CN109256072A - 显示装置的点灯测试*** - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种显示装置的点灯测试***，包括：微控制模块、时钟模块、处理模块和桥接转换模块；其中，所述时钟模块包括时钟判别单元、第一时钟单元和第二时钟单元，所述时钟判别单元包括预设值，当所述像素时钟信号的频率超过所述预设值时，所述时钟判别单元配置所述第一时钟单元产生第一时钟信号，所述第二时钟单元根据所述第一时钟信号产生像素时钟信号。通过所述时钟模块中的时钟判别单元与第一时钟单元和第二时钟单元的组合，使得显示装置点灯测试***较原先具有更宽的适用频率范围，以解决点灯所需时钟信号的频率超出原先时钟模块极值时，显示装置无法正常点亮完成测试的问题。
Description
技术领域
本发明涉及显示装置技术领域，特别涉及一种液晶显示装置的点灯测试***。
背景技术
液晶显示装置(Liquid Crystal Display，简称LCD)具备低功耗、轻薄、低辐射等诸多优点，因此现在已经基本取代了传统的阴极射线管(CRT)显示器。目前液晶显示装置被广泛地应用于诸如高清数字电视、台式计算机、笔记本电脑、平板电脑、手机、数码相机等电子设备中。
液晶显示装置在经过出厂之前必须都经过点灯测试。所谓点灯测试指的是将液晶显示装置的时序信号以及红、绿、蓝像素的灰阶电压、数据信号输入液晶显示装置，以检查液晶显示装置是否可以正常的工作。图1为现有技术的显示装置的点灯测试***示意图，其主要包括微控制模块110、时钟模块120、处理模块130、桥接转换模块140以及显示装置150。微控制模块110例如为ARM(Acorn RISC Machine)处理器，用于根据测试要求提供模式信息以及参数信息，并且将模式信息与参数信息发送至处理模块130，同时配置时钟模块120。时钟模块120使用cdce706芯片，cdce706芯片可以产生一定频率的时钟信号。处理模块130例如为现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)。处理模块130将接收到的信号转换后发送至桥接转换模块140。桥接转换模块140将接收到的信号转换成为显示装置150可识别的移动产业处理器接口(Mobile Industry Processor Interface，MIPI)信号或者嵌入式显示器端口(Embedded Display Port，EDP)信号，并发送给显示装置150，以完成对显示装置150的点灯测试，这里的桥接转换模块140可以使用桥芯片(Bridge IC)。
然而，现有技术的显示装置的点灯测试***100在显示装置150点亮所需的时钟信号频率超过cdce706芯片的频率上限时，就会产生无法点亮显示装置150或显示装置150呈现画面异常的现象，无法对显示装置150进行有效的检测操作。传统的解决方案为将时钟模块120的芯片更换为具有更高频率上限的高级的芯片或将处理模块130中的FPGA更换为更高级别的FPGA芯片，此种解决方案不但会造成成本的大量上涨和硬件资源的浪费，同时由于处理模块130自行产生时钟信号无法实现动态调节，使该方案仅能对特定规格参数的显示装置进行测试，应用范围较窄，兼容性差。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种显示装置的点灯测试***，以解决显示装置所需时钟信号频率过高，测试***无法正常完成测试的问题，控制测试***成本，避免硬件资源的浪费，实现时钟信号在高频率下的动态调节。
本发明提供一种显示装置的点灯测试***，其特征在于，包括：
微控制模块，根据测试要求提供显示装置所需的参数信息；
时钟模块，根据所述参数信息产生像素时钟信号；
处理模块，根据所述参数信息及像素时钟信号产生点屏信号和同步信号；
桥接转换模块，用于将所述点屏信号转换成显示装置所需的格式；
