CN106450019A - 有机发光二极管阵列基板及制备方法、显示装置 - Google Patents
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Abstract
一种有机发光二极管阵列基板及制备方法、显示装置。该显示器件包括:衬底;设置于所述衬底上的第一电极图案和绝缘层,其中,所述第一电极图案包括多个条形的第一电极,所述第一电极突出于所述绝缘层之上从而在二者之间形成台阶;设置于所述第一电极图案和所述绝缘层上的抗氧化导电薄膜,其中,所述抗氧化导电薄膜在所述第一电极与所述绝缘层的所述台阶处断开。该抗氧化导电薄膜可以改善第一电极因局部氧化造成的载流子分布不均匀的问题。
Description
技术领域
本公开的实施例涉及一种有机发光二极管阵列基板及制备方法、显示装置。
背景技术
有机发光二极管(OLED)显示器结构具有自主发光、低电压直流驱动、全固化、视角宽、重量轻、可制作大尺寸与可弯曲的面板、工艺简单等一系列特点,且具有低成本的潜力,能够满足当今信息科技时代对显示技术更高性能和更大信息容量的要求。OLED微显示器指的是显示尺寸在1英寸之下,基于硅基CMOS(互补金属氧化物半导体)驱动的有机发光器件(包括例如阳极、有机发光层和阴极等结构),像素分辨率可高达800×600以上,由此OLED微显示器成为当前VR/AR研究领域的热点之一。与液晶显示器相比,OLED具有低能耗、生产成本低、自发光、宽视角及响应速度快等优点。
目前,在智能眼镜(smart glasses)、头戴式显示器(HMD)、夜视仪等显示领域OLED已经开始取代传统的LCD显示屏,然而OLED微显示器目前生产良率仍然不高,其中例如硅晶片上的电极微氧化会造成注入OLED器件的载流子不均匀,如此会导致有机发光二极管阵列基板发光不均匀和暗点的现象。
发明内容
本公开至少一实施例提供了一种有机发光二极管阵列基板及制备方法、显示装置以解决上述问题。
本公开至少一实施例提供一种有机发光二极管阵列基板,包括:衬底;设置于所述衬底上的第一电极图案和绝缘层,其中,所述第一电极图案包括多个条形的第一电极,所述第一电极突出于所述绝缘层之上从而在二者之间形成台阶;设置于所述第一电极图案和所述绝缘层上的抗氧化导电薄膜,其 中,所述抗氧化导电薄膜在所述第一电极与所述绝缘层的所述台阶处断开。
在该有机发光二极管阵列基板中,在其包括的第一电极图案上形成一层抗氧化导电薄膜,从而避免第一电极图案所包括的第一电电极因局部微氧化造成的载流子分布不均匀的问题,并且第一电极突出于绝缘层之上以在两者之间形成台阶,使得形成抗氧化导电薄膜时,抗氧化导电薄膜即在台阶处断开,并不需要后续工艺例如光刻工艺进行处理。
例如,在本公开实施例提供的有机发光二极管阵列基板中,相邻的所述第一电极之间由所述绝缘层间隔开。
例如,在本公开实施例提供的有机发光二极管阵列基板中,所述第一电极与所述绝缘层之间的高度差大于
例如,在本公开实施例提供的有机发光二极管阵列基板中,所述抗氧化导电薄膜的厚度为
例如,本公开实施例提供的有机发光二极管阵列基板还可以包括设置于所述抗氧化导电薄膜上有机发光层和第二电极。
例如,在本公开实施例提供的有机发光二极管阵列基板中,所述抗氧化导电薄膜的材料包括金、银、铜、锌、铬及其合金和导电氧化材料中的至少一种。
例如,在本公开实施例提供的有机发光二极管阵列基板中,所述衬底包括硅晶片、绝缘体上硅衬底或玻璃衬底。
例如,在本公开实施例提供的有机发光二极管阵列基板中,所述第一电极的垂直于所述衬底的截面包括矩形、倒梯形、平行四边形中的至少一种。。
本公开至少一实施例还提供一种显示装置,包括上述任一的有机发光二极管阵列基板。
本公开至少一实施例还提供一种有机发光二极管阵列基板的制备方法,包括:提供衬底;在所述衬底上形成第一电极图案和绝缘层,其中,所述第一电极图案包括多个条形的第一电极,所述第一电极突出于所述绝缘层之上从而在二者之间形成台阶;在所述第一电极图案和所述绝缘层上形成抗氧化导电薄膜,其中,所述抗氧化导电薄膜在所述第一电极图案与所述绝缘层的台阶处断开。
例如,在本公开实施例提供的制备方法中,相邻的所述第一电极之间由所述绝缘层间隔开。
例如,本公开实施例提供的制备方法还可以包括在所述抗氧化导电薄膜上形成有机发光层和第二电极。
例如,在本公开实施例提供的制备方法中,所述第一电极图案与所述绝缘层之间的高度差大于
例如,在本公开实施例提供的制备方法中,所述抗氧化导电薄膜的厚度可以为
例如,在本公开实施例提供的制备方法中,形成所述抗氧化导电薄膜的方法包括热蒸镀。
例如,在本公开实施例提供的制备方法中,所述热蒸镀的方向与所述衬底的夹角为锐角。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅涉及本发明的一些实施例,而非对本发明的限制。
图1为本公开一实施例提供的一种有机发光二极管阵列基板结构示意图;
