CN104282248B - 阵列基板及其测试方法、显示面板、显示装置 - Google Patents

阵列基板及其测试方法、显示面板、显示装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种阵列基板及其测试方法、显示面板、显示装置，属于液晶显示领域。其中，所述阵列基板的显示区域外设置有至少一个测试像素，所述测试像素通过阵列基板上布置的第一信号线接收待测试信号，并通过阵列基板上布置的第二信号线将接收到的待测试信号传送至位于***电路区域的测试点。本发明的技术方案可以实现在不破坏显示面板的前提下，准确地测量显示面板的数据信号及扫描信号的衰减情况。

Description

阵列基板及其测试方法、显示面板、显示装置
技术领域
本发明涉及液晶显示领域，特别是指一种阵列基板及其测试方法、显示面板、显示装置。
背景技术
目前随着液晶显示技术的不断发展，高频率、大尺寸成为液晶显示器的主流发展方向。然而，随着液晶面板尺寸的不断增加以及分辨率的不断提升，液晶显示面板的负载不断加重，将导致液晶显示面板的扫描信号以及数据信号衰减严重，从而影响了液晶显示产品的性能，因此，对液晶显示面板负载引起的扫描信号衰减以及数据信号衰减进行测试和分析非常重要。
由于扫描信号是在阵列基板的栅线上传递，数据信号是在阵列基板的数据线上传递，因此现有对液晶显示产品进行测试的方法中，为了能够探测到阵列基板上数据线或者栅线传递的信号，通常需要将液晶显示产品进行切角处理，之后去除液晶显示产品的彩膜基板，清洗之后用探针接触阵列基板上的数据线或者栅线来进行信号测试，测试过程复杂，并且破坏了液晶显示产品的真实状态。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种阵列基板及其测试方法、显示面板、显示装置，可以实现在不破坏显示面板的前提下，准确地测量显示面板的数据信号及扫描信号的衰减情况。
为解决上述技术问题，本发明的实施例提供技术方案如下：
一方面，提供一种阵列基板，所述阵列基板的显示区域外设置有至少一个测试像素，所述测试像素通过阵列基板上布置的第一信号线接收待测试信号，并通过阵列基板上布置的第二信号线将接收到的待测试信号传送至位于***电路区域的测试点。
进一步地，所述测试像素所在区域设置有过孔，所述测试像素所对应的栅线通过所述过孔与所述测试像素所对应的数据线连接。
进一步地，所述阵列基板上栅线成行排列，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一列像素之后的扫描信号测试像素，所述扫描信号测试像素接收对应栅线传递的扫描信号，并通过对应数据线将接收到的扫描信号传送至位于***电路区域的扫描信号衰减测试点。
进一步地，所述阵列基板上数据线成列排列，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一行像素之后的数据信号测试像素，所述数据信号测试像素接收对应数据线传递的数据信号，并通过对应栅线将接收到的数据信号传送至位于***电路区域的数据信号衰减测试点。
本发明实施例还提供了一种阵列基板的测试方法，所述阵列基板的显示区域外设置有至少一个测试像素，所述测试方法包括：
通过阵列基板上布置的第一信号线将待测试信号传送至所述测试像素，并由所述测试像素通过阵列基板上布置的第二信号线将所述待测试信号传送至位于***电路区域的测试点；
在所述测试点对所述待测试信号进行测量。
进一步地，所述测试像素所在区域设置有过孔，所述测试像素所对应的栅线通过所述过孔与所述测试像素所对应的数据线连接。
进一步地，所述待测试信号为扫描信号，通过阵列基板上布置的第一信号线将待测试信号传送至所述测试像素，并由所述测试像素通过阵列基板上布置的第二信号线将所述待测试信号传送至位于***电路区域的测试点包括：
通过所述测试像素所对应的栅线将所述扫描信号传送至所述测试像素，并通过所述测试像素所对应的数据线将所述扫描信号传送至位于***电路区域的扫描信号衰减测试点。
进一步地，所述待测试信号为数据信号，通过阵列基板上布置的第一信号线将待测试信号传送至所述测试像素，并由所述测试像素通过阵列基板上布置的第二信号线将所述待测试信号传送至位于***电路区域的测试点包括：
通过所述测试像素所对应的数据线将所述数据信号传送至所述测试像素，并通过所述测试像素所对应的栅线将所述数据信号传送至位于***电路区域的数据信号衰减测试点。
本发明实施例还提供了一种显示面板，包括上述的阵列基板，还包括与所述阵列基板相对设置的彩膜基板。
本发明实施例还提供了一种显示装置，包括上述的显示面板，还包括设置在所述显示面板外的***电路区域，所述***电路区域设置有对待测试信号进行测量的测试点。
