CN107290377B - 一种全反射x荧光光谱仪的样品盘定位装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括位于探测器下方的样品盘架，样品盘架的底面能够水平抽拉，样品盘水平设置于样品盘架的底面上，在样品盘架底面的下方设有压紧装置，在样品盘架两侧边框上设有水平定位装置。本发明解决了水平装样***的全反射X射线荧光仪的装样和样品定位问题，定位装置不影响入射和出射光，该结构操作简单，位置固定。

Description

一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置
技术领域
本发明属于全反射X荧光光谱仪的设计，具体涉及一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置。
背景技术
全反射X荧光光谱仪(TXRF)具有灵敏度高(pg-ng)，样品用量少(ng-μg，包括微米级微尘样品)，定量准确、样品无需消化，即可直接和多元素同时分析等一系列突出优点。TXRF体积小，可带到取样现场，能够分析中子活化(NAA)不能分析的Pb，S，As等元素。
TXRF与普通的ED-XRF不同之处在于经过切割反射体，当X射线发生全反射时，入射X射线和出射线的强度相等，消除了原级X射线在反射体上的相干和不相干散射现象，使散射本底降低了3个多量级，从而大大提高了峰背比。TXRF就是利用X射线全反射原理，将样品在反射体兼样品架上涂成薄层进行激发，达到降低散射本底、提高峰背比，以实现痕量元素分析的一项高新分析技术。
TXRF样品架的位置位于探测器正下方，用于承载样品盘，第二次全反射应该发生在样品盘表面中部。对Mo靶X射线荧光全反射角度为0.1度，微小的位置变化会造成很大的误差，因此，对样品架及定位装置精度要求严格。
布鲁克的TXRF仪的样品盘是竖直放置，固定样品盘采用夹片式固定方式，将样品架向外拉出，装样后将样品架送入进行测量，这种装样方式对固体微尘颗粒样品测量存在困难。
对于水平装样***，不适合采用夹片式样品架及定位，样品架装在入射光方向及两侧都会影响入射光到达样品盘表面，装在出射光方向影响样品放入与取出，不方便仪器调试。
发明内容
本发明的目的在于针对现有技术中存在的问题，提供一种适用于水平装样***的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，方便仪器调试及装放样品和定位。
本发明的技术方案如下：一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括位于探测器下方的样品盘架，样品盘架的底面能够水平抽拉，样品盘水平设置于样品盘架的底面上，在样品盘架底面的下方设有压紧装置，在样品盘架两侧边框上设有水平定位装置。
进一步，如上所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，其中，所述的压紧装置包括倾斜设置的压板和与压板端部连接的升降轴，所述升降轴的上端连接有弹簧，弹簧的顶端设有钢珠，当样品盘处于测量位置时，通过样品盘架的底面下压所述压紧装置的压板一侧，使压板另一侧端部的升降轴向上运动顶起所述钢珠，从而压紧样品盘。
进一步，如上所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，其中，所述压板能以圆柱销为中心转动，在压板设升降轴的一端下方连接复位弹簧。
进一步，如上所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，其中，所述的水平定位装置包括位于样品盘架两侧边框上的凸缘，在所述凸缘上设有定位顶珠，所述定位顶珠顶住样品盘的边缘。
本发明的有益效果如下：本发明所提供的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置采用抽拉上顶式，与布鲁克的TXRF仪的样品架不同。该装置的样品盘固定结构，方便装样、放样，以及样品到位后的固定。将样品盘架水平抽出，可实现样品放入与取出。样品盘定位点位于样品盘边缘，不影响入射和出射光，方便仪器调试及装放样品和定位，对于固体微尘颗粒样品也不影响测量。本发明解决了水平装样***的全反射X射线荧光仪的装样和样品定位问题，该结构操作简单，位置固定。
附图说明
图1为本发明全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置结构原理图；
图2为样品盘定位装置的机械结构图；
图3为样品盘定位装置的俯视图；
图4为样品盘定位装置处于不同位置的结构原理图。
图中，1.探测器 2.样品盘 3.样品盘架 4.压板 5.压紧件 6.凸缘 7.定位顶珠8.圆柱销 9.复位弹簧 10.升降轴
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的描述。
如图1所示，本发明所提供的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括位于探测器1下方的样品盘架3，样品盘架3的底面能够水平抽拉，样品盘2水平设置于样品盘架3的底面上，在样品盘架底面的下方设有压紧装置，压紧装置包括倾斜设置的压板4和位于压板端部的压紧件5，在样品盘架两侧边框上设有水平定位装置。
作为一个具体的实施例，压紧装置的结构如图2所示，所述压紧装置包括倾斜设置的压板4，在压板一端的上方连接升降轴10，所述升降轴10的上端连接有弹簧，弹簧的顶端设有钢珠，升降轴、弹簧、钢珠即构成了压紧件5的一种实施方式。压板4能以圆柱销8为中心转动，在压板4设升降轴的一端下方连接复位弹簧9。当样品盘2处于测量位置时(即位于探测器1的正下方)，通过样品盘架3的底面下压所述压紧装置的压板4一侧，压板4便围绕圆柱销8发生旋转，使压板另一侧端部的升降轴10向上运动，升降轴10通过弹簧顶起钢珠，从而通过钢珠压紧样品盘2。
由于在压板4连接升降轴的一端下方连接有复位弹簧9，当样品盘2随着样品盘架3外抽时，样品盘架3的底面脱离压板4，压板4连接升降轴的一端被复位弹簧9下拉，使得升降轴10随之向下运动。由于升降轴10的下移释放了其顶端弹簧对钢珠的压紧力，使样品盘2能够随样品盘架3向外抽拉。
如图3所示，所述水平定位装置包括位于样品盘架3两侧边框上的凸缘6，在所述凸缘6上设有定位顶珠7，所述定位顶珠7顶住样品盘2的边缘。在本实施例中，一侧凸缘上设置两个定位顶珠，另一侧凸缘上设置一个定位顶珠。
在装样时，将样品盘架底面抽出，如图4中所示的A状态，将样品盘2放置在样品盘架3的表面；然后将样品盘架3送回，在样品盘架3推回到位时将压板4压下，把压板端部的压紧件5顶起压紧样品盘2，如图4中所示的B状态；样品盘2上面通过凸缘6上的定位顶珠保证样品盘的水平位置，如图4中所示的C状态。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若对本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其同等技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (3)

1.一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，其特征在于：包括位于探测器(1)下方的样品盘架(3)，样品盘架(3)的底面能够水平抽拉，样品盘(2)水平设置于样品盘架(3)的底面上，在样品盘架(3)底面的下方设有压紧装置，在样品盘架(3)两侧边框上设有水平定位装置，所述的压紧装置包括倾斜设置的压板(4)和与压板端部连接的升降轴(10)，所述升降轴(10)的上端连接有弹簧，弹簧的顶端设有钢珠，当样品盘处于测量位置时，通过样品盘架(3)的底面下压所述压紧装置的压板(4)一侧，使压板(4)另一侧端部的升降轴(10)向上运动顶起所述钢珠，从而压紧样品盘(2)。
2.如权利要求1所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，其特征在于：所述压板(4)能以圆柱销(8)为中心转动，在压板(4)设升降轴(10)的一端下方连接复位弹簧(9)。
3.如权利要求1或2所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，其特征在于：所述的水平定位装置包括位于样品盘架(3)两侧边框上的凸缘(6)，在所述凸缘(6)上设有定位顶珠(7)，所述定位顶珠(7)顶住样品盘(2)的边缘。
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