CN104185812B - 位置检测装置和位置控制装置 - Google Patents

Abstract

同时校正基于温度变化和磁通的非线性的检测误差。本发明的位置检测装置的特征在于，其具有：基台部；可动部，其能够相对于基台部进行相对移动；位置检测部，其根据磁通的变化来检测可动部相对于基台部的位置，输出位置信息；温度检测部，其检测周围温度；以及位置校正部，其根据位置信息与规定值的差分以及周围温度计算校正值，根据计算出的校正值对位置信息进行校正。

Description

位置检测装置和位置控制装置

技术领域

本发明涉及检测可动部相对于基台部的位置的位置检测装置、以及根据由位置检测装置检测到的位置信息使可动部移动的位置控制装置。

背景技术

以往，在数字照相机等摄像装置中，为了防止摄像时的图像抖动，搭载使摄像元件或镜头等光学元件移动的图像抖动校正装置。这种图像抖动校正装置根据来自摄像装置主体上搭载的陀螺仪传感器的输出值使摄像元件或光学元件移动，从而防止图像抖动。在摄像元件或光学元件等移动对象的移动控制中，根据使用霍尔传感器等检测到的移动对象的位置，进行使移动对象移动的反馈控制。并且，公知位置检测中使用的霍尔传感器的输出特性根据温度而变化。

作为这种图像抖动校正装置，在专利文献1中公开了如下技术：通过使用2个霍尔元件来检测周围温度，而不用设置专用的温度传感器。并且，在专利文献2中公开了如下技术：在利用磁传感器进行位置检测时，通过进行抖动校正来进行基于温度变化的位置补偿，而不用增设温度传感器。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2006-47054号公报

专利文献2：日本特开2011-170260号公报

发明内容

发明要解决的课题

公知专利文献1、2中使用的霍尔元件的输出伴随周围温度的变化而变动。因此，需要对来自霍尔元件的输出值进行温度补偿。但是，在数字照相机等摄像装置中，要求小型化。在这种状况下，摄像装置内使用的图像抖动校正装置也需要小型化。在针对图像抖动校正装置实现小型化的情况下，在包含霍尔元件等磁传感器而构成的位置检测装置中，预想到由于周围温度以外的要因而产生检测误差。在考虑这种由于周围温度以外的要因而产生的检测误差的情况下，通常另外进行基于周围温度的变化的补偿，进行多个补偿时的运算处理复杂。

用于解决课题的手段

在本发明中，在霍尔元件等磁传感器中，通过将检测范围扩张到以往未利用的磁通密度为非线性的区域进行使用，实现位置检测装置的小型化。此时，通过包含磁通密度的非线性区域在内进行基于位置信息和周围温度的温度补偿，能够在驱动区域的整个区域内进行高精度的位置检测。

因此，本发明的位置检测装置的特征在于，该位置检测装置具有：基台部；可动部，其能够相对于所述基台部进行相对移动；位置检测部，其根据磁通的变化来检测所述可动部相对于所述基台部的位置，输出位置信息；温度检测部，其检测周围温度；以及位置校正部，其根据所述位置信息与规定值的差分以及所述周围温度计算校正值，根据计算出的所述校正值对所述位置信息进行校正。

发明效果

根据本发明的位置检测装置，根据所述位置信息与规定值的差分以及所述周围温度，在磁通密度的非线性区域中，也能够高精度地容易地计算可动部的位置，在扩张了检测范围的情况下，也能够实现位置检测的精度提高。

