CN108333805B - 不良点坐标自动检测方法和装置、设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种不良点坐标自动检测方法和装置、设备和存储介质,方法包括:获取显示面板全部点亮的第一图像,第一图像包括不良点;获取显示面板点亮至少两个标定像素的第二图像;根据至少两个标定像素与不良点的位置关系计算不良点的坐标;获取点亮不良点坐标对应的像素时显示面板的第三图像;根据第一图像和第三图像中像素的对应关系,判断点亮的坐标对应的像素与不良点是否重合。本申请的技术方案通过多个标定像素点亮的图像进行不良点坐标的智能定址计算,并与获取的影像进行比对,实现对不良点坐标的精确自动定址,能够实现自动确定不良点的位置减少了操作的步骤和人为的操作,节约了人力资源并提高了不良点确定的正确率。
Description
技术领域
本公开一般涉及显示面板领域,尤其涉及不良点坐标自动检测方法和装置、设备和存储介质。
背景技术
在液晶面板成盒后需进行成盒检测,测试的主要目的是检测出工艺过程中的不良,以便拦截不良面板投入后工序,减少后工程的资产浪费。为了便于点灯和节约成本,高分辨率的产品设计采用Shorting Bar方式进行一次Cell Test测试。一次Shorting Bar测试拦截不良面板需要二次Full Contact测试上报坐标,根据不良坐标进行维修,在进行三次Full Contact测试确认维修效果。在工业4.0驱动下,一次Shorting Bar测试已实现自动化无人检测。由于一次Shorting Bar测试不可实现精确实现不良坐标上报,只可上报差值坐标范围,不良坐标的上报需要进行人员进行二次Full Contact与三次Full Contact测试,才能进行面板修复提高良品。
发明内容
鉴于现有技术中的上述缺陷或不足,期望提供一种不良点坐标自动检测方法和装置、设备和存储介质。
第一方面,提供一种不良点坐标自动检测方法,包括以下步骤:
获取显示面板全部点亮的第一图像,所述第一图像包括不良点;
获取所述显示面板点亮至少两个标定像素的第二图像;
根据所述至少两个标定像素与不良点的位置关系计算所述不良点的坐标;
获取点亮所述不良点坐标对应的像素时所述显示面板的第三图像;
根据所述第一图像和所述第三图像中像素的对应关系,判断点亮的所述坐标对应的像素与所述不良点是否重合,若重合则计算所得的所述坐标为正确坐标,否则更换标定像素的位置重新获取第二图像以计算不良点的坐标。
第二方面,提供一种不良点坐标自动检测装置,包括:
图像获取模块,用于获取显示面板全部点亮的第一图像、所述显示面板点亮至少两个标定像素的第二图像和点亮所述不良坐标点坐标对应的像素时所述显示面板的第三图像;
坐标计算模块,用于根据所述至少两个标定像素与不良点的位置关系计算所述不良点的坐标;
比较模块,用于将所述第三图像与所述第一图像比较,判断点亮的所述坐标对应的像素与所述不良点是否重合,若重合则计算所得的所述坐标为正确坐标,将所述坐标反馈至控制器,否则将不一致信号反馈至控制器,控制器控制更换标定像素的位置重新获取第二图像以计算不良点的坐标。
第三方面,提供一种终端设备,包括:
中央处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述中央处理器执行时实现如上述的方法。
第四方面,提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被中央处理器执行时实现如上述的方法。
根据本申请实施例提供的技术方案,通过多个标定像素点亮的图像进行不良点坐标的智能定址计算,并与获取的影像进行比对,实现对不良点坐标的精确自动定址,将不良点坐标以及不良点情况进行上报,能够实现自动确定不良点的位置减少了操作的步骤和人为的操作,节约了人力资源并提高了不良点确定的正确率。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1为本发明实施例中不良坐标自动检测方法流程图;
图2为本发明实施例中差值坐标范围图;
图3为本发明实施例中第一图像;
图4为本发明实施例中第二图像;
图5为本发明实施例中第四图像;
图6为本发明实施例中第五图像;
图7为本发明实施例中物理距离坐标系;
图8为本发明实施例中相对坐标坐标系;