进一步地，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一行像素之后的数据信号测试像素，所述测试点包括设置在扫描信号柔性电路板上的数据信号测试点，所述数据信号测试点通过栅线与数据信号测试像素连接。
进一步地，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一列像素之后的扫描信号测试像素，所述测试点包括设置在数据信号柔性电路板上的扫描信号测试点，所述扫描信号测试点通过数据线与扫描信号测试像素连接；或
所述测试点包括设置在数据信号印刷电路板上的扫描信号测试点，所述扫描信号测试点通过数据线与扫描信号测试像素连接。
进一步地，所述***电路区域设置有报警电路，用于监测所述测试点获取的测量结果，并在所述测量结果低于预设值时输出报警信号。
本发明的实施例具有以下有益效果：
上述方案中，在阵列基板的显示区域外设置有用于测试信号的测试像素，该测试像素不影响显示，同时能够将阵列基板上传递的待测试信号，比如数据信号或扫描信号传送到***电路区域的测试点，这样在不破坏显示面板的情况下，通过设置在***电路区域的测试点就可以实时测试阵列基板上传递的数据信号或扫描信号的衰减情况。
附图说明
图1为本发明实施例显示面板的结构示意图；
图2为本发明实施例中“A”像素的结构示意图；
图3为本发明实施例中“B”像素的结构示意图；
图4为本发明实施例对扫描信号进行测试的示意图；
图5为本发明实施例对数据信号进行测试的示意图。
附图标记
1 扫描信号衰减测试点
2 数据信号衰减测试点
3 印刷电路板
4 数据信号柔性电路板
5 扫描信号柔性电路板
6 过孔
具体实施方式
为使本发明的实施例要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
本发明的实施例针对现有技术中对液晶显示面板负载引起的扫描信号衰减以及数据信号衰减进行测试的过程复杂，并且破坏了液晶显示产品的真实状态的问题，提供一种阵列基板及其测试方法、显示面板、显示装置，可以实现在不破坏显示面板的前提下，准确地测量显示面板的数据信号及扫描信号的衰减情况。
本发明实施例提供了一种阵列基板，该阵列基板的显示区域外设置有至少一个测试像素，所述测试像素通过阵列基板上布置的第一信号线接收待测试信号，并通过阵列基板上布置的第二信号线将接收到的待测试信号传送至位于***电路区域的测试点。
本发明的技术方案在阵列基板的显示区域外设置有用于测试信号的测试像素，该测试像素不影响显示，同时能够将阵列基板上传递的待测试信号，比如数据信号或扫描信号传送到***电路区域的测试点，这样在不破坏显示面板的情况下，通过设置在***电路区域的测试点就可以实时测试阵列基板上传递的数据信号或扫描信号的衰减情况。
具体地，所述测试像素所在区域设置有过孔，所述测试像素所对应的栅线通过所述过孔与所述测试像素所对应的数据线连接。
进一步地，所述阵列基板上栅线成行排列，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一列像素之后的扫描信号测试像素，所述扫描信号测试像素接收对应栅线传递的扫描信号，并通过对应数据线将接收到的扫描信号传送至位于***电路区域的扫描信号衰减测试点。
进一步地，所述阵列基板上数据线成列排列，所述阵列基板上数据线成列排列，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一行像素之后的数据信号测试像素，所述数据信号测试像素接收对应数据线传递的数据信号，并通过对应栅线将接收到的数据信号传送至位于***电路区域的数据信号衰减测试点。
本发明实施例还提供了一种阵列基板的测试方法，所述阵列基板的显示区域外设置有至少一个测试像素，所述测试方法包括：
通过阵列基板上布置的第一信号线将待测试信号传送至所述测试像素，并由所述测试像素通过阵列基板上布置的第二信号线将所述待测试信号传送至位于***电路区域的测试点；
在所述测试点对所述待测试信号进行测量。
本发明的技术方案可以通过位于***电路区域的测试点对待测试信号，比如扫描信号或数据信号进行测量，这样就可以在不破坏显示面板的情况下，实时测试阵列基板上传递的数据信号或扫描信号的衰减情况。
进一步地，所述测试像素所在区域设置有过孔，所述测试像素所对应的栅线通过所述过孔与所述测试像素所对应的数据线连接。
进一步地，所述待测试信号为扫描信号，通过阵列基板上布置的第一信号线将待测试信号传送至所述测试像素，并由所述测试像素通过阵列基板上布置的第二信号线将所述待测试信号传送至位于***电路区域的测试点包括：
通过所述测试像素所对应的栅线将所述扫描信号传送至所述测试像素，并通过所述测试像素所对应的数据线将所述扫描信号传送至位于***电路区域的扫描信号衰减测试点。