附图说明

图1是示出本实施方式的组装前的图像抖动校正装置1的图。

图2是示出基台部10的图。

图3是示出可动部30的图。

图4是从箭头A观察图3的图。

图5是示出磁铁支承部50的图。

图6是示出本实施方式的组装后的图像抖动校正装置1的图。

图7是从箭头B观察图6的图。

图8是示出本实施方式的组装后的图像抖动校正装置1的动作的图。

图9是放大了图8的一部分的图。

图10是示出图像抖动校正装置的控制结构的框图。

图11是示出由温度变化引起的位置检测部400的检测误差的图。

图12是示出检测位置X与规定值b的差分(X-B)和检测误差之间的关系的图。

图13是示出周围温度和检测误差的斜率之间的关系的图。

图14是示出位置检测部400的非线性的图。

图15是示出其他方式的图像抖动校正装置的控制结构的框图。

图16是示出具有本实施方式的图像抖动校正装置的摄像装置(数字照相机)的图。

图17是示出摄像装置(数字照相机)内的图像抖动校正装置等的图。

图18是示出本实施方式的摄像装置(数字照相机)的控制结构的框图。

具体实施方式

下面，对本发明的一个实施方式进行说明。这里，关于本发明的位置控制装置，以在数字照相机等中为了抑制手抖等振动的影响并对良好的图像进行摄像而使用的图像抖动校正装置为例进行说明。

图1是示出本实施方式的组装前的图像抖动校正装置1的图。本实施方式的图像抖动校正装置1具有：基台部10；可动部30，其以能够移动的方式支承在基台部10上；以及磁铁支承部50，其相对于可动部30配置在基台部10的相反侧，并且固定在基台部10上。

在基台部10上固定有第1永久磁铁群20，在磁铁支承部50上固定有第2永久磁铁群60。在可动部30上固定有线圈群40。第1永久磁铁群20和第2永久磁铁群60使分别着磁为不同磁极的部分对置配置，以使得在对置的空间内产生磁场。线圈群40配置在第1永久磁铁群20和第2永久磁铁群60对置的空间内。另外，在图1中，第1永久磁铁群20和第2永久磁铁群60的磁极示出线圈群40侧的面的磁极，以下的附图中也同样。

图2是示出基台部10的图。基台部10例如具有：平板状的基台主体11，其由铁或铁的化合物等磁性体构成；贯通支承孔12a、12b，它们设置在基台主体11上，供用于在基台部10上支承磁铁支承部50的未图示的螺钉贯穿***；以及第1弹簧支承部13a、13b、13c，它们支承用于以能够移动的方式在基台部10上支承可动部30的弹簧(未图示)。

这里，针对基台部10，定义作为第1方向的X方向以及与X方向垂直的作为第2方向的Y方向。

基台部10的第1永久磁铁群20具有：第1磁铁部21，其将线圈群40侧着磁为N极；第2磁铁部22，其在X方向上与第1磁铁部21对峙，将线圈群40侧着磁为S极；第3磁铁部23，其在Y方向上与第1磁铁部21分开配置，将线圈群40侧着磁为N极；第4磁铁部24，其在X方向上与第3磁铁部23对峙，将线圈群40侧着磁为S极；以及第5磁铁部25，其在Y方向上与第4磁铁部24对峙，将线圈群40侧着磁为N极。另外，第1磁铁部21～第5磁铁部25分别将线圈群40侧和线圈群40的相反侧的面着磁为相反的磁极。

第2磁铁部22的Y方向上的第4磁铁部24侧形成为比第1磁铁部21短，存在不与第1磁铁部21对峙的作为切口的第1空间101a。并且，第4磁铁部24的Y方向上的第2磁铁部22侧形成为比第3磁铁部23短，存在不与第3磁铁部23对峙的作为切口的第2空间101b。

图3是示出可动部30的图，图4是从箭头A观察图3的图。可动部30例如具有：可动主体31，其由铝合金或合成树脂等非磁性体构成；线圈收纳部32，其设置在可动主体31的周围的一部分上；以及第2弹簧支承部33a、33b、33c，其支承用于以能够移动的方式在基台部10上支承可动部30的弹簧(未图示)。

这里，如图3所示，针对可动部30，定义作为第1方向的X方向以及与X方向垂直的作为第2方向的Y方向。

可动主体31搭载有对光进行光电转换的摄像元件36、滤波器群37和电气元件38。滤波器群37从远离摄像元件36的一侧起配置有超声波滤波器37a和红外线截止滤波器37b。并且，相对于摄像元件36，在滤波器群37的相反侧搭载有检测摄像元件的受光量并对基于该受光量的影像信号等进行处理的电气元件38。

