CN108680542A - 一种阵列式线扫描荧光显微成像装置 - Google Patents

一种阵列式线扫描荧光显微成像装置 Download PDF

Info

Publication number
CN108680542A
CN108680542A CN201810251974.5A CN201810251974A CN108680542A CN 108680542 A CN108680542 A CN 108680542A CN 201810251974 A CN201810251974 A CN 201810251974A CN 108680542 A CN108680542 A CN 108680542A
Authority
CN
China
Prior art keywords
line
imaging
sample
excitation
digital camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810251974.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108680542B (zh
Inventor
吕晓华
曾绍群
李宁
尹芳芳
白柯
黄飞
刘越
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Huazhong University of Science and Technology
Original Assignee
Huazhong University of Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Huazhong University of Science and Technology filed Critical Huazhong University of Science and Technology
Priority to CN201810251974.5A priority Critical patent/CN108680542B/zh
Publication of CN108680542A publication Critical patent/CN108680542A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108680542B publication Critical patent/CN108680542B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G01N21/6458—Fluorescence microscopy
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
    • G02B21/0048—Scanning details, e.g. scanning stages scanning mirrors, e.g. rotating or galvanomirrors, MEMS mirrors
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052—Optical details of the image generation
    • G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G01N2021/646—Detecting fluorescent inhomogeneities at a position, e.g. for detecting defects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N2021/6463—Optics
    • G01N2021/6478—Special lenses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

本发明公开了一种阵列式线扫描荧光显微成像装置，包括：三维平移台以及两个成像结构；三维平移台用于使得样本沿X方向、Y方向以及Z方向移动；两个成像结构中，每一个成像结构用于在一次扫描中通过斜探测的方式对样品表面的一个成像条带进行线扫描成像，从而以阵列的形式实现同一平面的多线同时扫描成像；成像结构包括激发光模块和探测模块；激发光模块用于产生一条由激光束整形得到指定宽度的激发线光斑，激光束的发散角和倾斜角均可调节；探测模块用于将激发线光斑汇聚到样品表面，激发样品产生荧光信号，并对样品产生荧光信号进行探测成像。本发明可有效提高线扫描成像的成像速度，并降低***的调节难度。