图9为本发明实施例提供的一种设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明,而非对该发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与发明相关的部分。
需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
请参考图1,本实施例提供一种不良点坐标自动检测方法,包括以下步骤:
获取显示面板全部点亮的第一图像,所述第一图像包括不良点;
获取所述显示面板点亮至少两个标定像素的第二图像;
根据所述至少两个标定像素与不良点的位置关系计算所述不良点的坐标;
获取点亮所述不良点坐标对应的像素时所述显示面板的第三图像;
根据所述第一图像和所述第三图像中像素的对应关系,判断点亮的所述坐标对应的像素与所述不良点是否重合,若重合则计算所得的所述坐标为正确坐标,否则更换标定像素的位置重新获取第二图像以计算不良点的坐标。
本实施中的检测方法首先对面板进行整个点亮获取该面板的点亮结果和第一图像,该第一图像如图3所示,其中第一图像上包括不良点01、坐标X轴02和坐标Y轴03;随后再对显示面板进行点亮,此次点亮为显示面板上标定像素的点亮,获取至少两个标定像素点亮的第二图像,如图4所示,根据第二图像上两个标定像素位置和与不良点的位置关系计算不良点的坐标,其中标定像素为已知该像素坐标位置的像素,通过两个标定像素的点亮确定其位置关系进一步对不良点进行计算。
通过上述计算步骤得出的坐标一般即是不良点的坐标,为了防止出现误差,还需要通过进一步的比对进行坐标的验证,将坐标对应的像素进行点亮测试并获取第三图像,将获取的该影像与原有的第一图像进行比对,确定该坐标处的像素是不是不良点,如果不是就需要重新获取第二图像重新进行计算。
进一步的,获取所述第一图像时还获取有所述不良点的不良信息和所述不良点的差值坐标范围,所述至少两个标定像素位于所述差值坐标范围内。其中不良信息包括例如该面板上的点不亮或者亮点闪烁等等问题,还包括不良点的差值坐标范围,即该不良点在该面板上的位置,其中差值坐标范围如图2所示,图2中01代表该不良点,10所示的范围为差值坐标范围。上面点亮的至少两个标定像素可以在显示面板上的任意位置,优选的将两个标定像素的位置选择在差值坐标范围内,将标定像素限定在差值坐标范围内能够使得需要计算的数据范围较小,获取更加准确并且操作更加方便。
本实施例中还对点亮结果、多个图像等数据进行保存,在需要进行计算或者比较时,再重新对上述数据进行读取,最后的计算结果、不良点的情况也都进行保存。
进一步的,所述“获取所述显示面板点亮至少两个标定像素的第二图像”具体为:获取所述显示面板点亮第一标定像素的第四图像,和,获取所述显示面板点亮第二标定像素的第五图像;
将所述第四图像与所述第五图像相同像素点的位置进行重合形成第二图像。
本实施例中给出了一种获取第二图像的实施方法,获取第四图像,如图5所示,该第四图像上包括有不良点01,坐标X轴和坐标Y轴,原点为第一标定像素04;
随后再对显示面板进行第二次对标定像素的点亮,第二次点亮是通过将信号进行有目的的移动进行的,该信号横向移动距离e,纵向移动距离d,其中信号的移动是以亚像素点为单位的,因此容易得知该信号移动的实际距离,第二次点亮显示面板后,获取第五图像,如图6所示,该图上包括有不良点01,坐标X轴和坐标Y轴,原点为第二标定像素05。
最后将第四图像和第五图像合成第二图像进行不良点坐标的计算,其中图像的合成需要将相同像素点的位置进行重合,保证合成后的图像准确的反应两次点亮的显示面板信息。
进一步的,所述“根据所述标定像素与不良点的位置关系计算所述不良点的坐标”具体包括:
测量所述第一标定像素与所述不良点之间的横向物理距离A、纵向物理距离B,所述第一标定像素与所述第二标定像素之间的横向物理距离E、纵向物理距离D,计算所述第一标定像素与所述第二标定像素之间的横向坐标差e、纵向坐标差d;
则所述第一标定像素与所述不良点之间的横向坐标差a=Ae/E、纵向坐标差b=Bd/D,
根据所述第一标定像素与所述不良点之间的横向坐标差、纵向坐标差和所述第一标定像素坐标确定所述不良点的坐标。
本实施例中详述了根据第二图像进行不良坐标计算的过程,如图4所示,图中显示有不良点01、第一标定像素04、第二标定像素05和两个标定像素坐标的坐标轴,该第二图像上能够测量出第一标定像素分别和另外两个点之间的物理距离,其中分别用沿面板横向的距离和纵向的距离进行表示,同时假设第一标定像素与不良点之间的相对坐标,即横向坐标差和纵向坐标差为a&b;接下来建立坐标系,将上述的物理距离和相对坐标放在坐标系内,对其进行计算,图7为物理距离坐标系,图8为相对坐标坐标系,理论上来讲,上述两个坐标系中的比例关系应当是一致的,根据比例关系计算出第一标定像素与不良点之间的坐标差a&b,根据坐标差即可得出不良点的坐标。