如图3、图4所示，在可动部30上，作为电气元件38的一个结构，设置有用于检测相对于基台部10的相对位置的霍尔元件381a～c。霍尔元件381a～c是输出与移动位置处的磁场对应的信号的传感器，在本方式中，根据3个霍尔元件381a～c的输出，检测可动部30的X方向、Y方向的相对位置。另外，在基台部10侧设置有用于形成霍尔元件381a～c要检测的磁场的磁铁部(未图示)。并且，电气元件38构成为具有温度传感器382。由温度传感器382计测出的温度用于对由于温度变化而产生的霍尔元件381a～c等的输出变化进行补偿。

线圈收纳部32设置在可动主体31的周围的一部分上，在凹部中收纳线圈群40。与线圈收纳部32相比，可动主体31在与X方向和Y方向垂直的Z方向上的长度较长。

线圈群40具有第1线圈41、第2线圈42和第3线圈43。第1线圈41与图2所示的基台部10的第1磁铁部21和第2磁铁部22对置设置。第2线圈42设置成与图2所示的基台部10的第3磁铁部23和第4磁铁部24对置。第3线圈43设置成与图2所示的基台部10的第4磁铁部24和第5磁铁部25对置。

图5是示出磁铁支承部50的图。其中，图5所示的磁铁支承部50是从可动部30侧观察图1所示的磁铁支承部50的图。

磁铁支承部50例如具有：平板状的支承主体51，其由铁或铁的化合物等磁性体构成；以及贯通孔52a、52b，它们设置在支承主体51上，供用于在基台部10上支承磁铁支承部50的未图示的螺钉贯穿***。

这里，如图5所示，针对磁铁支承部50，定义作为第1方向的X方向以及与X方向垂直的作为第2方向的Y方向。

磁铁支承部50的第2永久磁铁群60具有：第1对置磁铁部61，其将线圈群40侧着磁为S极；第2对置磁铁部62，其在X方向上与第1对置磁铁部61对峙，将线圈群40侧着磁为N极；第3对置磁铁部63，其在Y方向上与第1对置磁铁部61分开配置，将线圈群40侧着磁为S极；第4对置磁铁部64，其在X方向上与第3对置磁铁部63对峙，将线圈群40侧着磁为N极；以及第5对置磁铁部65，其在Y方向上与第9的磁铁64对峙，将线圈群40侧着磁为S极。另外，第1对置磁铁部61～第5对置磁铁部65分别将线圈群40侧和线圈群40的相反侧的面着磁为相反的磁极。

第2对置磁铁部62的Y方向上的第4对置磁铁部64侧具有切口，形成为比第1对置磁铁部61短，存在不与第1对置磁铁部61对峙的作为切口的第3空间102a。并且，第4对置磁铁部64的Y方向上的第2对置磁铁部62侧具有切口，形成为比第3对置磁铁部63短，存在不与第3对置磁铁部63对峙的作为切口的第4空间102b。

图6是示出本实施方式的组装后的图像抖动校正装置1的图，图7是从箭头B的方向观察图6的图。

在组装本实施方式的图像抖动校正装置1时，在图1所示的基台部10的贯通支承孔12a、12b和磁铁支承部50的贯通螺纹孔52a、52b中分别贯穿***螺钉(未图示)。并且，通过安装在基台部10的基台主体11上的托板14支承磁铁支承部50的支承主体51。因此，支承主体51在贯通支承孔12a、12b和托板14这3个部位牢固地支承在基台主体11上。进而，利用螺旋弹簧15a、15b、15c连接基台部10的第1弹簧支承部13a、13b、13c以及可动部30的第2弹簧支承部33a、33b、33c。这样，通过利用螺旋弹簧15a、15b、15c连接基台部10和可动部30，可动部30能够相对于基台部10进行相对移动。

进而，通过对基台部10和可动部30进行球支承，也可以使可动部30顺畅地移动。球支承是在可动对象之间支承1个或多个球形的球部件的方式，通过球部件的旋转，能够使可动对象顺畅地移动。在本实施方式中应用球支承的情况下，通过在基台部10与可动部30之间配设球部件，能够使可动部30顺畅地移动。

