CN106441820A - 显示屏均匀性测试方法及*** - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示屏均匀性测试方法，包括：获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。本发明还公开了一种显示屏均匀性测试***。本发明的技术方案旨在通过测试结果反映反映显示屏的均匀性分布情况。

Description

显示屏均匀性测试方法及***

技术领域

本发明涉及显示屏测试技术领域，尤其涉及一种显示屏均匀性测试方法及显示屏均匀性测试***。

背景技术

显示屏常用作电视机或电脑等显示装置的显示部件，显示屏的亮度均匀性反应了显示屏均匀性的好坏。若显示屏均匀，则图像显示效果较好，反之，则显示效果较差。

现有技术中，通常采用九点测试法检测显示屏的均匀性，即在显示屏上随机选取九个样点或模块进行亮度测试，由于样点或模块的选择具有随机性，并且样点选取数量有限，因此测试结果只能反映显示屏上的样点或者模块的像素值，或者全部样点或模块的像素值均值。

上述技术方案的弊端是，测试结果不能反映显示屏的均匀性分布情况。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种显示屏均匀性测试方法，旨在通过测试结果反映显示屏的均匀性分布情况。

为实现上述目的，本发明提供的显示屏均匀性测试方法，包括如下步骤：

获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；

根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；

根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。

优选地，所述获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像，包括：

获取待测试显示屏的显示状态图像；

对所述显示状态图像进行降采样处理，以生成降采样图像；

将所述降采样图像确定为所述初始图像；

对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像。

优选地，所述对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像，包括：

获取预设的图像滤波模板，所述图像滤波模板的尺寸大于预设值；

根据所述图像滤波模板，对所述初始图像进行滤波卷积处理以生成所述滤波图像。

优选地，所述根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像，包括：

获取所述初始图像上的每个像素点的像素值，并获取所述滤波图像上的每个像素点的像素值；

根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像上的每个像素点与所述滤波图像上的对应像素点的像素值差异；

根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像与所述滤波图像的像素值均值；

根据所述像素值差异与所述像素值均值的比值，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的所述对比图像。

优选地，所述根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像之后，还包括：

获取所述均匀性分布图像上每个像素点的位置和像素值，根据所述均匀性分布图像的尺寸和所述均匀性分布图像上每个像素点的像素值，生成所述初始图像的均匀性分布仿真图像。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种显示屏均匀性测试***，包括：

处理模块，用于获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；

对比图像生成模块，用于根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；

均匀性图像生成模块，用于根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。

优选地，所述处理模块包括：

第一获取单元，用于获取待测试显示屏的显示状态图像；

降采样单元，用于对所述显示状态图像进行降采样处理，以生成降采样图像；

确定单元，用于将所述降采样图像确定为所述初始图像；

滤波单元，用于对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像。

优选地，所述滤波单元包括：

获取子单元，用于获取预设的图像滤波模板，所述图像滤波模板的尺寸大于预设值；

滤波子单元，用于根据所述图像滤波模板，对所述显示状态图像进行滤波卷积处理以生成所述滤波图像。

优选地，所述对比图像生成模块包括：

第二获取单元，用于获取所述初始图像上的每个像素点的像素值，并获取所述滤波图像上的每个像素点的像素值；

差异值计算单元，用于根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像上的每个像素点与所述滤波图像上的对应像素点的像素值差异；

均值计算单元，用于根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像与所述滤波图像的像素值均值；

对比图像生成单元，用于根据所述像素值差异与所述像素值均值的比值，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的所述对比图像。

优选地，所述显示屏均匀性测试***还包括：

仿真模块，用于获取所述均匀性分布图像上每个像素点的位置和像素值，根据所述均匀性分布图像的尺寸和所述均匀性分布图像上每个像素点的像素值，生成所述初始图像的均匀性分布仿真图像。