进一步的,获取所述第一图像之前,对所述显示面板上的像素进行全部点亮,并判断所述显示面板上所有像素点亮是否正常,如果是则不进行第一图像的获取,否则获取显示面板全部点亮的第一图像。
本实施例中首先对显示面板进行全部点亮,判断该显示面板是否所有像素都显示正常,如果存在显示不正常点,则进行第一图像的获取。
本实施例中通过对面板进行不同方式的点亮,通过多个标定像素点亮的图像进行不良点坐标的智能定址计算,并与获取的影像进行比对,实现对不良点坐标的精确自动定址,将不良点坐标以及不良点情况进行上报,能够实现自动确定不良点的位置减少了操作的步骤和人为的操作,节约了人力资源并提高了不良点确定的正确率。
本实施例还提供了一种不良坐标自动检测装置,包括:
图像获取模块,用于获取显示面板全部点亮的第一图像、所述显示面板点亮至少两个标定像素的第二图像和点亮所述不良坐标点坐标对应的像素时所述显示面板的第三图像;
坐标计算模块,用于根据所述至少两个标定像素与不良点的位置关系计算所述不良点的坐标;
比较模块,用于将所述第三图像与所述第一图像比较,判断点亮的所述坐标对应的像素与所述不良点是否重合,若重合则计算所得的所述坐标为正确坐标,将所述坐标反馈至控制器,否则将不一致信号反馈至控制器,控制器控制更换标定像素的位置重新获取第二图像以计算不良点的坐标。
本实施例中通过图像获取模块进行不同图像的获取,坐标计算模块针对特定的图像进行计算,得出不良点的坐标,进一步还通过比较模块对计算结果进行检验,判断计算出的坐标是否准确,能够实现自动确定不良点的位置减少了操作的步骤和人为的操作,节约了人力资源并提高了不良点确定的正确率。
进一步的,还包括控制器,用于控制显示面板上的像素全部点亮或者标定像素进行点亮,和,接收所述图像获取模块获取的图像。
本实施例中通过控制器控制显示面板的点亮情况,首次进行显示面板的全部点亮确定是否有不良点的存在,随后进行标定像素的点亮并获取图像其中包括标定像素的坐标等信息,以便于进行不良点坐标的计算。
进一步的,所述图像获取模块还用于获取所述不良点的不良信息和所述不良点的差值坐标范围,并将不良信息和差值坐标范围发送至控制器,所述至少两个标定像素位于所述差值坐标范围内。
图像获取模块还获取有不良点的不良信息,例如该面板上的点不亮或者亮点闪烁等等问题,还包括不良点的差值坐标范围,即该不良点在该面板上的位置,其中差值坐标范围如图2所示,图2中01代表该不良点,10所示的范围为差值坐标范围。上面点亮的至少两个标定像素可以在显示面板上的任意位置,优选的将两个标定像素的位置选择在差值坐标范围内,将标定像素限定在差值坐标范围内能够使得需要计算的数据范围较小,获取更加准确并且操作更加方便。
进一步的,所述图像获取模块还用于获取所述显示面板点亮第一标定像素的第四图像,和,获取所述显示面板点亮第二标定像素的第五图像;
所述图像获取模块中包括图像合成单元,用于将第四图像和第五图像相同像素点的位置进行重合形成第二图像。
本实施例中第二图像可以有多种方式获得,其中给出了一种实施方式是通过两次点亮的图像进行合成,形成包括两个标定像素点亮信息的第二图像进行不良点坐标计算,其中图像的合成需要将相同像素点的位置进行重合,保证合成后的图像准确的反应两次点亮的显示面板信息。
进一步的,所述坐标计算模块包括:物理距离测量单元,用于测量第一标定像素与不良点之间的横向物理距离A、纵向物理距离B,第一标定像素与所述第二标定像素之间的横向物理距离E、纵向物理距离D;
坐标差计算单元,用于计算第一标定像素与所述第二标定像素之间的横向坐标差e、纵向坐标差d;
不良点坐标计算单元,用于计算第一标定像素与不良点之间的横向坐标差a=Ae/E、纵向坐标差b=Bd/D,根据第一标定像素与不良点之间的横向坐标差、纵向坐标差和所述第一标定像素坐标确定所述不良点的坐标。
本实施例中详述了坐标计算模块进行不良点坐标计算的过程,其中包括物理距离测量单元测量第二图像上各点之间的物理距离,坐标差计算单元计算标定像素之间的坐标差,还包括不良点坐标计算单元通过比例关系进行坐标差的计算和不良点坐标的计算。本实施例中能够直接通过获取图像对不良点的坐标进行计算,减少了人为的操作,节约资源的同时提高了不良点确定的正确率。