在图像抖动校正装置1的组装时，基台部10的第1永久磁铁群20和磁铁支承部50的第2永久磁铁群60在分开的状态下对置。第1永久磁铁群20和第2永久磁铁群60的对置的磁铁部分别被着磁为相反的磁极，所以，在各磁铁之间的空间内分别产生磁场。在产生该磁场的分开的空间内配置可动部30的线圈群40。这样，通过配置第1永久磁铁群20、第2永久磁铁群60和线圈群40，形成音圈电机70。

在本实施方式中，第1磁铁部21和第2磁铁部22、第1线圈41、以及第1对置磁铁部61和第2对置磁铁部62形成使可动部30在作为第1方向的X方向上移动的第1X方向音圈电机71。并且，第3磁铁部23和第4磁铁部24、第2线圈42、以及第3对置磁铁部63和第4对置磁铁部64形成使可动部30在作为第1方向的X方向上移动的第2X方向音圈电机72。进而，第4磁铁部24和第5磁铁部25、第3线圈43、以及第4对置磁铁部64和第5对置磁铁部65形成使可动部30在作为第2方向的Y方向上移动的Y方向音圈电机73。

在本实施方式中，第4磁铁部24和第4对置磁铁部64在第2X方向音圈电机72和Y方向音圈电机73中共用。这样，在本实施方式中，通过在多个音圈电机之间共用磁铁部、对置磁铁部，能够实现部件数量的削减以及配置面积的缩小。

在本实施方式的情况下，在第1线圈41和第2线圈42中流过电流的情况下，可动部30在X方向上移动。并且，在第3线圈43中流过电流的情况下，可动部30在Y方向上移动。

图8是示出本实施方式的组装后的图像抖动校正装置1的动作的图，图9是放大了图8的一部分的图。另外，在图8中，为了容易观察可动部30的运动，省略磁铁支承部50，在图9中，仅示出第1磁铁部21、第2磁铁部22和可动主体部31。

例如如图8所示，设可动部30相对于基台部10在箭头C的方向上运动。于是，如图9所示，可动主体31向第1磁铁部21和第2磁铁部22的方向靠近。如果在第2磁铁部22的Y方向的长度与第1磁铁部21的Y方向的长度相同的情况下，则可动主体31和第2磁铁部22产生干涉(接触)。

因此，在本实施方式中，通过使第1磁铁部21和第2磁铁部22的大小成为非对称，实现可动部30的移动范围的扩张。具体而言，使第2磁铁部22的Y方向的长度比第1磁铁部21的Y方向的长度短，形成用于供可动部30移动的第1空间101a。这样，通过使第1磁铁部21和第2磁铁部22的大小成为非对称并形成第1空间101a，能够避免可动主体31与第2磁铁部22的干涉，并且能够实现装置的小型化。

在本实施方式中，通过相对于其他磁铁部也使其形状成为非对称，形成能够供可动部30移动的空间，能够避免可动主体31与磁铁部、或磁铁部与其他部件的干涉，能够实现装置的小型化，而不会缩小可动部30的可动范围。

另外，在本实施方式中，对基台部10和磁铁支承部50双方具有永久磁铁群的结构进行了说明，但是，在输出能够使可动部30进行动作的输出的情况下，也可以构成为仅基台部10和磁铁支承部50中的一方具有永久磁铁群。

接着，使用附图对本实施方式的位置检测装置执行的校正进行说明。如上所述，在摄像装置中期望小型化，对音圈电机等的小型化下工夫。相对于位置检测部也要求小型化，在本实施方式中，通过将检测范围扩张到以往未考虑使用的区域，实现位置检测装置的小型化。在这样扩张的区域中，磁通密度为非线性，所以，不能将位置检测装置的输出直接用作位置信息。

