CN105593692B - 电机的定子棒的子导体短路检查 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及用于检查电机的定子绕组棒(1)中的多个彼此绝缘的单导体的一种方法和一种设备(10)。所述方法包括:耦合输入(100)检查信号(U1),确定(200)检查信号(U1)的第一分量;和至少将第一分量与参考信号(Uref)进行比较(300),以便确定多个单导体中的各个单导体之间的绝缘的损坏。根据本发明的设备(10)包括信号源(12)和测量设备(14)。根据本发明的方法和根据本发明的设备(10)尤其适合于检查如在发电机和/或电动马达中使用的定子绕组棒(1)。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于检查电机的定子绕组棒中的多个彼此绝缘的单导体的方法和一种相应的设备。在电机中、尤其在旋转电机、例如在马达或发电机中使用所谓的定子绕组棒中,以便稳定电机内部的电流密度并且尽可能减小引发的涡流。为此,旋转机器由多个子导体或单导体构造。单导体借助于相应的如本领域技术人员所已知的那样的子导体绝缘彼此绝缘。此外常见的措施是将子导体换位,以便将因所引发的涡流而产生的损失减小到最小程度。在制造也能够称作为旋转机器的大型机器时,需要将单导体烘烤,以便实现单导体的期望的绝缘进而实现其电流隔离。为此,子导体构造为所谓的定子绕组棒,所述定子绕组棒就其而言获得期望程度的换位,并且只要需要的话就被弯曲。所期望的换位以及弯曲引起机械应变,所述机械应变会导致损坏单导体绝缘,使得会造成定子绕组棒的各个单导体之间的电短接。单导体之间的这种所不期望的电连接损坏单导体的电流绝缘并且在机器、例如旋转(三相)马达或发电机运行时导致产生过早失效的风险。由此,显著地影响机器的寿命和/或效率。因此令人感兴趣的是,在制造时就已经识别到单导体绝缘的相应可能的损坏。至今常见的是:在定子绕组棒或单定子棒在其两端处联合、即与电机的其他部件电连接之前,就检查定子棒的单导体。为此常见的是:借助于适当的测量设备、例如万用表检查定子棒或定子绕组棒的可能的子导体短接、即各个单导体之间的电连接,各个子导体之间的电连接表示定子绕组棒内部的多个单导体中的各个单导体之间的电绝缘损坏。至今为止,需要借助于万用表对每个单导体相对于其余的单导体检查电的、尤其低欧姆的电连接。
背景技术
现有技术中的这种措施是极其时间和成本密集的,因为对于例如由50个相应彼此换位的单导体构造的定子绕组棒而言所需要的是:检查定子绕组棒内部每个单导体与其余单导体的绝缘。这是指,总共必须检查单导体的1225个组合。也就是说,为了完整的检查需要1225个测量步骤。此外,在现有技术中,只有本应组合成定子绕组棒的单导体尚联合,才借助于万用表如在上文中所描述的那样进行相应的测量。这是指,这些测量必须在施加相应的绝缘之前或在将换位棒装入到定子叠片组中之前就已经执行,因为在稍后的时间点进行测量不再是可行的。从中尤其得出:无法识别例如在运输期间的预先损坏,所述预先损坏仅因在将棒或换位棒装入定子叠片组之后的附加的机械应变、例如挤压就导致单导体之间的低欧姆短接。这是指,在现有技术中能够发生:尽管在结束装入之后存在损坏,但是时间耗费的测量显示不出单导体彼此间绝缘的损坏。
US 2011/304340A1公开一种用于测试异常的电线路的方法。US 7 906 973 B1描述了一种具有控制模块和线缆测试模块的网络设备。在US 2004/100272 A1中描述了一种用于使飞行器中的电路的绝缘的方法。EP 2 202 529 A2公开了一种用于线缆检查的方法和设备。DE 10 2013 202717 A2描述了一种模块化的线缆束检查和一种模块化的线缆束检查设备。
发明内容
这些问题通过根据本发明的用于检查电机的定子绕组棒中的多个彼此绝缘的单导体的方法来消除,因为即使在制成定子绕组棒之后也可以根据本发明的方法检测各个单导体之间的电连接、尤其低欧姆的短接。根据本发明的用于检查电机的定子绕组棒中的多个单导体的相应的设备同样解决现有技术中的问题。
本发明的目的是提供用于检查电机的定子绕组棒中的多个彼此绝缘的单导体的方法和设备,所述方法即使对于已制成的定子绕组棒也能够可靠地检查多个单导体中的各个单导体之间的绝缘的损坏。同样地,根据本发明的当前的设备和方法的优点是:唯一的测量足以用于检查定子绕组棒内部的单导体。由此,检查已制成的定子绕组棒与在现有技术中相比是更加节约时间和成本适宜的。
根据本发明的用于检查电机的定子绕组棒中的多个彼此绝缘的单导体的方法包括:耦合输入检查信号的步骤,确定检查信号的第一分量的步骤;和比较的步骤。耦合输入检查信号的步骤包括:将检查信号耦合输入到定子绕组棒的多个单导体中。比较的步骤包括:根据本发明将检查信号的至少第一分量与参考信号进行比较,以便因此确定多个单导体中的各个单导体之间的绝缘的、即电流隔离的损坏。
该方法有利地借助仅一个测量检查定子绕组棒内部的多个单导体。由此,定子绕组棒的质量保证是更加成本和时间适宜的。将耦合输入理解为:将检查信号引入到定子绕组棒的多个单导体中。相应的方法对于本领域技术人员而言是已知的。因此,能够经由信号源和定子绕组棒之间的电连接、电感性的耦合和/或电容性的耦合进行耦合输入,使得给定子绕组棒进而定子绕组棒的单导体加载检查信号。将检查信号的第一反射分量理解为检查信号的如下分量,所述分量从多个单导体处反射,进而可在耦合输入点处或在耦合输入的地点处检测。
优选地,确定的步骤包括:确定检查信号的第一反射分量和/或第一透射分量。从中得到如下优点:对于检测定子绕组棒而言可选地仅需要与定子绕组棒的一个或两个连接。也就是说,本领域技术人员具有如何进行定子绕组棒的检查的自由度。此外,根据反射分量和透射分量的确定产生两个能够进入到误差检查中的变量。
优选地,耦合输入的步骤包括:在定子绕组棒的第一部段处或在定子绕组棒的第一端部部段处进行耦合输入。能够有利的是:在定子绕组棒的第一部段处执行耦合输入的步骤,所述第一部段不是定子绕组棒的端部部段。这例如能够从生产条件中得出。如果检查信号在并非定子绕组棒的端部部段的第一部段处耦合输入,那么这能够表示:不检查定子绕组棒内部的单导体的整个长度。
同样可以考虑的是:在定子绕组棒的第一端部部段处耦合输入检测信号,因为该端部部段在另外的生产过程中与电机的另外的部段连接,由此可保证:接下来待联合的定子绕组棒的基本上整个长度没有多个单导体中的各个单导体之间的绝缘的损坏。通过作为定子绕组棒的第一部段和/或第一端部部段的耦合输入点的选择自由,根据本发明的方法可灵活地匹配于在生产过程期间分别存在的条件。还优选的是,将确定的步骤作为确定定子绕组棒的第一部段处或第一端部部段处的第一反射分量来执行。当耦合输入的地点或用于耦合输入的和用于确定的部段相同时,根据本发明的方法进一步简化。由此可更时间适宜并且成本适宜地执行根据本发明的方法。
优选地,根据本发明的方法能够包括:端接定子绕组棒的第二端部部段。定子绕组棒在其第二端部处端接具有下述优点:对于定子绕组棒内部的未电连接的单导体而言实现所限定的反射特性。因此,所述端接能够包括:定子绕组棒的短路、所期望的特性阻抗或电阻。
还优选的是,端接的步骤包括:端接定子绕组棒内部的单导体的至少一个第一选择组。由此,只要第一选择组的单导体之间的绝缘没有损坏,对于单导体的第一选择组而言就产生所限定的反射特性。还优选的是,端接的步骤包括:在定子绕组棒的第二端部处端接多个所述单导体,所述单导体通过根据本发明的方法来检查。这具有下述优点:只要定子绕组棒中的通过所述方法检查的多个彼此绝缘的单导体之间的绝缘没有损坏,那么所述单导体就显示出所限定的反射特性。因为定子绕组棒内部的单导体的数量是已知的,那么此外能够有利的是:只要单导体电流隔离、即只要定子绕组棒的全部单导体之间的绝缘没有损坏,那么定子绕组棒内部的全部单导体通过所期望的电阻、短路或特性阻抗来端接,以便对于定子绕组棒内部的全部单导体而言实现所限定的反射特性。
优选地,比较的步骤包括:比较参考信号,所述参数信号为叠加参考信号。叠加参考信号与由第一反射分量和检查信号构成的叠加信号进行比较。该措施具有下述优点:在定子绕组棒的一个端部处检查单导体是可行的。由此,简化了对于方法所需要的测量构造。
还优选地,所述方法能够包括:将检查信号耦合输入到定子绕组棒的单导体的第二选择组中。耦合输入到多个单导体的第二选择组中能够在定子绕组棒的第二部段处、尤其第二端部部段处进行。此外,所述方法能够包括:确定定子绕组棒的第二部段处或第二端部部段处的第二反射分量。所述比较能够包括:至少将第二反射分量与参考信号和/或第一反射分量进行比较。通过该措施不仅能够在定子绕组棒的第一端部处而且能够在其第二端部处进行定子绕组棒的单导体的检查。只要反射分量在这两个部段或端部部段处彼此不同,那么这就表示定子绕组棒内部的单导体之间的绝缘的损坏进而表示这些单导体的损坏的电流隔离。
还优选地,检查信号包括时间上的电压曲线,所述电压曲线具有至少一个限定陡度的边沿。在此,如下理解所限定的陡度:在边沿的陡度中包含足够高的频率分量,以便能够可靠地检测反射分量的可能的变化,如因绝缘的损坏而能够出现的变化。
此外,检查信号能够包括时间上的电压曲线,所述电压曲线具有至少一个电压脉冲,所述电压脉冲具有限定陡度的至少一个边沿。同样可行的是,电压脉冲包括两个限定陡度的边沿。还优选地,所限定的陡度为几纳秒或微秒内若干伏特,优选为每微秒0.1伏特至10伏特或更高。其中所提出的数值仅理解为是示例性的并且不作为本发明的限制。
还优选地,检查信号能够是时间上的电压曲线,所述电压曲线具有若干伏特、优选0.1伏特至80伏特的至少一个最大值,时间上的电压曲线的该特征具有如下优点:当定子绕组棒按照根据本发明的方法来检查时,不需要特别的安全预防措施。其中所提出的数值仅理解为是示例性的并且不作为本发明的限制。
本发明还提出一种用于检查电机的定子绕组棒中的多个单导体的设备。所述机器包括信号源和测量设备。信号源设立用于将检查信号提供和耦合输入到定子绕组棒的多个单导体中。测量设备设立用于确定检查信号的反射分量和/或透射分量以及用于关于参考信号分析反射分量和/或透射分量。
还优选地,参考信号能够是叠加参考信号,并且与由第一反射分量和检查信号构成的叠加信号进行比较。对于本领域技术人员而言产生叠加信号的不同的可行性是已知的,因此叠加信号例如能够包括由检查信号和反射信号构成的和。由此所产生的叠加信号减去反射分量。同样可行的是,将反射信号和检查信号相对于彼此来绘制,以便产生所谓的利萨如图形。为此已知有利的是:检查信号包含相应的交流电压分量。其他形式的叠加信号和/或叠加参考信号同样是已知的。有利的是,将由检查信号和反射分量构成的叠加信号选择成,使得在故障情况下在绝缘损坏的情况下产生与未损坏的定子绕组棒的、即在故障情况下具有未损坏的绝缘的定子绕组棒的叠加参考信号的显著的差异。在此,将故障情况理解为如下定子绕组棒,在所述定子绕组棒中存在彼此绝缘的单导体之间的绝缘的至少一个损坏,使得在各个单导体之间产生低欧姆短接。
还优选的是,电机是发电机。这是有利的,因为由此通过根据本发明的设备能够检查如在发电机中使用的定子绕组棒。在不限制的情况下,电机也能够是任意的旋转电机、例如电动马达或已经提及的发电机。由此产生如下优点:尤其已经在大型的旋转电机组装的情况下检查所述旋转电机的准确性,即各个单导体之间的所期望的电绝缘。由此防止电机的可能的功率损失。
附图说明
下面根据所附的示意图阐述根据本发明的设备和根据本发明的方法的优选的实施方式。附图示出:
图1A示出用于执行根据本发明的方法的第一装置,
图1B示出用于执行根据本发明的方法的第二装置,
图2A示出在叠加信号为U1+U2的情况下参考信号Uref和反射分量的示例性的变化,
图2B示出在绝缘未损坏和绝缘有故障的情况下用于反射分量的参考信号Uref的示意性的信号曲线,以及
图3示出根据本发明的方法的流程图。
具体实施方式
图1示出用于执行根据本发明的方法的第一构造。为此,定子绕组部棒1在第一部段处、尤其在第一端部部段1a处加载有测试信号U1,其中在定子绕组棒1的第二部段处、尤其在其第二端部部段1b处不设置端接或短路。检查信号U1能够由信号源12提供。检查信号U1沿着定子绕组棒1传播。有利的是:检查信号U1耦合输入到定子绕组棒1内部的多个单导体中,以便能够借助一个测量检查单导体中的多个。在不限制的情况下可行的是:检查信号U1耦合输入到定子绕组棒1的全部单导体中。
对于本领域技术人员而言,用于耦合输入100检查信号作为第一方法步骤的适当的机构是已知的。因此,耦合输出100例如能够表示检查信号U1的电连接、电容性耦合输入和/或电感性耦合输入。在图1A中,示出定子绕组棒1的第一端部部段1a作为用于耦合输入100的部段。然而,对于本领域技术人员而言不言而喻的是:在不限制的情况下也能够在定子绕组棒1的任意其他的部段处将检查信号U1耦合输入100到多个单导体中。因此,耦合输入的地点因此能够根据制造特定的条件来选择。检查信号U1由于定子绕组棒1的特性阻抗沿着定子绕组棒1传播,其中透射分量U3到达定子绕组棒1的第二端部1b,而反射分量U2由于给定的特性阻抗在耦合输入部段1a处(在附图中作为定子绕组杆1的第一端部部段示出)反射。
如果此时由于定子绕组棒1的单导体彼此间的绝缘的损坏而在定子绕组棒1的各个单导体之间存在低欧姆的连接或短接,那么定子绕组棒1的特性阻抗在这些故障部位处改变。随着定子绕组棒1的特性阻抗的改变也伴随有反射分量U2和透射分量U3的改变。在将参考信号U1耦合输入100到定子绕组棒1的第一端部部段1a或第一部段中时,在那里测量的反射分量U2也能够称为第一反射分量。在确定200的步骤中确定或测量第一反射分量U2。在各个单导体之间有低欧姆连接的情况下该第一反射分量U2的显著的改变可在所述方法的方法步骤300中确定。为此,将第一反射分量U2与用于无故障的情况的参考信号Uref比较,以便确定各个单导体之间的绝缘的损坏。为此,例如能够使用测量设备14,例如呈示波器形式的测量设备。
对于本领域技术人员不言而喻的是:由于在故障情况下特性阻抗显著改变,也能够将检查信号U1的透射分量U3的显著改变用于检测绝缘的损坏、即各个单导体之间的低欧姆的连接。为了测量透射分量U3,测量设备14也能够安置在定子绕组棒1的第二端部部段1b处(未示出)。
图1B示出用于执行根据本发明的方法的替选构造。与图1A不同,定子绕组棒1的第二端部部段1b通过电阻Z、Z0端接。使用电阻具有如下优点:在单导体之间的绝缘未损坏的情况下可设置检查信号U1沿着单导体的所限定的反射特性。通过电阻Z、Z0例如可实现接地短路,或通过彼此间正确绝缘单导体的特性阻抗Z0实现端接。
对于在图1A和1B中示出的用于执行根据本发明的方法的构造,检查信号U1仅在定子绕组棒1的第一端部1a处耦合输入。显然,在不限制的情况下可行的是,附加地或替选地在定子绕组棒1的第二端部部段1b处耦合输入检查信号U1。在第二端部部段1b处将检查信号U1耦合输入到定子绕组棒1的单导体的至少一个第二选择组中。
有利的是:将检查信号U1耦合输入100a到如下单导体中,所述单导体已经用于在第一部段或端部部段1a处的耦合输入100。如果对于这两个测量而言相应的反射分量U2、U2'不同,使得第一部段或端部部段1a处的第一反射分量U2与定子绕组棒1的第二部段或端部部段1b处的第二反射分量U2不同,那么这表示单导体损坏。这是指,在将第二反射分量U2'与参考信号Uref和/或第一反射分量U2进行比较300a的步骤中产生显著的区别,所述区别表示单导体彼此间的绝缘的损坏。
对于在图1A和1B中示出的测量构造,具有限定边沿陡度的几伏特的检查信号U1是足够的。边沿陡度应位于几微秒内几伏特的范围中。同样地,在不进一步限制的情况下可行的是,陡度位于每纳秒几伏特的范围中。因为随着陡度增加已知用于检测干扰部位的灵敏度提高;因此随着陡度增加,在边沿中包含更大的频谱。
对于本领域技术人员不言而喻的是:在确定定子绕组棒1的第一端部部段1处的第一反射分量U2和第二端部部段1b处的第二反射分量U2'(未示出)的情况下,可能能够在比较300a的步骤中预估到绝缘的关于定子绕组棒1的长度对称地出现的损坏。
图2A示例地示出叠加信号U1+U2在时间t上的曲线。在单导体彼此间的绝缘没有损坏的情况下,产生如所示出的那样的特征性的信号。由于在各个单导体之间的绝缘损坏的情况下反射分量U2显著改变,同样在定子绕组棒1的第一端部部段1a或第二端部部段1b处产生反射分量U2的显著改变。
有利的是,关于时间绘制叠加信号U1+U2,因为在故障情况下叠加信号U1+U2减小,使得在参考信号Uref和叠加信号U1+U2之间产生显著的不同。对于本领域技术人员而言,叠加信号的其它可行性是已知的。在不限制的情况下,例如能够放大或增强在步骤200中确定的反射分量U2、U2',以便使所述不同更显著。因此可行的是,选择适当的表现方式,使得在比较300a的步骤中产生无故障的定子绕组棒和有故障的定子绕组棒之间的显著的差异。
图2B示例性地示出第一或第二反射信号U2、U2'在时间上的曲线。由于在绝缘损坏的情况下特性阻抗显著地改变,所以在参考信号Uref和第一或第二反射分量U2、U2'之间产生显著的差异(如所示出那样)。在将所期望的参考信号与相应的反射分量U2、U2'进行比较300、300a的步骤中,这种显著的差异能够用于确定各个单导体之间的绝缘的损坏。
在不限制的情况下,在确定200的步骤中代替第一反射分量U2或第二反射分量U2',也在定子绕组棒1的分别相对置的、未用于耦合输入的部段或端部部处的使用所测量的透射分量U3用于确定定子绕组棒的单导体彼此间的绝缘的损坏。在各个单导体低欧姆连接的情况下特性阻抗显著改变也对透射分量U3起作用。
对于本领域技术人员已知用于产生由检查信号U1、其反射分量U2、U2'和/或透射分量U3构成的叠加信号其他的可行性,以便在确定300、300a的步骤中实现损坏的绝缘和未损坏的绝缘之间显著的差异。例如可以考虑的是,从检查信号U1、反射分量U2、U2'和/或透射分量U3中所选择的信号彼此间以利萨如图形的形式示出。在图2A和2B中示出的信号曲线仅理解为示例性的并且在任何情况下都不限制本发明的方法或设备10。
此外,对于本领域技术人员而言,用于从针对故障情况和无故障情况的预期的信号曲线中建立模板使得必要时能够自动地在这两种情况之间进行区分的方法是已知的。
图3示出根据本发明的用于检查定子绕组棒1的多个彼此绝缘的单导体的方法的流程图。在耦合输入的步骤100中,检查信号U1耦合输入到定子绕组棒1的多个单导体中。在此,多个单导体能够包括全部存在于定子绕组棒1中的单导体,在不限制的情况下同样可行的是:步骤100中的耦合输入仅在定子绕组棒1的选出的彼此绝缘的单导体中进行。步骤100能够替选地或附加地包括:在定子绕组棒1的第二端部部段1b处或第二部段处将检查信号耦合输入100a到定子绕组棒的多个单导体的至少一个第二选择组中。
此外,所述方法能够有利地包括:端接定子绕组棒1的第二端部部段的步骤110。所述端接能够通过定子绕组棒1的短路、电阻Z或特性阻抗Z0来进行。通常,在定子绕组棒1的端部部段处进行端接110,所述端部部段不用于检查信号的耦合输入100。如所描述的那样,通过端接的步骤,正确地彼此绝缘的单导体的反射特性改变。能够有利的是,检测信号在步骤100中耦合输入到其中的全部单导体也在步骤110中端接。
所述方法根据图3还包括:确定200检查信号U1的分量的步骤。确定200能够是确定200检查信号U1的第一反射分量U2和/或透射分量U3。同样可选地可行的是:在步骤200a中确定检查信号U1的第二反射分量U2'。
在步骤300中至少将第一反射分量U2和/或透射分量U3与参考信号Uref比较,以便确定多个单导体中的单个单导体之间的绝缘的损坏。可选地,比较300的步骤也能够包括:至少将第二反射分量U2'与参考信号Uref和/或第一反射分量U2进行比较300a。所述方法的步骤300、300a能够包括:所述比较的结合图2A和2B描述的可行性。
在图1A和1B中示出根据本发明的用于检查电机的定子绕组棒1中的多个单导体的设备10。设备10包括用于将检查信号U1提供和耦合输入到定子绕组棒1的多个单导体中的信号源12。设备10还包括测量设备14。测量设备14例如能够是示波器。测量设备14用于确定检查信号U1的第一反射分量U2、第二反射分量U2'和/或透射分量U3。此外,测量设备14能够实现关于参考信号Uref分析反射分量U2和/或U2'。在此,参考信号Uref通常表征用于如下定子绕组棒1的相应的信号,所述定子绕组棒的在各个单导体之间的绝缘是未损坏的。设备10还能够包括用于将检查信号U1耦合输入到多个单导体中的机构。相应的机构对于本领域技术人员而言是已知的并且在图1A和1B中未示出。在不限制的情况下,电压源12和测量设备14也能够构成为设备10。可选地,设备10还能够包括用于端接定子绕组棒的电阻Z、Z0。参考信号Uref在不限制的情况下能够是参考信号的在上文中结合图2A和2B所描述的形式。
Claims (11)
1.一种用于检查电机的定子绕组棒(1)中的多个彼此绝缘的单导体的方法,所述方法包括:
-将检查信号(U1)耦合输入(100)到所述定子绕组棒(1)的多个所述单导体中,其中所述耦合输入(100)的步骤包括:在所述定子绕组棒(1)的第一部段处或在所述定子绕组棒(1)的第一端部部段(1a)处进行耦合输入,
-确定(200)所述检查信号(U1)的第一分量,其中所述确定(200)的步骤包括:确定所述第一部段处或所述第一端部部段(1a)处的第一反射分量(U2),
-在所述定子绕组棒(1)的第二部段处或所述定子绕组棒(1)的第二端部部段(1b)处将所述检查信号(U1)耦合输入(100a)到所述定子绕组棒(1)的多个所述单导体的至少一个第二选择组中,
-确定(200a)所述第二部段处或所述第二端部部段(1b)处的第二反射分量,
-至少将所述检查信号(U1)的所述第一分量与参考信号(Uref)进行比较(300),以便确定多个所述单导体中的各个单导体之间的绝缘的损坏,其中所述参考信号(Uref)是叠加参考信号,所述叠加参考信号与由所述第一反射分量(U2)和所述检查信号(U1)构成的叠加信号(U1+U2)进行比较并且与由所述第二反射分量(U2')和所述检查信号(U1)构成的叠加信号(U1+U2')进行比较。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
-通过所述定子绕组棒(1)的短路、电阻(Z)或特性阻抗(Z0)来端接(110)所述定子绕组棒(1)的第二端部部段(1b)。
3.根据权利要求2所述的方法,
其中所述端接(110)的步骤包括:端接多个所述单导体中的至少一个第一选择组。
4.根据权利要求3所述的方法,
其中多个所述单导***于所述定子绕组棒的所述第二端部部段(1b)处。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,
其中所述检查信号(U1)包括时间上的电压曲线,所述电压曲线具有限定陡度的至少一个边沿。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,
其中所述检查信号(U1)包括具有至少一个电压脉冲的时间上的电压曲线,所述电压脉冲具有限定陡度的至少一个边沿。
7.根据权利要求5所述的方法,
其中限定的所述陡度为每纳秒0.1伏特至10伏特或更高。
8.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,
其中所述检查信号(U1)是至少一个时间上的电压曲线,所述电压曲线具有在0.1伏特至80伏特的范围中至少一个最大值。
9.一种用于检查电机的定子绕组棒(1)中的多个单导体的设备(10),所述设备(10)包括:
-信号源(12),所述信号源设立用于将检查信号(U1)提供和耦合输入到多个所述单导体中,
-测量设备(14),所述测量设备设立用于确定所述检查信号(U1)在所述定子绕组棒的第一部段处的或第一端部部段处的第一反射分量(U2)和/或透射分量(U3)和在所述定子绕组棒的第二部段处的或第二端部部段处的第二反射分量(U2’),以及用于相对于参考信号(Uref)分析所述第一反射分量(U2)和/或所述第二反射分量(U2')和/或所述透射分量(U3),其中所述参考信号(Uref)是叠加参考信号,并且与由所述第二反射分量(U2')和所述检查信号(U1)构成的叠加信号(U1+U2')进行比较。
10.根据权利要求9所述的设备(10),
其中所述参考信号(Uref)是叠加参考信号,并且与由所述第一反射分量(U2)和所述检查信号(U1)构成的叠加信号(U1+U2)进行比较。
11.根据权利要求9或10所述的设备(10),
其中所述电机是发电机。
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