CN108663371B - 一种检测显示面板灰尘异物的方法及*** - Google Patents

一种检测显示面板灰尘异物的方法及*** Download PDF

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Abstract

本发明提供一种检测显示面板灰尘异物的方法,包括提供一显示面板;获取显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置及面积;将显示面板中每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其同一位置对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比,并根据对比结果,确定显示面板中每一灰尘异物分别对应位于显示面板的表面或内部。实施本发明,不仅能够区分灰尘异物是处于显示面板表面还是显示面板内部,还能省时省力。

Description

一种检测显示面板灰尘异物的方法及***
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域,尤其涉及一种检测显示面板灰尘异物的方法及***。
背景技术
AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode,有源矩阵有机发光二极体)显示器因具有节能、广视角、色彩真实、柔性可弯曲等优势,已成为显示面板的发展新趋势。
在柔性AMOLED面板生产过程中的成盒阶段及模组阶段均要对显示面板进行画面检查,具体通过白,黑,灰,红,绿,蓝画面的切换来检测显示面板的点、线、色斑(Mura)等不良,用以掌握显示面板的阶段生产良率,并为后续修补提供依据。然而,生产过程中不可避免存在着灰尘异物污染着显示面板的表面或者内部,使得显示面板品质下降。因此,准确的检测显示面板灰尘异物的具体信息就显得十分重要。
由于人眼在不同画面下看到的灰尘异物的情况是一样的,对灰尘异物处于显示面板表面还是内部无法做出准确判断,因此需要用到分辨能力更高的相机来完成自动画面检测。
在给出的现有画面检测过程中,首先通过检测光检测步骤模糊筛选出显示面板表面灰尘异物,再通过画面检测步骤进一步对检测光检测到的灰尘异物进行精确定位。如图1所示,在检测光检测步骤中,主要采用CCD相机1/、LED 光源2/和显示面板搭载台3/等设备来实现对显示面板4/的灰尘异物5/检测。检测时,显示面板4/处于暗态,LED光源2/发出的检测光照射到显示面板4/表面;此时,当检测光照射到没有灰尘异物的地方时,光线绝大部分会直接被反射走,使得CCD相机1/拍摄的图像均呈黑暗画面;当检测光照射到有灰尘异物5/存在的地方时,由于灰尘异物5/的表面对光线具有漫反射作用,使得有一部分光线会被反射至CCD相机1/中并CCD相机1/拍摄的图像中呈现出一个亮点,以此来检测出显示面板4/上的灰尘异物5/,并记录下该亮点对应在显示面板4/中的坐标位置。然后,在后续的画面检测过程中,如果在显示面板4/相同的坐标处出现异物,则会被定义为灰尘异物,以此过滤灰尘异物的干扰。然而,上述方法并不能区分灰尘异物是处于显示面板表面还是显示面板内部。
因此,亟需一种检测显示面板灰尘异物的方法,不仅能够区分灰尘异物是处于显示面板表面还是显示面板内部,还能省时省力。
发明内容
本发明实施例所要解决的技术问题在于,提供一种检测显示面板灰尘异物的方法及***,不仅能够区分灰尘异物是处于显示面板表面还是显示面板内部,还能省时省力。
为了解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种检测显示面板灰尘异物的方法,所述方法包括以下步骤:
提供一显示面板;
获取所述显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置及面积;
将所述显示面板中每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其同一位置对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比,并根据对比结果,确定所述显示面板中每一灰尘异物分别对应位于所述显示面板的表面或内部。
其中,所述将所述显示面板中每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其同一位置对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比,并根据对比结果,确定所述显示面板中每一灰尘异物位于所述显示面板的表面或内部的具体步骤包括:
将同一位置上每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比;
当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等,则确定出现在白光、红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等的灰尘异物位于所述显示面板的表面;
当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积等于其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和,则确定出现在白光画面下的面积等于出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和的灰尘异物位于所述显示面板的内部。