Description

一种阵列式线扫描荧光显微成像装置
技术领域
本发明属于荧光显微镜仪器设计与制备领域，更具体地，涉及一种阵列式线扫描荧光显微成像装置。
背景技术
在生物工程技术领域中，共聚焦显微镜是现在生物研究以及医学研究领域内广泛应用的仪器之一。
传统的激光扫描共聚焦显微镜通过增强被观察物体与背景之间的反差提高图像的清晰程度，从而间接地提高呈现的分辨率。传统的共聚焦显微镜使用点光源作为荧光样品的激发光，使用光电倍增管进行点探测，为了提高图像的对比度，共聚焦显微镜在像平面上设计了一个与点激发光源共轭的小孔。该小孔很大程度地抑制了非焦面的杂散光以及焦平面以外的散射光的影响，从而大大提高图像的信噪比以及清晰度。由于传统共聚焦显微镜采用的是点扫描的成像方式，这极大地制约了成像速度的提高，虽然有一系列的高速扫描器件以及多点同时扫描方案被用于共聚焦的扫描成像中，其成像速度可在512×512像素水平下高达到30帧/秒，但对于厘米级生物组织的荧光成像而言，该速度依然耗时较长，以小鼠大脑海马区的冠状面为例，单层扫描成像需要大约175秒。如果需要对100um厚度的脑片进行三维扫描成像，则成像时间会长达5小时。随着脑神经科学研究的发展，对大体积脑组织进行快速三维成像已经成为了当前神经光学成像领域的急迫需求。
由于传统共聚焦显微镜采用与激发点光源共轭的小孔抑制背景光源，所以小孔的位置调节以及小孔的加工精度都会影响共聚焦显微镜的成像质量。受限于加工工艺以及小孔的调节难度，共聚焦显微镜的整体搭建和调节难度都很大。
发明内容
针对现有技术的缺陷和改进需求，本发明提供了一种阵列式线扫描荧光显微成像装置，其目的在于，采用斜探测的方式，对样品表面进行阵列式地扫描成像，在保证成像焦面的同时提高成像速度；同时，设计特别的调节结构，以简单快速地实现对***光路的调节，降低装置的调节难度。
为实现上述目的，本发明提供了一种阵列式线扫描荧光显微成像装置，其特征在于，包括：三维平移台以及两个成像结构；三维平移台用于使得样本沿X方向、Y方向以及Z方向移动，实现对样本的三维扫描成像；两个成像结构中，每一个成像结构用于在一次扫描中通过斜探测的方式对样品表面的一个成像条带进行线扫描成像；两个成像结构在样本表面的成像区域的X方向位置相同且Y方向位置相邻，从而以阵列的形式实现同一平面的多线同时扫描成像；成像结构包括：激发光模块和探测模块；激发光模块用于产生一条由激光束整形得到的激发线光斑，激光束的发散角和倾斜角均可调节；探测模块用于将激发线光斑汇聚到样品表面，激发样品产生荧光信号，并对样品产生荧光信号进行探测成像；基于激光束的发散角可调节，经激光束整形得到的激发线光斑被汇聚后的Z方向位置可调节；基于激光束的倾斜角可调节，经激光束整形得到的激发线光斑被汇聚后的X方向位置可调节；其中，X方向为扫描方向，Z方向为样本轴向，Y方向为同一平面内成像条带的分布方向，并且X方向、Y方向、Z方向构成右手坐标系。
进一步地，激发光模块包括沿光路方向依次设置的激光光源、扩束单元、反射镜组以及柱面镜；扩束单元用于对激光光源产生的激光束扩束并调节激光束的发散角，进而调节激发线光斑被聚焦后的Z方向位置；反射镜组用于调节激光束的倾斜角，进而调节激发线光斑被聚焦后的X方向位置；柱面镜用于将激光束整形为激发线光斑。
更进一步地，扩束单元包括共光轴设置的第一透镜和第二透镜；第一透镜与第二透镜的轴向相对位置可调节。
更进一步地，第一透镜与第二透镜的轴向相对位置的调节精度至少为0.01mm，以保证对激发线光斑聚焦后的Z方向位置的精确调节。
更进一步地，反射镜组包括第一反射镜和第二反射镜；第一反射镜和第二反射镜的位移均可调节。
更进一步地，第一反射镜和第二反射镜的位移调节精度至少为0.001mm，以保证对激发线光斑聚焦后的X方向位置的精确调节。
进一步地，探测模块包括：激发光二向色片、显微物镜、聚焦透镜、发射光二向色片、第一线阵相机、第二线阵相机、相机三维调节结构、以及两个发射滤光片；激发光二向色片用于将激发线光斑导入显微物镜，并选择透过样本产生的荧光使得荧光信号进入聚焦透镜；显微物镜的光轴与样本轴向存在一个夹角以实现斜探测，显微物镜用于将激发线光斑汇聚到样本表面，激发样本产生荧光信号；显微物镜还与聚焦透镜构成显微放大***，显微放大***用于对样本产生的荧光信号成像，形成成像光束；发射光二向色片用于将成像光束中包含的两个通道的荧光信号分离，并使得分离后的荧光信号分别被第一线阵相机和第二线阵相机探测；两个发射滤光片分别设置于第一线阵相机和第二线阵相机前方，用于滤除每一个通道的荧光信号中的杂质信号，提高成像质量；第一线阵相机和第二线阵相机的相敏面分别与激发线光斑的照明区域处于共轭位置，第一线阵相机和第二线阵相机均利用其相敏面作为线共聚焦的狭缝，抑制非焦面的荧光，提高图像对比度；相机三维调节结构用于调节线阵相机，使得同一成像结构内两个线阵相机探测样本同一成像区域的荧光信号并且不同成像结构的线阵相机同时探测样本表面X方向位置相同且Y方向位置相邻的两个成像区域的荧光信号。
进一步地，两个成像结构中的其中一个成像结构还包括物镜三维调节结构；物镜三维调节结构用于调节显微物镜，使得两个成像结构所拍摄的成像区域在Y方向有重合，且重合区域的宽度不超过激发线光斑宽度的20％，以保证图像的冗余，实现无缝拼接。
进一步地，第一线阵相机和第二线阵相机的线宽均满足：其中，H为线阵相机的线宽，C为样品被激发所产生的荧光的波长，N为显微物镜的数值孔径，n为成像***的放大倍率。
进一步地，在激发光二向色片和显微物镜之间设置有反射镜，用于调节激发线光斑或荧光的光路，从而实现斜探测。
总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案，能够取得以下有益效果：
