CN111610427A - 一种成品测试方法、电路板测试方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种成品测试方法、电路板测试方法及装置,其中,成品测试方法包括:利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试;在待测成品合格时,向合格的待测成品发送恢复指令,以使合格的待测成品利用待测电路板的外部存储器中预先烧录的正式固件对控制器中的测试固件进行替换。因此,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
Description
技术领域
本申请涉及电路测试领域,具体而言,涉及一种成品测试方法、电路板测试方法及装置。
背景技术
电子产品在投放到市场上进行销售之前,需要完成一系列的测试。现有的测试过程包括在正式固件上做一个测试模式,或者在测试时烧录测试固件并在测试完成后烧录正式固件。但是,采用在正式固件中包含测试模式的做法,占用了程序空间,增加了硬件成本;采用在测试完成后烧录正式固件,需要对成品进行二次烧录,在成品没有预留通信接口时无法实现,即使成品预留有通信接口,也因为需要多次烧录而造成效率较低。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种成品测试方法、电路板测试方法及装置,用以解决在对电子产品进行测试时成本较高以及效率较低的技术问题。
为了实现上述目的,本申请实施例所提供的技术方案如下所示:
第一方面,本申请实施例提供一种成品测试方法,包括:利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试;其中,所述待测成品包括封装的所述待测电路板;在所述待测成品合格时,向所述合格的待测成品发送恢复指令,以使所述合格的待测成品利用所述待测电路板的外部存储器中预先烧录的正式固件对所述控制器中的所述测试固件进行替换。因此,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
在本申请的可选实施例中,在所述利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试之前,所述成品测试方法还包括:获取所述待测成品的唯一序列号,并将所述唯一序列号发送给服务器;其中,所述待测成品的唯一序列号为所述待测电路板对应的唯一序列号;接收所述服务器根据所述唯一序列号返回的对应的MAC地址;其中,所述MAC地址为所述待测成品封装的电路板对应的MAC地址,且每个电路板的MAC地址绑定一个唯一序列号;将所述唯一序列号以及所述MAC地址发送给基站,以使所述基站根据所述唯一序列号以及所述MAC地址与所述待测成品进行连接,并将所述唯一序列号发送给所述待测成品;接收所述待测成品发送的匹配信息;其中,所述匹配信息表征所述待测成品接收到的所述唯一序列号与存储的唯一序列号匹配。因此,在对待测成品进行测试之前,可以首先获取待测成品的唯一序列号,以及该唯一序列号对应的MAC地址。然后,基站根据上述MAC地址与对应的待测成品连接,连接后的待测成品判断基站发送的唯一序列号与自身存储的唯一序列号是否匹配,若匹配,则说明连接无误,可以对该待测成品进行测试。其中,由于一个唯一序列号分别与一个电路板以及一个成品对应,因此电路板的测试结果以及成品的测试结果可以对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
在本申请的可选实施例中,所述利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试,包括:获取所述待测成品的测试列表;根据所述测试列表向所述待测成品发送测试指令;接收根据所述测试指令返回的测试数据;获取所述待测成品的评判标准;根据所述测试数据以及所述评判标准判断所述待测成品是否合格,得到对应的测试结果;在所述待测成品合格时,将所述测试数据以及所述测试结果发送给服务器。因此,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测成品进行测试,在待测成品合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
在本申请的可选实施例中,在所述接收根据所述测试指令返回的测试数据之前,所述成品测试方法还包括:控制机械手对所述待测成品执行操作,并控制摄像头采集所述待测成品的图像;所述接收根据所述测试指令返回的测试数据,包括:接收所述摄像头采集的所述图像。因此,可以控制机械手模拟用户的行为对待测成品进行测试,从而保证只有合格的待测成品可以投入市场,保障用户的使用体验。
在本申请的可选实施例中,所述接收根据所述测试指令返回的测试数据,包括:接收所述待测成品在执行操作后返回的测试数据。