另一方面，公知位置检测装置中使用的霍尔元件等磁传感器输出的值根据周围温度的变化而变动。如上所述，在将检测范围扩张到磁通密度为非线性的区域进行使用的情况下，由于该周围温度的影响而使位置信息的检测误差显著增大。特别是在高温或低温时，在可动部30的移动量较大的周边位置无法进行准确的位置检测，产生周边位置处的抖动校正性能降低、或可动部30脱离控制范围而碰撞基台部10的问题。

在本实施方式中，在将检测范围扩张到这种磁通密度为非线性的区域进行使用时，通过进行基于位置信息和周围温度的温度补偿，能够在驱动区域整个区域内进行高精度的位置检测。图10示出本实施方式的图像抖动校正装置的控制结构。图中，位置检测装置由位置检测部400、温度检测部500、位置校正部204构成。

对驱动指示输入部201输入根据来自设置在摄像装置主体上的陀螺仪传感器等的输出值而计算出的驱动目标位置。在本实施方式中，通过霍尔元件401、放大器402、A/D(AD转换器)403、位置校正部204构成位置检测部400。霍尔元件401是如图3、图4中说明的那样安装在可动部30侧的位置检测用的传感器，输出与移动位置处的磁场对应的位置信息。从霍尔元件401输出的位置信息在放大器402中进行放大后，利用A/D403转换为数字信号。位置校正部204根据来自温度检测部500的信号对从A/D403输出的数字信号进行校正，输出可动部30相对于基台部10的位置信息(相对位置)。

该温度检测部500由温度传感器501、A/D(AD转换器)502构成。如图3、图4所示，温度传感器501设置在霍尔元件381a～381c的附近，输出与周围温度对应的信号。A/D502将来自温度传感器501的输出信号转换为数字信号，并输出到位置校正部204。

从位置检测部400输出的校正后的位置信息被输入到运算部202，计算与从驱动指示输入部201输入的驱动目标位置之间的偏差。计算出的偏差被输入到驱动控制部203。该驱动控制部203根据所输入的偏差执行在反馈控制中公知的PID控制。在该PID控制中，通过以比例动作、积分动作、微分动作为基础进行运算，输出与驱动力对应的信号。从驱动控制部203输出的与驱动力对应的信号被输入到具有电机驱动器301和VCM302(音圈电机)的驱动部300。通过霍尔元件401对通过VCM302的驱动而移动的可动部30的位置进行位置检测，再次用于VCM302的驱动。

本实施方式的图像抖动校正装置1通过进行这种反馈控制，对VCM302进行驱动，能够使可动部30移动到驱动目标位置。接着，对位置检测部400内的位置校正部204中的温度补偿进行说明。

图11是示出基于周围温度变化的位置检测部400的检测误差的图。图中，针对常温、低温、高温这3种情况示出位置检测部400输出相同的值X时的实际的可动部30的位置Px。可以看出，随着周围温度的上升，检测到较大的实际位置。这样，在位置检测部400中，产生伴随周围温度变化的检测误差。

在本实施方式中，在将检测区域扩张到磁通密度为非线性的区域而使用霍尔元件的状况下，通过对位置检测部400的检测误差进行定性分析，容易地计算检测误差。

图12示出位置检测部的检测位置X与规定值B的差分(X-B)和检测误差之间的关系。这里，规定值B是与使针对霍尔元件401的磁场为0(无磁场)时从位置检测部400输出的模拟***输出的电压(位置检测部400的基准电压)对应的值，这里，在A/D403中被分配12位AD值的中间值即2048[LSB]。在该曲线图中，分别利用单点划线和虚线示出周围温度以20℃为基准时的低温(-10℃)、高温(60℃)的检测误差。根据该曲线图可知，位置检测部400的检测误差跟检测位置X与规定值B的差分(X-B)成比例。

通过进一步进行定性分析，判明了检测误差的斜率与周围温度成为比例关系。在图13中利用曲线图示出周围温度和检测误差的斜率之间的关系。这是在图12的曲线图中针对以常温(20℃)为基准(斜率0)时的检测误差的斜率和周围温度的关系描绘曲线图而得到的。根据该曲线图可知，检测误差的斜率与周围温度T成为比例关系。

