CN106291323A - 非接触式ic卡的芯片快速上电检测和配置方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法，包含：S1、芯片上电；存储单元内存储芯片配置信息、第一上电检测信息及第二上电检测信息；S2、由控制单元控制，依次对存储单元中的第一上电检测信息以及第二上电检测信息进行检查验证；S3、至少对S2中的操作步骤重复执行一次；S4、由控制单元控制，将存储单元中的芯片配置信息载入配置寄存器单元。本发明还涉及一种非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置装置。本发明能够在RF场强不稳定的情况下保证上电检测的正确性，同时避免一旦发生上电检测出错就需要先使芯片下电，再重新上电的操作过程，有效的节省了时间，尤其适用于发卡量较大的情况。
Description
技术领域
本发明涉及一种芯片快速上电检测和配置的方法及装置，具体是指一种适用于非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置的方法及装置，属于非接触式IC卡上电检测技术领域。
背景技术
非接触式IC（Integrated Circuit，集成电路）卡的芯片上电检测电路一般包括控制单元，存储单元，以及配置寄存器单元等。其中，控制单元的主要功能是产生整个芯片各个工作过程的控制信号，存储单元的主要功能是提供芯片工作所需的存储空间以及一些芯片配置数据的存储空间，配置寄存器单元的主要功能是芯片上电时从存储单元中载入芯片配置数据。
芯片上电检测和配置是一种用于检查当前芯片是否已经经过量产测试，并将储存在存储单元中的芯片配置数据载入芯片配置寄存器单元的过程。
对于非接触式IC卡，芯片上电检测是指芯片会先从存储单元中的特定位置载入数据进行判断，判断芯片是否已经经过量产测试，如果判断芯片已经经过量产测试，则可以载入存储单元内的芯片配置数据到配置寄存器单元，如果判断芯片没有经过量产测试，则配置寄存器单元使用默认值。
但是这种方式的缺点是，在发卡阶段，如果非接触式IC卡在逐渐靠近读卡器的过程中进行上电检测，由于RF（Radio Frequency，射频）场强微弱或不稳定，会有可能造成上电检测读出的数据不正确，这样既有可能将没有通过量产测试的芯片误判为已经经过量产测试的芯片，也有可能将已经经过量产测试的芯片误判为没有经过量产测试。如果想重新进行芯片上电检测，则需要重新进行下电和上电的操作，浪费大量时间。特别是当发卡量较大的时候，这种方法的弊端尤其明显。
发明内容
本发明的目的在于提供一种非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法及装置，能够在RF场强不稳定的情况下保证上电检测的正确性，同时避免一旦发生上电检测出错就需要先使芯片下电，再重新上电的操作过程，有效的节省了时间，尤其适用于发卡量较大的情况。
为了达到上述目的，本发明提供一种非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置装置，包含：控制单元；存储单元，其与所述的控制单元连接，该存储单元内存储有芯片配置信息、第一上电检测信息以及第二上电检测信息；配置寄存器单元，其分别与所述的控制单元以及存储单元连接；其中，由控制单元控制，依次对存储单元中的第一上电检测信息以及第二上电检测信息进行多次检查验证，当两个上电检测信息连续多次验证通过后，由控制单元控制，将存储单元中的芯片配置信息载入配置寄存器单元。
本发明所述的芯片快速上电检测和配置装置，还包含：上电检测计数器，其与所述的控制单元连接，计算第一上电检测信息以及第二上电检测信息连续验证通过的次数。
本发明还提供一种非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法，包含以下步骤：
S1、芯片上电；存储单元内存储有芯片配置信息、第一上电检测信息以及第二上电检测信息；
S2、对芯片进行上电检测，由控制单元控制，依次对存储单元中的第一上电检测信息以及第二上电检测信息进行检查验证；
S3、至少对S2中的上电检测的操作步骤重复执行一次；
S4、芯片上电检测通过，由控制单元控制，将存储单元中的芯片配置信息载入配置寄存器单元，芯片开始正常工作。
所述的S1中，第一上电检测信息和第二上电检测信息的数据长度分别为1个byte。
所述的S2中，具体包含以下步骤：
S21、控制单元从存储单元中读取第一上电检测信息；
S22、由控制单元控制，检查验证第一上电检测信息的数据是否正确；如正确，继续执行S23；如不正确，将上电检测计数器的计数值清零，并返回执行S21；
S23、控制单元从存储单元中读取第二上电检测信息；
S24、由控制单元控制，检查验证第二上电检测信息的数据是否正确；如正确，继续执行S3；如不正确，将上电检测计数器的计数值清零，并返回执行S21。
