE1加载第一电平信号，控制所述第一开关晶体管TFT1打开，并对所述数据信号端DATA加载所述数据信号，使所述驱动晶体管TFT3的栅极输入数据信号，同时对所述第二扫描信号端GATE2加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管TFT2打开，对所述检测信号线SL加载复位信号VPRESL，使发光二极管OLED的阳极输入复位信号VPRESL；
使所述发光二极管OLED的阳极输入复位信号VPRESL之后，对所述第一扫描信号端GATE1加载第一电平信号，控制所述第一开关晶体管TFT1打开，并对所述数据信号端DATA加载所述数据信号，使所述驱动晶体管TFT3的栅极输入数据信号，同时对所述第二扫描信号端GATE2加载第二电平信号，控制所述第二开关晶体管TFT2关闭，所述驱动晶体管TFT3导通对所述发光二极管OLED的阳极充电。
可选地，如图3所示，所述像素电路还包括连接于所述驱动晶体管TFT3的栅极和所述第一极之间的第一电容Cst；使所述发光二极管OLED的阳极输入复位信号VPRESL之后，还包括：所述第一电容存储Cst所述驱动晶体管TFT3的栅极和所述第一极之间的电压。
可选地，所述驱动所述发光二极管发光OLED，采集所述发光二极管OLED阳极的电压，具体包括：
对所述第一扫描信号端GATE1加载第二电平信号，控制所述第一开关晶体管TFT1关闭，使所述第一电容Cst存储的电压控制所述驱动晶体管TFT3导通，对所述发光晶体管OLED的阳极充电直到所述发光二极管OLED发光；
对所述第二扫描信号端GATE2加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管TFT2打开，通过所述第二开关晶体管TFT2对所述检测信号线SL充电；
通过所述检测信号线SL采集所述检测信号线SL充电后的电压。
可选地，本申请实施例提供的如图3所示的像素单元，所述检测信号线SL与驱动芯片连接，所述驱动芯片用于控制复位信号开关Spre_L打开对所述检测信号线SL提供复位信号VPRESL以及采集所述检测信号线SL充电后的电压；
所述补偿方法还包括：
在所述数据补偿阶段以及所述复位阶段，所述驱动芯片对所述复位信号开关Spre_L加载第一电平信号，控制所述复位信号开关Spre_L打开对所述检测信号线SL提供复位信号；
在所述电压采集阶段，所述驱动芯片对所述复位信号开关Spre_L加载第二电平信号，控制所述复位信号开关Spre_L关闭。
需要说明的是，可以是显示产品的每一子像素均包括如图3所示的像素单元的设置方式，当然，也可以采用多个子像素共用第二开关晶体管以及检测线的设置方式，无论何种设置方式，均可以采用本申请实施例提供的上述补偿方法对发光二极管的阳极的电压进行采集并补偿。
需要说明的是，上述各驱动晶体管和各开关晶体管可以是薄膜晶体管，也可以是金属氧化物半导体场效应管(MOS，Metal Oxide Scmiconductor)，在此不作限定。在具体实施时，可以根据开关晶体管类型以及信号端的信号的不同，可以将开关晶体管的第一极作为其源极，第二极作为其漏极；或者，反之，将第一极作为其漏极，第二极作为其源极，在此不作限定。发光晶体管可以是OLED。本申请实施例提供的如图3所示的像素单元中，驱动晶体管TFT3的第二极与电源信号端VDD连接，可以在驱动晶体管TFT3栅极打开的状态，控制驱动晶体管TFT3产生工作电流。在本申请实施例提供的补偿方法中，第一电平信号为高电平信号，第二电平信号为低电平信号。
接下来以图3所示的像素单元为例，结合图4所示的电路时序图，对本申请实施例提供的像素单元的补偿方法进行举例说明。
T1阶段，对所述第一扫描信号端GATE1加载高电平信号，控制所述第一开关晶体管TFT1打开，并对所述数据信号端DATA加载所述数据信号，使所述驱动晶体管TFT3的栅极输入数据信号，对所述第二扫描信号端GATE2加载高电平信号，控制所述第二开关晶体管TFT2打开，同时对所述复位信号开关Spre_L加载高电平信号，控制所述复位信号开关Spre_L打开，对所述检测信号线SL加载复位信号VPRESL，使发光二极管OLED的阳极输入复位信号VPRESL；T1阶段使发光二极管OLED的阳极输入复位信号VPRESL，即对OLED的阳极电压进行初始化，g点的电压Vg等于数据电压VDATA，s点的电压Vs等于复位信号电压VPRESL，g点和s点之间的电压Vgs＝VDATA-VPRESL。