其中，所述参数信息至少包括显示装置所需的像素时钟信号的频率，所述时钟模块包括时钟判别单元、第一时钟单元和第二时钟单元，所述时钟判别单元包括预设值，所述预设值为所述第一时钟单元能够产生的时钟信号的频率上限值，当所述所需的像素时钟信号的频率超过所述预设值时，所述时钟判别单元配置所述第一时钟单元产生第一时钟信号，所述第一时钟信号的频率与所述像素时钟信号的频率成预设比例，所述第二时钟单元根据所述第一时钟信号产生所述像素时钟信号。
优选地，所述第二时钟单元与所述处理模块双向连接，并根据所述处理模块的设置，对所述第一时钟信号进行相应的倍频处理，得到所述像素时钟信号。
优选地，当所需像素时钟信号的频率小于或等于所述预设值时，所述第一时钟单元产生的第一时钟信号即可满足所需像素时钟信号的频率要求，第一时钟信号作为像素时钟信号穿过所述第二时钟单元传输至所述处理模块。
优选地，所述时钟判别单元通过I2C总线对所述第一时钟单元进行配置。
优选地，所述预设比例为其中n为大于等于1的整数。
优选地，所述第一时钟单元包括时钟芯片，所述第二时钟单元包括时钟信号产生电路。
优选地，所述点灯测试***还包括功率监测模块，所述功率监测模块与所述微控制模块相连接，用于在进行点灯测试的同时监测所述显示装置的功率。
优选地，所述微控制模块包括ARM微处理器，所述处理模块为现场可编程门阵列。
优选地，所述点灯测试***还包括提示模块，所述提示模块与所述微控制模块相连接，用于在点灯测试结束时提醒工作人员。
优选地，所述桥接转换模块用于将处理模块产生的点屏信号转换成移动产业处理器接口信号、嵌入式显示器端口信号和低电压差分信号中的任意一种。
本发明的有益效果是：
本发明提供的一种显示装置点灯测试***，对时钟模块进行了改良，通过时钟模块中时钟判别单元与第一时钟单元和第二时钟单元的组合，使得显示装置的点灯测试***较原先具有更宽的适用频率范围，以解决所需时钟信号的频率超出原先时钟模块极值时，显示装置无法正常点亮完成测试的问题，同时还在很大程度上节省了成本，实现了时钟信号在更广范围的动态调节，提高了显示装置点灯测试***的适用范围，为使用者提供了便利。
附图说明
通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其它目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
图1所示为现有技术的显示装置的点灯测试***的示意图。
图2所示为本发明实施例显示装置的点灯测试***的示意图。
图3所示为本发明另一实施例显示装置的点灯测试***的示意图。
具体实施方式
以下基于实施例对本发明进行描述，但是本发明并不仅仅限于这些实施例。在下文对本发明的细节描述中，详尽描述了一些特定的细节部分。对本领域技术人员来说没有这些细节部分的描述也可以完全理解本发明。为了避免混淆本发明的实质，公知的方法、过程、流程、元件和电路并没有详细叙述。
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应属于本发明保护的范围。
图2是本发明实施例显示装置的点灯测试***的示意图。如图2所示，本发明的显示装置的点灯测试***200包括微控制模块210、时钟模块220、处理模块230、桥接转换模块240。时钟模块220包括时钟判别单元221、第一时钟单元222和第二时钟单元223。
所述微控制模块210例如为ARM(Acorn RISC Machine)处理器，用于根据测试要求提供模式信息以及参数信息，并将模式信息与参数信息通过SPI(Serial PeripheralInterface，串行外设接口)通信发送至所述处理模块230。所述参数信息包括所述显示装置的分辨率、像素时钟信号的频率、刷新率等。
时钟模块220与微控制模块210相连接，用于产生点亮显示装置250所需的像素时钟信号；所述时钟判别单元221包括预设值，所述预设值例如为所述第一时钟单元222能够产生的时钟信号的频率上限值，所述时钟判别单元221根据所述微控制模块210提供的参数信息，判断其所需像素时钟信号的频率是否超过所述预设值。
当所述像素时钟信号的频率不大于所述预设值时，所述第一时钟单元222产生的第一时钟信号即可满足所述像素时钟信号的频率要求，第一时钟信号作为像素时钟信号穿过所述第二时钟单元223后传输至所述处理模块230。