其中,所述显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置包括位于R、G和B三种发光像素之中任意两种之间的间隙以及位于R、G和B三种发光像素之中任意一种、两种或三种上。
其中,所述显示面板的白光画面是将R、G和B三种发光像素同时开启而获得;所述显示面板的红光画面是将R发光像素开启、G和B两种发光像素同时关闭而获得;所述显示面板的绿光画面是将G发光像素开启、R和B两种发光像素同时关闭而获得;所述显示面板的蓝光画面是将B发光像素开启、R和 G两种发光像素同时关闭而获得。
其中,所述显示面板为柔性AMOLED面板。
本发明实施例还提供了一种检测显示面板灰尘异物的***,所述***包括:
显示面板选定单元,用于提供一显示面板;
灰尘异物位置及面积获取单元,用于获取所述显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置及面积;
灰尘异物检测对比及确定单元,用于将所述显示面板中每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其同一位置对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比,并根据对比结果,确定所述显示面板中每一灰尘异物位于所述显示面板的表面或内部。
其中,所述灰尘异物检测对比及确定单元包括:
检测对比模块,用于将同一位置上每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比;
第一检测结果输出模块,用于当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等,则确定出现在白光、红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等的灰尘异物位于所述显示面板的表面;
第二检测结果输出模块,用于当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积等于其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和,则确定出现在白光画面下的面积等于出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和的灰尘异物位于所述显示面板的内部。
其中,所述显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置包括位于R、G和B三种发光像素之中任意两种之间的间隙以及位于R、G和B三种发光像素之中任意一种、两种或三种上。
其中,所述显示面板的白光画面是将R、G和B三种发光像素同时开启而获得;所述显示面板的红光画面是将R发光像素开启、G和B两种发光像素同时关闭而获得;所述显示面板的绿光画面是将G发光像素开启、R和B两种发光像素同时关闭而获得;所述显示面板的蓝光画面是将B发光像素开启、R和 G两种发光像素同时关闭而获得。
其中,所述显示面板为柔性AMOLED面板。
实施本发明实施例,具有如下有益效果:
与传统检测显示面板灰尘异物的方法相对比,本发明的检测显示面板灰尘异物的方法省略了传统检测方法中的检测光检测步骤,直接通过后续的画面检测步骤来检测出显示面板灰尘异物,并能同时判断出灰尘异物是处于显示面板的表面还是显示面板内部,从而优化了检测过程,降低了设备成本,并降低设备检测过程的节拍时间,省时省力。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,根据这些附图获得其他的附图仍属于本发明的范畴。
图1为现有技术中用于检测显示面板灰尘异物时检测光检测步骤的工作原理图;
图2为本发明实施例提供的检测显示面板灰尘异物的方法的流程图;
图3为本发明实施例提供的检测显示面板灰尘异物的方法的一应用场景图; 3a为灰尘异物同时横跨于R、G和B三种发光像素上并位于显示面板表面时分别对应白光、红光、绿光及蓝光画面下的对比图;3b为灰尘异物同时横跨于R、 G和B三种发光像素上并位于显示面板的内部分别对应白光、红光、绿光及蓝光画面下的对比图;
图4为本发明实施例提供的检测显示面板灰尘异物的方法的另一应用场景图;4a为灰尘异物单独位于G发光像素上并位于显示面板表面时分别对应白光、红光、绿光及蓝光画面下的对比图;4b为灰尘异物单独位于G发光像素上并位于显示面板的内部分别对应白光、红光、绿光及蓝光画面下的对比图;
图5为本发明实施例提供的检测显示面板灰尘异物的方法的又一应用场景图;5a为灰尘异物位于R和G两种发光像素之间的空隙并位于显示面板表面时分别对应白光、红光、绿光及蓝光画面下的对比图;5b为灰尘异物位于R和G 两种发光像素之间的空隙并位于显示面板的内部分别对应白光、红光、绿光及蓝光画面下的对比图;
图6为本发明实施例提供的检测显示面板灰尘异物的***的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述。
如图2所示,为本发明实施例中,提供的一种检测显示面板灰尘异物的方法,所述方法包括以下步骤:
步骤S1、提供一显示面板;
具体过程为,选定一显示面板进行检测,该显示面板包括但不限于柔性 AMOLED面板。
