CN107219229B - 一种面板灰尘过滤方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种面板灰尘过滤方法及装置。对面板进行缺陷检测，获取面板缺陷的位置数据和特征数据，得到面板历史缺陷信息；对当前检测面板上表面灰尘做过滤操作；根据面板历史缺陷信息，对当前检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，对灰尘进行过滤；将当前检测面板的缺陷判断数据更新到面板历史缺陷信息。相比于现有技术，极大程度的降低了面板下表面灰尘带来的误检，提高了AOI检测***的性能。

Description

一种面板灰尘过滤方法及装置
技术领域
本发明涉及图像缺陷领域，具体涉及一种面板灰尘过滤方法及装置。
背景技术
在进行AOI的LCD面板缺陷检测的过程中，很重要的一步就是灰尘的过滤。其中灰尘包含LCD面板上表面的灰尘和下表面的灰尘,如图1所示。因为这些灰尘的存在，故而面板的成像在灰尘位置存在异常。该异常和真正的缺陷非常的类似，如果不进行过滤就会导致大量的灰尘区域被当做缺陷检测出来，导致大量误检的产生，从而影响整个AOI***的性能。因此在进行LCD面板缺陷检测的时候，必须要进行灰尘的过滤。
由于灰尘包含了上表面的灰尘和下表面的灰尘，故而一般的方案中都会单独拍摄两张图像。
首先拍摄下表面灰尘图像，由于透光差的位置一般是下表面所在的位置，故而在下表面灰尘过滤图像中进行暗点的检测，该暗点(斑)即为背后灰尘。其次拍摄上表面过滤图像，由于开启了上下侧光灯和左右侧光灯，上表面的灰尘能够被均匀的照亮。故而在上表面过滤图像中进行亮点(斑)的检测即可得到表面灰尘所在的位置。
针对黑底液晶屏，由于完全不透光，故而可以将面板翻转将下表面灰尘转换为上表面灰尘来进行过滤。
现有的技术中存在如下几个问题：
1、目前大部分的LCD屏都是黑底模式，整个LCD面板都不透光，故而无法区分是否存在下表面灰尘。然而这些下表面灰尘在其他的检测画面(Red、Green、Blue、L0、L48、L127、L255等)会对该区域的成像带来一定的影响。
术语解释：
黑底液晶屏，对于此类液晶屏，不施加电压时，液晶不透光，呈现黑画面；施加电压时，液晶透光，显示白画面。
红、绿、蓝称为三基色，为LCD发光显示所采用，红、绿、蓝调节范围分别为0-255，它又称为RGB颜色模式，三色全部为0就是黑色，三色全部为255就是白色，单色红、绿、蓝为255就是：红(Red255)、绿(Green255)、蓝(Blue255)，分别为RGB设置不同的值可以搭配出***的颜色，L48：48灰阶画面，RGB的值均为48，RGB(48,48,48)画面。
2、采用翻转面板的方式可以解决大部分下表面灰尘问题，但是部分的下表面是附着在钢化玻璃表面，或者附着在灯箱内部，即使翻转也无法被拍摄到。同时进行面板的翻转会导致整个机构异常的复杂，极大的增加设备的成本。
发明内容
本发明的目的在于在黑底液晶屏的模式下，提出了一种灰尘的过滤方法及装置。该方法通过跟踪每一块面板检测到的缺陷的位置和特征，获取每个缺陷的历史轨迹信息，并实时的更新缺陷历史轨迹信息。根据缺陷历史轨迹信息来进行当前面板的灰尘的过滤，同时对历史误判的面板进行结果修正，从而有效的降低灰尘带来的误检。
一方面，本发明提供一种面板灰尘过滤方法，所述方法包括如下步骤：
步骤S1，对面板进行缺陷检测，获取面板缺陷的位置数据和特征数据，得到面板历史缺陷信息；
步骤S2，对当前检测面板上表面灰尘做过滤操作；根据面板历史缺陷信息，对当前检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，对灰尘进行过滤；
步骤S3，将当前检测面板的缺陷判断数据更新到面板历史缺陷信息。
进一步地，所述步骤S2中，根据面板历史缺陷信息，对当前检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，具体包括：