在本发明的技术方案中，所述对比图像是根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异生成的，所述对比图像上的每个像素点的像素值用于表征所述初始图像上对应像素点的像素值干扰值，因此，根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异生成的所述均匀性分布图像，是排除所有像素点的像素值干扰后的像素值分布图像，根据所述均匀性分布图像，能够了解所述待测试显示屏上的与所述初始图像对应的显示区域的均匀性分布情况。

附图说明

图1为本发明显示屏均匀性测试方法第一实施例的流程示意图；

图2为本发明显示屏均匀性测试方法的显示状态图像；

图3为本发明显示屏均匀性测试方法的对比图像；

图4为本发明显示屏均匀性测试方法第二实施例的流程示意图；

图5为图3所示的显示状态图像经降采样处理后的降采样图像；

图6为本发明显示屏均匀性测试方法第三实施例的流程示意图；

图7为本发明显示屏均匀性测试方法的图像滤波模板；

图8为本发明显示屏均匀性测试方法第四实施例的流程示意图；

图9为本发明显示屏均匀性测试方法第五实施例的流程示意图；

图10为本发明显示屏均匀性测试方法中的均匀性良好的显示屏；

图11为图10所示的均匀性好的显示屏对应的均匀性分布图像；

图12为图11所示的均匀性分布图像对应的均匀性分布仿真图像；

图13为本发明显示屏均匀性测试方法中的均匀性不良的显示屏；

图14为图13所示的均匀性不良的显示屏对应的均匀性分布仿真图像；

图15为图14所示的均匀性分布仿真图像翻转图；

图16为本发明显示屏均匀性测试***第一实施例的功能模块示意图；

图17为本发明显示屏均匀性测试***第二实施例的功能模块示意图；

图18为本发明显示屏均匀性测试***第三实施例的功能模块示意图；

图19为本发明显示屏均匀性测试***第四实施例的功能模块示意图；

图20为本发明显示屏均匀性测试***第五实施例的功能模块示意图。

本发明目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应在理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明提供一种显示屏均匀性测试方法。

请参阅图1至图3，为实现上述目的，本发明的第一实施例提供一种显示屏均匀性测试方法，包括如下步骤：

步骤S10，获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；

步骤S20，根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；

步骤S30，根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。

在本发明的技术方案中，所述对比图像是根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异生成的，所述对比图像上的每个像素点的像素值用于表征所述初始图像上对应像素点的像素值干扰值，因此，根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异生成的所述均匀性分布图像，是排除所有像素点的像素值干扰后的像素值分布图像，根据所述均匀性分布图像，能够了解所述待测试显示屏上的与所述初始图像对应的显示区域的均匀性分布情况。

所述显示状态图像可以包括显示屏的全部显示区域，也可以包括应显示屏的部分显示区域，当所述显示状态图像包括显示屏的全部显示区域时，最终获得的均匀性分布图像对应所述显示屏的全部显示区域的均匀性分布情况，当所述显示状态仅包括显示屏的部分显示区域时，最终获得的均匀性分布图像对应所述显示屏的部分显示区域的均匀性分布情况。

所述显示状态图像是由高清晰度的摄像机拍摄获得，为了全面分析所述待测试显示屏的均匀性，因此，所述显示状态图像应当包括显示屏的全部显示区域。为了获得亮度高的所述显示状态图像，在进行显示状态图像拍摄时，可以使待测试显示屏处于全白场信号的显示状态。当然，所述显示状态图像并不仅限于在全白场信号下获取。

在本实施例中，采用分辨率为2120×3800的摄像机获取所述显示状态图像。

所述初始图像是用于进行滤波处理及后续计算的图像，可以是所述显示状态图像本身，也可以是对所述显示状态图像进行降采样处理后得到的降采样图像，降采样处理用于减少像素点，以降低整个滤波及计算过程的计算量。

所述滤波处理是用于去除所述初始图像的噪点，所述噪点是在所述显示状态图像的获取过程中，由于抖动或光线突然变暗造成的图像噪点，滤波处理可以采用均值滤波器或者高斯滤波器。由于所述滤波图像是由所述初始图像进行滤波处理获得，因此，所述滤波图像的尺寸与所述初始图像的尺寸相同。