(1)本发明提供的阵列式线扫描荧光显微成像装置，包括两个成像结构，每一个成像结构用于通过斜探测的方式实现对一个条带的线扫描成像，从而在一次扫描中，能够实现对样本表面的双线同时扫描成像，大大提高了成像通量，有效提高了成像速度，进而能够实现对大体积生物样本的快速三维成像；
(2)本发明提供的阵列式线扫描荧光显微成像装置，采用两个线阵相机对样本表面由于被两种荧光染料染色而激发的两个通道的荧光信号分别进行探测，并根据线阵相机探测面在垂直于线光斑的方向只有接近于艾利斑大小的宽度的特性，直接利用其探测面作为线共聚焦的狭缝，既能够滤除非焦面信号，提高图像对比度，又免去了小孔或者狭缝的加工以及调节，降低了***整体的调节难度。
附图说明
图1为本发明实施例提供的阵列式线扫描荧光纤维成像装置示意图；
图2为本发明实施例中两个成像结构的显微物镜相对位置示意图；
在所有附图中，相同的附图标记用来表示相同的元件或者结构，其中：
1为一个成像结构，2为另外一个成像结构，3为三维平移台，11为激发光模块，12为探测模块，111为激光光源，112为第一透镜，113为第二透镜，114为第一反射镜，115为扩束单元平移台，116为第二反射镜，117为柱透镜，120为物镜三维调节结构，121为激发光二向色片，122为反射镜、123为显微物镜、124为聚焦透镜、125为发射光二向色片、126为第一线阵相机，127为第二线阵相机，128相机三维调节结构，129为发射滤光片。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
本发明提供的阵列式线扫描荧光显微成像装置，如图1所示，包括：两个成像结构1和2，以及三维平移台3；三维平移台3用于使得样本沿X方向、Y方向以及Z方向移动，实现对样本的三维扫描成像；两个成像结构中，每一个成像结构用于在一次扫描中通过斜探测的方式对样品表面的一个成像条带进行线扫描成像；两个成像结构在样本表面的成像区域的X方向位置相同且Y方向位置相邻，从而以阵列的形式实现同一平面的多线同时扫描成像；成像结构包括：激发光模块11和探测模块12；激发光模块12用于产生一条由激光束整形得到的激发线光斑，激光束的发散角和倾斜角均可调节；探测模块12用于将激发线光斑汇聚到样品表面，激发样品产生荧光信号，并对样品产生荧光信号进行探测成像；基于激光束的发散角可调节，经激光束整形得到的激发线光斑被汇聚后的Z方向位置可调节；基于激光束的倾斜角可调节，经激光束整形得到的激发线光斑被汇聚后的X方向位置可调节；其中，X方向为扫描方向，Z方向为样本轴向，Y方向为同一平面内成像条带的分布方向，并且X方向、Y方向、Z方向构成右手坐标系。
激发光模块11包括沿光路方向依次设置的激光光源111、扩束单元、反射镜组以及柱面镜117；扩束单元用于对激光光源产生的激光束扩束并调节激光束的发散角，进而调节激发线光斑被聚焦后的Z方向位置；反射镜组用于调节激光束的倾斜角，进而调节激发线光斑被聚焦后的X方向位置；柱面镜117用于将激光束整形为激发线光斑；扩束单元包括共光轴设置的第一透镜112和第二透镜113；第一透镜112与第二透镜113的轴向相对位置可以由调节精度为0.01mm的扩束单元平移台115精确调节；反射镜组包括第一反射镜114和第二反射镜116；第一反射镜114和第二反射镜116的位移均可调节，且调节精度为0.001mm。
探测模块12包括：激发光二向色片121、反射镜122、显微物镜123、聚焦透镜124、发射光二向色片125、第一线阵相机126、第二线阵相机127、相机三维调节结构128、以及两个发射滤光片129；激发光二向色片121用于将激发线光斑导入显微物镜123，并选择透过样本产生的荧光使得荧光信号进入聚焦透镜124；显微物镜123的光轴与样本轴向存在一个夹角以实现斜探测，显微物镜123用于将激发线光斑汇聚到样本表面，激发样本产生荧光信号；显微物镜123还与聚焦透镜124构成显微放大***，显微放大***用于对样本产生的荧光信号成像，形成成像光束；反射镜122设置于激发光二向色片121和显微物镜123之间，用于调节激发线光斑或荧光的光路，从而实现斜探测；对生物样本进行成像前，常采用两种荧光染料对生物样本进行染色，使得样本被激发线光斑激发后会产生两个通道的荧光信号，发射光二向色片125用于将成像光束中包含的两个通道的荧光信号分离，并使得分离后的荧光信号分别被第一线阵相机126和第二线阵相机127探测；两个发射滤光片129分别设置于第一线阵相机126和第二线阵相机127前方，用于滤除每一个通道的荧光信号中的杂质信号，提高成像质量；第一线阵相机126和第二线阵相机127的相敏面分别与激发线光斑的照明区域处于共轭位置，第一线阵相机126和第二线阵相机127均利用其相敏面作为线共聚焦的狭缝，抑制非焦面的荧光，提高图像对比度；相机三维调节结构128用于调节线阵相机，使得同一成像结构内两个线阵相机探测样本同一成像区域的荧光信号并且不同成像结构的线阵相机同时探测样本表面X方向位置相同且Y方向位置相邻的两个成像区域的荧光信号；第一线阵相机126和第二线阵相机127的线宽均满足：其中，H为线阵相机的线宽，C为样品被激发所产生的荧光的波长，N为显微物镜的数值孔径，n为成像***的放大倍率。
成像结构2还包括物镜三维调节结构120；物镜三维调节结构120用于调节显微物镜123，使得两个成像结构所拍摄的成像区域在Y方向有重合，且重合区域的宽度不超过激发线光斑宽度的20％，以保证图像的冗余，实现无缝拼接；调节后，两个成像结构的显微物镜的相对位置如图2所示。
本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种阵列式线扫描荧光显微成像装置，其特征在于，包括：三维平移台以及两个成像结构；