当所述像素时钟信号的频率超过所述预设值时，所述时钟判别单元221配置所述第一时钟单元222产生第一时钟信号，所述第一时钟信号的频率与所述像素时钟信号的频率成预设比例。例如为所述像素时钟信号频率的二分之一，四分之一，八分之一……2的n次幂分之一或其他比例的所述像素时钟信号频率。并将产生的所述第一时钟信号输出给所述第二时钟单元223，所述第二时钟单元223包括时钟信号产生电路，并与所述处理模块230双向连接，以根据所述处理模块230的设置，对所述第一时钟信号进行相应的倍频处理或其他处理方式，得到像素时钟信号。所述像素时钟信号的频率满足所述显示装置250的要求，所述像素时钟信号输出至处理模块230，以产生点屏信号和同步信号，点亮待测显示装置250。
处理模块230例如为现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)。所述处理模块230根据微控制模块210传来的模式信息与参数信息产生相应的逻辑数据，所述逻辑数据包括图像数据和时序信号。所述处理模块230根据所述时序信号配置所述第二时钟单元223。
桥接转换模块240用于将所述图像数据转换成为显示装置250可识别的显示数据，具体包括移动产业处理器接口(Mobile Industry Processor Interface，MIPI)信号或者嵌入式显示器端口(Embedded Display Port，EDP)信号，桥接转换模块240可以使用桥式芯片(Bridge IC)，桥接转换模块240接收TTL格式的数字信号，将TTL格式的数字信号转换为显示装置250的接口对应的MIPI信号或者EDP信号，并将转换后的时钟信号发送给所述显示装置250，以完成对显示装置250的点灯测试。需要说明的是，在本实施例中，微控制模块210为ARM处理器，时钟模块220包括第一时钟单元222和第二时钟单元223，所述第一时钟单元222和所述第二时钟单元223例如为2块频率上限不同的时钟产生芯片，所述第二时钟单元223的时钟频率上限大于所述第一时钟单元222的时钟频率上限。优选地，所述第二时钟单元223还可以为锁相环，对所述第一时钟单元222产生的第一时钟信号进行倍频处理，从而获得频率满足所述显示装置250需求的像素时钟信号。处理模块230为现场可编程门阵列，桥接转换模块240为可将TTL格式的数字信号转换为MIPI信号或者EDP信号的桥式芯片。
其中，微控制模块210分别与时钟模块220和处理模块230相连接，并控制桥接转换模块240工作。处理模块230与时钟模块220和桥接转换模块240相连接。
图3为本发明另一实施例显示装置的点灯测试***的示意图，进一步地，所述点灯测试***200还可包括功率监测模块260和提示模块270，所述功率监测模块260与所述微控制模块210相连接，用于在进行点灯测试的同时监测所述显示装置250的功率。所述提示模块270也与所述微控制模块210相连接，用于在点灯测试结束时提醒工作人员，所述提示模块270可采用声音或提示灯等方式对工作人员进行提醒。
本发明提供的一种显示装置点灯测试***，对时钟模块进行了改良，通过时钟模块中时钟判别单元与第一时钟单元和第二时钟单元的组合，使得显示装置点灯测试***较原先具有更宽的适用频率范围，以解决所需时钟信号的频率超出原先时钟模块极值时，显示装置无法正常点亮完成测试的问题，同时还在很大程度上节省了成本，实现了时钟信号在更广范围的动态调节，提高了显示装置点灯测试***的适用范围，为使用者提供了便利。
此外，本领域普通技术人员应当理解，在此提供的附图都是为了说明的目的，附图不一定是按比例绘制的。应当注意的是，在描述本发明的特定特征或方面时所使用的特定术语不应该被认为是暗示了该术语是此次被重新定义来限制为包括与本术语相关联的本发明的特征或方面的任何特定特性。
