CN103454575B - 用于实现pcba板测试的***、pcba板及方法 - Google Patents

用于实现pcba板测试的***、pcba板及方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种用于实现PCBA板测试的PCBA板，与一显示装置通过信号连接线电性连接，PCBA板设置多个功能电路和至少一个可编程芯片，还包括CPU和测试单元。CPU用于预先加载一完整***程序中的测试程序，完整***程序为装载PCBA板的装置运行的***程序，测试单元用于执行测试程序以对PCBA板的功能电路及可编程芯片进行测试，以CPU还用于根据PCBA板的各个功能电路和可编程芯片反馈的测试结果判断各个功能电路及可编程芯片是否合格，还根据判断结果产生并发送相应的控制信号，以触发显示装置响应控制信号显示测试结果。本发明还提供一种相应的***和方法，本发明通过将测试程序预先加载至PCBA板以进行自动测试并显示测试提示信息，从而提高PCBA板的测试速度及测试效率。

Description

用于实现PCBA板测试的***、PCBA板及方法
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种用于实现PCBA板测试的***、PCBA板以及方法。
背景技术
随着电子工业自动化的快速发展，大量的各种各样的可编程芯片诞生了。PCBA（PrintedCircuitBoardAssembly）也就是PCB空板，经过SMT（表面贴装技术）上件，再经过DIP插件的整个制程。目前关于PCBA的检测方式还停留在人工检测阶段。大部分代工厂使用的检测方案如下：PCBA经过SMT流程之后先组装成整机，然后烧写完整的Android固件至PCBA，送往质检部门将整机开机并按照各项功能逐步进行人工测试。如果在测试过程中发现某一项或者几项功能出现异常，则将有异常的整机反馈至工程部门进行问题排查和修复，再次送往质检部门检查。直到通过检测后，将装配有PCBA的整机包装入库。然而，使用人工手动作业，检验速度慢。而且随着Android***的更新，Android固件也变的越来越大，烧写全部固件到整机中以及进入检测模式需要长时间的等待，严重影响生产效率。进一步地，由于Android***的复杂性，一台Android整机可能包含多个功能模块，整个测试过程也需要大量时间，如果在测试过程中发现问题还需要重新拆机进行问题定位及返修，生产效率十分低下。因此，现有技术对PCBA的测试存在测试成本高，测试流程繁琐等问题，已经限制了电子通讯产品的生产效率，不能符合技术发展的需求。
发明内容
本发明所要解决的技术问题，在于提供一种用于实现PCBA板测试的***、PCBA板以及方法，实现PCBA功能检测的自动化，从而提高测试效率，节省人力成本。
为实现上述发明目的，本发明提供一种用于实现PCBA板测试的PCBA板，与一显示装置通过信号连接线电性连接，该PCBA板设置多个功能电路和至少一个可编程芯片，还包括CPU和测试单元。该CPU用于预先加载一完整***程序中的测试程序，该完整***程序为装载该PCBA板的装置运行的***程序，该测试单元用于执行该测试程序以对该PCBA板的功能电路及可编程芯片进行测试，以该CPU还用于根据该PCBA板的各个功能电路和可编程芯片反馈的测试结果判断各个功能电路及可编程芯片是否合格，还根据判断结果产生并发送相应的控制信号，以触发该显示装置响应该控制信号显示该测试结果。
进一步地，为实现上述发明目的，本发明还提供一种用于实现PCBA板测试的***，包括至少一待测试的PCBA板以及与该PCBA板通过信号连接线电性连接的显示装置，该PCBA板设置多个功能电路和至少一个可编程芯片，还包括CPU和测试单元。该CPU用于预先加载一完整***程序中的测试程序，该完整***程序为装载该PCBA板的装置运行的***程序，该测试单元用于执行该测试程序以对该PCBA板的功能电路及可编程芯片进行测试，以该CPU还用于根据该PCBA板的各个功能电路和可编程芯片反馈的测试结果判断各个功能电路及可编程芯片是否合格，还根据判断结果产生并发送相应的控制信号，该显示装置响应该控制信号显示该测试结果。
进一步地，为实现上述发明目的，本发明还提供一种用于实现PCBA板测试的方法，该PCBA板设置多个功能电路和至少一个可编程芯片，该方法包括：
加载一完整***程序中的测试程序至该PCBA板，该完整***程序为装载该PCBA板的装置运行的***程序。
执行该测试程序以对该PCBA板的功能电路及可编程芯片进行测试，并反馈对该PCBA板的各个功能电路及可编程芯片的测试结果。以及
控制一显示装置显示该测试结果。
本发明提供的一种用于实现PCBA板测试的***、PCBA板以及方法，通预先在待测试的PCBA板上加载完整***程序中的测试程序，并由PCBA板的CPU执行该测试程序对该PCBA板进行自动测试，并当确定测试结果合格时直接将该完整***程序烧录至PCBA板，无需在PCBA板烧录完整***程序之后进行测试，从而提高测试速度及测试效率。