进一步地，所述待测试信号为数据信号，通过阵列基板上布置的第一信号线将待测试信号传送至所述测试像素，并由所述测试像素通过阵列基板上布置的第二信号线将所述待测试信号传送至位于***电路区域的测试点包括：
通过所述测试像素所对应的数据线将所述数据信号传送至所述测试像素，并通过所述测试像素所对应的栅线将所述数据信号传送至位于***电路区域的数据信号衰减测试点。
本发明实施例还提供了一种显示面板，包括如上所述的阵列基板，还包括与所述阵列基板相对设置的彩膜基板。
本发明实施例还提供了一种显示装置，包括如上所述的显示面板，还包括设置在所述显示面板外的***电路区域，所述***电路区域设置有对待测试信号进行测量的测试点。所述显示装置可以为：液晶面板、液晶电视、液晶显示器、数码相框、手机、平板电脑等任何具有显示功能的产品或部件。
进一步地，所述显示装置中，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一行像素之后的数据信号测试像素，所述测试点包括设置在扫描信号柔性电路板上的数据信号测试点，所述数据信号测试点通过栅线与数据信号测试像素连接。
进一步地，所述显示装置中，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一列像素之后的扫描信号测试像素，所述测试点包括设置在数据信号柔性电路板上的扫描信号测试点，所述扫描信号测试点通过数据线与扫描信号测试像素连接；或
所述测试点包括设置在数据信号印刷电路板上的扫描信号测试点，所述扫描信号测试点通过数据线与扫描信号测试像素连接。
进一步地，所述显示装置中，所述***电路区域还设置有报警电路，用于监测所述测试点获取的测量结果，并在所述测量结果低于预设值时输出报警信号。这样使用者根据该报警信号，可以方便地获知显示装置的扫描信号或数据信号的衰减情况。
下面结合附图以及具体的实施例对本发明的阵列基板及其测试方法进行详细介绍：
本实施例的阵列基板上设置有两种像素：用来进行显示的显示像素，即“A”像素；用来将待测试信号传送至***电路区域的测试点的测试像素，即“B”像素。与“A”像素不同，“B”像素设置在显示区域外，并不影响显示，并且如图2和图3所示，与“A”像素不同，“B”像素所在区域设置有过孔6，“B”像素所对应的栅线通过过孔6与测试像素所对应的数据线连接。本实施例的阵列基板的测试方法如下：
(1)扫描信号的测试：
本实施例的阵列基板上，栅线成行排列，如图4所示，扫描信号从阵列基板左侧的Gate-COF(扫描信号柔性电路板)输出，输入到阵列基板上成行排列的栅线中，当扫描信号通过栅线传送到达显示区域的最右端时，扫描信号到达测试像素“B”所在区域，并通过过孔到达测试像素“B”所对应的数据线，该数据线与正常显示区域中的数据线的走向相同，这样扫描信号通过测试像素“B”所对应像素的数据线到达扇形区的连接线(如图4虚线部分)，并通过扇形区的连接线接入Source-COF(数据信号柔性电路板)4的控制信号贴附区中，之后接入到印刷电路板3上设置的扫描信号衰减测试点1，进一步地，扫描信号衰减测试点1还可以直接设置在数据信号柔性电路板4上。在对扫描信号进行测量时，外部的测量设备通过探针接触扫描信号衰减测试点1就可以实时测量扫描信号的衰减情况。
由于每行栅线的扫描信号传送情况大致相同，因此，可以不必在每一行都设置测试像素，可以仅在其中一行设置测试像素，只要保证测试像素位于该行最后一个显示像素之后即可，这样可以保证测量结果体现本行扫描信号的最终衰减情况。
(2)数据信号的测试：
本实施例的阵列基板上，数据线成列排列，如图5所示，数据信号从阵列基板上侧的数据信号柔性电路板输出，输入到阵列基板上成列排列的数据线中，当数据信号通过数据线传送到达显示区域的最下端时，扫描信号到达测试像素“B”，并通过过孔到达测试像素“B”所对应的栅线，该栅线和正常显示区域中的栅线的走向相同，这样扫描信号通过与测试像素“B”对应的栅线到达扇形区的连接线(如图5虚线部分)，并通过扇形区的连接线接入扫描信号柔性电路板5上设置的数据信号衰减测试点2。在对数据信号进行测量时，外部的测量设备通过探针接触数据信号衰减测试点2就可以实时测量数据信号的衰减情况。
由于每列数据线的数据信号传送情况大致相同，因此，可以不必在每一列都设置测试像素，可以仅在其中一列设置测试像素，只要保证测试像素位于该列最后一个显示像素之后即可，这样可以保证测量结果体现本列数据信号的最终衰减情况。
在测量得到扫描信号或者数据信号的衰减情况后，可以将测量结果作为反馈信号，通过IC(集成电路)进行扫描信号或数据信号的放大和补偿，从而进一步改善显示面板的画面品质。
本发明的技术方案通过制作测试像素，并将测试像素所对应的栅线与所对应的数据线实现电连接，从而能够将待测试信号引出至柔性电路板或印刷电路板，在不破坏显示面板的情况下，通过设置在***电路区域的测试点就可以实时测试阵列基板上传递的数据信号或扫描信号的衰减情况。
