CN105676495B - 检测单元、阵列基板、液晶显示装置以及检测方法 - Google Patents

检测单元、阵列基板、液晶显示装置以及检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明提出一种新的技术方案，包括一种用以进行LCD点灯检测的检测单元、一种包含该检测单元的阵列基板、一种包含该阵列基板液晶显示装置以及一种用以进行LCD点灯检测的检测方法，对原有RGB液晶显示器生产工艺进行简单的改进，减少短路线的数量，只需改动一张Array光罩，即可使RGBW液晶显示器半成品实现纯色及混色的点灯检测，有效降低生产成本。

Description

检测单元、阵列基板、液晶显示装置以及检测方法
技术领域
本发明涉及一种液晶显示器技术，特别涉及一种用以进行LCD点灯检测的检测单元、一种包含该检测单元的阵列基板、一种包含该阵列基板的液晶显示装置以及一种用以进行LCD点灯检测的检测方法。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)的主体结构包括液晶面板和背光模组，液晶面板包括阵列基板、彩膜基板以及设置在其间的液晶盒。随着液晶技术的迅猛发展，原有RGB三色技术已经不能满足客户的需求，近年来，RGBW四色技术因其高穿透率、高亮度和低能耗的特点更容易受到客户的青睐。
在显示器的制作过程中，LCD光板在绑定IC前，需要对液晶盒进行点灯检测，筛选出不良产品，防止其进入下一步的工序。阵列基板上设置有与单色数据线一一对应的信号线，液晶盒检测(cell test)时，通过与每条信号线对应的引针/引线(pin)输入检测信号，检测信号相同的信号线与同一条短路线短接。
如图1所示，在RGB液晶显示器工艺中的检测单元，一般包括三条(R/G/B)短路线(shorting bar)111、112、113，分别通过三条像素引线121、122、123连接至三条像素信号线131、132、133，在液晶盒检测(cell test)阶段用来点亮白色/纯红/纯绿/纯蓝画面，以检查屏幕质量。同理，如图2所示，在RGBW液晶显示器工艺中，一般也会设计四条(R/G/B/W)短路线211、212、213、214，通过四条像素引线221、222、223、224连接至四条像素信号线231、232、233、234，在液晶盒检测(cell test)阶段用来点亮全白/纯红/纯绿/纯蓝/纯白画面，以检查屏幕质量。
RGBW显示器是RGB显示器的一种改进技术，在产品升级过程中，生产厂家为了节约成本，会尽可能地利用原有设备以及工艺，因此在RGBW显示器的生产工艺中，厂家希望尽可能地减少结构部件，如Array光罩，在设计上的改动。倘若RGBW显示器的Array光罩与RGB显示器的Array光罩完全相同，厂家在生产Array光罩时只需要一套模具即可。
然而，如图3所示，在RGB显示器升级为RGBW显示器的过程中，如果完全不改动Array光罩，短路线及引线的排线连接方式与RGB显示器(图1)完全一样，由于输入的像素信号线由三条变为四条，每一条短路线上都会有白色像素介入，在液晶盒检测(cell test)阶段，就只能点亮纯白画面，而不能点亮纯色画面；因此，Array光罩必须要改动，设计人员只能尽量减少需要改动的Array光罩的数量。如果将RGB液晶显示器工艺中三条短路线(R/G/B)的设计方案(如图1)改成RGBW液晶显示器工艺中的四条短路线(R/G/B/W)的设计方案(如图2)，则需要改动2张以上的Array光罩。不仅如此，RGB显示器中所用的光罩，其版面图上并没有足够空间来增加走线数目，需要更换全新的Array光罩。而Array光罩技术改动过多，厂家的生产成本就会明显提高。因此，RGBW显示器加工领域，需要一个全新的设计方案，在尽可能减少Array光罩改动的前提下，在液晶盒检测(cell test)阶段实现纯色点灯的效果。
发明内容
本发明的目的在于，解决现有的RGBW液晶显示器生产工艺中，短路线较多、Array光罩改动较大、生产成本较高等技术问题。
为实现上述目的，本发明提供一种用以进行LCD点灯检测的检测单元，包括一短路线组、至少一引线组以及至少一信号线组；所述短路线组包括一第一短路线、一第二短路线以及一第三短路线；所述引线组包括一R像素引线，连接至所述第一短路线；一G像素引线，连接至所述第二短路线；一B像素引线，连接至所述第三短路线；以及一W像素引线，连接至所述第二短路线；每一信号线组连接至一引线组，所述信号线组包括：一R像素信号线，连接至所述R像素引线；一G像素信号线，连接至所述G像素引线；一B像素信号线，连接至所述B像素引线；以及一W像素信号线，连接至所述W像素引线。