所述对比图像是根据所述初始图像与所述滤波图像的各个像素点的像素值构建的差异图像。由于所述滤波图像是去除噪点干扰因素的图像，所以，所述初始图像与所述滤波图像的各个像素点的像素值差异可以表征所述初始图像上各个像素点的干扰像素值，所述干扰像素值可以是噪点造成的像素值干扰，也可以是mura纹。

所述均匀性分布图像是排除干扰像素值后的可以用于表征所述待测试显示屏的均匀性的图像，根据所述均匀性分布图像，可以得到所述初始图像的均匀性分布图像，所述初始图像的均匀性分布结果与所述显示状态图像相同，因此，根据所述均匀性分布图像，可得到所述显示状态图像对应的显示区域的均匀性分布图像。

请参阅图4至图5，基于本发明的显示屏均匀性测试方法的第一实施例，本发明的显示屏均匀性测试方法的第二实施例中，步骤S10包括：

步骤S11，获取待测试显示屏的显示状态图像；

步骤S12，对所述显示状态图像进行降采样处理，以生成降采样图像；

步骤S13，将所述降采样图像确定为所述初始图像；

步骤S14，对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像。

对所述显示状态图像进行降采样处理，以减少图像像素点，并降低计算量。

具体的，降采样处理方法中，通过降采样参数，决定计算中采样点的多少。所述降采样参数用于表示两个采样点之间间隔的像素点数量。

所述降采样参数为大于1的任意整数，所述降采样参数的数值越大，表明拾取的两个采样点之间的间隔越大，因此，选取的采样点数目越少，计算量越低。

在本实施例中，通过降采样处理，生成降采样图像D_img，所述降采样参数设置为4，表示两个采样点之间间隔四个像素点。由于所述显示状态图像的尺寸为2120×3800，因此，通过降采样处理获得的降采样图像D_img的尺寸为530×950。

由于降采样过程是按照预设的像素点间隔，对所述显示状态图像上的各个像素点进行采样，容易理解，降采样处理不会改变所述显示状态图像上的像素值分布情况，因此，所述降采样图像与所述显示状态图像具有同样的均匀性分布情况，且降采样过程有效降低了整个均匀性测试过程的计算量，有利于节约***的计算资源。

当然，如果***的计算资源足够，或者均匀性测试过程的时间足够长，也可以不采用降采样处理。

请参阅图6至图7，基于本发明的显示屏均匀性测试方法的第二实施例，本发明的显示屏均匀性测试方法的第三实施例中，步骤S14包括：

步骤S141，获取预设的图像滤波模板，所述图像滤波模板的尺寸大于预设值；

步骤S142，根据所述图像滤波模板，对所述初始图像进行滤波卷积处理以生成所述滤波图像。

所述图像滤波模板为G_img，所述滤波图像可以预存于***中。在本实施例中，所述图像滤波模板上的每个像素点的像素值按照如下公式设置：

其中，i表示所述图像滤波模板上的像素点的横坐标，j表示所述图像滤波模板上的像素点的纵坐标，s表示每一度的尺寸，r表示每一度的视频分辨率，s＞0，r＞0，1≤i≤N₁，1≤j≤N₂，s和r可以分别根据需要设置，N₁为所述图像滤波模板的长，N₂为所述图像滤波模板的宽。

所述图像滤波模板用于对所述初始图像进行滤波卷积处理，因此，所述图像滤波模板的尺寸越大，滤波处理的速度越大，因此，N₁优选大于等于10，N₂优选大于等于10，但N₁和N₂的范围并不因此受到限缩。