图2为本公开一实施例提供的一种有机发光二极管阵列基板热蒸镀处理示意图;
图3为本公开一实施例提供的另一种有机发光二极管阵列基板结构示意图;
图4为本公开一实施例提供的另一种有机发光二极管阵列基板结构示意图;
图5为本公开一实施例提供的另一种有机发光二极管阵列基板结构示意图;
图6a~6j为本公开一实施例提供的有机发光二极管阵列基板制备方法过程图。
附图标记:
100-衬底;101-绝缘层;102-第一电极图案;1021-第一电极;103-抗氧化导电薄膜;104-有机发光器件;1041-电子注入层;1042-电子传输层;1043-有机发光层;1044-空穴传输层;1045-空穴注入层;1046-第二电极。
具体实施方式
为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本公开实施例的附图,对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例是本公开的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例,本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本公开保护的范围。
除非另外定义,本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。
在当前的有机发光二极管阵列基板的制备过程中,例如在硅晶片上制备电极之后,在形成有机发光层之前,该电极表面容易微氧化,导致其与有机发光层之间的电接触性能变差,导致注入有机发光二极管阵列基板中最终形成的有机发光器件中的载流子(电子或空穴)分布不均匀,使得相应像素区域出光不均匀所致的暗点现象。
需要说明的是,在本公开实施例提供的有机发光器件包括多层结构例如第一电极、有机发光层和第二电极,其中,第一电极为阳极,第二电极为阴极,或者第一电极为阴极,第二电极为阳极。所述有机发光器件还可以包括例如空穴注入层、空穴传输层、电子注入层、电子传输层等功能层。
本公开的实施例提供了一种有机发光二极管阵列基板及制备方法、显示装置。该有机发光二极管阵列基板包括衬底、设置于衬底上的第一电极图案和绝缘层、设置于第一电极图案和绝缘层上的抗氧化导电薄膜,其中,第一电极图案包括多个条形的第一电极,该第一电极突出于绝缘层之上从而在二者之间形成台阶。多个第一电极构成第一电极图案,相邻的第一电极之间由绝缘层间隔开。
需要说明的是,在以下实施例中说明第一电极的位置、材料、形成方式等时,用第一电极图案代替第一电极所表达的意义是相同的,例如实施例中所述的第一电极图案表面微氧化与第一电极表面微氧化是相同的;再例如实施例中所述的绝缘层将第一电极图案包裹等同于绝缘层将第一电极包裹。
在一些实施例中,该抗氧化导电薄膜覆盖于第一电极图案上,如果第一电极图案是使用易于被氧化的材料制成时,例如第一电极图案作为有机发光区器件的阴极时,则可以防止容易被氧化的第一电极图案的表面被氧化或部分氧化而导致导电性能下降,可以改善与之后形成在第一电极图案之上的有机发光层之间的电接触状态;此外,在一些实施例中,该抗氧化导电薄膜还可以使得最终形成的有机发光器件中,注入的载流子(电子或空穴)在对应第一电极图案上的抗氧化导电薄膜上可以达到均匀分布状态,改善载流子注入不均匀的问题。此外,在抗氧化导电薄膜形成过程中,因第一电极图案所包括的第一电极与绝缘层之间存在台阶结构,抗氧化导电薄膜在台阶处会自动断开,并不需要后续的例如光刻等工艺过程。
本公开的一个实施例提供了一种有机发光二极管阵列基板,图1为该有机发光二极管阵列基板的结构示意图。例如,如图1所示,该有机发光二极管阵列基板包括衬底100、设置于衬底100上的第一电极图案102和绝缘层101、设置于第一电极图案102和绝缘层101上的抗氧化导电薄膜103,第一电极图案102所包括的多个条状第一电极1021突出于绝缘层101之上从而在二者之间形成台阶。虽然如图1所示,第一电极图案102的第一电极1021镶嵌在绝缘层101之中,但是可以理解的是,第一电极图案102也可以形成在绝缘层101之上,从而第一电极1021突出于绝缘层101之上在二者之间形成台阶。
对于图1所示的实施例,绝缘层101在形成过程中会将第一电极图案102包裹起来,在第一电极图案102所包括的第一电极1021周向上与绝缘层101接触的位置会形成微小的陡坡,在通过例如热蒸镀形成抗氧化导电薄膜103过程中,由于所形成的抗氧化导电薄膜103的厚度薄,所以陡坡会使形成在绝缘层上的抗氧化导电薄膜103不与第一电极图案电联通,如此,第一电极图案102的相邻第一电极1021之间不会通过抗氧化导电薄膜103连通而短路。
例如,在本实施例提供的有机发光二极管阵列基板中,相邻的第一电极 1021之间由绝缘层间隔开。
