CN106053484A - 一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法 - Google Patents

一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106053484A
CN106053484A CN201610629073.6A CN201610629073A CN106053484A CN 106053484 A CN106053484 A CN 106053484A CN 201610629073 A CN201610629073 A CN 201610629073A CN 106053484 A CN106053484 A CN 106053484A
Authority
CN
China
Prior art keywords
liquid
crystalline glasses
image
collecting device
foreign body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201610629073.6A
Other languages
English (en)
Inventor
侯先斌
陈佳乐
张伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CHANGZHOU CHIWANG INTELLIGENT DETECTION TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
CHANGZHOU CHIWANG INTELLIGENT DETECTION TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CHANGZHOU CHIWANG INTELLIGENT DETECTION TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical CHANGZHOU CHIWANG INTELLIGENT DETECTION TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201610629073.6A priority Critical patent/CN106053484A/zh
Publication of CN106053484A publication Critical patent/CN106053484A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94Investigating contamination, e.g. dust

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明提供一种液晶玻璃表面异物的检测设备,包括支架、分别安装在支架上的用于采集液晶玻璃表面图像的图像采集装置、用于检测液晶玻璃位置信号的光电传感器和用于照亮液晶玻璃表面的光源,以及工控机,支架架设于载有液晶玻璃的流水线上,所述图像采集装置位于支架的上部,所述光电传感器对应图像采集装置位于支架的下部,所述光源位于支架的侧部,所述工控机分别与图像采集装置和光电传感器连接,光电传感器检测到液晶玻璃由进入到移出图像采集装置采集区域的过程中,图像采集装置采集多张组合后能够显示液晶玻璃全貌的图像,工控机能够通过多张图像判断整个液晶玻璃表面是否存在异物。本发明还提供了一种基于上述检测设备的检测方法。

