CN106979821A - 烹饪器具的过热检测方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种烹饪器具的过热检测方法和装置，所述方法包括以下步骤：获取烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度；根据平均温度获取烹饪器具的温度变化值和温度变化率，其中，温度变化值为平均温度与基准温度之间的温度差值；根据温度变化值和温度变化率判断烹饪器具是否过热。该方法能够根据烹饪器具上方预设面积范围内的温度变化值和温度变化率，有效判断出烹饪器具是否发生过热等异常状态，避免出现安全事故。

Description

烹饪器具的过热检测方法和装置

技术领域

本发明涉及家用电器技术领域，特别涉及一种烹饪器具的过热检测方法和一种烹饪器具的过热检测装置。

背景技术

在烹饪电器(如燃气灶，多头灶等)的使用过程中，由于用户经常忘记关火/断电，很容易造成烹饪器具出现过热等异常情况。在烹饪器具出现过热时，会引起食物烧糊、烹饪器具涂层物质产生化学反应等，不仅污染厨房环境，给用户身体健康造成危害，而且严重时会发生火灾，存在很大的安全隐患。

相关技术中，通过温度变化值来判断烹饪器具是否发生过热，即，在烹饪器具的温度变化值达到预先设定的温度变化阈值时，判断烹饪器具发生过热。但是，在实际使用中，不同大小的烹饪器具所承受的热量是不同的，很容易导致小烹饪器具因承受的热量过多而损坏。

而且，在获取温度变化值时，是通过设置两个或两个以上的传感器，或者采用多个不同波长段传感器来检测烹饪器具的温度，根据该温度计算温度变化值，这样不仅硬件成本高，而且检测不准确。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本发明的一个目的在于提出一种烹饪器具的过热检测方法，能够根据烹饪器具上方预设面积范围内的温度变化值和温度变化率，有效判断出烹饪器具是否发生过热等异常状态，避免出现安全事故。

本发明的另一个目的在于提出一种烹饪器具的过热检测装置。

为实现上述目的，本发明一方面实施例提出了一种烹饪器具的过热检测方法，包括以下步骤：获取烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度；根据所述平均温度获取所述烹饪器具的温度变化值和温度变化率，其中，所述温度变化值为所述平均温度与基准温度之间的温度差值；根据所述温度变化值和所述温度变化率判断所述烹饪器具是否过热。

根据本发明实施例的烹饪器具的过热检测方法，首先，获取烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度，然后，根据平均温度获取烹饪器具的温度变化值和温度变化率，最后，根据温度变化值和温度变化率判断烹饪器具是否过热。该方法能够根据烹饪器具上方预设面积范围内的温度变化值和温度变化率，有效判断出烹饪器具是否发生过热等异常状态，避免出现安全事故。

根据本发明的一个实施例，所述根据所述温度变化值和所述温度变化率判断所述烹饪器具是否过热，包括：判断所述温度变化率是否大于等于第一预设变化率；如果所述温度变化率大于等于所述第一预设变化率，则根据所述温度变化率计算所述烹饪器具的过热预测值；判断所述过热预测值是否大于等于预设过热阈值、且所述温度变化值大于等于第一预设值；如果所述过热预测值大于等于所述预设过热阈值、且所述温度变化值大于等于所述第一预设值，则判断所述烹饪器具过热。

根据本发明的一个实施例，所述过热预测值为在判断所述温度变化率大于等于所述第一预设变化率后的温度变化率之和。

根据本发明的一个实施例，上述的烹饪器具的过热检测方法，还包括：判断所述温度变化率是否小于第二预设变化率，其中，所述第二预设变化率小于所述第一预设变化率；如果所述温度变化率小于所述第二预设变化率，则根据所述平均温度对所述基准温度进行补偿。

根据本发明的一个实施例，如果所述温度变化率大于等于所述第二预设变化率且小于所述第一预设变化率，则还包括：判断所述温度变化值是否小于第二预设值，其中，所述第二预设值小于所述第一预设值；如果所述温度变化值小于所述第二预设值，则对所述过热预测值初始化。

根据本发明的一个实施例，通过设置在所述烹饪器具上方的一个或多个红外线温度传感器获取所述预设面积范围内的平均温度。

为实现上述目的，本发明另一方面实施例提出的一种烹饪器具的过热检测装置，包括：第一获取模块，用于获取烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度；第二获取模块，用于根据所述平均温度获取所述烹饪器具的温度变化值和温度变化率，其中，所述温度变化值为所述平均温度与基准温度之间的温度差值；判断模块，用于根据所述温度变化值和所述温度变化率判断所述烹饪器具是否过热。