步骤S2、获取所述显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置及面积;
具体过程为,直接通过CCD相机对显示面板点灯状态下进行画面检测,用以获取显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置及面积,即首先判定显示面板在白光画面下所有出现灰尘异物的位置及其对应的面积,其次,依次在开启红光、绿光及蓝光画面下,分别得到所有灰尘异物在同一位置(位置不发生改变)对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积。
应当说明的是,显示面板的白光画面是将R、G和B三种发光像素同时开启而获得;显示面板的红光画面是将R发光像素开启、G和B两种发光像素同时关闭而获得;显示面板的绿光画面是将G发光像素开启、R和B两种发光像素同时关闭而获得;显示面板的蓝光画面是将B发光像素开启、R和G两种发光像素同时关闭而获得。
可以理解的是,显示面板灰尘异物的出现位置可以位于R、G和B三种发光像素之中任意两种之间的间隙,也可以是单独位于R、G和B三种发光像素之中任意一种上,也可以是位于R、G和B三种发光像素之中任意两种上,也可以是同时横跨于R、G和B三种发光像素上。
步骤S3、将所述显示面板中每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其同一位置对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比,并根据对比结果,确定所述显示面板中每一灰尘异物分别对应位于所述显示面板的表面或内部。
具体过程为,将同一位置上每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比;
当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等,则确定出现在白光、红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等的灰尘异物位于所述显示面板的表面;
当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积等于其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和,则确定出现在白光画面下的面积等于出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和的灰尘异物位于所述显示面板的内部。
应当说明的是,某一灰尘异物出现在显示面板的内部并位于R、G和B三种发光像素之中任意两种之间的间隙时,该灰尘异物并不影响R、G和B三种发光像素的发光,使得该灰尘异物出现在白光、红光、绿光及蓝光画面下的面积都为0,符合灰尘异物出现在白光画面下的面积等于其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和的规则。当然,如果灰尘异物出现在显示面板的表面并位于R、G和B三种发光像素之中任意两种之间的间隙时,灰尘异物会对发光像素进行部分遮挡,使得发光像素的光线同样会对表面灰尘异物进行渲染,显示出灰尘异物的形状和轮廓,符合灰尘异物出现在白光、红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等的规则。
在一个实施例中,某一灰尘异物A出现在白光画面下的面积为S10,且同一位置上在开启红光画面下的面积为S11、在开启绿光的面积为S12、在开启蓝光画面下的面积为S13;当白光面积S10=红光面积S11=绿光面积S12=蓝光面积 S13时,则该灰尘异物A位于显示面板的表面;
某一灰尘异物B出现在白光画面下的面积为S20,且同一位置上在开启红光画面下的面积为S21、在开启绿光的面积为S22、在开启蓝光画面下的面积为 S23;当白光面积S20=红光面积S21=绿光面积S22=蓝光面积S23时,则该灰尘异物B位于显示面板的内部;
依次类推,可以确定显示面板上所有灰尘异物出现在显示面板的表面还是内部。
如图3至图5所示,对本发明实施例中的检测显示面板灰尘异物的方法的应用场景做进一步说明;其中,white表示为白光画面、red表示为红光画面、 green表示为绿光画面、blue为表示蓝光画面:
在图3中,灰尘异物同时横跨于R、G和B三种发光像素上,如果灰尘异物在发光像素表面,则在白光,红光,绿光和蓝光画面下,由于发光像素光线对表面灰尘异物的渲染,灰尘异物的形状和轮廓会被完全显示出来(如图3a所示)。在结果处理时,让拍出来的白光画面图像和红光、绿光、蓝光三个画面的图像对比,若在白光画面出现的灰尘异物面积与红光、绿光、蓝光画面灰尘异物面积相同,即判定为表面灰尘异物,该灰尘异物位于显示面板的表面。
若灰尘异物在发光像素内部,则在不同画面下,由于发光像素光线无法对内部的灰尘异物进行渲染,这样只有发光像素被灰尘异物污染的部分才会表现为暗态(如3b所示)。同样,在结果处理时,让拍出来的白光画面图像和红光、绿光、蓝光三个画面的图像对比,若在白光画面出现的灰尘异物面积等于红光、绿光、蓝光画面灰尘异物面积三者相加之和,即判定为内部灰尘异物,该灰尘异物位于显示面板的内部。