附图说明
图1为本发明具体实施方式中的用于实现PCBA板测试的***的框架图；
图2为本发明具体实施方式中的用于实现PCBA板测试的方法流程图。
标号说明：
***10
PCBA板20
CPU21
测试单元22
烧录单元23
显示装置30
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。
如图1所示，为本发明具体实施方式中的用于实现PCBA板测试的***的框架图，该***10包括至少一待测试的PCBA板20以及一显示装置30。在本实施方式中，该PCBA板20包括多个功能电路以及至少一个可编程芯片。该显示装置30通过信号连接线与该PCBA板20电性连接，在本实施方式中，该显示装置30可以为液晶显示面板、LCD显示面板或其他显示面板。
该PCBA板20包括CPU21、测试单元22以及烧录单元23。其中，该CPU21、测试单元22以及烧录单元23以集成电路或芯片的形式设置于该PCBA板20上。该CPU21用于获取完整***程序中的测试程序并调用测试单元22执行该测试程序对该PCBA板20的功能电路和可编程芯片进行测试，该待测试的PCBA板20预先加载该完整***程序中的测试程序，其中，该完整***程序为装载该PCBA板20的装置运行的***程序，如windows***、android***等，该测试程序为recovery模块。在本实施方式中，该完整***程序预先存储在一存储设备（图未示）中，该PCBA板20与该存储设备连接时该CPU21直接从该存储设备中获取测试程序。其中，该存储设备可以是一热插拔式存储设备，例如，SD卡、移动硬盘等。该CPU21具有上电复位后能自动从存储设备中获取相关程序并执行启动的功能。
具体地，该测试单元22执行测试程序以使该PCBA板20在内存中运行recovery模式，并根据预先配置的参照测试结果对该PCBA板20的功能电路和可编程芯片进行自动测试。其中，该参照测试结果为各个合格的功能电路及可编程芯片在分别输入测试数据时的输出数据，以此判断各个功能电路及可编程芯片是否合格。该CPU21通过比对参照测试结果以及对各个功能电路及可编程芯片在输入测试数据时反馈的实际输出判断各个功能电路及可编程芯片是否合格，并根据判断结果产生相应的控制信号。具体地，在判断任一功能电路及可编程芯片测试合格时该CPU21产生第一控制信号，否则产生第二控制信号。
该显示装置30响应由CPU21产生的控制信号在其显示屏幕上显示测试结果。具体地，该显示装置30响应第一控制信号显示PCBA板20测试合格的提示信息，响应第二控制信号显示PCBA板20测试不合格的提示信息。其中，该提示信息可以包括合格/不合格的功能电路及可编程芯片的测试信息。例如，测试通过的项目用绿色信息打印显示，测试失败的项目用红色信息打印显示。测试人员根据显示的打印信息将测试失败的PCBA板20返回工程部门维修。
在本实施方式中，当确定该PCBA板20测试合格时，该CPU21还用于获取该完整***程序，并调用该烧录单元23将该完整***程序烧录至该PCBA板20上。其中，该烧录单元23将该完整***程序烧录至该PCBA板20的固态存储设备中，例如nandflash。
请参阅图2，为本发明用于实现PCBA板测试的方法流程图，其中PCBA板20包括多个功能电路以及至少一个可编程芯片。该方法包括以下步骤：
步骤S40，该PCBA板20预先加载完整***程序中的测试程序，其中，该完整***程序为装载该PCBA板20的装置运行的***程序，如windows***、android***等，该测试程序为recovery模块。在本实施方式中，该完整***程序预先存储在一存储设备（图未示）中，该PCBA板20与该存储设备连接时该CPU21直接从该存储设备中获取测试程序。
其中，该存储设备可以是一热插拔式存储设备，例如，SD卡、移动硬盘等。该CPU21具有上电复位后能自动从存储设备中获取相关程序并执行启动的功能。
步骤S41，该测试单元22执行该测试程序对该PCBA板20的功能电路及可编程芯片进行测试，该CPU21根据反馈的测试结果判断各个功能电路及可编程芯片是否合格，若是，则步骤进入S42，否则，进入步骤S44。
具体地，该测试单元22执行测试程序以使该PCBA板20在内存中运行recovery模式，并根据预先配置的参照测试结果对该PCBA板20的功能电路和可编程芯片进行自动测试。其中，该参照测试结果为各个合格的功能电路及可编程芯片在分别输入测试数据时的输出数据，以此判断各个功能电路及可编程芯片是否合格。该CPU21通过比对参照测试结果以及对各个功能电路及可编程芯片在输入测试数据时反馈的实际输出判断各个功能电路及可编程芯片是否合格，并根据判断结果产生相应的控制信号。
步骤S42，该CPU21产生第一控制信号，该显示装置30响应第一控制信号显示PCBA板20测试合格的提示信息。
步骤S43，该CPU21获取该完整***程序，并调用该烧录单元23将该完整***程序烧录至该PCBA板20上。其中，该烧录单元23将该完整***程序烧录至该PCBA板20的固态存储设备中，例如nandflash。然后，流程结束。