例如,在本实施例的有机发光二极管阵列基板中,第一电极图案102所包括的第一电极1021与绝缘层101之间的高度差大于形成的抗氧化导电薄膜103的厚度,优选显著大于抗氧化导电薄膜103的厚度,例如该高度差可以大于
例如,在本实施例的有机发光二极管阵列基板中,抗氧化导电薄膜103的厚度范围可以为
例如,在本实施例的有机发光二极管阵列基板中,抗氧化导电薄膜103的材料包括金、银、铜、锌、铬等或它们的合金、或导电氧化材料中的至少一种,例如其相对于形成第一电极图案的金属材料(例如,镁或镁合金)较不容易被氧化而导致导电性能下降。该导电氧化材料例如可以氧化铟锡(ITO)、铟镓锌氧化物(IGZO)等。
例如,在本实施例的有机发光二极管阵列基板中,衬底100例如可以为硅晶片或绝缘体上硅(SOI)衬底、玻璃衬底等。
本公开的实施例提供了一种有机发光二极管阵列基板,图2为通过热蒸镀处理形成抗氧化导电薄膜的示意图。如图2所示,其中,在热蒸镀形成抗氧化导电薄膜103的过程中,热蒸镀方向与衬底100的夹角可以为锐角,蒸镀过程中,由于第一电极图案102所包括的第一电极1021和绝缘层101之间的高度差使得第一电极图案102会遮挡部分抗氧化导电薄膜103形成在绝缘层101上,如此,形成的绝缘层101上的抗氧化导电薄膜103两端的一端与第一电极图案102接触,另一端与第一电极图案102断开,则第一电极图案102的相邻电极之间并不会通过抗氧化导电薄膜103连通而导致短路。
本公开的实施例提供了一种有机发光二极管阵列基板,图3为有机发光二极管阵列基板的另一种结构示意图。如图3所示,第一电极图案102包括多个条形的第一电极1021,该第一电极1021的竖截面(垂直于所述衬底的截面)的形状为倒梯形,其截面远离衬底100的宽度大于靠近衬底100的宽度,在通过例如热蒸镀形成抗氧化导电薄膜103的过程中,梯形结构的第一电极图案102远离衬底100的底边遮挡了第一电极1021周边的部分绝缘层101,如此,绝缘层101上形成的抗氧化导电薄膜103与其周边的第一电极1021是断开的。
有机发光二极管阵列基板中的第一电极图案所包括的第一电极的竖截 面的形状不限定于上述倒梯形的结构,只要是第一电极的至少一个侧面形成有底切结构(undercut),通过热蒸镀形成的抗氧化导电薄膜与相邻的第一电极图案的至少一个电极是断开的,如此,第一电极图案中的相邻电极之间不会连通而短路。具有上述底切结构的第一电极的在垂直于衬底的方向上截面的形状还可以例如包括平行四边形、直角梯形等,所有侧边有底切形状的第一电极图案都能取得同样的技术效果。上述倒梯形的结构使得形成的第一电极图案的两个侧面都形成有底切结构。
如图3所示的A区域为第一电极图案102包括的第一电极1021的一侧面形成的底切结构。该侧面与绝缘层101所在平面(或衬底100所在平面)中未与第一电极1021接触的部分之间的夹角为锐角,如此,在第一电极1021形成有底切结构的一侧,第一电极1021的侧边的远离衬底100的一端可以超出其与绝缘层101接触的一端而对绝缘层101形成部分(第一电极1021周边的绝缘层101)遮挡,从而在通过例如热蒸镀形成抗氧化导电薄膜103时,抗氧化导电薄膜103不能在被遮挡部分形成,即可避免相邻第一电极1021之间形成短路。
例如,底切结构形成在所有第一电极的同一方向的侧面,或者在第一电极的两侧面都形成有底切结构。
本公开的实施例还提供了一种有机发光二极管阵列基板,图4为本实施例提供的有机发光二极管阵列基板结构示意图。如图4所示,有机发光二极管阵列基板包括设置于抗氧化导电薄膜103上的有机发光器件104中除第一电极1021之外的其它部分结构,在例如第一电极图案102作为阴极情况下,除第一电极1021之外,该有机发光器件104还可以包括依次设置于抗氧化导电薄膜103上的电子注入层1041、电子传输层1042、有机发光层1043、空穴传输层1044、空穴注入层1045和第二电极1046(阳极)中。应该理解的是,最基本的有机发光器件包括阳极、有机发光层和阴极的叠层;为了改善有机发光器件的发光性能,还可以选择性地加入空穴注入层、空穴传输层、电子传输层、电子注入层等有机功能层。下面,在本发明的实施例中,主要以第一电极图案例如用于有机发光器件的阴极,第二电极则用于阳极为例进行说明。
同样,有机发光二极管阵列基板中的第一电极图案所包括的第一电极并不限于镶嵌于绝缘层内,也可以设置于绝缘层之上并与绝缘层之间构成台 阶。
本公开实施例提供的有机发光二极管阵列基板不局限于应用在硅晶片上,其第一电极突出于绝缘层之上从而在二者之间形成台阶的结构也可以应用于例如在玻璃基板上制作的OLED(有机发光二极管)的有机发光二极管阵列基板,凭借此结构,在电极上制备的抗氧化导电薄膜可以在覆盖相应电极的同时在相邻电极之间自动断开,并不需要后续的例如光刻工艺等进行处理,在改善有机发光二极管阵列基板良率同时减少了工艺步骤,降低了成本。
本公开的实施例还提供了一种显示装置,该显示装置包括上述实施例中提供的有机发光二极管阵列基板,该显示装置例如可以为手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