Description

一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法
技术领域
本发明涉及LCD液晶屏检测技术,特别地,涉及一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法。
背景技术
LCD液晶屏包括液晶玻璃和紧贴在液晶玻璃表面的偏光片。为了提高LCD液晶屏的显像效果,在偏贴设备对液晶玻璃贴偏光片之前,需要保证液晶玻璃表面无灰尘、纤维、残胶等异物吸附,因此需要对液晶玻璃表面有无异物进行检测。常规的检测方式主要有以下两种:1)通过人眼观察和识别,该方式长时间进行会导致视觉疲劳,辨识度下降,影响检测效率且浪费了人力。2)通过相机对静置在相机下的液晶玻璃进行拍照,进而由检测程序进行检测,该方式仅仅能够实现对尺寸较小的单个液晶玻璃进行检测,无法完成尺寸较大的液晶玻璃的检测。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:为了克服现有技术中存在的上述问题,现提供一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法,旨在实现对于尺寸较大的液晶玻璃的检测。
本发明解决其技术问题所要采用的技术方案是:一种液晶玻璃表面异物的检测设备,包括支架、分别安装在支架上的用于采集液晶玻璃表面图像的图像采集装置、用于检测液晶玻璃位置信号的光电传感器和用于照亮液晶玻璃表面的光源,以及工控机,所述支架架设于载有液晶玻璃的流水线上,所述图像采集装置位于支架的上部,所述光电传感器对应图像采集装置位于支架的下部,所述光源位于支架的侧部,所述工控机分别与图像采集装置和光电传感器连接,光电传感器检测到液晶玻璃由进入到移出图像采集装置采集区域的过程中,图像采集装置采集多张组合后能够显示液晶玻璃全貌的图像,工控机能够通过多张图像判断整个液晶玻璃表面是否存在异物。
进一步地,所述工控机设于支架的一侧,工控机包括控制模块和运算模块,所述控制模块用于接收光电传感器的信号并控制图像采集装置的运行方式,所述运算模块用于接收、分析图像采集装置采集的图像并判断液晶玻璃表面是否存在异物。
进一步地,所述图像采集装置包括至少一个相机,每一个相机分别具有一个摄像头,所述摄像头用于拍摄液晶玻璃的图像。
进一步地,所述光源有两个,且对称位于支架的两侧部。
进一步地,所述光电传感器为反射式光电传感器。
进一步地,所述控制模块还与偏贴设备连接,控制模块能够控制偏贴设备是否对液晶玻璃进行偏光片贴合操作。
一种基于前述的一种液晶玻璃表面异物的检测设备的检测方法,主要包括以下步骤:
S100:点亮光源,流水线上载有的液晶玻璃由远及近靠近图像采集装置的采集区域。
S200:光电传感器检测到液晶玻璃由进入到移出图像采集装置采集区域的过程中,控制模块控制图像采集装置采集多张组合后能够显示液晶玻璃全貌的图像。
S300:运算模块对接收到的多张图像进行分析,判断液晶玻璃表面是否存在异物。
进一步地,所述步骤S200中,液晶玻璃刚进入图像采集装置采集区域的瞬间,图像采集装置开始采集图像,液晶玻璃移出图像采集装置采集区域的瞬间,图像采集装置停止采集图像。
进一步地,所述步骤S200中,所述图像采集装置采集图像的频率能够根据液晶玻璃的移动速度而改变。
进一步地,所述运算模块判断出液晶玻璃表面存在异物时,所述控制模块控制偏贴设备停止偏光片贴合操作。
本发明的有益效果是:本发明的一种液晶玻璃表面异物的检测设备,使用时,由图像采集装置采集多张组合后能够显示液晶玻璃全貌的图像,工控机能够通过分析多张图像从而判断整个液晶玻璃表面是否存在异物。本发明的检测设备,实现了对尺寸较大的液晶玻璃的检测,同时自动化程度高,避免了人眼识别的缺陷,节省了人力,结构简单,检测效率高。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。
图1是本发明的液晶玻璃表面异物的检测设备的结构示意图;(省略工控机)
图2是图1所示的检测设备的控制结构框图;
图3是基于图1所示的检测设备的检测方法的流程图。
图中:1、液晶玻璃,2、流水线,3、偏贴设备,10、支架,20、图像采集装置,21、相机,211、摄像头,30、光电传感器,40、光源,50、工控机,51、控制模块,52、运算模块。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作详细的说明。此图为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。
请参阅图1、图2,本发明的一种液晶玻璃表面异物的检测设备,用于检测液晶玻璃1的表面是否存在灰尘、纤维、玻璃碎屑、残胶等异物。该检测设备包括支架10、分别安装在支架10上的图像采集装置20、光电传感器30、光源40,以及工控机50。
需要说明的是,本发明的检测设备是与流水线2和偏贴设备3配合使用的。具体的,支架10架设在流水线2上,液晶玻璃1放置在流水线2上,液晶玻璃1随流水线2移动,偏贴设备3设于流水线2的一侧。液晶玻璃1通过本发明的检测设备时,偏贴设备3能够对表面无异物的液晶玻璃1进行偏光片贴合。
图像采集装置20位于支架10的上部,且处于流水线2的上方,用于采集流水线2上液晶玻璃1表面的图像。
图像采集装置20包括至少一个相机21,每一个相机21分别具有一个摄像头211,摄像头211用于拍摄液晶玻璃1的图像。
本发明的实施方式中,图像采集装置20包括有两个相机21,必然的,摄像头211的数量为两个。这两个摄像头211之间的连线垂直于液晶玻璃1的移动方向,由此,扩大了图像采集装置20的采集区域,便于无盲区采集图像。
可以理解地,在其他的实施方式中,相机21可以为一个,也可以为三个、四个,甚至更多。
光电传感器30对应图像采集装置20位于支架10的下部,且处于流水线2的下方,当流水线2上的液晶玻璃1移动至图像采集装置20的可采集区域时,光电传感器30便能够检测到该位置信号。
本发明的实施方式中,光电传感器30为反射式光电传感器,此类型传感器感应距离大,且能够在粉尘较为严重的环境下工作。
光源40位于支架10的侧部,用于照亮液晶玻璃1上待检测的表面。如果液晶玻璃1的表面上存在异物,异物在光照情况下会发生漫反射,进而投射到摄像头211上,异物在摄像头211拍摄到的图像上将表现为白色亮点。
光源40发出白色的平行光线,光源40的数量为两个,且对称位于支架10的两侧部,增加了照亮面积以及光照强度。
工控机50设于支架10的一侧,工控机50包括控制模块51和运算模块52,控制模块51用于接收光电传感器30的信号并控制图像采集装置20的运行方式,运算模块52用于接收、分析图像采集装置20采集的图像并判断液晶玻璃1表面是否存在异物,控制模块51还与偏贴设备3连接,控制模块51能够控制偏贴设备3是否对液晶玻璃1进行偏光片贴合。
请同时参阅图3,说明基于本发明的液晶玻璃表面异物的检测设备的检测方法,其主要包括以下步骤:
S100:点亮光源40,流水线2上载有的液晶玻璃1由远及近靠近图像采集装置20的采集区域。
S200:当流水线2上的液晶玻璃1刚进入图像采集装置20采集区域的瞬间,光电传感器30检测到这一位置信号,并将此位置信号传递给控制模块51,控制模块51便控制图像采集装置20开始按照一定频率采集多张图像,直至液晶玻璃1移出图像采集装置20的采集区域,光电传感器30检测不到液晶玻璃1的位置,控制模块51才控制图像采集装置20停止采集图像。
需要说明的是,采集到的多张图像组合后能够完整显示液晶玻璃1的全貌。
该步骤不需要人工干涉,自动化程度高。同时,图像采集装置20只有当其采集区域内存在液晶玻璃1时才工作,避免了不必要的图像采集,设计更具人性化。
S300:运算模块52对来自图像采集装置20采集到的多张图像逐一进行分析,判断液晶玻璃1表面是否存在异物。
当运算模块52判断出液晶玻璃1表面存在异物时,控制模块5控制偏贴设备3不进行偏光片贴合操作。反之,当运算模块52判断出液晶玻璃1表面不存在异物时,控制模块5控制偏贴设备3进行偏光片贴合操作。
进一步地,图像采集装置20采集图像的频率能够根据液晶玻璃1的移动速度而改变,具体的,流水线2上的液晶玻璃1移动速度较快时,图像采集装置20的采集图像的频率也相应较快;流水线2上的液晶玻璃1移动速度相对较慢时,图像采集装置20的采集图像的频率也相对较慢。由此,保证了图像采集装置20采集到的多张图像组合后能够显示出整个液晶玻璃1的全貌,避免采集的图像出现盲区,对整个液晶玻璃1表面检测造成影响。
本发明的液晶玻璃表面异物的检测设备,使用时,由图像采集装置20采集多张组合后能够显示液晶玻璃1全貌的图像,工控机50能够通过分析多张图像从而判断整个液晶玻璃1表面是否存在异物。本发明的检测设备,实现了对尺寸较大的液晶玻璃1的检测,同时自动化程度高,避免了人眼识别的缺陷,节省了人力,结构简单,检测效率高。
本发明还提供了一种基于上述检测设备的检测方法。
以上述依据本发明的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关的工作人员完全可以在不偏离本发明的范围内,进行多样的变更以及修改。本项发明的技术范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (10)