步骤S21，判断所述检测到的缺陷是否为暗点或者暗斑，如果是暗点或者暗斑，进入S22，如果不是暗点或者暗斑，判断为非灰尘；
步骤S22，统计所述检测到的缺陷在当前面板检测画面中出现的画面数量，是否等于3个或大于3个，是则进入S23，否则判断为非灰尘；
步骤S23，判断所述检测到的缺陷在历史缺陷信息中是否存在位置相近、画面相同的缺陷，是则进入S24,否则判断为非灰尘；
步骤S24，判断所述检测到的缺陷与历史缺陷信息中的相近位置、画面相同缺陷在对比度、面积、形状方面的差异特征值是否均小于阈值，是则进入步骤S25,否则判断为非灰尘；
步骤S25，将缺陷标记为下表面灰尘。
进一步地，在步骤S3之后，所述方法还包括：修正面板历史缺陷信息，具体过程为：
利用N+M块面板的缺陷数据作为面板历史缺陷信息，判断第n块面板的缺陷，修正面板历史缺陷信息中的第n块面板的缺陷数据，其中N>＝1，1<＝n<＝N，M>1。
另一方面，本发明提供一种面板灰尘过滤装置，所述装置包括：
面板历史缺陷信息获取单元，用于对面板进行缺陷检测，获取面板缺陷的位置数据和特征数据，得到面板历史缺陷信息；
灰尘过滤单元，用于对当前检测面板上表面灰尘做过滤操作；根据面板历史缺陷信息，对当前检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，对灰尘进行过滤；
面板历史缺陷信息更新单元，用于将当前检测面板的缺陷判断数据更新到面板历史缺陷信息。
进一步地，所述灰尘过滤单元包括：
灰尘判断单元，该单元用于：
判断所述检测到的缺陷是否为暗点或者暗斑；
统计所述检测到的缺陷在当前面板检测画面中出现的画面数量，是否等于3个或大于3个；
判断所述检测到的缺陷在历史缺陷信息中是否存在位置相近、画面相同的缺陷；
判断所述检测到的缺陷与历史缺陷信息中的相近位置、画面相同缺陷在对比度、面积、形状方面的差异特征值是否均小于阈值；
将缺陷标记为下表面灰尘。
进一步地，所述装置还包括：面板历史缺陷信息修正单元，该单元用于：利用N+M块面板的缺陷数据作为面板历史缺陷信息，判断第n块面板的缺陷，修正面板历史缺陷信息中的第n块面板的缺陷数据，其中N>＝1，1<＝n<＝N，M>1。
本发明与现有技术相比，具有以下优点：
(1)无需进行硬件结构的修改，不会增加额外的成本；
(2)可实施性极强，也不会导致整个检测时间的增加；
(3)既可以对当前面板的灰尘过滤，也能够对历史误判的面板进行结果的修正，极大程度的降低了面板下表面灰尘带来的误检，提高了AOI检测***的性能。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
图1为上表面灰尘和下表面灰尘以及缺陷在面板中的示意图；
图2为灰尘和真正的缺陷在图像中的成像效果对比示意图；
图3为本发明面板灰尘过滤方法示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
图1为上表面灰尘和下表面灰尘以及缺陷在面板中的示意图；
图2为灰尘和真正的缺陷在图像中的成像效果对比示意图；
图3为本发明面板灰尘过滤方法示意图。所述方法包括如下步骤：
步骤S1，对面板进行缺陷检测，获取面板缺陷的位置数据和特征数据，得到面板历史缺陷信息；
步骤S2，对当前检测面板上表面灰尘做过滤操作；根据面板历史缺陷信息，对当前检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，对灰尘进行过滤；
步骤S3，将当前检测面板的缺陷判断数据更新到面板历史缺陷信息。
进一步地，所述步骤S2中，根据面板历史缺陷信息，对当前检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，具体包括：
步骤S21，判断所述检测到的缺陷是否为暗点或者暗斑，如果是暗点或者暗斑，进入S22，如果不是暗点或者暗斑，判断为非灰尘；
步骤S22，统计所述检测到的缺陷在当前面板检测画面中出现的画面数量，是否等于3个或大于3个，是则进入S23，否则判断为非灰尘；
步骤S23，判断所述检测到的缺陷在历史缺陷信息中是否存在位置相近、画面相同的缺陷，是则进入S24,否则判断为非灰尘；
步骤S24，判断所述检测到的缺陷与历史缺陷信息中的相近位置、画面相同缺陷在对比度、面积、形状方面的差异特征值是否均小于阈值，是则进入步骤S25,否则判断为非灰尘；
步骤S25，将缺陷标记为下表面灰尘。
进一步地，在步骤S3之后，所述方法还包括：修正面板历史缺陷信息，具体过程为：
利用N+M块面板的缺陷数据作为面板历史缺陷信息，判断第n块面板的缺陷，修正面板历史缺陷信息中的第n块面板的缺陷数据，其中N>＝1，1<＝n<＝N，M>1。
具体实施例：
面板灰尘过滤方法：
步骤1：对流水线进入的面板N进行所有待检测画面的缺陷检测。其中检测的画面包含且不限于R255、G255、B255、L0、L48、L127、L255等。这些检测的画面根据需求进行增加或者减少。
术语R255、G255、B255、L0、L48、L127、L255的解释如下：
红(R)、绿(G)、蓝(B)为三基色，调节范围分别为0-255，分别为RGB设置不同的值可以搭配出不同的画面。
R255：单色红，且红色的值为255，RGB(255,0,0)画面；
G255：单色绿，且绿色的值为255，RGB(0,255,0)画面；
B255：单色蓝，且蓝色的值为255，RGB(0,0,255)画面；
L0：黑色，RGB的值都为0；
L48：48灰阶画面，RGB的值均为48，RGB(48,48,48)画面；L127、L255类似L48，L127为RGB(127,127,127)画面；L255为RGB(255,255,255)画面。
检测画面分为R255、G255、B255、L0、L48、L127、L255等。
步骤2:对检测的缺陷进行上表面灰尘的过滤；根据历史缺陷信息判断当前面板N中是否存在灰尘，并进行过滤，其中，N>＝1；
其中，根据面板历史缺陷信息，对当前检测面板下表面检测到的每个缺陷判断是否为灰尘的详细步骤：
步骤21，判断所述检测到的缺陷是否为暗点或者暗斑，如果是暗点或者暗斑，进入S22，如果不是暗点或者暗斑，判断为非灰尘；
步骤22，统计所述检测到的缺陷在当前面板检测画面中出现的画面数量，是否等于3个或大于3个，即，统计当前面板检测到的每个缺陷在当前面板检测画面中出现的画面数量，是否等于3个或大于3个，更具体的意思是：通常对面板进行缺陷检测时，检测画面为R255、G255、B255、L0、L48、L127、L255等画面，统计检测到的每个缺陷在这几个检测画面中出现的数量，根据数量进一步判断是否为灰尘，判断是否等于3个或大于3个，是则进入S23，否则判断为非灰尘；
步骤23，判断所述检测到的缺陷在历史缺陷信息中是否存在位置相近、画面相同的缺陷，是则进入S24,否则判断为非灰尘；
步骤24，判断所述检测到的缺陷与历史缺陷信息中的相近位置、画面相同缺陷在对比度、面积、形状方面的差异特征值是否全部小于阈值，是则进入步骤S25,否则判断为非灰尘；
步骤25，将缺陷标记为下表面灰尘。
步骤3：历史缺陷信息的更新与保存。
另一方面，本发明提供一种面板灰尘过滤装置，所述装置包括：
面板历史缺陷信息获取单元，用于对面板进行缺陷检测，获取面板缺陷的位置数据和特征数据，得到面板历史缺陷信息；
灰尘过滤单元，用于对当前检测面板上表面灰尘做过滤操作；根据面板历史缺陷信息，对当前检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，对灰尘进行过滤；
面板历史缺陷信息更新单元，用于将当前检测面板的缺陷判断数据更新到面板历史缺陷信息。
进一步地，所述灰尘过滤单元包括：
灰尘判断单元，该单元用于：
判断所述检测到的缺陷是否为暗点或者暗斑；
统计所述检测到的缺陷在当前面板检测画面中出现的画面数量，是否等于3个或大于3个；