第二方面,本申请实施例提供另一种成品测试方法,包括:接收控制模块发送的待测成品的唯一序列号;其中,所述待测成品的唯一序列号为所述待测成品封装的合格的待测电路板对应的唯一序列号;根据所述唯一序列号向所述控制模块返回对应的MAC地址;其中,所述MAC地址为所述待测电路板对应的MAC地址,每个所述待测电路板的所述MAC地址绑定一个所述唯一序列号。因此,在对待测成品进行测试之前,可以首先根据待测成品的唯一序列号获取与该唯一序列号对应的MAC地址。然后,基站根据上述MAC地址与对应的待测成品连接,连接后的待测成品判断基站发送的唯一序列号与自身存储的唯一序列号是否匹配,若匹配,则说明连接无误,可以对该待测成品进行测试。其中,由于一个唯一序列号分别与一个电路板以及一个成品对应,因此电路板的测试结果以及成品的测试结果可以对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
在本申请的可选实施例中,所述成品测试方法还包括:获取所述待测成品的测试列表以及所述待测成品的评判标准;将所述测试列表以及所述评判标准发送给所述控制模块。因此,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测成品进行测试,在待测成品合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
第三方面,本申请实施例提供一种电路板测试方法,包括:获取正式固件以及测试固件;控制烧录器将所述正式固件烧录到待测电路板的外部存储器中,以及控制所述烧录器将将所述测试固件烧录到所述待测电路板的控制器中;利用所述控制器中的所述测试固件对所述待测电路板进行测试。因此,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
在本申请的可选实施例中,在所述利用所述控制器中的所述测试固件对所述待测电路板进行测试之前,所述电路板测试方法还包括:获取所述待测电路板的MAC地址;接收服务器分配的与所述待测电路板预绑定的唯一序列号;将所述MAC地址以及所述唯一序列号发送给基站,以使所述基站根据所述MAC地址与所述待测电路板连接;接收所述待测电路板发送的表征所述基站与所述待测电路板连接成功的确认信息;根据所述确认信息向所述服务器发送预绑定成功信息,以使所述服务器将所述MAC地址与所述唯一序列号绑定。因此,在对待测电路板进行测试之前,可以首先获取该待测电路板的MAC地址,然后分配一个唯一序列号与该待测电路板的MAC地址绑定,从而使得在成品测试阶段,成品的测试结果可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
在本申请的可选实施例中,所述利用所述控制器中的所述测试固件对所述待测电路板进行测试,包括:获取所述待测电路板的测试列表;根据所述测试列表向所述待测电路板发送测试指令;接收根据所述测试指令返回的测试数据;获取所述待测电路板的评判标准;根据所述测试数据以及所述评判标准判断所述待测电路板是否合格,得到对应的测试结果;在所述待测电路板合格时,将所述测试数据以及所述测试结果发送给服务器。因此,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测电路板进行测试,在待测电路板合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与成品的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
在本申请的可选实施例中,在所述接收根据所述测试指令返回的测试数据之前,所述电路板测试方法还包括:控制电气参数测量模块对所述待测电路板进行测量;所述接收根据所述测试指令返回的测试数据,包括:接收所述电器参数测量模块进行测量的测试数据。
在本申请的可选实施例中,所述接收根据所述测试指令返回的测试数据,包括:接收所述待测电路板读取测量传感器的数据后返回的测试数据。
第四方面,本申请实施例提供另一种电路板测试方法,包括:将正式固件以及测试固件发送给控制模块。因此,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
在本申请的可选实施例中,所述电路板测试方法还包括:生成预设数量的唯一序列号;接收待测电路板的MAC地址,并分配一个唯一序列号与所述待测电路板预绑定;将所述唯一序列号发送给所述控制模块;接收所述控制模块发送的绑定成功信息;其中,所述绑定成功信息用于表征所述MAC地址与所述唯一序列号绑定成功;将所述MAC地址与所述唯一序列号的状态从预绑定状态更新为绑定状态,以使所述待测电路板通过所述MAC地址以及所述唯一序列号与待测成品通过所述MAC地址以及所述唯一序列号对应。因此,在对待测电路板进行测试之前,可以首先分配一个唯一序列号与该待测电路板的MAC地址绑定,从而使得在成品测试阶段,成品的测试结果可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
在本申请的可选实施例中,所述电路板测试方法还包括:获取所述待测电路板的测试列表以及所述待测电路板的评判标准;将所述测试列表以及所述评判标准发送给所述控制模块。因此,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测电路板进行测试,在待测电路板合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与成品的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