图9为本发明一实施例提供的设备的结构示意图,作为另一方面,本实施例还提供一种终端设备900,包括:中央处理器(CPU)901,其可以根据存储在只读存储器(ROM)902中的程序或者从存储部分908加载到随机访问存储器(RAM)903中的程序而执行各种适当的动作和处理。在RAM903中,还存储有设备900操作所需的各种程序和数据。CPU901、ROM902以及RAM903通过总线904彼此相连。输入/输出(I/O)接口909也连接至总线904。
以下部件连接至I/O接口909:包括键盘、鼠标等的输入部分906;包括诸如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)等以及扬声器等的输出部分907;包括硬盘等的存储部分908;以及包括诸如LAN卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分909。通信部分909经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器910也根据需要连接至I/O接口909。可拆卸介质911,诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等,根据需要安装在驱动器910上,以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分908。
特别地,根据本公开的实施例,上述任一实施例描述的数据解析方法可以被实现为计算机软件程序。例如,本公开的实施例包括一种计算机程序产品,其包括有形地包含在机器可读介质上的计算机程序,所述计算机程序包含用于执行数据解析方法的程序代码。在这样的实施例中,该计算机程序可以通过通信部分909从网络上被下载和安装,和/或从可拆卸介质911被安装。
作为又一方面,本申请还提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质可以是上述实施例的***中所包含的计算机可读存储介质;也可以是单独存在,未装配入设备中的计算机可读存储介质。计算机可读存储介质存储有一个或者一个以上程序,该程序被一个或者一个以上的处理器用来执行描述于本申请的数据解析方法。
附图中的流程图和框图,图示了按照本发明各种实施例的***、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分,该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在有些作为替换的实现中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这根据所涉及的功能而定。也要注意的是,框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以通过执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的***来实现,或者可以通过专用硬件与计算机指令的组合来实现。
描述于本申请实施例中所涉及到的单元或模块可以通过软件的方式实现,也可以通过硬件的方式来实现。所描述的单元或模块也可以设置在处理器中,例如,各所述单元可以是设置在计算机或移动智能设备中的软件程序,也可以是单独配置的硬件装置。其中,这些单元或模块的名称在某种情况下并不构成对该单元或模块本身的限定。
以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解,本申请中所涉及的发明范围,并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案,同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下,由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。
Claims (10)
1.一种不良点坐标自动检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取显示面板全部点亮的第一图像,所述第一图像包括不良点;
获取所述显示面板点亮至少两个标定像素的第二图像,具体为:获取所述显示面板点亮第一标定像素的第四图像,和,获取所述显示面板点亮第二标定像素的第五图像;