所述三维平移台用于使得样本沿X方向、Y方向以及Z方向移动，实现对样本的三维扫描成像；
所述两个成像结构中，每一个成像结构用于在一次扫描中通过斜探测的方式对样品表面的一个成像条带进行线扫描成像；所述两个成像结构在样本表面的成像区域的X方向位置相同且Y方向位置相邻，从而以阵列的形式实现同一平面的多线同时扫描成像；
所述成像结构包括：激发光模块(11)和探测模块(12)；所述激发光模块(11)用于产生一条由激光束整形得到的激发线光斑，所述激光束的发散角和倾斜角均可调节；所述探测模块(12)用于将激发线光斑汇聚到样品表面，激发样品产生荧光信号，并对样品产生荧光信号进行探测成像；基于激光束的发散角可调节，经激光束整形得到的激发线光斑被汇聚后的Z方向位置可调节；基于激光束的倾斜角可调节，经激光束整形得到的激发线光斑被汇聚后的X方向位置可调节；
其中，X方向为扫描方向，Z方向为样本轴向，Y方向为同一平面内成像条带的分布方向，并且X方向、Y方向、Z方向构成右手坐标系。
2.如权利要求1所述的阵列式扫描荧光成像装置，其特征在于，所述激发光模块(11)包括沿光路方向依次设置的激光光源(111)、扩束单元、反射镜组以及柱面镜(117)；所述扩束单元用于对所述激光光源(111)产生的激光束扩束并调节激光束的发散角，进而调节激发线光斑被聚焦后的Z方向位置；所述反射镜组用于调节激光束的倾斜角，进而调节激发线光斑被聚焦后的X方向位置；所述柱面镜(117)用于将激光束整形为激发线光斑。
3.如权利要求2所述的阵列式扫描荧光成像装置，其特征在于，所述扩束单元包括共光轴设置的第一透镜(112)和第二透镜(113)；所述第一透镜(112)与所述第二透镜(113)的轴向相对位置可调节。
4.如权利要求2所述的阵列式扫描荧光成像装置，其特征在于，所述反射镜组包括第一反射镜(114)和第二反射镜(116)；所述第一反射镜(114)和所述第二反射镜(116)的位移均可调节。
5.如权利要求1所述的阵列式线扫描荧光成像装置，其特征在于，所述探测模块(12)包括：激发光二向色片(121)、显微物镜(123)、聚焦透镜(124)、发射光二向色片(125)、第一线阵相机(126)、第二线阵相机(127)、相机三维调节结构(128)、以及两个发射滤光片(129)；
所述激发光二向色片(121)用于将激发线光斑导入所述显微物镜(123)，并选择透过样本产生的荧光使得荧光信号进入所述聚焦透镜(124)；所述显微物镜(123)的光轴与样本轴向存在一个夹角以实现斜探测，所述显微物镜(123)用于将激发线光斑汇聚到样本表面，激发样本产生荧光信号；所述显微物镜(123)还与所述聚焦透镜(124)构成显微放大***，所述显微放大***用于对样本产生的荧光信号成像，形成成像光束；所述发射光二向色片(125)用于将成像光束中包含的两个通道的荧光信号分离，并使得分离后的荧光信号分别被所述第一线阵相机(126)和所述第二线阵相机(127)探测；所述两个发射滤光片(129)分别设置于所述第一线阵相机(126)和所述第二线阵相机(127)前方，用于滤除每一个通道的荧光信号中的杂质信号，提高成像质量；所述第一线阵相机(126)和所述第二线阵相机(127)的相敏面分别与激发线光斑的照明区域处于共轭位置，所述第一线阵相机(126)和所述第二线阵相机(127)均利用其相敏面作为线共聚焦的狭缝，抑制非焦面的荧光，提高图像对比度；所述相机三维调节结构(208)用于调节线阵相机，使得同一成像结构内两个线阵相机探测样本同一成像区域的荧光信号并且不同成像结构的线阵相机同时探测样本表面X方向位置相同且Y方向位置相邻的两个成像区域的荧光信号。
6.如权利要求5所述的阵列式线扫描纤维成像装置，其特征在于，所述两个成像结构中的其中一个成像结构还包括物镜三维调节结构(120)；所述物镜三维调节结构(120)用于调节所述显微物镜(123)，使得两个成像结构所拍摄的成像区域在Y方向有重合，且重合区域的宽度不超过激发线光斑宽度的20％，以保证图像的冗余，实现无缝拼接。
7.如权利要求5所述的阵列式线扫描荧光显微成像装置，其特征在于，所述第一线阵相机(126)和所述第二线阵相机(127)的线宽均满足：其中，H为线阵相机的线宽，C为样品被激发所产生的荧光的波长，N为所述显微物镜(123)的数值孔径，n为成像***的放大倍率。
8.如权利要求5所述的阵列式线扫荧光纤维成像装置，其特征在于，在所述激发光二向色片(121)和所述显微物镜(123)之间设置有反射镜(122)，用于调节激发线光斑或荧光的光路，从而实现斜探测。
CN201810251974.5A 2018-03-26 2018-03-26 一种阵列式线扫描荧光显微成像装置 Expired - Fee Related CN108680542B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810251974.5A CN108680542B (zh) 2018-03-26 2018-03-26 一种阵列式线扫描荧光显微成像装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810251974.5A CN108680542B (zh) 2018-03-26 2018-03-26 一种阵列式线扫描荧光显微成像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108680542A true CN108680542A (zh) 2018-10-19
CN108680542B CN108680542B (zh) 2020-01-10

