CN104714147A - 导电薄膜检测方法和*** - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种导电薄膜检测方法，包括以下步骤：将有源点读装置在导电薄膜上接触移动，所述有源点读装置发射固定频率的电磁信号；打开所述导电薄膜上与所述有源点读装置接触中的谐振回路，在该谐振回路接收该电磁信号后产生相应的电信号后关闭；根据所述电信号的值判断相应的所述谐振回路的状态，当有两个所述谐振回路之间的电信号的值之差小于信号阈值，则该两个谐振回路短路；当有所述谐振回路无电信号输出，则该谐振回路为开路。测试导电薄膜是否存在开路和短路，传统的方式在装机前和装机后都要进行测试，本方法只需要在装机后测试一次即可，提高了效率。
Description
技术领域
本发明涉及检测技术，特别是涉及一种导电薄膜检测方法和***。
背景技术
现在点读机所使用的导电薄膜在机器装配前与装配后都要进行检测，使用测试夹具和万用表的检测导电薄膜是否存在开路、短路，阻抗是否符合标准这种测试方法效率低，影响了整机生产的效率。
发明内容
基于此，有必要提供一种可快速检测导电薄膜是否存在开路、短路、阻抗是否符合标准，能有效提高测试效率的导电薄膜检测方法。
本发明提供了一种导电薄膜检测方法，包括以下步骤：
将有源点读装置在导电薄膜上接触移动，所述有源点读装置发射固定频率的电磁信号；
打开所述导电薄膜上与所述有源点读装置接触中的谐振回路，在该谐振回路接收该电磁信号后产生相应的电信号后关闭；
根据所述电信号的值判断相应的所述谐振回路的状态，当有两个所述谐振回路之间的电信号的值之差小于信号阈值，则该两个谐振回路短路；当有所述谐振回路无电信号输出，则该谐振回路为开路。
本发明提供了还一种导电薄膜检测***，包括：
有源点读装置，用于在导电薄膜上接触移动，且所述有源点读装置发射固定频率的电磁信号；
控制模块，用于打开所述导电薄膜上与所述有源点读装置接触中的谐振回路，且在该谐振回路接收该电磁信号后产生相应的电信号后关闭；
判断模块，用于根据所述电信号的值判断相应的所述谐振回路的状态，当有两个所述谐振回路之间的电信号的值之差小于信号阈值，则该两个谐振回路短路；当有所述谐振回路无电信号输出，则该谐振回路为开路。
与传统导电薄膜检测方式相比，上述导电薄膜检测方法和***具有至少以下优点：第一，测试导电薄膜是否存在开路和短路，传统的方式在装机前和装机后都要进行测试，本方法只需要在装机后测试一次即可，提高了效率；第二，传统的测试方式需要借助其它仪器或设备，本方法只需要设备本身就可以进行测试，更加方便快捷，节省了生产成本。
附图说明
图1为本发明较佳实施例中导电薄膜检测方法的流程图；
图2为本发明较佳实施例中导电薄膜检测***的模块图；。
具体实施方式
为了使本发明要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
请参阅图1，本发明较佳实施例中导电薄膜检测方法，需要点读机开机，并进入到特定的导电膜检测程序界面，方法包括以下步骤：
步骤S110，将有源点读装置在导电薄膜上接触移动，所述有源点读装置发射固定频率的电磁信号。
具体地，有源点读装置为有源点读笔。在其他实施方式中，有源点读装置可以问具有有源、能发出电磁信号的触控笔等。在点读机进入导电膜检测程序后，将点读笔在点读机面板(导电薄膜)上按下，并沿面板慢慢移动。此过程中，点读笔按下后，点读笔的笔头上的薄膜开关打开，点读笔上形成LC回路，开始对外发射固定频率的电磁信号。本实施例中，电磁信号的固定频率为预设频率，如450KHz)
步骤S120，打开所述导电薄膜上与所述有源点读装置接触中的谐振回路，在该谐振回路接收该电磁信号后产生相应的电信号后关闭。
具体地，打开导电薄膜中与有源点读装置移动过程中相应的谐振回路，此时该谐振回路开始接收来自点读笔发出频率为450KHz的电磁信号，此过程需保持预设时间，如保持us，导电薄膜上的谐振回路根据谐振原理，并达到饱和状态并产生电性号。本实施例中，谐振回路为LC回路。
导电薄膜上的LC回路上的电信号经过滤波、放大处理后输出到模数转换电路或模数转换芯片，之后点读机的MCU(Micro Control Unit，微控制单元)读取模数转换电路上的信号值，然后关闭该回路。