所述的S3中，具体包含以下步骤：
S31、控制单元从上电检测计数器中读取计数值；
S32、由控制单元控制，根据所获取的计数值，判断第一上电检测信息和第二上电检测信息已经连续成功通过检查验证的次数；
如连续成功通过检查验证的次数达到预先设定的次数，继续执行S4；
如连续成功通过检查验证的次数尚未达到预先设定的次数，将上电检测计数器的计数值加1，并返回执行S21，重复执行一次S21～S24。
在本发明的一个优选实施例中，所述的S3中，只对S21～S24的上电检测的操作步骤重复执行一次，具体包含以下步骤：
S31、由控制单元控制，从上电检测计数器中读取计数值；
S32、由控制单元控制，检查验证计数值是否为1；如计数值为1，继续执行S4；如计数值为0，将计数值加1，并返回执行S21，重复执行一次S21～S24。
其中，所述的上电检测计数器中的计数值的初始值为0。
综上所述，本发明所提供的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法及装置，能够在RF场强不稳定的情况下保证上电检测的正确性，同时避免一旦发生上电检测出错就需要先使芯片下电，再重新上电的操作过程，有效的节省了时间，尤其适用于发卡量较大的情况。
附图说明
图1是本发明中的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法的流程图；
图2是本发明中的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置装置的结构示意图。
具体实施方式
以下根据图1～图2，具体说明本发明的较佳实施例。
如图2所示，为本发明提供的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置装置，包含：控制单元1，其产生芯片上电检测和配置的过程控制信号，是实现本发明的核心单元；存储单元2，其与所述的控制单元1连接，该存储单元2内存储有芯片配置信息、第一上电检测信息byte0以及第二上电检测信息byte1；配置寄存器单元3，其分别与所述的控制单元1以及存储单元2连接；其中，由控制单元1控制，依次对存储单元2中的第一上电检测信息byte0以及第二上电检测信息byte1进行多次检查验证，当两个上电检测信息连续多次验证通过后，由控制单元1控制，将存储单元2中的芯片配置信息载入配置寄存器单元3，完成芯片的快速上电检测和配置。
本发明所述的芯片快速上电检测和配置装置，还包含：上电检测计数器4，其与所述的控制单元1连接，计算第一上电检测信息byte0以及第二上电检测信息byte1连续验证通过的次数。
如图1所示，为本发明提供的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法，包含以下步骤：
S1、芯片上电；存储单元2内存储有芯片配置信息、第一上电检测信息byte0以及第二上电检测信息byte1；
S2、对芯片进行上电检测，由控制单元1控制，依次对存储单元2中的第一上电检测信息byte0以及第二上电检测信息byte1进行检查验证；
S3、至少对S2中的上电检测的操作步骤重复执行一次；
S4、芯片上电检测通过，由控制单元1控制，将存储单元2中的芯片配置信息载入配置寄存器单元，芯片开始正常工作。
所述的S1中，第一上电检测信息byte0和第二上电检测信息byte1的数据长度分别为1个byte。
所述的S2中，具体包含以下步骤：
S21、控制单元1从存储单元2中读取第一上电检测信息byte0；
S22、由控制单元1控制，检查验证第一上电检测信息byte0的数据是否正确；如正确，继续执行S23；如不正确，将上电检测计数器4的计数值read_cnt清零，并返回执行S21，需要重新读取存储单元2中读取第一上电检测信息byte0；
S23、控制单元1从存储单元2中读取第二上电检测信息byte1；
S24、由控制单元1控制，检查验证第二上电检测信息byte1的数据是否正确；如正确，继续执行S3；如不正确，将上电检测计数器4的计数值read_cnt清零，并返回执行S21，需要重新读取存储单元2中读取第一上电检测信息byte0。
其中，上电检测计数器4的计数值read_cnt的作用是记录两个上电检测信息验证正确的次数，无论第一上电检测信息byte0还是第二上电检测信息byte1，只要其中有一个验证出错，计数值read_cnt就会被清0。
所述的S3中，具体包含以下步骤：
S31、控制单元1从上电检测计数器4中读取计数值read_cnt；
S32、由控制单元1控制，根据所获取的计数值read_cnt的值，判断第一上电检测信息byte0和第二上电检测信息byte1已经连续成功通过检查验证的次数；
如连续成功通过检查验证的次数达到预先设定的次数，继续执行S4；
如连续成功通过检查验证的次数尚未达到预先设定的次数，将上电检测计数器4的计数值read_cnt加1，并返回执行S21，重复执行一次S21～S24。