在本实施例中，s设置为10，r设置为48，N₁设置为11，N₂设置为11，当然，这四个参数的数值可以根据实际需要进行设置，并不以此为限。

经过滤波卷积处理后，生成的所述滤波图像为H_img，其中：

请参阅图8，基于本发明的显示屏均匀性测试方法的第一实施例至第三实施例，本发明的显示屏均匀性测试方法的第四实施例中，步骤S20包括：

步骤S21，获取所述初始图像上的每个像素点的像素值，并获取所述滤波图像上的每个像素点的像素值；

步骤S22，根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像上的每个像素点与所述滤波图像上的对应像素点的像素值差异；

步骤S23，根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像与所述滤波图像的像素值均值；

步骤S24，根据所述像素值差异与所述像素值均值的比值，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的所述对比图像。

所述初始图像上的某个像素点与所述滤波图像上的对应像素点的像素值差异大小，表示所述初始图像上该像素点的干扰像素值的大小。

由于所述对比图像上的每个像素点的像素值是根据每个像素点的所述像素值差异与所述像素值均值的比值得到，而像素值又是大于0的数值，因此，在本实施例中，采用所述像素值差异的绝对值表示所述像素值差异，并根据所述像素值差异的绝对值与所述像素值均值的比值，生成所述对比图像。

所述对比图像为C_img，其计算公式为：

其中，降采样图像与滤波图像的尺寸相同，N₃为降采样图像D_img或滤波图像H_img上的像素点总数，N₃＞0，k为降采样图像D_img或滤波图像H_img上的像素点取值，1≤k≤N₃。

在本实施例中，由于所述降采样图像的尺寸为530×950，因此N₃＝503500。

请参阅图9，基于本发明的显示屏均匀性测试方法的第一实施例，本发明的显示屏均匀性测试方法的第五实施例中，步骤S30之后，还包括：

步骤S40，获取所述均匀性分布图像上每个像素点的位置和像素值，根据所述均匀性分布图像的尺寸和所述均匀性分布图像上每个像素点的像素值，生成所述初始图像的均匀性分布仿真图像。

根据所述均匀性分布图像的尺寸和所述均匀性分布图像上每个像素点的像素值，生成所述初始图像对应的所述待测试显示屏的显示区域的均匀性分布仿真图像，也即生成所述显示状态图像对应的所述待测试显示屏的显示区域的均匀性分布仿真图像，所述均匀性分布仿真图像中，每一像素值用与其他像素值不同的颜色表示，或者每一像素值区间用与其他像素值区间不同的颜色表示。

当某一像素点与周围像素点的像素值不同，或者不属于同一像素值区间时，该像素点的颜色就会与周围像素点的颜色不同，通过颜色的差异，即可可以清晰地判断所述待测试显示屏上每个显示区域的均匀性分布情况，从而快速而准确地获得均匀性分布情况测试的结果。

请参阅图10至图12，其中图12所示均匀性分布仿真图像中，各个像素点的像素值无明显颜色差异，因此，可判断该均匀性分布仿真图像对应的显示屏均匀性良好。

再请参阅图13至图15，其中图14所示的均匀性分布仿真图像中，存在很多与周围颜色不同的像素点，例如，图中圆圈内存在若干个颜色与周围颜色不同的像素点，因此，可判断该均匀性分布仿真图像对应的显示屏均匀性不良，并可以通过颜色的分布情况了解显示屏的均匀性分布情况，判断方法简单且准确。

此外，请参阅图2、图3及图16，为实现上述目的，本发明的第一实施例提供一种显示屏均匀性测试***，所述显示屏均匀性测试***包括：

处理模块10，用于获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；

对比图像生成模块20，用于根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；

均匀性图像生成模块30，用于根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。

在本发明的技术方案中，所述对比图像是根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异生成的，所述对比图像上的每个像素点的像素值用于表征所述初始图像上对应像素点的像素值干扰值，因此，根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异生成的所述均匀性分布图像，是排除所有像素点的像素值干扰后的像素值分布图像，根据所述均匀性分布图像，能够了解所述待测试显示屏上的与所述初始图像对应的显示区域的均匀性分布情况。