第五方面,本申请实施例提供一种成品测试装置,包括:第一测试模块,用于利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试;其中,所述待测成品包括封装的所述待测电路板;第一发送模块,用于在所述待测成品合格时,向所述合格的待测成品发送恢复指令,以使所述合格的待测成品利用所述待测电路板的外部存储器中预先烧录的正式固件对所述控制器中的所述测试固件进行替换。因此,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
在本申请的可选实施例中,所述成品测试装置还包括:第二获取模块,用于获取所述待测成品的唯一序列号,并将所述唯一序列号发送给服务器;其中,所述待测成品的唯一序列号为所述待测电路板对应的唯一序列号;第二接收模块,用于接收所述服务器根据所述唯一序列号返回的对应的MAC地址;其中,所述MAC地址为所述待测成品封装的电路板对应的MAC地址,且每个电路板的MAC地址绑定一个唯一序列号;第三发送模块,用于将所述唯一序列号以及所述MAC地址发送给基站,以使所述基站根据所述唯一序列号以及所述MAC地址与所述待测成品进行连接,并将所述唯一序列号发送给所述待测成品;第三接收模块,用于接收所述待测成品发送的匹配信息;其中,所述匹配信息表征所述待测成品接收到的所述唯一序列号与存储的唯一序列号匹配。因此,在对待测成品进行测试之前,可以首先获取待测成品的唯一序列号,以及该唯一序列号对应的MAC地址。然后,基站根据上述MAC地址与对应的待测成品连接,连接后的待测成品判断基站发送的唯一序列号与自身存储的唯一序列号是否匹配,若匹配,则说明连接无误,可以对该待测成品进行测试。其中,由于一个唯一序列号分别与一个电路板以及一个成品对应,因此电路板的测试结果以及成品的测试结果可以对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
在本申请的可选实施例中,所述第一测试模块还用于:获取所述待测成品的测试列表;根据所述测试列表向所述待测成品发送测试指令;接收根据所述测试指令返回的测试数据;获取所述待测成品的评判标准;根据所述测试数据以及所述评判标准判断所述待测成品是否合格,得到对应的测试结果;在所述待测成品合格时,将所述测试数据以及所述测试结果发送给服务器。因此,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测成品进行测试,在待测成品合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
在本申请的可选实施例中,所述成品测试装置还包括:第一控制模块,用于控制机械手对所述待测成品执行操作,并控制摄像头采集所述待测成品的图像;述第一测试模块还用于:接收所述摄像头采集的所述图像。因此,可以控制机械手模拟用户的行为对待测成品进行测试,从而保证只有合格的待测成品可以投入市场,保障用户的使用体验。
在本申请的可选实施例中,所述第一测试模块还用于:接收所述待测成品在执行操作后返回的测试数据。
第六方面,本申请实施例提供另一种成品测试装置,包括:第一接收模块,用于接收控制模块发送的待测成品的唯一序列号;其中,所述待测成品的唯一序列号为所述待测成品封装的合格的待测电路板对应的唯一序列号;返回模块,用于根据所述唯一序列号向所述控制模块返回对应的MAC地址;其中,所述MAC地址为所述待测电路板对应的MAC地址,每个所述待测电路板的所述MAC地址绑定一个所述唯一序列号。因此,在对待测成品进行测试之前,可以首先根据待测成品的唯一序列号获取与该唯一序列号对应的MAC地址。然后,基站根据上述MAC地址与对应的待测成品连接,连接后的待测成品判断基站发送的唯一序列号与自身存储的唯一序列号是否匹配,若匹配,则说明连接无误,可以对该待测成品进行测试。其中,由于一个唯一序列号分别与一个电路板以及一个成品对应,因此电路板的测试结果以及成品的测试结果可以对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
在本申请的可选实施例中,所述成品测试装置还包括:第三获取模块,用于获取所述待测成品的测试列表以及所述待测成品的评判标准;第四发送模块,用于将所述测试列表以及所述评判标准发送给所述控制模块。因此,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测成品进行测试,在待测成品合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
第七方面,本申请实施例提供一种电路板测试装置,包括:第一获取模块,用于获取正式固件以及测试固件;烧录模块,用于控制烧录器将所述正式固件烧录到待测电路板的外部存储器中,以及控制所述烧录器将将所述测试固件烧录到所述待测电路板的控制器中;第二测试模块,用于利用所述控制器中的所述测试固件对所述待测电路板进行测试。因此,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