T2阶段，对所述第一扫描信号端GATE1加载高电平信号，控制所述第一开关晶体管TFT1打开，并对所述数据信号端DATA加载所述数据信号，使所述驱动晶体管TFT3的栅极输入数据信号，对所述第二扫描信号端GATE2加载低电平信号，控制所述第二开关晶体管TFT2关闭，所述驱动晶体管TFT3导通对所述发光二极管OLED的阳极充电，同时对所述复位信号开关Spre_L加载高电平信号。T2阶段，驱动晶体管TFT3导通，第二开关晶体管TFT2关闭，s点被充电，而g点电压不变，Vgs逐渐减小。
T3阶段，对所述第一扫描信号端GATE1加载低电平信号，控制所述第一开关晶体管TFT1关闭，对所述第二扫描信号端GATE2加载高电平信号，控制所述第二开关晶体管TFT2打开，同时对所述复位信号开关Spre_L加载高电平信号，控制所述复位信号开关Spre_L打开，对所述检测信号线SL加载复位信号VPRESL，使发光二极管OLED的阳极输入复位信号VPRESL，Vs＝VPRESL，随着s点电压升高Vg有相同幅度的下降，Vgs不变，存储在第一电容存储Cst；T3阶段使发光二极管OLED的阳极输入复位信号VPRESL，即对OLED的阳极电压进行再初始化。
T4阶段，对所述第一扫描信号端GATE1加载低电平信号，控制所述第一开关晶体管TFT1关闭，对所述第二扫描信号端GATE2加载高电平信号，控制所述第二开关晶体管TFT2打开，同时对所述复位信号开关Spre_L加载低电平信号，控制所述复位信号开关Spre_L关闭，存储在第一电容存储Cst的Vgs控制所述驱动晶体管TFT3导通，s点被充电，直到所述发光二极管OLED被点亮，此时，Vs等于发光二极管OLED阳极电压VOLED，因第一电容存储Cst的作用，随着s点电压升高，Vg有相同幅度的下降，Vgs仍不变。由于第二开关晶体管TFT2打开，通过所述第二开关晶体管TFT2对所述检测信号线SL充电。
T5阶段，对所述第一扫描信号端GATE1加载低电平信号，控制所述第一开关晶体管TFT1关闭，对所述第二扫描信号端GATE2加载高电平信号，控制所述第二开关晶体管TFT2打开，同时对所述复位信号开关Spre_L加载低电平信号，控制所述复位信号开关Spre_L关闭，通过所述第二开关晶体管TFT2对所述检测信号线SL充电，并通过所述检测信号线SL采集所述检测信号线SL充电后的电压。本申请实施例提供的像素单元的补偿方法在驱动芯片设置采样信号SMP，如图4所示，可以在采样信号SMP下降沿对Vs进行采样。
需要说明的是，T2阶段，由于第二开关晶体管TFT2关闭，复位信号开关Spre_L打开还是关闭均不会对OLED阳极的电压检测造成影响，由于T3阶段，仍需要控制复位信号开关Spre_L打开，因此本申请实施例提供的补偿方法中选择在T2阶段控制复位信号开关Spre_L打开，从而简化像素单元电路时序的复杂度。
本申请实施例提供的补偿方法，可以设置预设检测周期对OLED阳极电压进行检测以及进行相应的电压补偿，预设检测周期例如可以是一天、30天、2个月，或半年等。当然，在实际应用中，预设检测周期的具体实现方式需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。
本申请实施例提供的一种显示装置，所述显示装置包括像素单元，采用本申请实施例提供的上述补偿方法对所述像素单元进行补偿。
本申请实施例提供的显示装置，例如可以是手机、电脑、电视等装置。
综上所述，本申请实施例提供的像素单元的补偿方法及显示装置，可以在显示过程中对发光二极管的阳极的电压进行采集，这样，后续可以根据采集到的发光二极管的阳极电压，可以确定发光二极管的老化程度，从而可以在显示过程中利用采集到的发光二极管阳极的电压对发光二极管进行老化补偿，避免显示过程中出现的亮度衰减，提高产品显示效果，提升用户体验。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种像素单元的补偿方法，其特征在于，所述像素单元包括发光二极管以及驱动所述发光二极管发光的驱动晶体管，所述补偿方法包括：
数据写入阶段，对所述驱动晶体管的栅极输入数据信号；
复位阶段，对所述发光二极管的阳极进行复位；
电压采集阶段，驱动所述发光二极管发光，并采集所述发光二极管阳极的电压。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在电压采集阶段之后，该方法还包括：