在图4中,灰尘异物只作用在单个像素(如G发光像素)时,若灰尘异物位于发光像素表面,当发光像素被点亮时,同样由于发光像素的光线对表面灰尘异物的渲染作用,使得灰尘异物的形状和轮廓被显示出来(如图4a所示)。在结果处理时,让拍出来的白光画面图像和红光、绿光、蓝光三个画面的图像对比,若在白光画面出现的灰尘异物面积与红光、绿光、蓝光画面出现的灰尘异物面积相同,即可判定为表面灰尘异物,该灰尘异物位于显示面板的表面;
若灰尘异物在发光像素内部,发光像素光线无法对内部的灰尘异物进行渲染,同样只有像素被灰尘异物污染的部分会表现为暗态或缺色(如图4b所示)。在结果处理时,让拍出来的白光画面图像和红光、绿光、蓝光三个画面的图像对比,若在白光画面出现的灰尘异物面积等于红光、绿光、蓝光画面灰尘异物面积三者相加之和,即可判定为内部灰尘异物,该灰尘异物位于显示面板的内部。
在图5中,灰尘异物处于两种发光像素之间的间隙(如R和G发光像素之间的间隙)时,如果灰尘异物在发光像素表面,发光像素的光线同样会对表面灰尘异物进行渲染,显示出灰尘异物的形状和轮廓(如图5a所示)。在结果处理时,让拍出来的白光画面图像和红光、绿光、蓝光三个画面的图像对比,若在白光画面出现的灰尘异物面积与红光、绿光、蓝光画面出现的灰尘异物面积相同,即可判定为表面灰尘异物,该灰尘异物位于显示面板的表面;
若灰尘异物在发光像素内部,则此时的灰尘异物不会影响各像素的正常发光(如图5ab所示),即在结果处理时,让拍出来的白光画面图像和红光、绿光、蓝光三个画面的图像对比,白光画面出现的灰尘异物面积为0,且红光、绿光、蓝光画面出现的灰尘异物面积也为0,符合若在白光画面出现的灰尘异物面积等于红光、绿光、蓝光画面灰尘异物面积三者相加之和,即可判定为内部灰尘异物,该灰尘异物位于显示面板的内部。
总的来说,对于常见的灰尘异物出现位置,用本逻辑算法可以较快检测出内外灰尘异物,即在白光画面出现的灰尘异物面积与红光、绿光、蓝光画面灰尘异物面积相同,即判可定为表面灰尘异物;若在白光画面出现的灰尘异物面积等于红光、绿光、蓝光画面灰尘异物面积三者相加之和,即可判定为内部灰尘异物。
如图6所示,为本发明实施例中,提供的一种检测显示面板灰尘异物的***,所述***包括:
显示面板选定单元110,用于提供一显示面板;
灰尘异物位置及面积获取单元120,用于获取所述显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置及面积;
灰尘异物检测对比及确定单元130,用于将所述显示面板中每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其同一位置对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比,并根据对比结果,确定所述显示面板中每一灰尘异物位于所述显示面板的表面或内部。
其中,所述灰尘异物检测对比及确定单元130包括:
检测对比模块1301,用于将同一位置上每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比;
第一检测结果输出模块1302,用于当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等,则确定出现在白光、红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等的灰尘异物位于所述显示面板的表面;
第二检测结果输出模块1303,用于当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积等于其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和,则确定出现在白光画面下的面积等于出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和的灰尘异物位于所述显示面板的内部。
其中,显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置包括位于R、G和B三种发光像素之中任意两种之间的间隙以及位于R、 G和B三种发光像素之中任意一种、两种或三种上。
其中,显示面板的白光画面是将R、G和B三种发光像素同时开启而获得;显示面板的红光画面是将R发光像素开启、G和B两种发光像素同时关闭而获得;显示面板的绿光画面是将G发光像素开启、R和B两种发光像素同时关闭而获得;显示面板的蓝光画面是将B发光像素开启、R和G两种发光像素同时关闭而获得。
其中,显示面板为柔性AMOLED面板。
实施本发明实施例,具有如下有益效果:
与传统检测显示面板灰尘异物的方法相对比,本发明的检测显示面板灰尘异物的方法省略了传统检测方法中的检测光检测步骤,直接通过后续的画面检测步骤来检测出显示面板灰尘异物,并能同时判断出灰尘异物是处于显示面板的表面还是显示面板内部,从而优化了检测过程,降低了设备成本,并降低设备检测过程的节拍时间,省时省力。
值得注意的是,上述***实施例中,所包括的各个***单元只是按照功能逻辑进行划分的,但并不局限于上述的划分,只要能够实现相应的功能即可;另外,各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本发明的保护范围。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中,所述的存储介质,如ROM/RAM、磁盘、光盘等。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已,当然不能以此来限定本发明之权利范围,因此依本发明权利要求所作的等同变化,仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种检测显示面板灰尘异物的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