在本申请的可选实施例中,所述电路板测试装置还包括:第四获取模块,用于获取所述待测电路板的MAC地址;第四接收模块,用于接收服务器分配的与所述待测电路板预绑定的唯一序列号;第五发送模块,用于将所述MAC地址以及所述唯一序列号发送给基站,以使所述基站根据所述MAC地址与所述待测电路板连接;第五接收模块,用于接收所述待测电路板发送的表征所述基站与所述待测电路板连接成功的确认信息;第六发送模块,用于根据所述确认信息向所述服务器发送预绑定成功信息,以使所述服务器将所述MAC地址与所述唯一序列号绑定。因此,在对待测电路板进行测试之前,可以首先获取该待测电路板的MAC地址,然后分配一个唯一序列号与该待测电路板的MAC地址绑定,从而使得在成品测试阶段,成品的测试结果可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
在本申请的可选实施例中,所述第二测试模块还用于:获取所述待测电路板的测试列表;根据所述测试列表向所述待测电路板发送测试指令;接收根据所述测试指令返回的测试数据;获取所述待测电路板的评判标准;根据所述测试数据以及所述评判标准判断所述待测电路板是否合格,得到对应的测试结果;在所述待测电路板合格时,将所述测试数据以及所述测试结果发送给服务器。因此,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测电路板进行测试,在待测电路板合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与成品的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
在本申请的可选实施例中,所述电路板测试装置还包括:第二控制模块,用于控制电气参数测量模块对所述待测电路板进行测量;所述第二测试模块还用于:接收所述电器参数测量模块进行测量的测试数据。
在本申请的可选实施例中,所述第二测试模块还用于:接收所述待测电路板读取测量传感器的数据后返回的测试数据。
第八方面,本申请实施例提供另一种电路板测试装置,包括:第二发送模块,用于将正式固件以及测试固件发送给控制模块。因此,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
在本申请的可选实施例中,所述电路板测试装置还包括:生成模块,用于生成预设数量的唯一序列号;第六接收模块,用于接收待测电路板的MAC地址,并分配一个唯一序列号与所述待测电路板预绑定;第七发送模块,用于将所述唯一序列号发送给所述控制模块;第七接收模块,用于接收所述控制模块发送的绑定成功信息;其中,所述绑定成功信息用于表征所述MAC地址与所述唯一序列号绑定成功;更新模块,用于将所述MAC地址与所述唯一序列号的状态从预绑定状态更新为绑定状态,以使所述待测电路板通过所述MAC地址以及所述唯一序列号与待测成品通过所述MAC地址以及所述唯一序列号对应。因此,在对待测电路板进行测试之前,可以首先分配一个唯一序列号与该待测电路板的MAC地址绑定,从而使得在成品测试阶段,成品的测试结果可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
在本申请的可选实施例中,所述电路板测试装置还包括:第五获取模块,用于获取所述待测电路板的测试列表以及所述待测电路板的评判标准;第八发送模块,用于将所述测试列表以及所述评判标准发送给所述控制模块。因此,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测电路板进行测试,在待测电路板合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与成品的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
第九方面,本申请实施例提供一种成品测试***,包括:服务器、控制模块、机械手、摄像头、基站以及待测成品;所述控制模块与所述服务器、所述机械手、所述摄像头以及所述基站连接,所述控制模块用于执行如第一方面所述的成品测试方法,所述服务器用于执行如第二方面所述的成品测试方法;所述待测成品与所述机械手、所述摄像头以及所述基站连接。
第十方面,本申请实施例提供一种电路板测试***,包括:服务器、控制模块、电气参数测量模块、烧录器、基站以及待测电路板;所述控制模块与所述服务器、所述电气参数测量模块、所述烧录器以及所述基站连接,所述控制模块用于执行如第三方面所述的电路板测试方法,所述服务器用于执行如第四方面所述的电路板测试方法;所述待测电路板与所述电气参数测量模块、烧录器以及基站连接。
第十一方面,本申请实施例提供一种电子设备,包括:处理器、存储器和总线;所述处理器和所述存储器通过所述总线完成相互间的通信;所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令,所述处理器调用所述程序指令能够执行如第一方面、第二方面中的成品测试方法以及第三方面、第四方面中的电路板测试方法。
第十二方面,本申请实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质,所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令,所述计算机指令使所述计算机执行如第一方面、第二方面中的成品测试方法以及第三方面、第四方面中的电路板测试方法。