为实现上述目的，本发明提供一种包含该检测单元的阵列基板，包括：一显示区，其内设有液晶以及至少一数据线组；以及一非显示区，设置于所述显示区周围，其内设有至少一如权利要求1所述的检测单元；其中，每一数据线组连接至一信号线组，所述数据线组包括：一R像素数据线，连接至所述R像素信号线；一G像素数据线，连接至所述G像素信号线；一B像素数据线，连接至所述B像素信号线；以及一W像素数据线，连接至所述W像素信号线。
为实现上述目的，本发明提供一种液晶显示装置，包括上述的阵列基板。
为实现上述目的，本发明提供一种用以进行LCD点灯检测的检测方法，包括如下步骤：将至少一数据线组通过至少一信号线组、至少一引线组连接至一短路线组，构成至少一检测线路；通过至少一检测信号点模拟输入至少一检测信号；点亮液晶，在显示区显示至少一纯色画面和/或混色画面；以及在纯色画面和/或混色画面下，检测是否存在异常像点或亮度不均匀的现象，检测所述检测线路的走线是否存在短路现象。
其中，将至少一数据线组通过至少一引线组连接至一短路线组，具体包括如下步骤：将一R像素数据线通过一R像素引线连接至一第一短路线；将一G像素数据线通过一G像素引线连接至一第二短路线；将一B像素数据线通过一B像素引线连接至一第三短路线；以及将一W像素数据线通过一W像素引线连接至一第二短路线；上述各步骤的先后次序可以任意交换。
本发明的优点在于，本发明提出一种新的技术手段，包括一种用以进行LCD点灯检测的检测单元、一种包含该检测单元的阵列基板、一种包含该阵列基板液晶显示装置以及一种用以进行LCD点灯检测的检测方法，对原有RGB液晶显示器生产工艺进行简单的改进，减少短路线的数量，只需改动一张Array光罩，即可使RGBW液晶显示器半成品实现纯色及混色的点灯检测，有效降低生产成本。
附图说明
图1所示为现有技术中一RGB检测单元的结构示意图；
图2所示为现有技术中一RGBW检测单元的结构示意图；
图3所示为在Array光罩完全不改动的情况下，由RGB检测单元直接改进成的RGBW检测单元的结构示意图；
图4所示为本发明一实施例中一检测单元的结构示意图；
图5所示为本发明一实施例中一阵列基板的结构示意图；
图6所示为本发明一阵列基板中检测单元与数据线组部分的局部放大图；
图7所示为本发明一实施例中一液晶显示装置的结构示意图；
图8所示为本发明一实施例中一种LCD点灯检测方法的流程图。
图中主要部件标识如下：
1、短路线组，2、引线组，3、信号线组，4、显示区，5、数据线组，6、非显示区；
11、第一短路线，12、第二短路线，13、第三短路线；
21、R像素引线，22、G像素引线，23、B像素引线，24、W像素引线；
31、R像素信号线，32、G像素信号线，33、B像素信号线，W像素信号线34
51、R像素数据线，52、G像素数据线，53、B像素数据线。
100、检测单元，200、阵列基板，300、液晶显示装置；
111、短路线，112、短路线，113、短路线；
121、像素引线，122、像素引线，123、像素引线；
131、像素信号线，132、像素信号线，133、像素信号线；
211、短路线，212、短路线，213、短路线，214、短路线；
221、像素引线，222、像素引线，223、像素引线，224、像素引线；
231、像素信号线，232、像素信号线，233、像素信号线，234、像素信号线。
具体实施方式
以下参考说明书附图介绍本发明的一个优选实施例，证明本发明可以实施，这些实施例可以向本领域中的技术人员完整介绍本发明，使其技术内容更加清楚和便于理解。本发明可以通过许多不同形式的实施例来得以体现，本发明的保护范围并非仅限于文中提到的实施例。
在附图中，结构相同的部件以相同数字标号表示，各处结构或功能相似的组件以相似数字标号表示。附图所示的每一组件的尺寸和厚度是任意示出的，本发明并没有限定每个组件的尺寸和厚度。为了使图示更清晰，附图中有些地方适当夸大了部件的厚度。
当一个组件被描述为“安装至”或“连接至”另一组件时，二者可以理解为直接“安装”或“连接”，或者一个组件通过一中间组件间接“安装至”、或“连接至”另一个组件。
如图4所示，本实施例提供一种用以进行LCD点灯检测的检测单元100，包括一短路线组1、至少一引线组2以及至少一信号线组3。