本公开实施例还提供了一种有机发光二极管阵列基板的制备方法。例如,制备该有机发光二极管阵列基板的方法包括:提供衬底;在衬底上形成第一电极图案和绝缘层,其中,第一电极图案包括多个条形的第一电极,第一电极突出于绝缘层之上从而在二者之间形成台阶;在第一电极图案和绝缘层上形成抗氧化导电薄膜,其中,抗氧化导电薄膜在第一电极与绝缘层的台阶处断开。
例如,在实施例提供的有机发光二极管阵列基板的制备方法中,相邻的第一电极之间由绝缘层间隔开。
例如,制备该有机发光二极管阵列基板的方法还可以包括:在抗氧化导电薄膜上形成有机发光器件的除第一电极之外的其它部分结构,包括形成有机发光层和第二电极等。例如第一电极图案为阴极(相当于第一电极为阴极),形成该有机发光器件的除第一电极之外的其它部分结构的过程包括:在有机发光二极管阵列基板的表面覆盖有抗氧化导电薄膜的第一电极图案上依次形成有机发光层以及第二电极,又例如依次形成电子注入层、电子传输层、有机发光层、空穴传输层、空穴注入层和第二电极。
图6a-6j为本公开一实施例提供的一种有机发光二极管阵列基板制备方法的过程图。参照图6a-6j,本实施例提供的有机发光二极管阵列基板制备过程的一个示例包括如下步骤。
如图6a所示,提供一衬底100并在该衬底100上沉积一层第一电极薄膜。
如图6b所示,通过构图工艺对衬底100上的第一电极薄膜进行图案化处理以形成第一电极图案102,该第一电极图案102由多个条形的第一电极1021组成。
例如,构图工艺为光刻构图工艺,其例如包括:在需要被构图的结构层上涂覆光刻胶层,使用掩模板对光刻胶层进行曝光,对曝光的光刻胶层进行显影以得到光刻胶图案,使用光刻胶图案对结构层进行蚀刻,然后可选地去除光刻胶图案。
如图6c所示,在形成有第一电极图案102的衬底100上形成绝缘层101,其中,第一电极图案102所包括的第一电极1021突出于绝缘层101上以形成台阶。绝缘层101在形成过程中,其会包裹第一电极图案102的周边,在第一电极图案102的第一电极1021与绝缘层101接触的位置会形成微小的陡坡。
绝缘层将第一电极间隔开,并且第一电极图案和绝缘层的形成顺序可以颠倒,例如,可以在衬底上形成一层绝缘层,然后在该绝缘层上沉积一层第一电极薄膜,并对该第一电极薄膜进行构图工艺以形成第一电极图案。
如图6d所示,在第一电极图案102和绝缘层101上形成一层抗氧化导电薄膜103,因第一电极图案102所包括的第一电极1021与绝缘层101之间形成的台阶结构,抗氧化导电薄膜103在台阶处断开不连续,且因为第一电极图案102所包括的第一电极1021与绝缘层101接触位置处的微小陡坡,并且由于所形成的抗氧化导电薄膜103的厚度薄,使得形成的抗氧化导电薄膜103与第一电极图案102所包括的第一电极1021之间并不接触,即陡坡会使形成在绝缘层上的抗氧化导电薄膜103不与其相邻的第一电极1021电联通,所以第一电极图案102之间的相邻第一电极1021并不会因抗氧化导电薄膜103连通而短路。
形成抗氧化导电薄膜103的方法例如为热蒸镀,例如通过引入强电场,首先使得要被热蒸镀的材料带上电荷,再通过加热蒸发,使这些带电的材料分子或者粒子飞出并在电磁场的调控下精确飞向衬底,从而在形成有第一电极图案与绝缘层的衬底上形成抗氧化导电薄膜。
例如,在本实施例的有机发光二极管阵列基板的制备过程中,形成的抗氧化导电薄膜103的厚度可以为
例如,在本实施例有机发光二极管阵列基板的制备过程中,第一电极图 案102所包括的第一电极1021与绝缘层101之间的高度差要大于抗氧化导电薄膜103的厚度,优选显著大于抗氧化导电薄膜103的厚度,例如两者间的高度差可以大于
例如,在本实施例的有机发光二极管阵列基板的制备过程中,制备抗氧化导电薄膜103的材料包括金、银、铜、锌、铬等或它们的合金、或导电氧化材料中的至少一种或者组合。该导电氧化材料例如可以为氧化铟锡(ITO)、铟镓锌氧化物(IGZO)等。
例如,在本公开实施例提供的制备方法中,通过例如热蒸镀形成抗氧化导电薄膜的过程中,热蒸镀的方向与衬底的夹角为锐角。蒸镀过程中,由于第一电极图案突出于绝缘层之上,而热蒸镀方向与衬底有夹角且为锐角,则第一电极图案会遮挡部分抗氧化导电薄膜形成在绝缘层上,即在该被遮挡处,抗氧化导电薄膜与第一电极图案的电极是断开的,从而保证第一电极图案的相邻电极之间不会通过抗氧化导电薄膜连通。
例如,在实施例的有机发光二极管阵列基板的制备过程中,第一电极1021的至少一个侧面形成有底切结构。当第一电极1021的一个侧边为底切结构时,在该侧边处,当热蒸镀的方向例如垂直于衬底时,在垂向上部分绝缘层会被该侧边遮挡,在被遮挡区域不能形成抗氧化导电薄膜,即抗氧化导电薄膜与第一电极图案中相邻电极的至少一个是断开的,从而保证第一电极图案所包括的相邻第一电极1021之间不会通过抗氧化导电薄膜连通。