根据本发明实施例的烹饪器具的过热检测装置，通过第一获取模块获取烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度，第二获取模块根据平均温度获取烹饪器具的温度变化值和温度变化率，判断模块根据温度变化值和温度变化率判断烹饪器具是否过热。该装置能够根据烹饪器具上方预设面积范围内的温度变化值和温度变化率，有效判断出烹饪器具是否发生过热等异常状态，避免出现安全事故。

根据本发明的一个实施例，所述判断模块包括：第一判断子模块，用于判断所述温度变化率是否大于等于第一预设变化率；计算模块，用于在所述第一判断子模块判断所述温度变化率大于等于所述第一预设变化率时，根据所述温度变化率计算所述烹饪器具的过热预测值；第二判断子模块，用于判断所述过热预测值是否大于等于预设过热阈值、且所述温度变化值大于等于第一预设值，其中，如果所述过热预测值大于等于所述预设过热阈值、且所述温度变化值大于等于所述第一预设值，则判断所述烹饪器具过热。

根据本发明的一个实施例，所述过热预测值为在判断所述温度变化率大于等于所述第一预设变化率后的温度变化率之和。

根据本发明的一个实施例，上述的烹饪器具的过热检测装置，还包括补偿模块，所述补偿模块用于在所述第一判断子模块判断所述温度变化率小于第二预设变化率时，根据所述平均温度对所述基准温度进行补偿，其中，所述第二预设变化率小于所述第一预设变化率。

根据本发明的一个实施例，上述的烹饪器具的过热检测装置，还包括初始化模块，所述初始化模块用于在所述第一判断子模块判断所述温度变化率大于等于所述第二预设变化率且小于所述第一预设变化率、且所述第二判断子模块判断所述温度变化值小于第二预设值时，对所述过热预测值初始化，其中，所述第二预设值小于所述第一预设值。

根据本发明的一个实施例，所述第一获取模块通过设置在所述烹饪器具上方的一个或多个红外线温度传感器获取所述预设面积范围内的平均温度。

附图说明

图1是根据本发明实施例的烹饪器具的过热检测方法的流程图；

图2是相关技术中采用“点”方式对烹饪器具上方的温度进行检测的结构示意图；

图3是根据本发明一个实施例的采用“面”方式对烹饪器具上方的温度进行检测的结构示意图；

图4是根据本发明一个实施例的烹饪器具中有食物的温度变化曲线图；

图5是根据本发明一个实施例的烹饪器具的过热检测方法的流程图；

图6是根据本发明实施例的烹饪器具的过热检测装置的方框示意图；

图7是根据本发明一个实施例的烹饪器具的过热检测装置的方框示意图；

图8是根据本发明另一个实施例的烹饪器具的过热检测装置的方框示意图；以及

图9是根据本发明又一个实施例的烹饪器具的过热检测装置的方框示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面参照附图来描述根据本发明实施例提出的烹饪器具的过热检测方法和烹饪器具的过热检测装置。

图1是根据本发明实施例的烹饪器具的过热检测方法的流程图。如图1所示，该烹饪器具的过热检测方法可包括以下步骤：

S1，获取烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度。

根据本发明的一个实施例，通过设置在烹饪器具上方的一个或多个红外线温度传感器获取预设面积范围内的平均温度。

具体而言，以燃气灶为例。当采用图2所示的“点”方式对烹饪器具上方的温度进行检测时，需要安装与被测对象同等数量的传感器，且需要调整传感器与被测对象之间距离。而且，在对温度进行检测时，如果被测对象与传感器之间存在遮挡物，例如，烹饪过程中产生的油烟、蒸汽等异物会遮挡大部分检测区域，使得检测结果不准确，抗干扰性差。总体来说，“点”方式温度检测方法受外界环境影响大。

当采用图3所示的“面”方式对烹饪器具上方的温度进行检测时，可采用单个传感器检测烹饪器具上方(如吸油烟机底部)一定面积的温度，不仅覆盖区域大，成本低，无需匹配其他参数(如不同型号的烹饪电器的炉头位置，传感器与被测对象之间的相对位置等)，而且烹饪过程中产生的油烟、蒸汽等异物仅遮挡小部分面积，不会影响检测结果，抗干扰性较强。

因此，在本发明的实施例中，采用“面”方式进行检测。如图3所示，可通过设置在烹饪器具上方的一个红外线温度传感器(如，非接触式红外测温传感器)，实时检测烹饪器具上方预设面积内的温度，该温度包括烹饪电器的温度、烹饪器具的温度以及食物温度等，并对获取的温度求取平均值，以获得预设面积范围内的平均温度Tm。