为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举本申请实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本申请的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的一种电路板测试***的结构框图;
图2为本申请实施例提供的一种成品测试***的结构框图;
图3为本申请实施例提供的一种电路板测试方法的流程图;
图4为本申请实施例提供的另一种电路板测试方法的流程图;
图5为本申请实施例提供的对待测电路板进行测试过程的流程图;
图6为本申请实施例提供的一种成品测试方法的流程图;
图7为本申请实施例提供的另一种成品测试方法的流程图;
图8为本申请实施例提供的对待测成品进行测试过程的流程图;
图9为本申请实施例提供的一种成品测试装置的结构框图;
图10为本申请实施例提供的另一种成品测试装置的结构框图;
图11为本申请实施例提供的一种电路板测试装置的结构框图;
图12为本申请实施例提供的另一种电路板测试装置的结构框图;
图13为本申请实施例提供的一种电子设备的结构框图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行描述。
电子产品在生产的过程中,通常需要在生产线上完成一系列的测试才可以投放到市场上进行销售。而测试时间的长短关系到生产成本,测试的全面性关系到产品质量,产品质量又严重影响着市场口碑和售后费用,因此,在对电子产品进行投放前进行测试显得尤为重要。
而电子产品中很重要的一个部件便是由印刷电路板组装(Printed CircuitBoard Assembly,PCBA)工艺制成的含通信功能的电路板,因此,在电子产品进行投放之前,需要对电路板以及封装有电路板的成品均进行测试。在对电路板以及成品进行测试时,均需要利用测试固件对其进行测试,而在测试完成之后,成品中需要有正式固件用于成品的正常使用。
现有做法一般是在正式固件上做一个测试模式,在生产的时候通过特殊操作进入一个测试模式,生产工人在测试模式下对产品完成测试,并记录结果。另外一种做法是单独做一个测试固件,生产的时候先烧录测试固件,通过有线连接的方式(例如:串口),测试夹具通过串口发送测试命令,设备返回测试结果,测试完成后再烧录正式固件。
但是,在正式固件中包含测试模式的做法,一个明显的缺点是占用了程序空间,往往需要采用程序空间更大的芯片,无形中增加了硬件成本;且使用人工测试的方式对生产成本是一个很大的负担,而且人工判断存在明显漏洞,员工不认真,记录出错等都会引起漏检、错检的情况出现,而且不方便对测试数据进行汇总统计。通过有线测试并且二次烧录的方法只适合于有预留通信接口的设备,对于那些防水要求等级比较高或者要求美观的产品,是很难预留通信接口用来测试和固件升级的,并且二次烧录也会降低测试过程的效率。
基于上述分析,本申请实施例提供一种电路板测试***以及一种成品测试***,其中,电路板测试***用于对待测电路板进行测试,成品测试***用于对待测成品进行测试。在上述电路板测试***中,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
请参照图1,图1为本申请实施例提供的一种电路板测试***的结构框图,该电路板测试***100可以包括:服务器101、控制模块102、电气参数测量模块103、烧录器104、基站105以及待测电路板106;控制模块102与服务器101、电气参数测量模块103、烧录器104以及基站105连接,服务器101以及控制模块102用于执行本申请实施例提供的电路板测试方法(该电路板测试方法的具体实施方式将在后续实施例中进行详细的介绍);待测电路板106与电气参数测量模块103、烧录器104以及基站105连接。
具体的,服务器101可以通过有线或者无线网络与控制模块102连接,本申请实施例对服务器101与控制模块102的连接方式不作具体的限定。服务器101可以管理烧录到待测电路板106上的烧录文件,以及记录待测电路板106的测试数据;服务器101还负责生成多个唯一序列号,并将某一唯一序列号与待测电路板106的媒体存取控制(Media AccessControl,MAC)地址进行关联。
控制模块102可以是安装专用软件的通用计算机或者是专用的嵌入式平台,本申请实施例对此不作具体的限定。控制模块102主要的工作包括:第一,从服务器101获取烧录文件,包括待测电路板106中控制器以及外部存储器所需要预烧录的文件,其中,控制器烧录的为测试专用的测试固件,外部存储器烧录的是产品出厂的正式固件和正式固件需要用到的一些资源文件。第二,控制烧录器104完成烧录工作,并通过烧录器104获取待测电路板106的MAC地址,并把MAC地址上传至服务器101。第三,控制电气参数测量模块103对待测电路板106进行电流和电压等测试,并把测试结果上传到服务器101。第四,把待测电路板106的MAC地址传给基站105,控制基站根据MAC地址通过无线连接点对点与待测电路板106进行无线通信。第五,通过基站105向待测电路板106发送测试控制指令,并接收返回结果进行结果判断,最后把测试结果及过程数据上传到服务器101。
需要说明的是,上述控制模块102的工作仅为本申请实施例提供的示例,控制模块102还可以根据实际情况执行其他操作。
电气参数测量模块103通过测试点与待测电路板106连接,主要负责给待测电路板106供电。此外,还可以在控制模块102通过基站105使得待测电路板106进入某些工作模式后,测量相应模式的电流或者某些测试点的电压。
烧录器104通过测试点与待测电路板106进行连接,把指定文件烧录到待测电路板106的控制器和外部存储器上。同时获取待测电路板106的MAC地址。其中,对于某些芯片是可以直接访问存放MAC地址的内存来获取MAC地址的,对于一些不能直接获取MAC地址的芯片,可以通过烧录到控制器的测试固件进行获取,然后把MAC地址写到指定的内存或者通过烧录接口把MAC地址返回给烧录器104。
基站105根据MAC地址,可以以无线连接的方式与待测电路板106进行连接,并用于发送测试指令和接收测试数据。此外,基站105还可以把唯一序列号传输给待测电路板106。
待测电路板106是待测成品没有组装外壳的形态,可以通过测试点跟外界进行有线通信。烧录器104可以通过测试点将测试固件烧录在待测电路板106的控制器中,并将正式固件烧录在待测电路板106的外部存储器中,从而降低硬件成本、提高测试效率、可以满足美观以及防水等目的。此外,待测电路板106的MAC地址可以是唯一的,也可以是随机的。其中,对于随机的MAC地址,虽然不同的待测电路板106的MAC地址可能重复,但是有了唯一序列号进行关联,就算MAC地址出现重复也不会引起***混乱。
请参照图2,图2为本申请实施例提供的一种成品测试***的结构框图,该成品测试***200可以包括:服务器201、控制模块202、机械手203、摄像头204、基站205以及待测成品206;控制模块202与服务器201、机械手203、摄像头204以及基站205连接,服务器201以及控制模块202用于执行本申请实施例提供的成品测试方法(该成品测试方法的具体实施方式将在后续实施例中进行详细的介绍);待测成品206与机械手203、摄像头204以及基站205连接。
具体的,成品测试***200中的服务器201与电路板测试***100中的服务器101的实现方式类似,可以通过有线或无线网络与控制模块202连接,负责保存设备信息及测试数据,此处不再赘述。需要说明的是,成品测试***200中的服务器201与电路板测试***100中的服务器101可以是同一个服务器,也可以是不同的服务器,本申请实施例对此不作具体的限定。其中,在是不同的服务器时,服务器101与服务器201中的数据可以进行实时的同步,以保证待测电路板106与待测成品206的测试结果对应。
控制模块202可以是安装专用软件的通用计算机或者是专用的嵌入式平台,主要工作可以包括:第一,控制机械手203模拟一些人为操作;第二,控制摄像头204进行拍照;第三,根据唯一序列号去服务器201获取对应的MAC地址,并把测试结果反馈给服务器201;第四,控制基站205连接待测成品206;第五,控制待测成品206利用外部存储器中的正式固件替换控制器中的测试固件。
需要说明的是,上述控制模块202的工作仅为本申请实施例提供的示例,控制模块202还可以根据实际情况执行其他操作。
机械手203负责改变待测成品206的放置位置,或者对成品206进行按键按压,触摸屏触摸等操作,以模拟用户的操作行为。
摄像头204负责扫描待测成品上的二维码,其中,二维码中可以包括待测成品对应的唯一序列号信息。此外,摄像头204还可以对待测成品206进行拍照,以根据拍摄的图像判断待测成品206是否合格。
成品测试***200中的基站205与电路板测试***100中的基站105的实现方式类似,可以根据MAC地址以无线连接的方式跟待测成品206进行连接,并发送测试指令和接收测试数据,此处不再赘述。
待测成品206是测试合格的待测电路板106集中组装成的。
作为一种实施方式,出于防水和美观的考虑,待测成品206在最终销售形态上可以不留有有线通信接口,而是通过无线通信的方式与其他设备进行通信,例如:以手环手表为代表的可穿戴设备等。此时,通过将正式固件预先烧录在待测电路板106的外部存储器中,待测成品206上即使不包含有线通信接口,也可以利用预先烧录的正式固件替换测试固件。
作为另一种实施方式,待测成品206可以为带有显示屏的产品,并内置电池供电。其中,在待测成品206开机时,其显示屏上可以显示一个包含唯一序列号等产品信息的二维码,摄像头204可以采集上述二维码的图像,并识别图像获得待测成品206的唯一序列号。
此外,在待测成品206的所有测试项目合格之后,待测成品206可以收到恢复正式固件的指令,成品将进入自动升级,把外部存储器存放的正式固件替换控制器的测试固件,替换完成的产品可以进入市场进行投放。
基于上述电路板测试***,本申请实施例还提供了一种电路板测试方法,用于对待测电路板进行测试。基于上述成品测试***,本申请实施例提供了一种成品测试方法,用于对待测成品进行测试。在上述电路板测试方法中,可以通过待测电路板上的有线通信接口预先将测试固件烧录在待测电路板的控制器中并将正式固件烧录在待测电路板的外部存储器中,从而在成品测试方法中,可以直接利用外部存储器中的正式固件替换控制器中的测试固件,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