1.一种液晶玻璃表面异物的检测设备,其特征在于:包括支架(10)、分别安装在支架(10)上的用于采集液晶玻璃(1)表面图像的图像采集装置(20)、用于检测液晶玻璃(1)位置信号的光电传感器(30)和用于照亮液晶玻璃(1)表面的光源(40),以及工控机(50),所述支架(10)架设于载有液晶玻璃(1)的流水线(2)上,所述图像采集装置(20)位于支架(10)的上部,所述光电传感器(30)对应图像采集装置(20)位于支架(10)的下部,所述光源(40)位于支架(10)的侧部,所述工控机(50)分别与图像采集装置(20)和光电传感器(30)连接,光电传感器(30)检测到液晶玻璃(1)由进入到移出图像采集装置(20)采集区域的过程中,图像采集装置(20)采集多张组合后能够显示液晶玻璃(1)全貌的图像,工控机(50)能够通过多张图像判断整个液晶玻璃(1)表面是否存在异物。
2.如权利要求1所述的一种液晶玻璃表面异物的检测设备,其特征在于:所述工控机(50)设于支架(10)的一侧,工控机(50)包括控制模块(51)和运算模块(52),所述控制模块(51)用于接收光电传感器(30)的信号并控制图像采集装置(20)的运行方式,所述运算模块(52)用于接收、分析图像采集装置(20)采集的图像并判断液晶玻璃(1)表面是否存在异物。
3.如权利要求1所述的一种液晶玻璃表面异物的检测设备,其特征在于:所述图像采集装置(20)包括至少一个相机(21),每一个相机(21)分别具有一个摄像头(211),所述摄像头(211)用于拍摄液晶玻璃(1)的图像。
4.如权利要求1所述的一种液晶玻璃表面异物的检测设备,其特征在于:所述光源(40)有两个,且对称位于支架(10)的两侧部。
5.如权利要求1所述的一种液晶玻璃表面异物的检测设备,其特征在于:所述光电传感器(30)为反射式光电传感器。
6.如权利要求2所述的一种液晶玻璃表面异物的检测设备,其特征在于:所述控制模块(51)还与偏贴设备(3)连接,控制模块(51)能够控制偏贴设备(3)是否对液晶玻璃(1)进行偏光片贴合操作。
7.一种基于如权利要求1-6中任一项所述的一种液晶玻璃表面异物的检测设备的检测方法,主要包括以下步骤:
S100:点亮光源(40),流水线(2)上载有的液晶玻璃(1)由远及近靠近图像采集装置(20)的采集区域;
S200:光电传感器(30)检测到液晶玻璃(1)由进入到移出图像采集装置(20)采集区域的过程中,控制模块(51)控制图像采集装置(20)采集多张组合后能够显示液晶玻璃(1)全貌的图像;
S300:运算模块(52)对接收到的多张图像进行分析,判断液晶玻璃(1)表面是否存在异物。
8.如权利要求7所述的一种液晶玻璃表面异物的检测方法,其特征在于:所述步骤S200中,液晶玻璃(1)刚进入图像采集装置(20)采集区域的瞬间,图像采集装置(20)开始采集图像,液晶玻璃(1)移出图像采集装置(20)采集区域的瞬间,图像采集装置(20)停止采集图像。
9.如权利要求7所述的一种液晶玻璃表面异物的检测方法,其特征在于:所述步骤S200中,所述图像采集装置(20)采集图像的频率能够根据液晶玻璃的移动速度而改变。
10.如权利要求7所述的一种液晶玻璃表面异物的检测方法,其特征在于:所述运算模块(52)判断出液晶玻璃(1)表面存在异物时,所述控制模块(5)控制偏贴设备(3)停止偏光片贴合操作。
CN201610629073.6A 2016-08-03 2016-08-03 一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法 Pending CN106053484A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610629073.6A CN106053484A (zh) 2016-08-03 2016-08-03 一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610629073.6A CN106053484A (zh) 2016-08-03 2016-08-03 一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106053484A true CN106053484A (zh) 2016-10-26