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (11)

1.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板的显示区域外设置有至少一个测试像素，所述测试像素通过阵列基板上布置的第一信号线接收待测试信号，并通过阵列基板上布置的第二信号线将接收到的待测试信号传送至位于***电路区域的测试点；
所述测试像素所在区域设置有过孔，所述测试像素所对应的栅线通过所述过孔与所述测试像素所对应的数据线连接。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板上栅线成行排列，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一列像素之后的扫描信号测试像素，所述扫描信号测试像素接收对应栅线传递的扫描信号，并通过对应数据线将接收到的扫描信号传送至位于***电路区域的扫描信号衰减测试点。
3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板上数据线成列排列，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一行像素之后的数据信号测试像素，所述数据信号测试像素接收对应数据线传递的数据信号，并通过对应栅线将接收到的数据信号传送至位于***电路区域的数据信号衰减测试点。
4.一种阵列基板的测试方法，其特征在于，所述阵列基板的显示区域外设置有至少一个测试像素，所述测试方法包括：
通过阵列基板上布置的第一信号线将待测试信号传送至所述测试像素，并由所述测试像素通过阵列基板上布置的第二信号线将所述待测试信号传送至位于***电路区域的测试点；
在所述测试点对所述待测试信号进行测量；
所述测试像素所在区域设置有过孔，所述测试像素所对应的栅线通过所述过孔与所述测试像素所对应的数据线连接。
5.根据权利要求4所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，
所述待测试信号为扫描信号，通过阵列基板上布置的第一信号线将待测试信号传送至所述测试像素，并由所述测试像素通过阵列基板上布置的第二信号线将所述待测试信号传送至位于***电路区域的测试点包括：
通过所述测试像素所对应的栅线将所述扫描信号传送至所述测试像素，并通过所述测试像素所对应的数据线将所述扫描信号传送至位于***电路区域的扫描信号衰减测试点。
6.根据权利要求4所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，
所述待测试信号为数据信号，通过阵列基板上布置的第一信号线将待测试信号传送至所述测试像素，并由所述测试像素通过阵列基板上布置的第二信号线将所述待测试信号传送至位于***电路区域的测试点包括：
通过所述测试像素所对应的数据线将所述数据信号传送至所述测试像素，并通过所述测试像素所对应的栅线将所述数据信号传送至位于***电路区域的数据信号衰减测试点。
7.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1-3中任一项所述的阵列基板，还包括与所述阵列基板相对设置的彩膜基板。
8.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求7所述的显示面板，还包括设置在所述显示面板外的***电路区域，所述***电路区域设置有对待测试信号进行测量的测试点。
9.根据权利要求8所述的显示装置，其特征在于，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一行像素之后的数据信号测试像素，所述测试点包括设置在扫描信号柔性电路板上的数据信号测试点，所述数据信号测试点通过栅线与数据信号测试像素连接。
10.根据权利要求8所述的显示装置，其特征在于，所述测试像素包括位于所述阵列基板显示区域最后一列像素之后的扫描信号测试像素，所述测试点包括设置在数据信号柔性电路板上的扫描信号测试点，所述扫描信号测试点通过数据线与扫描信号测试像素连接；或
所述测试点包括设置在数据信号印刷电路板上的扫描信号测试点，所述扫描信号测试点通过数据线与扫描信号测试像素连接。
11.根据权利要求8所述的显示装置，其特征在于，所述***电路区域设置有报警电路，用于监测所述测试点获取的测量结果，并在所述测量结果低于预设值时输出报警信号。
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