在形成抗氧化导电薄膜之后,在其上形成有机发光器件(图中未示出)中除第一电极之外的其它部分结构,包括例如空穴注入层、空穴传输层、有机发光层、电子传输层、电子注入层和第二电极,当第一电极图案作为阴极时,该有机发光器件的制备过程如图6e~6j所示。
如图6e所示,在抗氧化导电薄膜103上形成一层电子注入层薄膜,并对其进行构图工艺处理以形成电子注入层1041。
制备电子注入层的材料包括氟化锂、氧化锂、氧化锂硼、硅氧化钾、碳酸铯、8-羟基喹啉铝-锂等。
如图6f所示,在电子注入层1041上形成一层电子传输层薄膜,并对其进行构图工艺处理以形成电子传输层1042。
制备电子传输层的材料包括唑衍生物、金属螯合物、唑类化合物、喹啉衍生物、喔啉衍生物、二氮蒽衍生物、含硅的杂环衍生物等。
如图6g所示,在电子传输层1042上形成一层有机发光层薄膜,例如可以使用蒸镀掩模板以形成有机发光层1043。
制备有机发光层的材料包括8-羟基喹啉铝、8-羟基喹啉铝、蒽的衍生物等,可以需要选择相应的有机发光材料,本发明的实施例不限于这些具体的材料选择。
如图6h所示,在有机发光层1043上形成一层空穴传输层薄膜,并对其进行构图工艺处理以形成空穴传输层1044。
制备空穴传输层的材料包括聚对苯撑乙烯类、聚噻吩类、聚硅烷类、三苯甲烷类、三芳胺类、腙类、吡唑啉类、嚼唑类、咔唑类、丁二烯类等。
如图6i所示,在空穴传输层1044上形成一层空穴注入层薄膜,并对其进行构图工艺处理以形成空穴注入层1045。
制备空穴注入层的材料包括酞氰铜、三氧化钼、1-TNATA、2-TNATA、聚苯胺、PEDOT(3,4-乙烯二氧噻吩单体的聚合物)等。
如图6j所示,在空穴注入层1045上形成一层第二电极薄膜,并可以对其进行构图工艺处理以形成第二电极1046。
有机发光器件中各层(例如空穴注入层、空穴传输层、有机发光层等)结构的制备不局限于在形成各层薄膜之后对其构图工艺处理,还可以为,例如在形成有抗氧化导电薄膜的衬底上形成一层像素界定层,该像素界定层所限定的凹槽对应于像素电极所处位置,在该像素界定层所限定的凹槽内依次形成有机发光器件中所包含的位于抗氧化导电薄膜之上的各层部件。
第一电极图案102为阳极(相当于第一电极1021为阳极)时,其有机发光器件中所包含的位于抗氧化导电薄膜之上的的各层结构的制备过程与上述6e~6i的制备工艺过程为相反,即在第一电极图案上依次形成空穴注入层、空穴传输层、有机发光层、电子传输层、电子注入层和第二电极。
第一电极图案与第二电极可互为阳极和阴极,其中,制备阳极的材料包括金属铝和导电氧化物(例如ITO、IGZO)等中任意一种,制备阴极的材料包括金属钾、锂、钙、镁、铟或镁铝合金、镁银合金、锂铝合金中的任意一种。
上述实施例中的有机发光器件的形成不限于只包括第一电极、空穴注入层、空穴传输层、有机发光层、电子传输层、电子注入层和第二电极中的至少一个,也可以在第一电极图案上形成一个完整的有机发光器件,例如依次 形成阴极、有机发光层、阳极的结构,或者依次形成阳极、有机发光层、阴极的结构,该有机发光器件还可以包括空穴注入层、空穴传输层、有机发光层、电子传输层、电子注入层等,这些功能层根据具体结构依次排序设置。
本公开的实施例提供一种有机发光二极管阵列基板及其制备方法、显示装置,并且具有以下至少一项有益效果:
(1)在形成有第一电极图案和绝缘层的上形成一层抗氧化导电薄膜,从而避免第一电图案所包括的第一电极因局部微氧化造成注入到所形成的有机发光器件中的载流子分布不均匀的问题,提升有机发光二极管阵列基板发光的均匀性和良率。
(2)第一电极突出于绝缘层之上以在两者之间形成台阶,使得形成抗氧化导电薄膜时,抗氧化导电薄膜即在台阶处断开,并不需要后续工艺例如光刻工艺进行处理,简化了制作抗氧化导电薄膜的制备工艺。
对于本公开,还有以下几点需要说明:
(1)本公开实施例附图只涉及到与本公开实施例涉及到的结构,其他结构可参考通常设计。
(2)为了清晰起见,在用于描述本公开的实施例的附图中,层或区域的厚度被放大或缩小,即这些附图并非按照实际的比例绘制。
(3)在不冲突的情况下,本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。
以上所述,仅为本公开的具体实施方式,但本公开的保护范围并不局限于此,本公开的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (15)
1.一种有机发光二极管阵列基板,包括:
衬底;
设置于所述衬底上的第一电极图案和绝缘层,其中,所述第一电极图案包括多个条形的第一电极,所述第一电极突出于所述绝缘层并在二者之间形成台阶;
设置于所述第一电极图案和所述绝缘层上的抗氧化导电薄膜,其中,所述抗氧化导电薄膜在所述第一电极与所述绝缘层的所述台阶处断开。
2.根据权利要求1所述的有机发光二极管阵列基板,其中,相邻的所述第一电极之间由所述绝缘层间隔开。