因此，利用以下式计算位置检测部400的检测误差Z(校正值)。

Z＝A*(X-B)*(T-C)···(A)

其中，

X为位置检测部输出的位置信息，

A为基于温度特性的系数，

B为基于位置检测部的基准电压的值，

C为基于基准温度的值，

T为周围温度，式中的“*”表示乘号。

通过从位置检测部400输出的值中减去该检测误差Z(校正值)，计算校正后的检测位置Y。

Y＝X-A*(X-B)*(T-C)···(1)

其中，

Y为校正后的检测位置。

这样，在本实施方式中，在以往由于其输出不稳定而未使用的磁通密度为非线性的区域中使用位置检测部400时，使用上述通过基于与周围温度之间的关系的定性分析而计算出的检测误差，对位置检测部400的输出位置进行校正。因此，在磁通密度为非线性的区域中使用位置检测部400时，能够利用(1)所示的简易的公式对磁通密度的基于周围温度的影响进行校正。

在这种反馈控制中，一般进行控制以使得位置检测部400的输出与驱动目标位置之差为0，但是，在图14所示的位置检测部400的输出与实际的可动部30的位置具有非线性关系的情况下，需要对位置检测部400的输出进行校正。例如如图所示，在发出以位置检测部400的输出为基准从行程中心运动500μm的指令的情况下，可动部30的实际的行程位置移动大致500μm。但是，在发出以位置检测部400的输出为基准运动1000μm的指令的情况下，由于周边区域的非线性，可动部30的实际的行程位置运动1000μm以上。

图15示出用于对这种位置检测部400的非线性进行校正的抖动校正装置的框图。图中，直线性校正部205是用于对位置检测部400的非线性进行校正的结构，在本实施方式中，通过进行3次式(Y＝AX³+BX²+CX+D)的运算，进行非线性的校正。在该校正式中，X为对非线性进行校正之前的位置，Y为校正后的位置。校正式中使用的各系数A、B、C、D可以是固定值，也可以是与可动部30的移动量对应的变量。如图15所示，优选该直线性校正部205位于位置校正部204的后级。其理由是，如果不在进行了与周围温度有关的校正之后，则非线性的校正的运算复杂。

以上，在图14所示的实施方式中，在位置校正部204的基础上，还设置直线性校正部205，由此，能够进行位置检测部400中的校正，并且能够对位置检测部400的非线性进行校正。特别是在进行了位置校正部204中的校正之后、通过直线性校正部205对非线性进行校正，由此，能够实现位置检测部400的运算的简易化。

本实施方式的图像抖动校正装置能够用于电子拍摄装置、特别是数字照相机和摄像机等。下面，例示其实施方式。

图16是示出具有本实施方式的图像抖动校正装置的摄像装置的图，图17是示出摄像装置内的图像抖动校正装置等的图。如图16和图17所示，作为具有本发明的一个实施方式的图像抖动校正装置1的摄像装置的数字照相机80由照相机机身81、以及以能够更换的方式装配在照相机机身81上的具有拍摄镜头L的镜头单元82构成。

另外，在以下的说明中，用“O”表示从拍摄镜头L入射到照相机机身81的入射光轴，相对于入射光轴O方向将被摄体侧作为前方(前面侧)，将成像侧作为后方(背面侧)。并且，在与光轴O垂直的方向中，将通常拍摄状态下从前方观察的左右方向作为第1方向即X方向，将上下方向作为第2方向即Y方向。作为第1方向的X方向和作为第2方向的Y方向对应于图像抖动校正装置1中的作为第1方向的X方向和作为第2方向的Y方向。

照相机机身81具有收纳构成数字照相机80的部件的兼作为照相机主体的外装体83，在入射光轴O上的前侧位置具有用于以更换自如的方式装配镜头单元82的环状的安装部84。并且，在外装体83上，在从前方观察的左侧设有拍摄时由操作者的右手保持的未图示的握持部。在该握持部的顶部配置有释放按钮等未图示的各种开关、按钮类。