可以理解的是，在本发明的实施例中，还可以设置多个红外线温度传感器以实时检测烹饪器具上方预设面积内的温度，以进一步提高温度检测的精确度。

S2，根据平均温度获取烹饪器具的温度变化值和温度变化率。

具体地，温度变化值为平均温度Tm与基准温度Tr之间的温度差值，温度变化率dTm/dt为短时间内的平均温度变化量。其中，基准温度Tr可以为出厂设置的默认值，例如，默认值可以为20℃。

S3，根据温度变化值和温度变化率判断烹饪器具是否过热。

根据本发明的一个实施例，根据温度变化值和温度变化率判断烹饪器具是否过热，包括：判断温度变化率是否大于等于第一预设变化率；如果温度变化率大于等于第一预设变化率，则根据温度变化率计算烹饪器具的过热预测值；判断过热预测值是否大于等于预设过热阈值、且温度变化值大于等于第一预设值；如果过热预测值大于等于预设过热阈值、且温度变化值大于等于第一预设值，则判断烹饪器具过热。

其中，第一预设变化率和预设过热阈值可根据实际情况进行标定，过热预测值可定义多种形式，例如，过热预测值可以为在判断温度变化率大于等于第一预设变化率后的温度变化率之和。

具体而言，在烹饪电器开始工作后，烹饪器具上方的平均温度会发生变化，温度变化值和温度变化率也会相应的发生变化。由于采用“面”方式检测烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度，包括烹饪电器的温度、烹饪器具的温度以及食物温度等，因此，不管烹饪器具内是否有食物，同时使用时的烹饪器具的大小是否相同，都能快速准确的判断出烹饪器具是否出现过热。

以带有食物的烹饪器具为例。如图4所示，A区域表示带有食物的烹饪器具温度升高曲线，在该区域中，热量集中对食物与烹饪器具加热；B区域表示一定时间后，烹饪器具内的食物煮熟后温度升高曲线，在该区域中，热量集中于水分蒸发；C区域表示烹饪器具内水分蒸发后温度曲线，在该区域中，温度变化率最大。因此，可根据C区域的温度变化值和温度变化率来判断烹饪器具是否出现过热。

当温度变化率大于等于一定值(如第一预设变化率)时，对应图4中的C区域，此时，可根据C区域中虚线圈出的温度变化率来计算OEV(Overheat Estimation Value，过热预测值)，例如，过热预测值OEV可以为温度变化率第一次大于等于第一预设变化率γ后的温度变化率之和，即，OEV＝ΣdTm/dt。同时，计算平均温度和基准温度之间的差值，即温度变化值。然后，对过热预测值OEV和温度变化值进行判断，如果过热预测值OEV大于等于预设过热阈值、且温度变化值大于等于第一预设值，则说明烹饪器具过热。从而利用有关热传递特性温度变化率数据，无需预先设定实际过热温度值(如，超过50℃即可判断为过热)，有效解决了使用不同热传递的烹饪器具(如，大小不同的烹饪器具)时出现的过热问题。而且在判断出现过热时，可发出报警提示以对用户进行提醒。

因此，根据本发明实施例的烹饪器具的过热检测方法，通过根据烹饪器具上方预设面积范围内的温度变化值和温度变化率来判断烹饪器具是否发生过热损坏，不仅判断精度高，而且成本比较低，通用性强。

根据本发明的一个实施例，上述的烹饪器具的过热检测方法还包括：判断温度变化率是否小于第二预设变化率；如果温度变化率小于第二预设变化率，则根据平均温度对基准温度进行补偿。其中，第二预设变化率小于第一预设变化率，第二预设变化率可根据实际情况进行标定。

具体而言，不同季节、不同地区的环境温度不同，如果均采用默认的基准温度进行计算和判断，则在判断烹饪器具是否出现过热时，会产生较大的误差，因此，可以对基准温度进行补偿，以使基准温度更加符合实际情况。

具体地，在对温度变化率进行判断时，如果温度变化率小于第二预设变化率，则说明烹饪电器未开启，此时，可根据烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度对基准温度进行补偿，例如，基准温度等于平均温度；如果温度变化率大于等于第二预设变化率，则说明烹饪电器开启，不对基准温度进行补偿，即保持当前基准温度不变，并根据平均温度和保存的基准温度计算温度变化值和温度变化率，以根据温度变化值和温度变化率判断烹饪器具是否过热。从而能够通过烹饪器具上方的平均温度对基准温度进行补偿，不仅使得控制更加精准，而且无需额外使用温度传感器检测当前环境温度，节约了成本。