将所述第四图像与所述第五图像相同像素点的位置进行重合形成第二图像;
根据所述至少两个标定像素与不良点的位置关系计算所述不良点的坐标;
获取点亮所述不良点坐标对应的像素时所述显示面板的第三图像;
根据所述第一图像和所述第三图像中像素的对应关系,判断点亮的所述坐标对应的像素与所述不良点是否重合,若重合则计算所得的所述坐标为正确坐标,否则更换标定像素的位置重新获取第二图像以计算不良点的坐标。
2.根据权利要求1所述的不良点坐标自动检测方法,其特征在于,获取所述第一图像时还获取有所述不良点的不良信息和所述不良点的差值坐标范围,所述至少两个标定像素位于所述差值坐标范围内。
3.根据权利要求1所述的不良点坐标自动检测方法,其特征在于,所述“根据所述标定像素与不良点的位置关系计算所述不良点的坐标”具体为:
测量所述第一标定像素与所述不良点之间的横向物理距离A、纵向物理距离B,所述第一标定像素与所述第二标定像素之间的横向物理距离E、纵向物理距离D,计算所述第一标定像素与所述第二标定像素之间的横向坐标差e、纵向坐标差d;
则所述第一标定像素与所述不良点之间的横向坐标差a=Ae/E、纵向坐标差b=Bd/D,
根据所述第一标定像素与所述不良点之间的横向坐标差、纵向坐标差和所述第一标定像素坐标确定所述不良点的坐标。
4.根据权利要求1或2所述的不良点坐标自动检测方法,其特征在于,获取所述第一图像之前,对所述显示面板上的像素进行全部点亮,并判断所述显示面板上所有像素点亮是否正常,如果是则不进行第一图像的获取,否则获取显示面板全部点亮的第一图像。
5.一种不良坐标自动检测装置,其特征在于,包括:
图像获取模块,用于获取显示面板全部点亮的第一图像、所述显示面板点亮至少两个标定像素的第二图像和点亮所述不良坐标点坐标对应的像素时所述显示面板的第三图像,
还用于获取所述显示面板点亮第一标定像素的第四图像,和,获取所述显示面板点亮第二标定像素的第五图像;
所述图像获取模块中包括图像合成单元,用于将第四图像和第五图像相同像素点的位置进行重合形成第二图像;
坐标计算模块,用于根据所述至少两个标定像素与不良点的位置关系计算所述不良点的坐标;
比较模块,用于将所述第三图像与所述第一图像比较,判断点亮的所述坐标对应的像素与所述不良点是否重合,若重合则计算所得的所述坐标为正确坐标,将所述坐标反馈至控制器,否则将不一致信号反馈至控制器,控制器控制更换标定像素的位置重新获取第二图像以计算不良点的坐标。
6.根据权利要求5所述的不良坐标自动检测装置,其特征在于,还包括控制器,用于控制显示面板上的像素全部点亮或者标定像素进行点亮,和,接收所述图像获取模块获取的图像。
7.根据权利要求5或6所述的不良坐标自动检测装置,其特征在于,所述图像获取模块还用于获取所述不良点的不良信息和所述不良点的差值坐标范围,并将不良信息和差值坐标范围发送至控制器,所述至少两个标定像素位于所述差值坐标范围内。
8.根据权利要求5所述的不良坐标自动检测装置,其特征在于,所述坐标计算模块包括:物理距离测量单元,用于测量第一标定像素与不良点之间的横向物理距离A、纵向物理距离B,第一标定像素与所述第二标定像素之间的横向物理距离E、纵向物理距离D;
坐标差计算单元,用于计算第一标定像素与所述第二标定像素之间的横向坐标差e、纵向坐标差d;
不良点坐标计算单元,用于计算第一标定像素与不良点之间的横向坐标差a=Ae/E、纵向坐标差b=Bd/D,根据第一标定像素与不良点之间的横向坐标差、纵向坐标差和所述第一标定像素坐标确定所述不良点的坐标。
9.一种终端设备,其特征在于,包括:
中央处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述中央处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被中央处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的方法。
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PB01 | Publication | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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