在本发明的一个优选实施例中，考虑到上电检测的准确性以及上电检测的效率，所述的S3中，只需要对S21～S24的上电检测的操作步骤重复执行一次，也就是需要对第一上电检测信息byte0以及第二上电检测信息byte1重复进行两次检查验证；具体包含以下步骤：
S31、由控制单元1控制，从上电检测计数器4中读取计数值read_cnt；
S32、由控制单元1控制，检查验证计数值read_cnt是否为1；
如计数值read_cnt为1，说明第一上电检测信息byte0和第二上电检测信息byte1之前已经成功通过检查验证一次，此次为第二次成功通过检查验证，即已经对S21～S24的操作步骤重复执行一次，继续执行S4；
如计数值read_cnt为0，说明第一上电检测信息byte0和第二上电检测信息byte1之前尚未成功通过检查验证，此次为第一次成功通过检查验证，即目前只对S21～S24的操作步骤执行一次，需要再重复执行一次；因此，将上电检测计数器4的计数值read_cnt加1，并返回执行S21，重复执行一次S21～S24。
其中，所述的上电检测计数器4中的计数值read_cnt的初始值为0。
从上述对本发明的描述中可以看出，第一上电检测信息byte0和第二上电检测信息byte1需要至少连续两次成功通过检查验证之后，才会认为上电检测已经顺利通过，而继续进入到芯片配置的步骤。这样能够保证只要是进入到芯片配置步骤，就说明上电检测已经通过，表明芯片已经经过量产测试，也表明芯片已经进入稳定工作的状态，RF场可以为非接触式IC卡提供稳定的能量。
在发卡阶段，当芯片逐渐靠近读卡器的过程中，如果出现了上电检测出错的情况，即第一上电检测信息byte0和/或第二上电检测信息byte1的检测不符合预期值的情况，那么必须将上电检测计数器的计数值清零并返回到S2，重新开始上电检测步骤，直至至少连续两次通过上电检测。
以下通过一个具体实施例，详细说明本发明方法。
S1、芯片上电；存储单元2内存储有芯片配置信息、第一上电检测信息byte0以及第二上电检测信息byte1；其中，第一上电检测信息byte0为8位16进制数5A，第二上电检测信息byte1为8位16进制数A5；
S2、对芯片进行上电检测，由控制单元1控制，依次对存储单元2中的第一上电检测信息byte0以及第二上电检测信息byte1进行检查验证；
S21、控制单元1从存储单元2中读取第一上电检测信息byte0；
S22、由控制单元1控制，检查验证第一上电检测信息byte0的数据是否为8位16进制数5A；如是，继续执行S23；如否，将上电检测计数器4的计数值read_cnt清零，并返回执行S21；
S23、控制单元1从存储单元2中读取第二上电检测信息byte1；
S24、由控制单元1控制，检查验证第二上电检测信息byte1的数据是否为8位16进制数A5；如是，继续执行S3；如否，将上电检测计数器4的计数值read_cnt清零，并返回执行S21；
S3、对S2中的上电检测的操作步骤重复执行一次；
S31、由控制单元1控制，从上电检测计数器4中读取计数值read_cnt；
S32、由控制单元1控制，检查验证计数值read_cnt是否为1；
如计数值read_cnt为1，说明第一上电检测信息byte0和第二上电检测信息byte1已经成功通过检查验证两次，继续执行S4；
如计数值read_cnt为0，说明第一上电检测信息byte0和第二上电检测信息byte1只成功通过检查验证一次，需要再重复检查验证一次；因此，将上电检测计数器4的计数值read_cnt加1，并返回执行S21，重复执行一次S21～S24。
S4、芯片上电检测通过，由控制单元1控制，将存储单元2中的芯片配置信息载入配置寄存器单元，芯片开始正常工作。
综上所述，本发明所提供的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法及装置，具有以下有益效果：当芯片在逐渐靠近读卡器的过程中，或者在RF场强不稳定的情况下，通过至少连续两次的上电检测，从而保证非接触式IC卡上电检测的正确性，同时也避免了因为RF场强不稳定造成的某一次上电检测比对中，由于其中一个上电检测信息出错，需要先使芯片下电，再重新上电的操作过程。在这种情况下，本发明通过对上电检测计数器的计数值清零后重新进行上电检测的方法，从而不需要额外的芯片进行下电再重新上电的操作，有效的节省了时间。特别是当发卡量较大的时候，本发明的有益效果更加明显。
尽管本发明的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍，但应当认识到上述的描述不应被认为是对本发明的限制。在本领域技术人员阅读了上述内容后，对于本发明的多种修改和替代都将是显而易见的。因此，本发明的保护范围应由所附的权利要求来限定。
Claims (8)
1.一种非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置装置，其特征在于，包含：