所述显示状态图像可以包括显示屏的全部显示区域，也可以包括应显示屏的部分显示区域，当所述显示状态图像包括显示屏的全部显示区域时，最终获得的均匀性分布图像对应所述显示屏的全部显示区域的均匀性分布情况，当所述显示状态仅包括显示屏的部分显示区域时，最终获得的均匀性分布图像对应所述显示屏的部分显示区域的均匀性分布情况。

所述显示状态图像是由高清晰度的摄像机拍摄获得，为了全面分析所述待测试显示屏的均匀性，因此，所述显示状态图像应当包括显示屏的全部显示区域。为了获得亮度高的所述显示状态图像，在进行显示状态图像拍摄时，可以使待测试显示屏处于全白场信号的显示状态。当然，所述显示状态图像并不仅限于在全白场信号下获取。

在本实施例中，采用分辨率为2120×3800的摄像机获取所述显示状态图像。

所述初始图像是用于进行滤波处理及后续计算的图像，可以是所述显示状态图像本身，也可以是对所述显示状态图像进行降采样处理后得到的降采样图像，降采样处理用于减少像素点，以降低整个滤波及计算过程的计算量。

所述滤波处理是用于去除所述初始图像的噪点，所述噪点是在所述显示状态图像的获取过程中，由于抖动或光线突然变暗造成的图像噪点，滤波处理可以采用均值滤波器或者高斯滤波器。由于所述滤波图像是由所述初始图像进行滤波处理获得，因此，所述滤波图像的尺寸与所述初始图像的尺寸相同。

所述对比图像是根据所述初始图像与所述滤波图像的各个像素点的像素值构建的差异图像。由于所述滤波图像是去除噪点干扰因素的图像，所以，所述初始图像与所述滤波图像的各个像素点的像素值差异可以表征所述初始图像上各个像素点的干扰像素值，所述干扰像素值可以是噪点造成的像素值干扰，也可以是mura纹。

所述均匀性分布图像是排除干扰像素值后的可以用于表征所述待测试显示屏的均匀性的图像，根据所述均匀性分布图像，可以得到所述初始图像的均匀性分布图像，所述初始图像的均匀性分布结果与所述显示状态图像相同，因此，根据所述均匀性分布图像，可得到所述显示状态图像对应的显示区域的均匀性分布图像。

请参阅图5及图17，基于本发明的显示屏均匀性测试***的第一实施例，本发明的显示屏均匀性测试***的第二实施例中，所述处理模块10包括：

第一获取单元11，用于获取待测试显示屏的显示状态图像；

降采样单元12，用于对所述显示状态图像进行降采样处理，以生成降采样图像；

确定单元13，用于将所述降采样图像确定为所述初始图像；

滤波单元14，用于对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像。

对所述显示状态图像进行降采样处理，以减少图像像素点，并降低计算量。

具体的，降采样处理方法中，通过降采样参数，决定计算中采样点的多少。所述降采样参数用于表示两个采样点之间间隔的像素点数量。

所述降采样参数为大于1的任意整数，所述降采样参数的数值越大，表明拾取的两个采样点之间的间隔越大，因此，选取的采样点数目越少，计算量越低。

在本实施例中，通过降采样处理，生成降采样图像D_img，所述降采样参数设置为4，表示两个采样点之间间隔四个像素点。由于所述显示状态图像的尺寸为2120×3800，因此，通过降采样处理获得的降采样图像D_img的尺寸为530×950。

由于降采样过程是按照预设的像素点间隔，对所述显示状态图像上的各个像素点进行采样，容易理解，降采样处理不会改变所述显示状态图像上的像素值分布情况，因此，所述降采样图像与所述显示状态图像具有同样的均匀性分布情况，且降采样过程有效降低了整个均匀性测试过程的计算量，有利于节约***的计算资源。