Family

ID=63799578

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810251974.5A Expired - Fee Related CN108680542B (zh) 2018-03-26 2018-03-26 一种阵列式线扫描荧光显微成像装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108680542B (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110664369A (zh) * 2019-09-19 2020-01-10 哈尔滨工业大学 一种自适应共焦线扫描谐波显微成像方法及装置
CN110967816A (zh) * 2019-11-06 2020-04-07 浙江大学 基于多维调节架的近红外二区宽场显微成像***
CN113204107A (zh) * 2021-04-28 2021-08-03 武汉理工大学 一种具有双物镜的三维扫描显微镜及三维扫描方法
CN113267495A (zh) * 2021-05-06 2021-08-17 华中科技大学苏州脑空间信息研究院 一种将每两条平行线光斑重组成共线线光斑的装置及方法
CN113366363A (zh) * 2018-11-01 2021-09-07 加州理工学院 用于快速大视场和共焦成像的多通道线扫描仪及相应的测量方法
CN114145908A (zh) * 2021-11-05 2022-03-08 华中科技大学 一种使用聚焦线光斑产生曲面扫描面的方法和装置
CN114578537A (zh) * 2022-02-28 2022-06-03 北京毅能博科技有限公司 一种基于区域多点定面法的显微扫描平台焦平面确定方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1301357A (zh) * 1998-03-16 2001-06-27 普雷勒克斯公司 共焦显微镜成像***
CN1656373A (zh) * 2002-05-29 2005-08-17 埃克斯射线有限公司 元素特定的x射线荧光显微镜以及操作方法
CN104849252A (zh) * 2015-05-11 2015-08-19 华中科技大学 一种三色荧光显微成像***
CN105403543A (zh) * 2014-09-08 2016-03-16 立科有限公司 荧光成像自动聚焦***和方法
US20160320599A1 (en) * 2013-12-19 2016-11-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Multi-Color Scanning Microscope
WO2016180403A1 (de) * 2015-05-11 2016-11-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Auswertung von signalen der fluoreszenzrastermikroskopie unter verwendung eines konfokalen laserscanning-mikroskops