判断所述检测到的缺陷在历史缺陷信息中是否存在位置相近、画面相同的缺陷；
判断所述检测到的缺陷与历史缺陷信息中的相近位置、画面相同缺陷在对比度、面积、形状方面的差异特征值是否均小于阈值；
将缺陷标记为下表面灰尘。
进一步地，所述装置还包括：面板历史缺陷信息修正单元，该单元用于：利用N+M块面板的缺陷数据作为面板历史缺陷信息，判断第n块面板的缺陷，修正面板历史缺陷信息中的第n块面板的缺陷数据，其中N>＝1，1<＝n<＝N，M>1。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种面板灰尘过滤方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
步骤S1，对N+M块面板进行缺陷检测，获取面板缺陷的位置数据和特征数据，得到面板历史缺陷信息,其中N>＝1，M>1，所述面板为黑底液晶屏模式；
步骤S2，对当前第n块检测面板上表面灰尘做过滤操作；根据面板历史缺陷信息，对当前第n块检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，对灰尘进行过滤，其中1<＝n<＝N；
步骤S3，将当前检测面板的缺陷判断数据更新到面板历史缺陷信息。
2.如权利要求1所述的面板灰尘过滤方法，其特征在于，所述步骤S2中，根据面板历史缺陷信息，对当前检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，具体包括：
步骤S21，判断所述检测到的缺陷是否为暗点或者暗斑，如果是暗点或者暗斑，进入S22，如果不是暗点或者暗斑，判断为非灰尘；
步骤S22，统计所述检测到的缺陷在当前面板检测画面中出现的画面数量，是否等于3个或大于3个，是则进入S23，否则判断为非灰尘；
步骤S23，判断所述检测到的缺陷在历史缺陷信息中是否存在位置相近、画面相同的缺陷，是则进入S24,否则判断为非灰尘；
步骤S24，判断所述检测到的缺陷与历史缺陷信息中的相近位置、画面相同缺陷在对比度、面积、形状方面的差异特征值是否均小于阈值，是则进入步骤S25,否则判断为非灰尘；
步骤S25，将缺陷标记为下表面灰尘。
3.如权利要求1所述的面板灰尘过滤方法，其特征在于，在步骤S3之后，所述方法还包括：修正面板历史缺陷信息，具体过程为：
利用N+M块面板的缺陷数据作为面板历史缺陷信息，判断第n块面板的缺陷，修正面板历史缺陷信息中的第n块面板的缺陷数据。
4.一种面板灰尘过滤装置，其特征在于，所述装置包括：
面板历史缺陷信息获取单元，用于对N+M块面板进行缺陷检测，获取面板缺陷的位置数据和特征数据，得到面板历史缺陷信息，所述面板为黑底液晶屏模式；
灰尘过滤单元，用于对当前第n块检测面板上表面灰尘做过滤操作；根据面板历史缺陷信息，对当前第n块检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘，对灰尘进行过滤，其中1<＝n<＝N；
面板历史缺陷信息更新单元，用于将当前检测面板的缺陷判断数据更新到面板历史缺陷信息。
5.如权利要求4所述面板灰尘过滤装置，其特征在于，所述灰尘过滤单元包括：
灰尘判断单元，该单元用于：
判断所述检测到的缺陷是否为暗点或者暗斑；
统计所述检测到的缺陷在当前面板检测画面中出现的画面数量，是否等于3个或大于3个；
判断所述检测到的缺陷在历史缺陷信息中是否存在位置相近、画面相同的缺陷；
判断所述检测到的缺陷与历史缺陷信息中的相近位置、画面相同缺陷在对比度、面积、形状方面的差异特征值是否均小于阈值；
将缺陷标记为下表面灰尘。
6.如权利要求4所述面板灰尘过滤装置，其特征在于，所述装置还包括：面板历史缺陷信息修正单元，该单元用于：利用N+M块面板的缺陷数据作为面板历史缺陷信息，判断第n块面板的缺陷，修正面板历史缺陷信息中的第n块面板的缺陷数据。
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