步骤S130，根据LC回路产生的所述电信号的值判断相应的所述谐振回路的状态，当有两个所述谐振回路之间的电信号的值之差小于信号阈值，则该两个谐振回路短路；当有所述谐振回路无电信号输出，则该谐振回路为开路。当有两个所述谐振回路之间的电信号的值之差大于信号阈值，则该两个谐振回路没有短路。本实施例中，信号阈值为300mv。
在一般的实施例中，在步骤S130之前还包括：将所述有源点读装置遍历所述导电薄膜上的所有谐振回路的步骤。具体地，点读笔沿导电薄膜面板上的对角线慢慢移动，以确保导电薄膜上所有的谐振回路都能收到点读笔上的信号。
参考图2，本发明提供的一种导电薄膜检测***，包括：有源点读装置11、控制模块12和判断模块。控制模块12和判断模块13是设置于点读机中的。
有源点读装置11用于在导电薄膜上接触移动，且所述有源点读装置11发射固定频率的电磁信号。
控制模块12用于打开所述导电薄膜上与所述有源点读装置11接触中的谐振回路，且在该谐振回路接收该电磁信号后产生相应的电信号后关闭。
判断模块13用于根据所述电信号的值判断相应的所述谐振回路的状态，当有两个所述谐振回路之间的电信号的值之差小于信号阈值，则该两个谐振回路短路；当有所述谐振回路无电信号输出，则该谐振回路为开路。
优选地，将所述有源点读装置11遍历所述导电薄膜上的所有谐振回路后，所述判断模块13再根据所述电信号的值判断相应的所述谐振回路的状态。
优选地，所述谐振回路为LC回路。优选地，所述有源点读装置11为有源点读笔。
与传统导电薄膜检测方式相比，上述导电薄膜检测方法和***具有至少以下优点：第一，测试导电薄膜是否存在开路和短路，传统的方式在装机前和装机后都要进行测试，本方法只需要在装机后测试一次即可，提高了效率；第二，传统的测试方式需要借助其它仪器或设备，本方法只需要设备本身就可以进行测试，更加方便快捷，节省了生产成本。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述装置中单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (8)
1.一种导电薄膜检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
将有源点读装置在导电薄膜上接触移动，所述有源点读装置发射固定频率的电磁信号；
打开所述导电薄膜上与所述有源点读装置接触中的谐振回路，在该谐振回路接收该电磁信号后产生相应的电信号后关闭；
根据所述电信号的值判断相应的所述谐振回路的状态，当有两个所述谐振回路之间的电信号的值之差小于信号阈值，则该两个谐振回路短路；当有所述谐振回路无电信号输出，则该谐振回路为开路。
2.根据权利要求1所述的导电薄膜检测方法，其特征在于，在所述根据所述电信号的值判断相应的所述谐振回路的状态的步骤之前还包括：
将所述有源点读装置遍历所述导电薄膜上的所有谐振回路。
3.根据权利要求1或2所述的导电薄膜检测方法，其特征在于，所述谐振回路为LC回路。
4.根据权利要求1或2所述的导电薄膜检测方法，其特征在于，所述有源点读装置为有源点读笔。
5.一种导电薄膜检测***，其特征在于，包括：
有源点读装置，用于在导电薄膜上接触移动，且所述有源点读装置发射固定频率的电磁信号；
控制模块，用于打开所述导电薄膜上与所述有源点读装置接触中的谐振回路，且在该谐振回路接收该电磁信号后产生相应的电信号后关闭；
判断模块，用于根据所述电信号的值判断相应的所述谐振回路的状态，当有两个所述谐振回路之间的电信号的值之差小于信号阈值，则该两个谐振回路短路；当有所述谐振回路无电信号输出，则该谐振回路为开路。
6.根据权利要求5所述的导电薄膜检测***，其特征在于，将所述有源点读装置遍历所述导电薄膜上的所有谐振回路后，所述判断模块再根据所述电信号的值判断相应的所述谐振回路的状态。
7.根据权利要求5或6所述的导电薄膜检测***，其特征在于，所述谐振回路为LC回路。
8.根据权利要求5或6所述的导电薄膜检测***，其特征在于，所述有源点读装置为有源点读笔。
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