进而，照相机机身81在外装体83的内部具有收纳电池91的电池收纳室92。并且，在电池收纳室92的后方配设有搭载了用于进行照相机整体的控制、图像处置、压缩处理、数据存储处理等的控制电路、SDRAM等存储器、电源电路等的电路基板等(未图示)。并且，在照相机机身81中内置有该照相机机身81的抖动状态检测用的陀螺仪传感器(未图示)。

如图16和图17所示，照相机机身81还具有在外装体83的背面侧具有面板显示窗85的液晶面板86。该液晶面板86是TFT(Thin Film Transistor)型的矩形状显示面板，除了所拍摄的图像以外，还显示各种设定/调整事项等各种信息作为图像。并且，在外装体83的顶部配置有用于装配光学取景器、电子取景器、外置闪光灯或麦克风等的热靴87。

如图16所示，在照相机机身81的外装体83内配设有焦面快门88和摄像单元89。摄像单元89具有将音圈电机作为致动器的图像抖动防止装置1，该图像抖动防止装置1将CCD或CMOS传感器等即摄像元件36支承为能够在XY平面上移位。该图像抖动防止装置1根据来自上述抖动检测装置的抖动信号进行动作，以抵消检测到的抖动方向的力。摄像元件36具有矩形的受光面，沿着X方向配设受光面的长边。并且，在外装体83的底面部设有三脚架螺旋部90。

图18是示出本实施方式的数字照相机80的主要部的内部电路的框图。另外，在以下的说明中，处理单元例如由CDS/ADC部124、暂时存储器117、图像处理部118等构成，存储单元由存储介质部等构成。

如图18所示，数字照相机80具有操作部112、与该操作部112连接的控制部113、经由总线114和115而与该控制部113的控制信号输出端口连接的摄像驱动电路116和暂时存储器117、图像处理部118、存储介质部119、显示部120和设定信息存储器部121。

上述暂时存储器117、图像处理部118、存储介质部119、显示部120和设定信息存储器部121能够经由总线122相互进行数据的输入、输出。并且，在摄像驱动电路116上连接有摄像元件36和CDS/ADC部124。

操作部112具有各种输入按钮和开关，将经由这些输入按钮和开关从外部(照相机使用者)输入的事件信息通知给控制部113。控制部113例如是由CPU等构成的中央运算处理装置，内置有未图示的程序存储器，按照程序存储器中存储的程序对数字照相机80整体进行控制。

CCD等摄像元件36是如下的摄像元件：通过摄像驱动电路116进行驱动控制，将经由拍摄光学***141形成的物体像的每个像素的光量转换为电信号，并将其输出到CDS/ADC部124。

CDS/ADC部124是如下的电路：对从摄像元件36输入的电信号进行放大，并且进行模拟/数字转换，将仅进行了该放大和数字转换的影像原始数据(拜耳数据、以下称为RAW数据。)输出到暂时存储器117。

暂时存储器117例如是由SDRAM等构成的缓存，是暂时存储从CDS/ADC部124输出的RAW数据的存储器装置。图像处理部118是如下的电路：读出暂时存储器117中存储的RAW数据或存储介质部119中存储的RAW数据，根据由控制部113指定的画质参数，以电气的方式进行包含畸变校正的各种图像处理。

存储介质部119以拆装自如的方式装配例如由闪存等构成的卡型或盘型存储介质，在这些闪存中记录并保持从暂时存储器117转送的RAW数据和图像处理部118中进行图像处理后的图像数据。

显示部120由液晶显示监视器等构成，显示所拍摄的RAW数据、图像数据和操作菜单等。在设定信息存储器部121中具有预先存储各种画质参数的ROM部、以及存储通过操作部112的输入操作而从ROM部中读出的画质参数的RAM部。