控制单元（1）；
存储单元（2），其与所述的控制单元（1）连接；该存储单元（2）内存储有芯片配置信息、第一上电检测信息以及第二上电检测信息；
配置寄存器单元（3），其分别与所述的控制单元（1）以及存储单元（2）连接；
其中，由控制单元（1）控制，依次对存储单元（2）中的第一上电检测信息以及第二上电检测信息进行多次检查验证，当两个上电检测信息连续多次验证通过后，由控制单元（1）控制，将存储单元（2）中的芯片配置信息载入配置寄存器单元（3）。
2.如权利要求1所述的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置装置，其特征在于，还包含：上电检测计数器（4），其与所述的控制单元（1）连接，计算第一上电检测信息以及第二上电检测信息连续验证通过的次数。
3.一种非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法，其特征在于，采用如权利要求1～2中任一项所述的装置实现，包含以下步骤：
S1、芯片上电；存储单元（2）内存储有芯片配置信息、第一上电检测信息以及第二上电检测信息；
S2、对芯片进行上电检测，由控制单元（1）控制，依次对存储单元（2）中的第一上电检测信息以及第二上电检测信息进行检查验证；
S3、至少对S2中的上电检测的操作步骤重复执行一次；
S4、芯片上电检测通过，由控制单元（1）控制，将存储单元（2）中的芯片配置信息载入配置寄存器单元，芯片开始正常工作。
4.如权利要求3所述的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法，其特征在于，所述的S1中，第一上电检测信息和第二上电检测信息的数据长度分别为1个byte。
5.如权利要求3所述的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法，其特征在于，所述的S2中，具体包含以下步骤：
S21、控制单元（1）从存储单元（2）中读取第一上电检测信息；
S22、由控制单元（1）控制，检查验证第一上电检测信息的数据是否正确；如正确，继续执行S23；如不正确，将上电检测计数器（4）的计数值清零，并返回执行S21；
S23、控制单元（1）从存储单元（2）中读取第二上电检测信息；
S24、由控制单元（1）控制，检查验证第二上电检测信息的数据是否正确；如正确，继续执行S3；如不正确，将上电检测计数器（4）的计数值清零，并返回执行S21。
6.如权利要求5所述的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法，其特征在于，所述的S3中，具体包含以下步骤：
S31、控制单元（1）从上电检测计数器（4）中读取计数值；
S32、由控制单元（1）控制，根据所获取的计数值，判断第一上电检测信息和第二上电检测信息已经连续成功通过检查验证的次数；
如连续成功通过检查验证的次数达到预先设定的次数，继续执行S4；
如连续成功通过检查验证的次数尚未达到预先设定的次数，将上电检测计数器（4）的计数值加1，并返回执行S21，重复执行一次S21～S24。
7.如权利要求6所述的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法，其特征在于，所述的S3中，只对S21～S24的上电检测的操作步骤重复执行一次，具体包含以下步骤：
S31、由控制单元（1）控制，从上电检测计数器（4）中读取计数值；
S32、由控制单元（1）控制，检查验证计数值是否为1；如计数值为1，继续执行S4；如计数值为0，将计数值加1，并返回执行S21，重复执行一次S21～S24。
8.如权利要求7所述的非接触式IC卡的芯片快速上电检测和配置方法，其特征在于，所述的上电检测计数器（4）中的计数值的初始值为0。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 201203 No. 12, Lane 647, Songtao Road, Shanghai China (Shanghai) Free Trade Pilot Area Applicant after: Juchen Semiconductor Co., Ltd. Address before: 201203 No. 12, Lane 647, Songtao Road, Zhangjiang High-tech Park, Pudong New Area, Shanghai Applicant before: Giantec Semiconductor Inc. |
|
| CB02 | Change of applicant information | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |