CN109298986B - 一种服务器板卡的Undershoot测试方法、装置 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种服务器板卡的Undershoot测试方法，包括：对目标服务器板卡上电，并通过第一负载仪和第二负载仪分别对目标服务器板卡中VR的输入电容和输出电容拉载第一测试电流和第二测试电流，以使目标服务器板卡进入Undershoot测试状态；对目标服务器板卡断电，利用目标示波器记录Undershoot测试的输出电压变化。通过本申请中的方法，能够有效避免目标服务器板卡在进行Undershoot测试过程中，输出电压出现跳变、不平滑的问题。相应的，本申请公开的一种服务器板卡的Undershoot测试装置、介质及设备，同样具有上述有益效果。
Description
技术领域
本发明涉及服务器技术领域，特别涉及一种服务器板卡的Undershoot测试方法、装置、介质及设备。
背景技术
服务器板卡在开发的过程中，需要进行一系列严格的测试，来验证其各项功能是否符合设计要求。为了保证服务器板卡的输出电压对电路的瞬时冲击在规定范围内，通常需要对服务器板卡中的VR(Voltage Regulation，电压转换芯片)进行Undershoot测试。
现有技术当中，在对服务器板卡进行Undershoot测试时，通常需要在VR的输出电容两端引两根导线到负载仪上，然后在输出电容两端焊接两根飞线连接到示波器的差分探棒上，并将示波器设置为下降沿有效。对服务器板卡进行Undershoot测试时，首先是对服务器板卡上电，并通过负载仪对输出电容拉载额定电流，然后，对服务器板卡断电，并利用示波器记录服务器板卡的输出电压变化。由于服务器板卡的特殊性，必须保证输出电压波形上升、下降过程中平滑、单调，但是，利用上述方法对服务器板卡进行Undershoot测试时，会使得输出电压在下降过程中出现跳变，不符合输出电压波形平滑、单调的要求。由此可见，如何提供一种更好的服务器板卡的Undershoot测试方法，来保证服务器板卡在进行Undershoot测试时，输出电压的平滑、单调，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种服务器板卡的Undershoot测试方法、装置、介质及设备，以保证服务器板卡在进行Undershoot测试时输出电压的平滑、单调。其具体方案如下：
一种服务器板卡的Undershoot测试方法，其特征在于，包括：
对目标服务器板卡上电，并通过第一负载仪和第二负载仪分别对所述目标服务器板卡中VR的输入电容和输出电容拉载第一测试电流和第二测试电流，以使所述目标服务器板卡进入Undershoot测试状态；其中，所述第一负载仪为预先连接在所述输入电容上的负载仪，所述第二负载仪为预先连接在所述输出电容上的负载仪；并且，所述输出电容上连接有目标示波器；
对所述目标服务器板卡断电，利用所述目标示波器记录所述输出电容在所述Undershoot测试的输出电压变化。
优选的，所述VR具体为TPS53353DQPR。
优选的，所述第一测试电流具体为0.2A。
优选的，所述第二测试电压具体为所述输出电容的额定电流。
优选的，还包括：
利用所述目标示波器观测所述输入电容在进行所述Undershoot测试的电压变化；其中，所述目标示波器为预先通过第一单端探棒连接在所述输入电容上的示波器。
优选的，还包括：
利用所述目标示波器观测所述VR的EN电阻在进行所述Undershoot测试的电压变化；其中，所述目标示波器为预先通过第二单端探棒连接在所述EN电阻上的示波器。
优选的，所述输出电容通过差分探棒连接所述目标示波器。
相应的，本发明还公开了一种服务器板卡的Undershoot测试装置，包括：
板卡上电模块，用于对目标服务器板卡上电，并通过第一负载仪和第二负载仪分别对所述目标服务器板卡中VR的输入电容和输出电容拉载第一测试电流和第二测试电流，以使所述目标服务器板卡进入Undershoot测试状态；其中，所述第一负载仪为预先连接在所述输入电容上的负载仪，所述第二负载仪为预先连接在所述输出电容上的负载仪；并且，所述输出电容上连接有目标示波器；
板卡断电模块，用于对所述目标服务器板卡断电，利用所述目标示波器记录所述Undershoot测试的输出电压变化。
相应的，本发明还公开了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如前述公开的服务器板卡的Undershoot测试方法的步骤。
相应的，本发明还公开了一种服务器板卡的Undershoot测试设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如前述公开的服务器板卡的Undershoot测试方法的步骤。
可见，在本发明中，是预先分别在目标服务器板卡上VR的输入电容和输出电容上连接第一负载仪和第二负载仪，并且，在VR的输出电容上连接目标示波器。当对目标服务器板卡进行Undershoot测试时，首先是对目标服务器板卡上电，并通过第一负载仪和第二负载仪分别对VR的输入电容和输出电容拉载第一测试电流和第二测试电流，以使得目标服务器板卡进入测试状态，然后，对目标服务器板卡断电，并利用目标示波器记录Undershoot测试的输出电压变化。显然，相比于现有技术，在本发明中，是在对目标服务器板卡进行Undershoot测试过程中，增加了利用第一负载仪对输入电容拉载了第一测试电流的步骤，从而使得目标服务器板卡在断电过程中可以快速掉电，从而避免了VR上EN电阻在掉电过程中，EN电阻还在使能有效范围内，而使得VR重新开始工作，并由此导致目标服务器板卡输出电压不单调的问题，所以，通过本发明中的方法，可以保证目标服务器板卡进行Undershoot测试过程中，输出电压的平滑、单调。相应的，本发明提供的一种服务器板卡的Undershoot测试装置、介质及设备，同样具有上述有益效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种服务器板卡的Undershoot测试方法的流程图；
图2为利用现有的Undershoot测试方法对服务器板卡进行测试时输出电压的变化示意图；
图3为利用现有的Undershoot测试方法对服务器板卡进行测试时输入电压的变化示意图；
图4为利用现有的Undershoot测试方法对EN电阻进行测试时电压的变化示意图；
图5为利用本发明所提供的Undershoot测试方法对服务器板卡进行测试时输入电压的变化示意图；
图6为利用本发明所提供的Undershoot测试方法对服务器板卡进行测试时输出电压的变化示意图；
图7为本发明实施例提供的一种服务器板卡的Undershoot测试装置的结构图；
图8为本发明实施例提供的一种服务器板卡的Undershoot测试设备的结构图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为了保证服务器板卡中VR的输出电压对电路的瞬时冲击在规定的范围内，需要对服务器板卡进行Undershoot测试，但是，现有的Undershoot测试方法，会使得服务器板卡在进行Undershoot测试过程中，输出电压在下降过程中出现跳变，不符合输出电压平滑、单调的要求。而本发明的目的是提供一种服务器板卡的Undershoot测试方法，以使得服务器板卡在进行Undershoot测试时，输出电压波形平滑、单调。为了使本领域技术人员更好地理解本发明，下面结合附图和具体实施方式对本发明作详细的说明。
如图1所示，本发明实施例公开了一种服务器板卡的Undershoot测试方法，包括：
步骤S11：对目标服务器板卡上电，并通过第一负载仪和第二负载仪分别对目标服务器板卡中VR的输入电容和输出电容拉载第一测试电流和第二测试电流，以使目标服务器板卡进入Undershoot测试状态；
其中，第一负载仪为预先连接在输入电容上的负载仪，第二负载仪为预先连接在输出电容上的负载仪；并且，输出电容上连接有目标示波器；
步骤S12：对目标服务器板卡断电，利用目标示波器记录Undershoot测试的输出电压变化。
可以理解的是，因为Intel的特殊要求，在对服务器板卡进行测试时，服务器板卡用的CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)是设计人员针对测试特别编写的，跟正常服务器***上电、掉电的顺序不一样。如图2所示，是利用现有技术当中的方法对P1V05_PCH_AUX进行Undershoot测试时的输出电压变化示意图，从图2中可以得出，在对P1V05_PCH_AUX进行Undershoot测试时，其输出电压在下降过程中会有明显的跳变。
现对造成这一现象的原因进行具体说明，图3为对目标服务器板卡重复进行Undershoot测试时输入电压的变化示意图，在图3当中可以分别得到输入电容、EN电阻和输出电容在进行Undershoot测试时的电压变化，并且，从图3当中可以看出，当输出电容的电压开始跳变时，输入电容的电压也在跳变，并且处于跳变电压的最高处。如图4所示，是EN电阻在重复进行Undershoot测试过程中的电压变化示意图，在对目标服务器板卡重复进行Undershoot测试的过程中，EN电阻的最低电压为2.086V，根据VR的datasheet(数据手册)可知，此时，EN电阻还在使能有效范围内，所以，随着目标服务器板卡在掉电过程中输入电压的跳变，VR重新开始工作，目标服务器板卡的输出电压随之变化，并由此导致目标服务器板卡在进行Undershoot测试时，输出电压在下降过程中出现跳变，不符合输出电压波形平滑、单调的要求。
在本实施例中，为了解决上述技术问题，是在对目标服务器板卡进行Undershoot测试时，预先在目标服务器板卡上VR的输入电容的两端连接第一负载仪，在目标服务器板卡上VR的输出电容的两端连接第二负载仪，这样一来，当服务器板卡上电后，通过第一负载仪和第二负载仪分别在输入电容和输出电容上拉载第一测试电流和第二测试电流，就可以使得目标服务器板卡进入Undershoot测试状态。
此外，在本实施例中，还在VR的输出电容上连接目标示波器，这样一来，在目标服务器板卡进行Undershoot测试时，就能够通过目标示波器实时观测到目标服务器板卡在进行Undershoot测试时的输出电压变化。
具体的，当目标服务器板卡进入Undershoot测试状态时后，对目标服务器板卡断电，并利用目标示波器记录VR上输出电容的电压变化。由此工作人员就可以通过观测VR上输出电容的电压变化，就能够判断出VR的输出电压对电路的瞬时冲击是否在规定的范围内。
如图5所示，是本实施例对服务器板卡进行Undershoot测试过程中输入电压的变化示意图，在图5当中，可以分别得出输入电容、EN电阻和输出电容在进行Undershoot测试过程中的电压变化；如图6所示，是本实施例对服务器板卡进行Undershoot测试过程中输出电压的变化示意图，从图6当中可以看出，服务器板卡在进行Undershoot测试过程中输出电压平滑、单调。
显然，相比于现有技术中的Undershoot测试方法，在本实施例中，是增加了利用第一负载仪对目标服务器板卡中VR的输入电容拉载第一测试电流的步骤，所以，当目标服务器板卡掉电时，服务器板卡就能够快速完成掉电，从而避免了VR在掉电过程中，EN电阻还在使能有效范围内，可以随着输入电压的跳变，VR重新开始工作，而使得目标服务器板卡输出电压不单调的问题。
可见，在本实施例中，是预先分别在目标服务器板卡上VR的输入电容和输出电容上连接第一负载仪和第二负载仪，并且，在VR的输出电容上连接目标示波器。当对目标服务器板卡进行Undershoot测试时，首先是对目标服务器板卡上电，并通过第一负载仪和第二负载仪分别对VR的输入电容和输出电容拉载第一测试电流和第二测试电流，以使得目标服务器板卡进入测试状态，然后，对目标服务器板卡断电，并利用目标示波器记录Undershoot测试的输出电压变化。显然，相比于现有技术，在本实施例中，是在对目标服务器板卡进行Undershoot测试过程中，增加了利用第一负载仪对输入电容拉载了第一测试电流的步骤，从而使得目标服务器板卡在断电过程中可以快速掉电，从而避免了VR上EN电阻在掉电过程中，EN电阻还在使能有效范围内，而使得VR重新开始工作，并由此导致目标服务器板卡输出电压不单调的问题，所以，通过本实施例中的方法，可以保证目标服务器板卡进行Undershoot测试过程中，输出电压的平滑、单调。
基于上述实施例，本实施例对上述实施例作进一步的说明与优化，VR具体为TPS53353DQPR。
在本实施例中，为了验证本申请所提供测试方法的有效性，是在对目标服务器板卡进行Undershoot测试过程中，将目标服务器板卡中的VR设置为TPS53353DQPR，能够想到的是，TPS53353DQPR作为使用较为广泛的一种电压转化芯片，利用此芯片可以增加本申请所提供的Undershoot测试方法在实际应用当中的实用性。
基于上述实施例，本实施例对上述实施例作进一步的说明与优化，作为一种优选的实施方式，第一测试电流具体为0.2A。
可以理解的是，为了使目标服务器板卡进入Undershoot测试状态，需要在目标服务器板卡上VR的输入电容拉载一定的测试电流。能够想到的是，如果第一测试电流过大，会对目标VR造成损坏，所以，在本实施例中，通过大量的实践验证，是将第一测试电流设置为0.2A，这样不仅能够达到对目标服务器板卡进行Undershoot测试的目的，而且，也不会对目标服务器板卡造成损坏，由此保证了目标服务器板卡在进行Undershoot测试过程中的安全性能。
基于上述实施例，本实施例对上述实施例作进一步的说明与优化，作为优选的实施方式，第二测试电压具体为输出电容的额定电流。
在本实施例中，为了使得目标服务器板卡完成Undershoot测试，是根据目标服务器板卡的Undershoot测试要求，在VR的输出电容上通过第二负载仪拉载输出电容的额定电流，也即，拉载输出电容的100％load，以此来使得目标服务器板卡完成Undershoot测试。
基于上述实施例，本实施例对上述实施例作进一步的说明与优化，作为一种优选的实施方式，上述VR的Undershoot测试方法还包括：
利用目标示波器观测输入电容在进行Undershoot测试的电压变化；
其中，目标示波器为预先通过第一单端探棒连接在输入电容上的示波器。
在本实施例中，为了更为全面的观测到目标服务器板卡在进行Undershoot测试过程中输入电容的电压变化，是预先将输入电容连接在了目标示波器上，以通过目标示波器来观测输入电容在进行Undershoot测试过程中的电压变化。在本实施例中，是通过第一单端探棒将输入电容连接在了目标示波器上，具体的，在实际应用当中，可以首先在输入电容处焊接两根飞线，然后，通过第一单端探棒将输入电容接入目标示波器，这样一来，工作人员就可以通过目标示波器观测到输入电容在进行Undershoot测试过程中的电压变化。
基于上述实施例，本实施例对上述实施例作进一步的说明与优化，作为一种优选的实施方式，上述服务器板卡的Undershoot测试方法还包括：
利用目标示波器观测VR的EN电阻在进行Undershoot测试的电压变化；
其中，目标示波器为预先通过第二单端探棒连接在EN电阻上的示波器。
通过上述实施例可知，如果在服务器板卡掉电过程中，EN电阻还在使能有效范围内，会使得VR随着输入电压的跳变，重新开始工作，从而使得目标服务器板卡输出电压发生跳变。
在本实施例中，为了更为清晰、直观的显示目标服务器板卡进行Undershoot测试的整个过程，还利用目标示波器观测了VR的EN电阻在进行Undershoot测试的电压变化。具体的，可以在VR的EN电阻处焊接两根飞线，然后通过第二单端探棒将EN电阻接入目标示波器，这样一来，工作人员就可以通过目标示波器观测到EN电阻在进行Undershoot测试时的整个电压变化过程。此处，需要注意的是，在实际应用当中，还可以通过其它类型的探棒将输入电容或EN电阻连接到目标示波器上，此处不作具体的限定。
基于上述实施例，本实施例对上述实施例作进一步的说明与优化，具体的，输出电容通过差分探棒连接目标示波器。
可以理解的是，差分探棒相比于其他的探棒，能够更为精确的测量出输出电容在进行Undershoot测试过程中的电压变化，所以，在本实施例中，是通过差分探棒将输出电容连接在目标示波器上，由此目标服务器板卡在进行Undershoot测试的过程中，其输出电压变化就会更为清晰的显示在目标示波器上，显然，通过这样的方式，可以大大提高工作人员在进行测试过程中的测试体验。具体的，在本实施例中，是在输出电容两端处焊接两根飞线，然后通过差分探棒将输出电容接入目标示波器。
相应的，本发明还公开了一种服务器板卡的Undershoot测试装置，如图7所示，包括：
板卡上电模块21，用于对目标服务器板卡上电，并通过第一负载仪和第二负载仪分别对目标服务器板卡中VR的输入电容和输出电容拉载第一测试电流和第二测试电流，以使目标服务器板卡进入Undershoot测试状态；其中，第一负载仪为预先连接在输入电容上的负载仪，第二负载仪为预先连接在输出电容上的负载仪；并且，输出电容上连接有目标示波器；
板卡断电模块22，用于对目标服务器板卡断电，利用目标示波器记录Undershoot测试的输出电压变化。
相应的，本发明还公开了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如前述公开的服务器板卡的Undershoot测试方法的步骤。
相应的，本发明还公开了一种服务器板卡的Undershoot测试设备，如图8所示，包括：
存储器31，用于存储计算机程序；
处理器32，用于执行计算机程序时实现如前述公开的服务器板卡的Undershoot测试方法的步骤。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种服务器板卡的Undershoot测试方法、装置、介质及设备进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (9)
1.一种服务器板卡的Undershoot测试方法，其特征在于，包括：
对目标服务器板卡上电，并通过第一负载仪和第二负载仪分别对所述目标服务器板卡中VR的输入电容和输出电容拉载第一测试电流和第二测试电流，以使所述目标服务器板卡进入Undershoot测试状态；其中，所述第一负载仪为预先连接在所述输入电容上的负载仪，所述第二负载仪为预先连接在所述输出电容上的负载仪；并且，所述输出电容上连接有目标示波器；
对所述目标服务器板卡断电，利用所述目标示波器记录所述Undershoot测试的输出电压变化；
还包括：利用所述目标示波器观测所述输入电容在进行所述Undershoot测试的电压变化；其中，所述目标示波器为预先通过第一单端探棒连接在所述输入电容上的示波器。
2.根据权利要求1所述的Undershoot测试方法，其特征在于，所述VR具体为TPS53353DQPR。
3.根据权利要求1所述的Undershoot测试方法，其特征在于，所述第一测试电流具体为0.2A。
4.根据权利要求1所述的Undershoot测试方法，其特征在于，所述第二测试电流 具体为所述输出电容的额定电流。
5.根据权利要求1所述的Undershoot测试方法，其特征在于，还包括：利用所述目标示波器观测所述VR的EN电阻在进行所述Undershoot测试的电压变化；其中，所述目标示波器为预先通过第二单端探棒连接在所述EN电阻上的示波器。
6.根据权利要求1至5任一项所述的Undershoot测试方法，其特征在于，所述输出电容通过差分探棒连接所述目标示波器。
7.一种服务器板卡的Undershoot测试装置，其特征在于，包括：
板卡上电模块，用于对目标服务器板卡上电，并通过第一负载仪和第二负载仪分别对所述目标服务器板卡中VR的输入电容和输出电容拉载第一测试电流和第二测试电流，以使所述目标服务器板卡进入Undershoot测试状态；其中，所述第一负载仪为预先连接在所述输入电容上的负载仪，所述第二负载仪为预先连接在所述输出电容上的负载仪；并且，所述输出电容上连接有目标示波器；
板卡断电模块，用于对所述目标服务器板卡断电，利用所述目标示波器记录所述Undershoot测试的输出电压变化；
还包括：利用所述目标示波器观测所述输入电容在进行所述Undershoot测试的电压变化；其中，所述目标示波器为预先通过第一单端探棒连接在所述输入电容上的示波器。
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的服务器板卡的Undershoot测试方法的步骤。
9.一种服务器板卡的Undershoot测试设备，其特征在于，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述的服务器板卡的Undershoot测试方法的步骤。
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