当然，如果***的计算资源足够，或者均匀性测试过程的时间足够长，也可以不采用降采样处理。

请参阅图7及图18，基于本发明的显示屏均匀性测试***的第二实施例，本发明的显示屏均匀性测试***的第三实施例中，所述滤波单元14包括：

获取子单元141，用于获取预设的图像滤波模板，所述图像滤波模板的尺寸大于预设值；

滤波子单元142，用于根据所述图像滤波模板，对所述显示状态图像进行滤波卷积处理以生成所述滤波图像。

所述图像滤波模板为G_img，所述滤波图像可以预存于***中。在本实施例中，所述图像滤波模板上的每个像素点的像素值按照如下公式设置：

其中，i表示所述图像滤波模板上的像素点的横坐标，j表示所述图像滤波模板上的像素点的纵坐标，s表示每一度的尺寸，r表示每一度的视频分辨率，s＞0，r＞0，1≤i≤N₁，1≤j≤N₂，s和r可以分别根据需要设置，N₁为所述图像滤波模板的长，N₂为所述图像滤波模板的宽。

所述图像滤波模板用于对所述初始图像进行滤波卷积处理，因此，所述图像滤波模板的尺寸越大，滤波处理的速度越大，因此，N₁优选大于等于10，N₂优选大于等于10，但N₁和N₂的范围并不因此受到限缩。

在本实施例中，s设置为10，r设置为48，N₁设置为11，N₂设置为11，当然，这四个参数的数值可以根据实际需要进行设置，并不以此为限。

经过滤波卷积处理后，生成的所述滤波图像为H_img，其中：

请参阅图19，基于本发明的显示屏均匀性测试***的第一实施例至第三实施例，本发明的显示屏均匀性测试***的第四实施例中，所述对比图像生成模块20包括：

第二获取单元21，用于获取所述初始图像上的每个像素点的像素值，并获取所述滤波图像上的每个像素点的像素值；

差异值计算单元22，用于根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像上的每个像素点与所述滤波图像上的对应像素点的像素值差异；

均值计算单元23，用于根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像与所述滤波图像的像素值均值；

对比图像生成单元24，用于根据所述像素值差异与所述像素值均值的比值，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的所述对比图像。

所述初始图像上的某个像素点与所述滤波图像上的对应像素点的像素值差异大小，表示所述初始图像上该像素点的干扰像素值的大小。

由于所述对比图像上的每个像素点的像素值是根据每个像素点的所述像素值差异与所述像素值均值的比值得到，而像素值又是大于0的数值，因此，在本实施例中，采用所述像素值差异的绝对值表示所述像素值差异，并根据所述像素值差异的绝对值与所述像素值均值的比值，生成所述对比图像。

所述对比图像为C_img，其计算公式为：

其中，降采样图像与滤波图像的尺寸相同，N₃为降采样图像D_img或滤波图像H_img上的像素点总数，N₃＞0，k为降采样图像D_img或滤波图像H_img上的像素点取值，1≤k≤N₃。

在本实施例中，由于所述降采样图像的尺寸为530×950，因此N₃＝503500。

请参阅图20，基于本发明的显示屏均匀性测试***的第一实施例，本发明的显示屏均匀性测试***的第五实施例中，所述显示屏均匀性测试***还包括：

仿真模块40，用于获取所述均匀性分布图像上每个像素点的位置和像素值，根据所述均匀性分布图像的尺寸和所述均匀性分布图像上每个像素点的像素值，生成所述初始图像的均匀性分布仿真图像。

根据所述均匀性分布图像的尺寸和所述均匀性分布图像上每个像素点的像素值，生成所述初始图像对应的所述待测试显示屏的显示区域的均匀性分布仿真图像，也即生成所述显示状态图像对应的所述待测试显示屏的显示区域的均匀性分布仿真图像，所述均匀性分布仿真图像中，每一像素值用与其他像素值不同的颜色表示，或者每一像素值区间用与其他像素值区间不同的颜色表示。