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1301357A (zh) * 1998-03-16 2001-06-27 普雷勒克斯公司 共焦显微镜成像***
CN1656373A (zh) * 2002-05-29 2005-08-17 埃克斯射线有限公司 元素特定的x射线荧光显微镜以及操作方法
US20160320599A1 (en) * 2013-12-19 2016-11-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Multi-Color Scanning Microscope
CN105403543A (zh) * 2014-09-08 2016-03-16 立科有限公司 荧光成像自动聚焦***和方法
CN104849252A (zh) * 2015-05-11 2015-08-19 华中科技大学 一种三色荧光显微成像***
WO2016180403A1 (de) * 2015-05-11 2016-11-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Auswertung von signalen der fluoreszenzrastermikroskopie unter verwendung eines konfokalen laserscanning-mikroskops

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113366363A (zh) * 2018-11-01 2021-09-07 加州理工学院 用于快速大视场和共焦成像的多通道线扫描仪及相应的测量方法
CN110664369A (zh) * 2019-09-19 2020-01-10 哈尔滨工业大学 一种自适应共焦线扫描谐波显微成像方法及装置
CN110967816A (zh) * 2019-11-06 2020-04-07 浙江大学 基于多维调节架的近红外二区宽场显微成像***
CN113204107A (zh) * 2021-04-28 2021-08-03 武汉理工大学 一种具有双物镜的三维扫描显微镜及三维扫描方法
CN113204107B (zh) * 2021-04-28 2023-02-28 武汉理工大学 一种具有双物镜的三维扫描显微镜及三维扫描方法
CN113267495A (zh) * 2021-05-06 2021-08-17 华中科技大学苏州脑空间信息研究院 一种将每两条平行线光斑重组成共线线光斑的装置及方法
CN114145908A (zh) * 2021-11-05 2022-03-08 华中科技大学 一种使用聚焦线光斑产生曲面扫描面的方法和装置
CN114145908B (zh) * 2021-11-05 2023-03-24 华中科技大学 一种使用聚焦线光斑产生曲面扫描面的方法和装置
CN114578537A (zh) * 2022-02-28 2022-06-03 北京毅能博科技有限公司 一种基于区域多点定面法的显微扫描平台焦平面确定方法
CN114578537B (zh) * 2022-02-28 2024-04-05 北京毅能博科技有限公司 一种基于区域多点定面法的显微扫描平台焦平面确定方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN108680542B (zh) 2020-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108680542A (zh) 一种阵列式线扫描荧光显微成像装置
US6947127B2 (en) Arrangement for the optical capture of excited and/or back scattered light beam in a sample
JP6934856B2 (ja) 複数の対象面を同時にイメージングする光シート顕微鏡
US9575308B2 (en) Slide scanner with dynamic focus and specimen tilt and method of operation
US8254020B2 (en) Objective-coupled selective plane illumination microscopy
US6888148B2 (en) Arrangement for the optical capture of excited and /or back scattered light beam in a sample
US9201011B2 (en) Increased depth-resolution microscopy
JP3816632B2 (ja) 走査型顕微鏡
CA2574343C (en) Method and apparatus for fluorescent confocal microscopy
JP6035018B2 (ja) 連続的な光シートを用いるｓｐｉｍ顕微鏡
US9110301B2 (en) Microscope with a sheet of light
US7253420B2 (en) Scanning microscope system
US20140125776A1 (en) 3d pathology slide scanner
EP2758825B1 (en) Slide scanner with a tilted image plane
CN109001898A (zh) 一种小型化的多角度三维超分辨光片荧光显微镜
WO1995006895A2 (en) Scanning laser imaging system
CN108519329B (zh) 一种多路扫描与探测的线共聚焦成像装置
CN111273433A (zh) 一种高速大视场数字扫描光片显微成像***
CN106226895B (zh) 一种带反馈的旋转全内反射显微方法及装置
CN110114709A (zh) 确定荧光强度的方法和显微镜
JP2006275964A (ja) 走査型蛍光顕微鏡のシェーディング補正方法
JP2007506146A (ja) 共焦点レーザ走査顕微鏡
JP2010091694A (ja) 走査型顕微鏡
US20190129156A1 (en) Method and microscope for examining a sample
WO2016146411A1 (en) Illumination in digital pathology scanning

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20200110