进一步地，根据本发明的一个实施例，如果温度变化率大于等于第二预设变化率且小于第一预设变化率，则还包括：判断温度变化值是否小于第二预设值；如果温度变化值小于第二预设值，则对过热预测值初始化。其中，第二预设值小于第一预设值，第二预设值可根据实际情况进行标定。

具体而言，如果温度变化率大于第二预设变化率且小于第一预设变化率，则说明此时大部分热量集中于对烹饪器具和食物进行加热或对水分蒸发状态，即图4中A区域或B区域。而如果此时温度变化值小于第二预设值，则说明烹饪器具不会出现过热，此时对过热预测值进行初始化；如果温度变化值大于等于第二预设值，则继续根据烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度获取温度变化值和温度变化率，并对温度变化值和温度变化率进行判断。

为使本领域技术人员更清楚的了解本发明。图5是根据本发明一个实施例的烹饪器具的过热检测方法的流程图。如图5所示，该烹饪器具的过热检测方法可包括以下步骤：

S101，获取烹饪器具上方一定面积的平均温度Tm。

S102，根据Tm获取温度变化率dTm/dt。

S103，判断dTm/dt是否大于等于第二预设变化率α。如果是，执行步骤S105；如果否，执行步骤S104。

S104，根据Tm对基准温度Tr进行补偿，例如，Tr＝Tm。

S105，判断dTm/dt是否大于等于第一预设变化率γ。如果是，执行步骤S106；如果否，执行步骤S110。

S106，计算过热预测值OEV，例如，OEV＝ΣdTm/dt。

S107，获取温度变化值Tm-Tr。

S108，判断OEV是否大于等于设过热阈值δ、且Tm-Tr大于等于第一预设值B。如果是，执行步骤S109；如果否，执行步骤S110。

S109，烹饪器具过热。

S110，判断Tm-Tr是否小于第二预设值A。如果是，执行步骤S111；如果否，返回步骤S101。

S111，OEV初始化。

综上所述，根据本发明实施例的烹饪器具的过热检测方法，首先，获取烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度，然后，根据平均温度获取烹饪器具的温度变化值和温度变化率，最后，根据温度变化值和温度变化率判断烹饪器具是否过热。该方法能够根据烹饪器具上方预设面积范围内的温度变化值和温度变化率，有效判断出烹饪器具是否发生过热等异常状态，避免出现安全事故。

图6是根据本发明实施例的烹饪器具的过热检测装置的方框示意图。如图6所示，该烹饪器具的过热检测装置可包括：第一获取模块10、第二获取模块20和判断模块30。

其中，第一获取模块10用于获取烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度。第二获取模块20用于根据平均温度获取烹饪器具的温度变化值和温度变化率，温度变化值为平均温度与基准温度之间的温度差值。判断模块30用于根据温度变化值和温度变化率判断烹饪器具是否过热。

根据本发明的一个实施例，如图7所示，判断模块30包括：第一判断子模块31、计算模块32和第二判断子模块33。其中，第一判断子模块31用于判断温度变化率是否大于等于第一预设变化率；计算模块32用于在第一判断子模块31判断温度变化率大于等于第一预设变化率时，根据温度变化率计算烹饪器具的过热预测值；第二判断子模块33用于判断过热预测值是否大于等于预设过热阈值、且温度变化值大于等于第一预设值，如果过热预测值大于等于预设过热阈值、且温度变化值大于等于第一预设值，则判断烹饪器具过热。

根据本发明的一个实施例，过热预测值为在判断温度变化率大于等于第一预设变化率后的温度变化率之和。

根据本发明的一个实施例，如图8所示，上述的烹饪器具的过热检测装置还包括：补偿模块40。补偿模块40用于在第一判断子模块31判断温度变化率小于第二预设变化率时，根据平均温度对基准温度进行补偿，其中，第二预设变化率小于第一预设变化率。

根据本发明的一个实施例，如图9所示，上述的烹饪器具的过热检测装置还包括：初始化模块50。初始化模块50用于在第一判断子模块31判断温度变化率大于等于第二预设变化率且小于第一预设变化率、且第二判断子模块33判断温度变化值小于第二预设值时，对过热预测值初始化，其中，第二预设值小于第一预设值。