当某一像素点与周围像素点的像素值不同，或者不属于同一像素值区间时，该像素点的颜色就会与周围像素点的颜色不同，通过颜色的差异，即可可以清晰地判断所述待测试显示屏上每个显示区域的均匀性分布情况，从而快速而准确地获得均匀性分布情况测试的结果。

请参阅图10至图12，其中图12所示均匀性分布仿真图像中，各个像素点的像素值无明显颜色差异，因此，可判断该均匀性分布仿真图像对应的显示屏均匀性良好。

再请参阅图13至图15，其中图14所示的均匀性分布仿真图像中，存在很多与周围颜色不同的像素点，例如，图中圆圈内存在若干个颜色与周围颜色不同的像素点，因此，可判断该均匀性分布仿真图像对应的显示屏均匀性不良，并可以通过颜色的分布情况了解显示屏的均匀性分布情况，判断方法简单且准确。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示屏均匀性测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；

根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；

根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。

2.根据权利要求1所述的显示屏均匀性测试方法，其特征在于，所述获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像，包括：

获取待测试显示屏的显示状态图像；

对所述显示状态图像进行降采样处理，以生成降采样图像；

将所述降采样图像确定为所述初始图像；

对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像。

3.根据权利要求2所述的显示屏均匀性测试方法，其特征在于，所述对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像，包括：

获取预设的图像滤波模板，所述图像滤波模板的尺寸大于预设值；

根据所述图像滤波模板，对所述初始图像进行滤波卷积处理以生成所述滤波图像。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的显示屏均匀性测试方法，其特征在于，所述根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像，包括：

获取所述初始图像上的每个像素点的像素值，并获取所述滤波图像上的每个像素点的像素值；

根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像上的每个像素点与所述滤波图像上的对应像素点的像素值差异；

根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像与所述滤波图像的像素值均值；

根据所述像素值差异与所述像素值均值的比值，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的所述对比图像。

5.根据权利要求1所述的显示屏均匀性测试方法，其特征在于，所述根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像之后，还包括：

获取所述均匀性分布图像上每个像素点的位置和像素值，根据所述均匀性分布图像的尺寸和所述均匀性分布图像上每个像素点的像素值，生成所述初始图像的均匀性分布仿真图像。

6.一种显示屏均匀性测试***，其特征在于，包括：

处理模块，用于获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；

对比图像生成模块，用于根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；

均匀性图像生成模块，用于根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。

7.根据权利要求6所述的显示屏均匀性测试***，其特征在于，所述处理模块包括：

第一获取单元，用于获取待测试显示屏的显示状态图像；

降采样单元，用于对所述显示状态图像进行降采样处理，以生成降采样图像；

确定单元，用于将所述降采样图像确定为所述初始图像；

滤波单元，用于对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像。

8.根据权利要求7所述的显示屏均匀性测试***，其特征在于，所述滤波单元包括：

获取子单元，用于获取预设的图像滤波模板，所述图像滤波模板的尺寸大于预设值；

滤波子单元，用于根据所述图像滤波模板，对所述显示状态图像进行滤波卷积处理以生成所述滤波图像。

9.根据权利要求6至8中任意一项所述的显示屏均匀性测试***，其特征在于，所述对比图像生成模块包括：

第二获取单元，用于获取所述初始图像上的每个像素点的像素值，并获取所述滤波图像上的每个像素点的像素值；

差异值计算单元，用于根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像上的每个像素点与所述滤波图像上的对应像素点的像素值差异；

均值计算单元，用于根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像与所述滤波图像的像素值均值；

对比图像生成单元，用于根据所述像素值差异与所述像素值均值的比值，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的所述对比图像。

10.根据权利要求6所述的显示屏均匀性测试***，其特征在于，所述显示屏均匀性测试***还包括：

仿真模块，用于获取所述均匀性分布图像上每个像素点的位置和像素值，根据所述均匀性分布图像的尺寸和所述均匀性分布图像上每个像素点的像素值，生成所述初始图像的均匀性分布仿真图像。