这样构成的数字照相机80通过采用本发明的图像抖动校正装置作为拍摄光学***141，能够成为小型且适用于动态图像摄像的摄像装置。

另外，本发明不限于这些实施方式，适当组合各个实施方式的结构而构成的实施方式也属于本发明的范畴。

以上说明了本发明的某个形式的实施方式，但是，本发明不限于这些实施方式，适当组合各个实施方式的结构而构成的实施方式也属于本发明的范畴。

标号说明

1：图像抖动校正装置(位置控制装置)；10：基台部；11：基台主体；12a、12b：贯通支承孔；13a、13b：第1弹簧支承部；15a、15b：螺旋弹簧；20：第1永久磁铁群(永久磁铁)；21：第1磁铁部；22：第2磁铁部；23：第3磁铁部；24：第4磁铁部；25：第5磁铁部；30：可动部；31：可动主体；32：线圈收纳部；33a、33b：第2弹簧支承部；34：挠性缆线；35：连接器；36：摄像元件；37：滤波器群；37a：超声波滤波器；37b：红外线截止滤波器；38：电气元件；381a、381b、381c：霍尔元件；382：温度传感器；40：线圈群；41：第1线圈；42：第2线圈；43：第3线圈；50：磁铁支承部；51：支承主体；52a、52b：贯通螺纹孔；60：第2永久磁铁群(永久磁铁)；61：第1对置磁铁部；62：第2对置磁铁部；63：第3对置磁铁部；64：第4对置磁铁部；65：第5对置磁铁部；70：音圈电机；71：第1X方向音圈电机(第1音圈电机)；72：第2X方向音圈电机(第1音圈电机)；73：Y方向音圈电机(第2音圈电机)；80：数字照相机(摄像装置)；81：照相机机身；82：镜头单元；83：外装体；84：安装部；85：面板显示窗；86：液晶面板；87：热靴；88：焦面快门；89：摄像单元；90：三脚架螺旋部；91：电池；92：电池收纳室；101a：第1空间(切口)；101b：第2空间(切口)；102a：第3空间(切口)；102b：第4空间(切口)；112：操作部；113：控制部；114、115：总线；116：摄像驱动电路；117：暂时存储器；118：图像处理部；119：存储介质；120：显示部；121：设定信息存储器部；122：总线；124：CDS/ADC部；141：拍摄光学***；201：驱动指示输入部；202：运算部；203：驱动控制部；204：位置校正部；205：直线性校正部；300：驱动部；301：电机驱动器；302：VCM(音圈电机)；400：位置检测部；401：霍尔元件；402：放大器；403：A/D；500：温度检测部；501：温度传感器；502：A/D。

Claims (3)

1.一种位置检测装置，其特征在于，该位置检测装置具有：

基台部；

可动部，其能够相对于所述基台部进行相对移动；

位置检测部，其与所述可动部连接，根据所输入的磁通的变化来检测所述可动部相对于所述基台部的水平方向或者垂直方向的位置，输出第1位置信息；以及

温度检测部，其检测周围温度，

其特征在于，所述位置检测装置还具有：

位置校正部，其在所述可动部在水平以及垂直方向进行相对移动的位置范围内根据所述第1位置信息与规定值的差分以及所述周围温度与基准温度的差分，基于下述式(1)针对所述第1位置信息进行校正运算，输出第2位置信息；以及

直线性校正部，其针对所述第2位置信息，进一步进行位置检测部的非直线特性的校正，输出第3位置信息，

所述位置检测部在所述可动部相对于所述基台部在水平以及垂直方向进行相对移动的范围内，包含所述磁通的变化相对于所述相对移动的移动量的变化呈非线性变化的位置区域在内而检测第1位置信息，

Y＝X-A*(X-B)*(T-C) …(1)

其中，

X为位置检测部输出的第1位置信息，

A为基于温度特性的系数，

B为基于位置检测部的基准电压的值，

C为基于基准温度的值，

T为周围温度，

Y为校正后输出的第2位置信息。

2.根据权利要求1所述的位置检测装置，其特征在于，

所述位置检测部使用霍尔元件检测所述第1位置信息。

3.一种位置控制装置，其特征在于，该位置控制装置具有：

权利要求1所述的位置检测装置；

驱动部，其通过对所述可动部施加驱动力而使所述可动部移动；以及

控制部，其根据由所述位置检测装置中的直线性校正部校正后输出的所述第3位置信息对所述驱动部的驱动力进行控制。