根据本发明的一个实施例，第一获取模块10通过设置在烹饪器具上方的一个或多个红外线温度传感器获取预设面积范围内的平均温度。

需要说明的是，本发明实施例的烹饪器具的过热检测装置中未披露的细节，请参照本发明实施例的烹饪器具的过热检测方法中所披露的细节，具体这里不再赘述。

根据本发明实施例的烹饪器具的过热检测装置，通过第一获取模块获取烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度，第二获取模块根据平均温度获取烹饪器具的温度变化值和温度变化率，判断模块根据温度变化值和温度变化率判断烹饪器具是否过热。该装置能够根据烹饪器具上方预设面积范围内的温度变化值和温度变化率，有效判断出烹饪器具是否发生过热等异常状态，避免出现安全事故。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (12)

1.一种烹饪器具的过热检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度；

根据所述平均温度获取所述烹饪器具的温度变化值和温度变化率，其中，所述温度变化值为所述平均温度与基准温度之间的温度差值；

根据所述温度变化值和所述温度变化率判断所述烹饪器具是否过热。

2.如权利要求1所述的烹饪器具的过热检测方法，其特征在于，所述根据所述温度变化值和所述温度变化率判断所述烹饪器具是否过热，包括：

判断所述温度变化率是否大于等于第一预设变化率；

如果所述温度变化率大于等于所述第一预设变化率，则根据所述温度变化率计算所述烹饪器具的过热预测值；

判断所述过热预测值是否大于等于预设过热阈值、且所述温度变化值大于等于第一预设值；

如果所述过热预测值大于等于所述预设过热阈值、且所述温度变化值大于等于所述第一预设值，则判断所述烹饪器具过热。

3.如权利要求2所述的烹饪器具的过热检测方法，其特征在于，所述过热预测值为在判断所述温度变化率大于等于所述第一预设变化率后的温度变化率之和。

4.如权利要求2或3所述的烹饪器具的过热检测方法，其特征在于，还包括：

判断所述温度变化率是否小于第二预设变化率，其中，所述第二预设变化率小于所述第一预设变化率；

如果所述温度变化率小于所述第二预设变化率，则根据所述平均温度对所述基准温度进行补偿。

5.如权利要求4所述的烹饪器具的过热检测方法，其特征在于，如果所述温度变化率大于等于所述第二预设变化率且小于所述第一预设变化率，则还包括：

判断所述温度变化值是否小于第二预设值，其中，所述第二预设值小于所述第一预设值；

如果所述温度变化值小于所述第二预设值，则对所述过热预测值初始化。

6.如权利要求1所述的烹饪器具的过热检测方法，其特征在于，通过设置在所述烹饪器具上方的一个或多个红外线温度传感器获取所述预设面积范围内的平均温度。

7.一种烹饪器具的过热检测装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取烹饪器具上方预设面积范围内的平均温度；

第二获取模块，用于根据所述平均温度获取所述烹饪器具的温度变化值和温度变化率，其中，所述温度变化值为所述平均温度与基准温度之间的温度差值；

判断模块，用于根据所述温度变化值和所述温度变化率判断所述烹饪器具是否过热。

8.如权利要求7所述的烹饪器具的过热检测装置，其特征在于，所述判断模块包括：

第一判断子模块，用于判断所述温度变化率是否大于等于第一预设变化率；

计算模块，用于在所述第一判断子模块判断所述温度变化率大于等于所述第一预设变化率时，根据所述温度变化率计算所述烹饪器具的过热预测值；

第二判断子模块，用于判断所述过热预测值是否大于等于预设过热阈值、且所述温度变化值大于等于第一预设值，其中，如果所述过热预测值大于等于所述预设过热阈值、且所述温度变化值大于等于所述第一预设值，则判断所述烹饪器具过热。

9.如权利要求8所述的烹饪器具的过热检测装置，其特征在于，所述过热预测值为在判断所述温度变化率大于等于所述第一预设变化率后的温度变化率之和。

10.如权利要求8或9所述的烹饪器具的过热检测装置，其特征在于，还包括补偿模块，所述补偿模块用于在所述第一判断子模块判断所述温度变化率小于第二预设变化率时，根据所述平均温度对所述基准温度进行补偿，其中，所述第二预设变化率小于所述第一预设变化率。

11.如权利要求10所述的烹饪器具的过热检测装置，其特征在于，还包括初始化模块，所述初始化模块用于在所述第一判断子模块判断所述温度变化率大于等于所述第二预设变化率且小于所述第一预设变化率、且所述第二判断子模块判断所述温度变化值小于第二预设值时，对所述过热预测值初始化，其中，所述第二预设值小于所述第一预设值。

12.如权利要求7所述的烹饪器具的过热检测装置，其特征在于，所述第一获取模块通过设置在所述烹饪器具上方的一个或多个红外线温度传感器获取所述预设面积范围内的平均温度。