下面将分别对电路板测试方法以及成品测试方法进行详细的介绍。
请参照图3,图3为本申请实施例提供的一种电路板测试方法的流程图,该电路板测试方式可以包括如下步骤:
步骤S301:服务器将正式固件以及测试固件发送给控制模块。
步骤S302:控制模块获取正式固件以及测试固件。
步骤S303:控制模块控制烧录器将正式固件烧录到待测电路板的外部存储器中,以及控制烧录器将将测试固件烧录到待测电路板的控制器中。
步骤S304:控制模块利用控制器中的测试固件对待测电路板进行测试。
具体的,在对电路板进行测试的过程中,现有技术中在正式固件中包含测试模式的方式,占用了程序空间,往往需要采用程序空间更大的芯片,无形中增加了硬件成本,而在本申请实施例中,针对最终成品的外部存储器大多数都会预留跟控制器程序空间容量相当的存储区域来进行固件升级,正好利用这部分空间来暂存正式固件,并不会额外增加外部存储器存储空间和控制器程序空间。
同时,对于那些防水要求等级比较高或者要求美观的产品,不会预留通信接口用来测试和固件升级,而在本申请实施例中,在电路板测试阶段预先烧录正式固件以及测试固件,从而在成品测试阶段,无需进行二次烧录。
本申请实施例中,控制模块可以获取需要烧录到待测电路板的外部存储器中的正式固件,并控制烧录器完成外部存储器的烧录;控制模块还可以获取需要烧录到待测电路板的控制器中的测试固件,并控制烧录器完成测试固件的烧录。其中,正式固件用于待测电路板的正常工作,测试固件用于对待测电路板进行测试。
可以理解的是,本申请实施例对烧录正式固件以及测试固件的顺序不作具体的限定,可以先烧录正式固件,也可以先烧录测试固件,还可以同时烧录正式固件以及测试固件。
在本申请实施例中,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
请参照图4,图4为本申请实施例提供的另一种电路板测试方法的流程图,在该电路板测试方法中,该电路板测试方式还可以包括如下步骤:
步骤S401:服务器生成预设数量的唯一序列号。
步骤S402:控制模块获取待测电路板的MAC地址。
步骤S403:服务器接收待测电路板的MAC地址,并分配一个唯一序列号与待测电路板预绑定。
步骤S404:服务器将唯一序列号发送给控制模块。
步骤S405:控制模块接收服务器分配的与待测电路板预绑定的唯一序列号。
步骤S406:控制模块将MAC地址以及唯一序列号发送给基站。
步骤S407:基站接收MAC地址以及唯一序列号,根据MAC地址与待测电路板连接,并将MAC地址以及唯一序列号发送给待测电路板。
步骤S408:待测电路板接收MAC地址以及唯一序列号,存储唯一序列号,并向控制模块发送表征基站与待测电路板连接成功的确认信息。
步骤S409:控制模块接收确认信息。
步骤S410:控制模块根据确认信息向服务器发送绑定成功信息。
步骤S411:服务器接收控制模块发送的绑定成功信息。
步骤S412:服务器将MAC地址与唯一序列号的状态从预绑定状态更新为绑定状态,以使待测电路板通过MAC地址以及唯一序列号与待测成品通过MAC地址以及唯一序列号对应。
具体的,首先,服务器可以生成预设数量的唯一序列号,每一个序列号应该各不相同。其中,预设数量可以是订单需求的数量,也可以是待检测电路板的数量,还可以是事先确定的数字,例如:100个等,本申请实施例对此不作具体的限定,本领域技术人员可以根据是情况进行合适的调整。
在对待测电路板进行测试的过程中,可以将待测电路板安放在测试夹具上,待测电路板上预留的测试点可以与烧录器以及电气参数测量模块用顶针连接,控制模块可以控制电气参数测量模块给待测电路板供电。
通电后的待测电路板可以通过烧录接口周期性地发送含有MAC地址的数据包,控制模块通过烧录器获取待测电路板的MAC地址。可以理解的是,控制模块获取待测电路板的MAC地址的方式可以不限于上述方式,例如:还可以烧录器向待测电路板发送请求信息,待测电路板根据请求信息回复自己的MAC地址,或者待测电路板把MAC地址写到某个约定地址的寄存器中,烧录器读取该地址的数据。本领域技术人员可以根据实际情况进行合适的调整。
控制模块将获取到的MAC地址发送给服务器,服务器可以从生成的预设数量的唯一序列号中任选一个还没有被绑定的唯一序列号,分配与待测电路板的MAC地址进行预绑定,并将分配的唯一序列号发送给控制模块。控制模块随后将待测电路板的MAC地址以及与之预绑定的唯一序列号发送给基站,基站可以根据MAC地址与对应的待测电路板连接。
若该MAC地址只对应一个待测电路板,则基站与该待测电路板连接,然后将MAC地址以及唯一序列号发送给待测电路板。待测电路板确认接收到的MAC地址与自身存储的MAC地址匹配后,保存唯一序列号,并向控制模块发送表征基站与待测电路板连接成功的确认信息。控制模块接收到确认信息之后,可以通过服务器预绑定成功,以使服务器将MAC地址与唯一序列号绑定,即服务器将MAC地址与唯一序列号的状态从预绑定改为确认绑定。
可以理解的是,若该MAC地址对应多个待测电路板,则基站与多个待测电路板中未绑定唯一序列号的一个待测电路板连接,然后将MAC地址以及唯一序列号发送给待测电路板。后续步骤与上述MAC地址对应一个待测电路板类似,此处不再赘述。