3.根据权利要求1所述的有机发光二极管阵列基板,其中,所述第一电极与所述绝缘层之间的高度差大于
4.根据权利要求1所述的有机发光二极管阵列基板,其中,所述抗氧化导电薄膜的厚度为
5.根据权利要求1所述的有机发光二极管阵列基板,还包括设置于所述抗氧化导电薄膜上的有机发光层和第二电极。
6.根据权利要求1所述的有机发光二极管阵列基板,其中,所述抗氧化导电薄膜的材料包括金、银、铜、锌、铬及其合金和导电氧化材料中的至少一种。
7.根据权利要求1所述的有机发光二极管阵列基板,其中,所述衬底包括硅晶片、绝缘体上硅衬底或玻璃衬底。
8.根据权利要求1-7任一所述的有机发光二极管阵列基板,其中,所述第一电极的垂直于所述衬底的截面包括矩形、倒梯形、平行四边形中的至少一种。
9.一种显示装置,包括权利要求1-8中任一项所述的有机发光二极管阵列基板。
10.一种有机发光二极管阵列基板的制备方法,包括:
提供衬底;
在所述衬底上形成第一电极图案和绝缘层,其中,所述第一电极图案包括多个条形的第一电极,所述第一电极突出于所述绝缘层并在二者之间形成台阶;
在所述第一电极图案和所述绝缘层上形成抗氧化导电薄膜,其中,所述抗氧化导电薄膜在所述第一电极与所述绝缘层的台阶处断开。
11.根据权利要求10所述的制备方法,其中,相邻的所述第一电极之间由所述绝缘层间隔开。
12.根据权利要求10所述的制备方法,还包括在所述抗氧导电薄膜上形成有机发光层和第二电极。
13.根据权利要求10所述的制备方法,其中,所述第一电极与所述绝缘层之间的高度差大于所述抗氧化导电薄膜的厚度为
14.根据权利要求11-13任一所述的制备方法,其中,形成所述抗氧化导电薄膜的方法包括热蒸镀。
15.根据权利要求15所述的制备方法,其中,所述热蒸镀的方向与所述衬底的夹角为锐角。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018086358A1 (zh) * | 2016-11-11 | 2018-05-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 有机发光二极管阵列基板及制备方法、显示装置 |
CN108054131A (zh) * | 2017-12-11 | 2018-05-18 | 昆山维信诺科技有限公司 | 柔性显示面板的制造方法及柔性显示面板 |
CN109390351A (zh) * | 2017-08-02 | 2019-02-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 布线结构及其制备方法、oled阵列基板、显示装置 |
CN109686861A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-04-26 | 上海晶合光电科技有限公司 | 一种环套式分立控制图案化有机电致发光器件及其制备方法 |
TWI658582B (zh) * | 2017-04-28 | 2019-05-01 | 鴻海精密工業股份有限公司 | 有機發光二極體陣列的製備方法 |
CN110854175A (zh) * | 2019-11-26 | 2020-02-28 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及其制备方法、显示面板 |
CN116774190A (zh) * | 2023-08-17 | 2023-09-19 | 深圳市速腾聚创科技有限公司 | 发射模组、激光发射模块和激光雷达设备 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10571756B2 (en) * | 2018-02-05 | 2020-02-25 | Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. | LCD panel, LCD panel manufacturing method and display device |
CN108598120A (zh) * | 2018-04-27 | 2018-09-28 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板及其制造方法、显示面板和显示装置 |
CN108762561B (zh) * | 2018-05-25 | 2021-01-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 触控显示面板及其制造方法、驱动方法、触控显示装置 |
CN109037278B (zh) * | 2018-07-23 | 2022-06-17 | 云谷(固安)科技有限公司 | 显示面板及显示装置 |