短路线组1包括一第一短路线11、一第二短路线12以及一第三短路线13。
引线组2包括：一R像素引线21，连接至第一短路线11；一G像素引线22，连接至第二短路线12；一B像素引线23，连接至第三短路线13；以及一W像素引线24，连接至第二短路线12。
每一信号线组3连接至一引线组2，信号线组3包括：一R像素信号线31，连接至R像素引线21；一G像素信号线32，连接至G像素引线22；一B像素信号线33，连接至B像素引线23；以及一W像素信号线34，连接至W像素引线24。
如图5所示，本实施例提供一种包含该检测单元的阵列基板200，包括：一显示区4，其内设有液晶(图未示)以及至少一数据线组5；以及一非显示区6，设置于显示区4周围，其内设有至少一检测单元100。
如图6所示，每一数据线组5连接至一信号线组3，数据线组5包括：一R像素数据线51，连接至R像素信号线31；一G像素数据线52，连接至G像素信号线32；一B像素数据线53，连接至B像素信号线33；以及一W像素数据线54，连接至W像素信号线34。
在本实施例中，R像素数据线51通过R像素信号线31、R像素引线21连接至第一短路线11，通过第一短路线11上的一检测信号点模拟输入一检测信号，在显示区点亮红色，在纯红色下检测是否存在异常像点或亮度不均匀的现象(Mura)，检测所述检测线路的走线(fanout走线)是否存在短路现象，以及其他点灯检测情况。
同理，B像素数据线53通过B像素信号线33、B像素引线23连接至第三短路线13，通过第三短路线13上的一检测信号点模拟输入一检测信号，在显示区点亮蓝色，在纯蓝色下检测是否存在异常像点或亮度不均匀的现象(Mura)，检测所述检测线路的走线(fanout走线)是否存在短路现象，以及其他点灯检测情况。
此外，G像素数据线52通过G像素信号线32、G像素引线22连接至第二短路线12，同时，W像素数据线54通过W像素信号线34、W像素引线24连接至第二短路线12，W像素与G像素共用同一条测试短路线。通过第二短路线12上的一检测信号点模拟输入一检测信号，在显示区点亮绿色与白色的混色画面(W+G)，在混色画面下检测是否存在异常像点或亮度不均匀的现象(Mura)，检测所述检测线路的走线(fanout走线)是否存在短路现象，以及其他点灯检测情况。在本实施例中，W像素数据线54通过W像素信号线34、W像素引线24连接至第二短路线12，由于第一短路线11、第三短路线13皆与第二短路线12相邻，因此也可以检测到相邻线路(相邻fanout走线)间短路的情况。W像素数据线54不能连接至第一短路线11或第三短路线13，第一短路线11、第三短路线13仅仅与第二短路线12相邻，无法全面检测相邻fanout间短路的情况。
如图7所示，本实施例还提供一种液晶显示装置300，包括上述的阵列基板200及显示器中应有的其他必要部件。
本实施例的技术效果在于，在仅使用三条测试短路线的情况下，W像素与G像素共用同一条测试短路线，可以在绿色与白色的混色画面下实现有效的点灯检测；也可以在红色与蓝色的纯色画面下实现点灯检测。本实施例只采用了三条测试短路线，只要对一张Array光罩做出改动，即可满足当前测试需求，无需增加测试短路线，也无需大幅改动Array光罩，即可实现与RGB模式的兼容，可以有效降低厂家的生产成本。
如图8所示，本发明提供一种用以进行LCD点灯检测的检测方法，包括下述各个步骤。
步骤S1)将至少一数据线组通过至少一信号线组、至少一引线组连接至一短路线组，构成至少一检测线路，具体包括如下步骤：步骤S101)将一R像素数据线通过一R像素引线连接至一第一短路线；步骤S102)将一G像素数据线通过一G像素引线连接至一第二短路线；步骤S103)将一B像素数据线通过一B像素引线连接至一第三短路线；以及步骤S104)将一W像素数据线通过一W像素引线连接至一第二短路线；步骤S101)-S104)的先后次序可以任意交换。
步骤S2)通过至少一检测信号点模拟输入至少一检测信号。在本实施例中，R像素数据线51连接至第一短路线11，通过第一短路线11上的一检测信号点模拟输入一检测信号，在显示区点亮红色画面。像素数据线53连接至第三短路线13，通过第三短路线13上的一检测信号点模拟输入一检测信号，在显示区点亮蓝色画面。G像素数据线52、W像素数据线54皆连接至第二短路线12。