同时，应当理解，示例实施例被提供，以使本公开是全面的，并将其范围充分传达给本领域技术人员。很多特定细节被给出以提供对本公开的全面理解。本领域技术人员将明白，不需要采用特定细节，示例实施例可以以很多不同的形式被实施，并且示例实施例不应被理解为限制本公开的范围。在一些示例实施例中，众所周知的设备结构以及众所周知的技术没有详细描述。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并不用于限制本发明，对于本领域技术人员而言，本发明可以有各种改动和变化。凡在本发明的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种显示装置的点灯测试***，其特征在于，包括：
微控制模块，根据测试要求提供显示装置所需的参数信息；
时钟模块，根据所述参数信息产生像素时钟信号；
处理模块，根据所述参数信息及像素时钟信号产生点屏信号和同步信号；
桥接转换模块，用于将所述点屏信号转换成显示装置所需的格式；
其中，所述参数信息至少包括显示装置所需的像素时钟信号的频率，所述时钟模块包括时钟判别单元、第一时钟单元和第二时钟单元，所述时钟判别单元包括预设值，所述预设值为所述第一时钟单元能够产生的时钟信号的频率上限值，当所述所需的像素时钟信号的频率超过所述预设值时，所述时钟判别单元配置所述第一时钟单元产生第一时钟信号，所述第一时钟信号的频率与所述像素时钟信号的频率成预设比例，所述第二时钟单元根据所述第一时钟信号产生所述像素时钟信号。
2.根据权利要求1所述的显示装置的点灯测试***，其特征在于，所述第二时钟单元与所述处理模块双向连接，并根据所述处理模块的设置，对所述第一时钟信号进行相应的倍频处理，得到所述像素时钟信号。
3.根据权利要求1所述的显示装置的点灯测试***，其特征在于，当所需像素时钟信号的频率小于或等于所述预设值时，所述第一时钟单元产生的第一时钟信号即可满足所需像素时钟信号的频率要求，第一时钟信号作为所述像素时钟信号穿过所述第二时钟单元传输至所述处理模块。
4.根据权利要求1所述的显示装置的点灯测试***，其特征在于，所述时钟判别单元通过I2C总线对所述第一时钟单元进行配置。
5.根据权利要求1所述的显示装置的点灯测试***，其特征在于，所述预设比例为其中n为大于等于1的整数。
6.根据权利要求1所述的显示装置的点灯测试***，其特征在于，所述第一时钟单元包括时钟芯片，所述第二时钟单元包括时钟信号产生电路。
7.根据权利要求1所述的显示装置的点灯测试***，其特征在于，所述点灯测试***还包括功率监测模块，所述功率监测模块与所述微控制模块相连接，用于在进行点灯测试的同时监测所述显示装置的功率。
8.根据权利要求1所述的显示装置的点灯测试***，其特征在于，所述微控制模块包括ARM微处理器，所述处理模块为现场可编程门阵列。
9.根据权利要求1所述的显示装置的点灯测试***，其特征在于，所述点灯测试***还包括提示模块，所述提示模块与所述微控制模块相连接，用于在点灯测试结束时提醒工作人员。
10.根据权利要求1所述的显示装置的点灯测试***，其特征在于，所述桥接转换模块用于将处理模块产生的点屏信号转换成移动产业处理器接口信号、嵌入式显示器端口信号和低电压差分信号中的任意一种。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| CB02 | Change of applicant information | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 215301, 1, Longteng Road, Kunshan, Jiangsu, Suzhou Applicant after: InfoVision Optoelectronics(Kunshan)Co.,Ltd. Address before: 215301, 1, Longteng Road, Kunshan, Jiangsu, Suzhou Applicant before: INFOVISION OPTOELECTRONICS (KUNSHAN) Co.,Ltd. |
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| GR01 | Patent grant | ||
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