CN111506216A (zh) * | 2020-04-08 | 2020-08-07 | Tcl华星光电技术有限公司 | 触控面板以及显示装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5528102A (en) * | 1994-05-24 | 1996-06-18 | Texas Instruments Incorporated | Anode plate with opaque insulating material for use in a field emission display |
CN1305641A (zh) * | 1998-06-18 | 2001-07-25 | 奥斯兰姆奥普托半导体股份有限两合公司 | 结构化电极的制造方法 |
CN1717139A (zh) * | 2004-06-14 | 2006-01-04 | Lg电子株式会社 | 有机电致发光显示设备及其制造方法 |
CN1842925A (zh) * | 2003-08-27 | 2006-10-04 | 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司 | 有机电子装置的制造方法和有机电子装置 |
US20060220537A1 (en) * | 2005-03-31 | 2006-10-05 | Koji Takeshita | Organic electroluminescent device and a manufacturing method of an organic electroluminescent device |
CN101989613A (zh) * | 2009-07-29 | 2011-03-23 | Tdk株式会社 | 有机el显示装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6191433B1 (en) * | 2000-03-17 | 2001-02-20 | Agilent Technologies, Inc. | OLED display device and method for patterning cathodes of the device |
KR101154294B1 (ko) | 2010-04-23 | 2012-06-13 | 주식회사 야스 | 유기 전계발광 표시소자의 유기 발광층 형성방법 |
GB201110770D0 (en) * | 2011-06-24 | 2011-08-10 | Cambridge Display Tech Ltd | Process for controlling the acceptor strength of solution-processed transition metal oxides for OLED applications |
CN104252276B (zh) | 2014-06-30 | 2018-04-27 | 上海天马有机发光显示技术有限公司 | 一种触控显示装置及其制造方法 |
CN106024836B (zh) * | 2016-06-03 | 2019-01-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 带指纹识别功能的显示面板及制备方法、显示设备 |
CN106450019B (zh) | 2016-11-11 | 2018-04-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 有机发光二极管阵列基板及制备方法、显示装置 |
-
2016
- 2016-11-11 CN CN201610995313.4A patent/CN106450019B/zh active Active
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2017
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- 2017-06-29 WO PCT/CN2017/090685 patent/WO2018086358A1/zh active Application Filing
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5528102A (en) * | 1994-05-24 | 1996-06-18 | Texas Instruments Incorporated | Anode plate with opaque insulating material for use in a field emission display |
CN1305641A (zh) * | 1998-06-18 | 2001-07-25 | 奥斯兰姆奥普托半导体股份有限两合公司 | 结构化电极的制造方法 |