步骤S3)点亮液晶，在显示区显示至少一纯色画面和/或混色画面。在第一短路线11上模拟输入一检测信号后，即可在显示区点亮红色画面；在第三短路线13上模拟输入一检测信号后，即可在显示区点亮蓝色画面；在第二短路线12上模拟输入一检测信号后，即可在显示区点亮绿色与白色的混色画面(W+G)。
在纯红色画面、纯蓝色画面、绿色与白色的混色画面下，检测是否存在异常像点或亮度不均匀的现象(Mura)，检测所述检测线路的走线(fanout走线)是否存在短路现象，以及其他点灯检测情况。
在显示区点亮蓝色，在纯蓝色下检测是否存在异常像点或亮度不均匀的现象(Mura)，检测所述检测线路的走线(fanout走线)是否存在短路现象，以及其他点灯检测情况。
步骤S4)在纯色画面和/或混色画面下，检测是否存在异常像点或亮度不均匀(Mura)的现象，检测所述检测线路的走线(fanout走线)是否存在短路现象，以及其他点灯检测情况。
同理，B像素数据线53通过B像素信号线33、B像素引线23连接至第三短路线13，通过第三短路线13上的一检测信号点模拟输入一检测信号，在显示区点亮蓝色，在纯蓝色下检测是否存在异常像点或亮度不均匀的现象(Mura)，检测所述检测线路的走线(fanout走线)是否存在短路现象，以及其他点灯检测情况。
此外，G像素数据线52通过G像素信号线32、G像素引线22连接至第二短路线12，同时，W像素数据线54通过W像素信号线34、W像素引线24连接至第二短路线12，W像素与G像素共用同一条测试短路线。通过第二短路线12上的一检测信号点模拟输入一检测信号，在显示区点亮绿色与白色的混色画面(W+G)，在混色画面下检测是否存在异常像点或亮度不均匀的现象(Mura)，检测所述检测线路的走线(fanout走线)是否存在短路现象，以及其他点灯检测情况。
本实施例提出一种新的技术手段，包括一种用以进行LCD点灯检测的检测单元、一种包含该检测单元的阵列基板、一种包含该阵列基板液晶显示装置以及一种用以进行LCD点灯检测的检测方法，利用对原有RGB液晶显示器生产工艺进行简单的改进，减少短路线的数量，只需改动一张Array光罩，即可使RGBW液晶显示器半成品实现纯色及混色的点灯检测，有效降低生产成本。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种检测单元，其特征在于，包括：
一短路线组，包括
一第一短路线；
一第二短路线；以及
一第三短路线；
至少一引线组，包括
一R像素引线，连接至所述第一短路线；
一G像素引线，连接至所述第二短路线；
一B像素引线，连接至所述第三短路线；以及
一W像素引线，连接至所述第二短路线；以及
至少一信号线组，每一信号线组连接至一引线组，所述信号线组包括：
一R像素信号线，连接至所述R像素引线；
一G像素信号线，连接至所述G像素引线；
一B像素信号线，连接至所述B像素引线；以及
一W像素信号线，连接至所述W像素引线。
2.一种阵列基板，包括：
一显示区，其内设有液晶以及至少一数据线组；以及
一非显示区，设置于所述显示区周围，其内设有至少一如权利要求1所述的检测单元；其中，每一数据线组连接至一信号线组，所述数据线组包括：
一R像素数据线，连接至所述R像素信号线；
一G像素数据线，连接至所述G像素信号线；
一B像素数据线，连接至所述B像素信号线；以及
一W像素数据线，连接至所述W像素信号线。
3.一种液晶显示装置，包括如权利要求2所述的阵列基板。
4.一种基于如权利要求2所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
将至少一数据线组通过至少一信号线组及至少一引线组连接至一短路线组，构成至少一检测线路；
通过至少一检测信号点模拟输入至少一检测信号；
点亮液晶，在显示区显示至少一纯色画面和/或混色画面；以及
在纯色画面和/或混色画面下，检测是否存在异常像点或亮度不均匀的现象，检测所述检测线路的走线是否存在短路现象。
5.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，将至少一数据线组通过至少一引线组连接至一短路线组，具体包括如下步骤：
将一R像素数据线通过一R像素引线连接至一第一短路线；
将一G像素数据线通过一G像素引线连接至一第二短路线；
将一B像素数据线通过一B像素引线连接至一第三短路线；以及
将一W像素数据线通过一W像素引线连接至一第二短路线；
上述各步骤的先后次序可以任意交换。
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