Family

ID=57196310

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610629073.6A Pending CN106053484A (zh) 2016-08-03 2016-08-03 一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106053484A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107015385A (zh) * 2017-03-24 2017-08-04 惠科股份有限公司 一种显示面板的检测方法和检测装置
CN108088853A (zh) * 2016-11-23 2018-05-29 阜宁协鑫光伏科技有限公司 一种硅片颗粒粉尘误判线痕优化方案
CN111152448A (zh) * 2020-01-19 2020-05-15 神田工业(苏州)有限公司 一种硬膜在上式新型硬膜和软膜贴合装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101034069A (zh) * 2006-03-10 2007-09-12 欧姆龙株式会社 缺陷检查装置缺陷检查方法
CN101443653A (zh) * 2006-05-09 2009-05-27 株式会社尼康 边缘检查设备
JP2010071860A (ja) * 2008-09-19 2010-04-02 Sharp Corp ガラス基板検査装置
US20150003716A1 (en) * 2012-01-19 2015-01-01 H. Lee Moffitt Cancer Center And Research Institute, Inc. Histology recognition to automatically score and quantify cancer grades and individual user digital whole histological imaging device
CN204237174U (zh) * 2014-10-23 2015-04-01 苏州三星显示有限公司 液晶面板生产装置
CN204924967U (zh) * 2015-08-18 2015-12-30 浙江欧威科技有限公司 全自动aoi整机的图像采集机构
KR20160017308A (ko) * 2014-08-04 2016-02-16 삼성디스플레이 주식회사 패널 검사장치 및 그 검사방법
CN105372267A (zh) * 2014-08-11 2016-03-02 东京威尔斯股份有限公司 透明基板的外观检查装置以及外观检查方法
CN205844212U (zh) * 2016-08-03 2016-12-28 常州驰网智能检测技术有限公司 一种液晶玻璃表面异物的检测设备