CN1842925A (zh) * | 2003-08-27 | 2006-10-04 | 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司 | 有机电子装置的制造方法和有机电子装置 |
CN1717139A (zh) * | 2004-06-14 | 2006-01-04 | Lg电子株式会社 | 有机电致发光显示设备及其制造方法 |
US20060220537A1 (en) * | 2005-03-31 | 2006-10-05 | Koji Takeshita | Organic electroluminescent device and a manufacturing method of an organic electroluminescent device |
CN101989613A (zh) * | 2009-07-29 | 2011-03-23 | Tdk株式会社 | 有机el显示装置 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018086358A1 (zh) * | 2016-11-11 | 2018-05-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 有机发光二极管阵列基板及制备方法、显示装置 |
US10388671B2 (en) | 2016-11-11 | 2019-08-20 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Organic light emitting diode array substrate, manufacturing method thereof and display device |
TWI658582B (zh) * | 2017-04-28 | 2019-05-01 | 鴻海精密工業股份有限公司 | 有機發光二極體陣列的製備方法 |
CN109390351A (zh) * | 2017-08-02 | 2019-02-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 布线结构及其制备方法、oled阵列基板、显示装置 |
US10868103B2 (en) | 2017-08-02 | 2020-12-15 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Wiring structure and manufacture method thereof, OLED array substrate and display device |
CN109390351B (zh) * | 2017-08-02 | 2021-01-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | 布线结构及其制备方法、oled阵列基板、显示装置 |
CN108054131A (zh) * | 2017-12-11 | 2018-05-18 | 昆山维信诺科技有限公司 | 柔性显示面板的制造方法及柔性显示面板 |
CN109686861A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-04-26 | 上海晶合光电科技有限公司 | 一种环套式分立控制图案化有机电致发光器件及其制备方法 |
CN110854175A (zh) * | 2019-11-26 | 2020-02-28 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及其制备方法、显示面板 |
CN110854175B (zh) * | 2019-11-26 | 2022-11-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及其制备方法、显示面板 |
CN116774190A (zh) * | 2023-08-17 | 2023-09-19 | 深圳市速腾聚创科技有限公司 | 发射模组、激光发射模块和激光雷达设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190013336A1 (en) | 2019-01-10 |
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WO2018086358A1 (zh) | 2018-05-17 |
US10388671B2 (en) | 2019-08-20 |
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