提供一显示面板;
获取所述显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置及面积;
将所述显示面板中每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其同一位置对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比,并根据对比结果,确定所述显示面板中每一灰尘异物分别对应位于所述显示面板的表面或内部。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述显示面板中每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其同一位置对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比,并根据对比结果,确定所述显示面板中每一灰尘异物位于所述显示面板的表面或内部的具体步骤包括:
将同一位置上每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比;
当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等,则确定出现在白光、红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等的灰尘异物位于所述显示面板的表面;
当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积等于其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和,则确定出现在白光画面下的面积等于出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和的灰尘异物位于所述显示面板的内部。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置包括位于R、G和B三种发光像素之中任意两种之间的间隙以及位于R、G和B三种发光像素之中任意一种、两种或三种上。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述显示面板的白光画面是将R、G和B三种发光像素同时开启而获得;所述显示面板的红光画面是将R发光像素开启、G和B两种发光像素同时关闭而获得;所述显示面板的绿光画面是将G发光像素开启、R和B两种发光像素同时关闭而获得;所述显示面板的蓝光画面是将B发光像素开启、R和G两种发光像素同时关闭而获得。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述显示面板为柔性AMOLED面板。
6.一种检测显示面板灰尘异物的***,其特征在于,所述***包括:
显示面板选定单元,用于提供一显示面板;
灰尘异物位置及面积获取单元,用于获取所述显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置及面积;
灰尘异物检测对比及确定单元,用于将所述显示面板中每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其同一位置对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比,并根据对比结果,确定所述显示面板中每一灰尘异物位于所述显示面板的表面或内部。
7.如权利要求6所述的***,其特征在于,所述灰尘异物检测对比及确定单元包括:
检测对比模块,用于将同一位置上每一灰尘异物分别出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积进行对比;
第一检测结果输出模块,用于当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积与其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等,则确定出现在白光、红光、绿光及蓝光画面下的面积均相等的灰尘异物位于所述显示面板的表面;
第二检测结果输出模块,用于当同一位置上某一灰尘异物出现在白光画面下的面积等于其对应出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和,则确定出现在白光画面下的面积等于出现在红光、绿光及蓝光画面下的面积三者相加之和的灰尘异物位于所述显示面板的内部。
8.如权利要求6所述的***,其特征在于,所述显示面板分别在白光、红光、绿光及蓝光画面下所有出现灰尘异物的位置包括位于R、G和B三种发光像素之中任意两种之间的间隙以及位于R、G和B三种发光像素之中任意一种、两种或三种上。
9.如权利要求6所述的***,其特征在于,所述显示面板的白光画面是将R、G和B三种发光像素同时开启而获得;所述显示面板的红光画面是将R发光像素开启、G和B两种发光像素同时关闭而获得;所述显示面板的绿光画面是将G发光像素开启、R和B两种发光像素同时关闭而获得;所述显示面板的蓝光画面是将B发光像素开启、R和G两种发光像素同时关闭而获得。