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101034069A (zh) * 2006-03-10 2007-09-12 欧姆龙株式会社 缺陷检查装置缺陷检查方法
CN101443653A (zh) * 2006-05-09 2009-05-27 株式会社尼康 边缘检查设备
JP2010071860A (ja) * 2008-09-19 2010-04-02 Sharp Corp ガラス基板検査装置
US20150003716A1 (en) * 2012-01-19 2015-01-01 H. Lee Moffitt Cancer Center And Research Institute, Inc. Histology recognition to automatically score and quantify cancer grades and individual user digital whole histological imaging device
KR20160017308A (ko) * 2014-08-04 2016-02-16 삼성디스플레이 주식회사 패널 검사장치 및 그 검사방법
CN105372267A (zh) * 2014-08-11 2016-03-02 东京威尔斯股份有限公司 透明基板的外观检查装置以及外观检查方法
CN204237174U (zh) * 2014-10-23 2015-04-01 苏州三星显示有限公司 液晶面板生产装置
CN204924967U (zh) * 2015-08-18 2015-12-30 浙江欧威科技有限公司 全自动aoi整机的图像采集机构
CN205844212U (zh) * 2016-08-03 2016-12-28 常州驰网智能检测技术有限公司 一种液晶玻璃表面异物的检测设备

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108088853A (zh) * 2016-11-23 2018-05-29 阜宁协鑫光伏科技有限公司 一种硅片颗粒粉尘误判线痕优化方案
CN107015385A (zh) * 2017-03-24 2017-08-04 惠科股份有限公司 一种显示面板的检测方法和检测装置
WO2018171045A1 (zh) * 2017-03-24 2018-09-27 惠科股份有限公司 一种显示面板的检测方法和检测装置
CN111152448A (zh) * 2020-01-19 2020-05-15 神田工业(苏州)有限公司 一种硬膜在上式新型硬膜和软膜贴合装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103884650B (zh) 一种多光源线阵成像***及方法
CN108918539B (zh) 一种隧道结构表观病害检测装置及方法
CN106814084A (zh) 一种新型显示面板表面缺陷检测***
CN105115989A (zh) 一种隐形眼镜缺陷的自动检测设备及检测方法
WO2014169516A1 (zh) 一种检测装置及检测方法
CN204924983U (zh) 一种光栅调制的镜片疵病自动检测装置
CN105067639A (zh) 一种光栅调制的镜片疵病自动检测装置和方法
CN105548203A (zh) 多引脚元件针脚的视觉检测方法及装置
CN206223686U (zh) 一种lcd外观缺陷检测***
CN103630544B (zh) 一种视觉在线检测***
CN205844212U (zh) 一种液晶玻璃表面异物的检测设备
CN105510338A (zh) 锡膏、红胶检测方法
CN104483320A (zh) 工业脱硝催化剂的数字化缺陷检测装置与检测方法
CN106053484A (zh) 一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法
US20160321794A1 (en) Detecting Device and Detecting Method Thereof
CN106526917A (zh) 一种采用线阵相机扫描的液晶屏点阵检测装置
CN105973900A (zh) 一种太阳能电池组件缺陷检查***及检查方法
CN111458345A (zh) 一种口罩缺陷视觉检测机构
KR20130143226A (ko) 도광판 검사장치
WO2018171045A1 (zh) 一种显示面板的检测方法和检测装置
CN105784718A (zh) 一种成品电缆外观检查设备
CN205538726U (zh) 一种成品电缆外观检查设备
KR101316812B1 (ko) 엘시디 패널의 검사장치
CN102721703A (zh) 一种在线检测的照明装置与成像方法
KR20200089416A (ko) 디스플레이 패널의 커버 글래스 검사 시스템

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20161026

RJ01 Rejection of invention patent application after publication