电压补偿阶段，根据所述电压采集阶段采集的所述发光二极管阳极的电压对所述像素单元的所述发光二极管阳极的电压进行补偿。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述像素单元还包括第一开关晶体管，所述第一开关晶体管的栅极与第一扫描信号端连接，所述第一开关晶体管的第一极与数据信号端连接，所述第一开关晶体管的第二极与所述驱动晶体管的栅极连接；
所述对所述驱动晶体管的栅极输入数据信号，具体包括：
对所述第一扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第一开关晶体管打开，并对所述数据信号端加载所述数据信号，使所述驱动晶体管的栅极输入数据信号。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述像素单元还包括：第二开关晶体管，所述第二开关晶体管的栅极与第二扫描信号端连接，所述第二开关晶体管的第一极与所述发光二极管的阳极连接，所述第二开关晶体管的第二级与检测信号线连接；
所述对所述发光二极管的阳极进行复位，具体包括：
对所述第二扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管打开，对所述检测信号线加载复位信号，使所述发光二极管的阳极输入复位信号。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述像素单元还包括第一开关晶体管，所述第一开关晶体管的栅极与第一扫描信号端连接，所述第一开关晶体管的第一极与数据信号端连接，所述第一开关晶体管的第二极与所述驱动晶体管的栅极连接；
所述对所述发光二极管的阳极进行复位还包括：对所述第二扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管打开的同时，对所述第一扫描信号端加载第二电平信号，控制所述第一开关晶体管关闭。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述数据写入阶段具体包括：
对所述第一扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第一开关晶体管打开，并对所述数据信号端加载所述数据信号，使所述驱动晶体管的栅极输入数据信号，同时对所述第二扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管打开，对所述检测信号线加载复位信号，使发光二极管的阳极输入复位信号；
使所述发光二极管的阳极输入复位信号之后，对所述第一扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第一开关晶体管打开，并对所述数据信号端加载所述数据信号，使所述驱动晶体管的栅极输入数据信号，同时对所述第二扫描信号端加载第二电平信号，控制所述第二开关晶体管关闭，所述驱动晶体管导通对所述发光二极管的阳极充电。
7.根据权利要求4～6任一项所述的方法，其特征在于，所述像素电路还包括连接于所述驱动晶体管的栅极和所述第一极之间的第一电容；使所述发光二极管的阳极输入复位信号之后，还包括：所述第一电容存储所述驱动晶体管的栅极和所述第一极之间的电压。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述驱动所述发光二极管发光，采集所述发光二极管阳极的电压，具体包括：
对所述第一扫描信号端加载第二电平信号，控制所述第一开关晶体管关闭，使所述第一电容存储的电压控制所述驱动晶体管导通，对所述发光晶体管的阳极充电直到所述发光二极管发光；
对所述第二扫描信号端加载第一电平信号，控制所述第二开关晶体管打开，通过所述第二开关晶体管对所述检测信号线充电；
通过所述检测信号线采集所述检测信号线充电后的电压。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述检测信号线与驱动芯片连接，所述驱动芯片用于控制复位信号开关打开对所述检测信号线提供复位信号以及采集所述检测信号线充电后的电压；
所述补偿方法还包括：
在所述数据补偿阶段以及所述复位阶段，所述驱动芯片对所述复位信号开关加载第一电平信号，控制所述复位信号开关打开对所述检测信号线提供复位信号；
在所述电压采集阶段，所述驱动芯片对所述复位信号开关加载第二电平信号，控制所述复位信号开关关闭。
10.一种显示装置，所述显示装置包括像素单元，其特征在于，采用权利要求1～9任一项所述的方法对所述像素单元进行补偿。
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