步骤S44，该CPU21产生第二控制信号，该显示装置30响应第二控制信号显示PCBA板20测试不合格的提示信息。然后，流程结束。
该提示信息可以包括合格/不合格的功能电路及可编程芯片的测试信息。例如，测试通过的项目用绿色信息打印显示，测试失败的项目用红色信息打印显示。测试人员根据显示的打印信息将测试失败的PCBA板20返回工程部门维修。
利用本发明提供的一种用于实现PCBA板测试的***、PCBA板以及方法，通预先在待测试的PCBA板上加载完整***程序中的测试程序，并由PCBA板的CPU执行该测试程序对该PCBA板进行自动测试，并当确定测试结果合格时直接将该完整***程序烧录至PCBA板，无需在PCBA板烧录完整***程序之后进行测试，从而提高测试速度及测试效率。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种用于实现PCBA板测试的PCBA板，与一显示装置通过信号连接线电性连接，所述PCBA板涉及多个功能电路和至少一个可编程芯片，还包括CPU和测试单元；其特征在于，所述CPU用于预先加载一完整***程序中的测试程序，所述完整***程序为装载所述PCBA板的装置运行的***程序，所述测试单元用于执行所述测试程序以对所述PCBA板的功能电路及可编程芯片进行测试，以所述CPU还用于根据所述PCBA板的各个功能电路和可编程芯片反馈的测试结果判断各个功能电路及可编程芯片是否合格，还根据判断结果产生并发送相应的控制信号，以触发所述显示装置响应所述控制信号显示所述测试结果。
2.如权利要求1所述的用于实现PCBA板测试的PCBA板，其特征在于，所述CPU还用于确定所述PCBA板的功能电路及可编程芯片测试合格时产生并发送第一控制信号，触发所述显示装置响应所述第一控制信号显示所述PCBA板测试合格的提示信息；
所述CPU还用于确定所述PCBA板任一功能电路及可编程芯片测试不合格时产生并发送第二控制信号，触发所述显示装置响应所述第二控制信号显示所述PCBA板测试不合格的提示信息。
3.如权利要求2所述的用于实现PCBA板测试的PCBA板，其特征在于，所述完整***程序存储于一存储设备中，当所述存储设备与所述PCBA板通过信号连接线电性连接时所述CPU从所述存储设备中获取所述测试程序。
4.如权利要求3所述的用于实现PCBA板测试的PCBA板，其特征在于，还包括烧录单元，当确定所述PCBA板的功能电路及可编程芯片测试合格时，所述CPU还用于从所述存储设备中获取所述完整***程序并调用所述烧录单元烧录所述完整***程序至所述PCBA板上。
5.如权利要求3所述的用于实现PCBA板测试的PCBA板，其特征在于，所述存储设备为一热插拔式存储设备。
6.一种用于实现PCBA板测试的***，包括至少一待测试的PCBA板以及与所述PCBA板通过信号连接线电性连接的显示装置，所述PCBA板涉及多个功能电路和至少一个可编程芯片，还包括CPU和测试单元；其特征在于，所述CPU用于预先加载一完整***程序中的测试程序，所述完整***程序为装载所述PCBA板的装置运行的***程序，所述测试单元用于执行所述测试程序以对所述PCBA板的功能电路及可编程芯片进行测试，以所述CPU还用于根据所述PCBA板的各个功能电路和可编程芯片反馈的测试结果判断各个功能电路及可编程芯片是否合格，还根据判断结果产生并发送相应的控制信号；所述显示装置响应所述控制信号显示所述测试结果。
7.一种用于实现PCBA板测试的方法，所述PCBA板设置多个功能电路和至少一个可编程芯片，其特征在于，所述方法包括：
加载一完整***程序中的测试程序至所述PCBA板，所述完整***程序为装载所述PCBA板的装置运行的***程序；
执行所述测试程序以对所述PCBA板的功能电路及可编程芯片进行测试，并反馈对所述PCBA板的各个功能电路及可编程芯片的测试结果；以及
控制一显示装置显示所述测试结果。
8.如权利要求7所述的用于实现PCBA板测试的方法，其特征在于，还包括：
当确定所述PCBA板的功能电路及可编程芯片测试合格时控制所述显示装置显示所述PCBA板测试合格的提示信息；以及当所述测试装置确定所述PCBA板任一功能电路及可编程芯片测试不合格时控制所述显示装置显示所述PCBA板测试不合格的提示信息。
9.如权利要求8所述的用于实现PCBA板测试的方法，其特征在于，所述“加载一完整***程序中的测试程序至所述PCBA板”包括：
将一存储设备与所述PCBA板连接，其中，所述完整***程序存储在所述存储设备中；以及
获取所述存储设备中存储的所述测试程序。
10.如权利要求9所述的用于实现PCBA板测试的方法，其特征在于，当确定所述PCBA板的功能电路及可编程芯片测试合格时，还包括：
从所述存储设备中获取所述完整***程序并烧录所述完整***程序至所述PCBA板上。
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