10.如权利要求6所述的***,其特征在于,所述显示面板为柔性AMOLED面板。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11523722B2 (en) 2019-05-28 2022-12-13 Pixart Imaging Inc. Dirtiness level determining method and electronic device applying the dirtiness level determining method
US11493336B2 (en) 2020-06-22 2022-11-08 Pixart Imaging Inc. Optical navigation device which can determine dirtiness level of cover or fix multi light pattern issue

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11201864A (ja) * 1998-01-09 1999-07-30 Seiko Epson Corp 液晶パネルのセルギャップ測定方法
JP2003013129A (ja) * 2001-07-03 2003-01-15 Nkk Corp スラグ検知方法、スラグ検知装置、及び除滓装置
KR20080071078A (ko) * 2007-01-29 2008-08-01 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 컬러 필터 및 그의 제조방법, 및 그 컬러 필터를 가지는전자기기
US7932972B2 (en) * 2006-10-02 2011-04-26 Lg Display Co., Ltd. Substrate for liquid crystal display device and method of fabricating the same
JP2013033096A (ja) * 2011-08-01 2013-02-14 Mitsubishi Electric Corp 液晶表示パネルおよびその製造方法
CN103076344A (zh) * 2012-12-27 2013-05-01 深圳市华星光电技术有限公司 显示面板的缺陷检测方法及其检测装置
CN104359917A (zh) * 2014-11-18 2015-02-18 北京凌云光技术有限责任公司 液晶屏内部灰尘检测方法及装置
CN105424726A (zh) * 2016-01-12 2016-03-23 苏州富鑫林光电科技有限公司 基于机器视觉的发光面板检测方法
CN106158907A (zh) * 2015-04-24 2016-11-23 上海和辉光电有限公司 Oled显示器件
CN107611046A (zh) * 2017-07-28 2018-01-19 华灿光电(浙江)有限公司 一种内层缺陷的检测装置及检测方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11201864A (ja) * 1998-01-09 1999-07-30 Seiko Epson Corp 液晶パネルのセルギャップ測定方法
JP2003013129A (ja) * 2001-07-03 2003-01-15 Nkk Corp スラグ検知方法、スラグ検知装置、及び除滓装置
US7932972B2 (en) * 2006-10-02 2011-04-26 Lg Display Co., Ltd. Substrate for liquid crystal display device and method of fabricating the same
KR20080071078A (ko) * 2007-01-29 2008-08-01 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 컬러 필터 및 그의 제조방법, 및 그 컬러 필터를 가지는전자기기
JP2013033096A (ja) * 2011-08-01 2013-02-14 Mitsubishi Electric Corp 液晶表示パネルおよびその製造方法
CN103076344A (zh) * 2012-12-27 2013-05-01 深圳市华星光电技术有限公司 显示面板的缺陷检测方法及其检测装置
CN104359917A (zh) * 2014-11-18 2015-02-18 北京凌云光技术有限责任公司 液晶屏内部灰尘检测方法及装置
CN106158907A (zh) * 2015-04-24 2016-11-23 上海和辉光电有限公司 Oled显示器件
CN105424726A (zh) * 2016-01-12 2016-03-23 苏州富鑫林光电科技有限公司 基于机器视觉的发光面板检测方法
CN107611046A (zh) * 2017-07-28 2018-01-19 华灿光电(浙江)有限公司 一种内层缺陷的检测装置及检测方法

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