最后,在待测电路板的MAC地址与一个唯一序列号绑定成功后,控制模块可以开始对待测电路板进行测试。对待测电路板进行测试的具体实施方式将在后续实施例中进行详细的说明,此处暂不介绍。
在本申请实施例中在对待测电路板进行测试之前,可以首先获取该待测电路板的MAC地址,然后分配一个唯一序列号与该待测电路板的MAC地址绑定,从而使得在成品测试阶段,成品的测试结果可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
下面对待测电路板进行测试的具体实施方式进行介绍。
请参照图5,图5为本申请实施例提供的对待测电路板进行测试过程的流程图,对待测电路板进行测试过程(即步骤S304)可以包括如下步骤:
步骤S501:服务器获取待测电路板的测试列表以及待测电路板的评判标准。
步骤S502:服务器将测试列表以及评判标准发送给控制模块。
步骤S503:控制模块获取待测电路板的测试列表。
步骤S504:控制模块根据测试列表通过基站向待测电路板发送测试指令。
步骤S505:控制模块接收根据测试指令返回的测试数据。
步骤S506:控制模块获取待测电路板的评判标准。
步骤S507:控制模块根据测试数据以及评判标准判断待测电路板是否合格,得到对应的测试结果。
步骤S508:在待测电路板合格时,控制模块将测试数据以及测试结果发送给服务器。
具体的,服务器可以首先获取待测电路板对应的测试列表以及评判标准,其中,测试列表包括需要进行测试的项目等,评判标准包括对待测电路板是否合格进行判断的标准。作为一种实施方式,服务器可以识别待测电路板的产品型号,自动导入对应的测试列表以及评判标准;作为另一种实施方式,操作人员可以根据产品型号手动导入测试列表以及评判标准。
控制模块在接收到测试列表以及评判标准后,可以根据测试列表通过基站向待测电路板发送测试指令,接收根据测试指令返回的测试数据,并根据测试数据以及评判标准判断待测电路板是否合格,得到对应的测试结果。在待测电路板合格时,控制模块将测试数据以及测试结果发送给服务器。服务器可以根据唯一序列号对对应的待测电路板的测试结果以及测试数据进行分类保存。测试合格的待测电路板可以进入成品组装阶段,测试不合格的待测电路板可以进行返修后再做测试。
需要说明的是,步骤S506的执行顺序不限于步骤S505之后,可以在步骤S502之后以及步骤S507之前的任意顺序处执行。
作为一种实施方式,在步骤S505之前,本申请实施例提供的电路板测试方法还可以包括如下步骤:
控制模块控制电气参数测量模块对待测电路板进行测量。
此时,步骤S505可以包括如下步骤:
控制模块接收电器参数测量模块进行测量的测试数据。
举例来说,控制模块可以控制待测电路板进入待机模式,电气参数测量模块测量待机时的电流;或者,控制模块可以指定待测电路板的某些输入/输出(Input/Output,IO)口输出高电平,电气参数测量模块测量这些IO口的电压。然后,电器参数测量模块将测量的结果返回至控制模块。
作为另一种实施方式,步骤S505可以包括如下步骤:
控制模块接收待测电路板读取测量传感器的数据后返回的测试数据。
举例来说,待测电路板可以读取加速度传感器当前的数值,也可以读取气压传感器当前的数值等,然后将读取的传感器的数据返回至控制模块。
在本申请实施例中,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测电路板进行测试,在待测电路板合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与成品的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
请参照图6,图6为本申请实施例提供的一种成品测试方法的流程图,该成品测试方法可以包括如下步骤:
步骤S601:控制模块利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试。
步骤S602:在待测成品合格时,控制模块向合格的待测成品发送恢复指令,以使合格的待测成品利用待测电路板的外部存储器中预先烧录的正式固件对控制器中的测试固件进行替换。
具体的,成品测试完成后,控制模块可以控制基站发送恢复到正式固件的指令给成品,成品进入到更新模式,从外部存储器中读取正式固件进行固件更新。固件更新完成后,整个自动化测试(电路板测试及成品测试)也结束。此外,可以将测试数据保存起来,作为品质管控和产品优化的重要依据。
其中,为了防水或者美观的考虑,待测成品上可以没有预留有线通信接口,此时,在成品测试阶段,无法进行二次烧录,将正式固件烧录在待测成品上。而在本申请实施例中,通过在电路板测试阶段预先将正式固件烧录在待测电路板的外部存储器中,待测成品测试完成后可以直接利用预先烧录的正式固件替换测试固件。
在本申请实施例中,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
请参照图7,图7为本申请实施例提供的另一种成品测试方法的流程图,在该成品测试方法中,在上述步骤S601之前,该成品测试方法可以包括如下步骤:
步骤S701:控制模块获取待测成品的唯一序列号,并将唯一序列号发送给服务器。
步骤S702:服务器接收控制模块发送的待测成品的唯一序列号。
步骤S703:服务器根据唯一序列号向控制模块返回对应的MAC地址。
步骤S704:控制模块接收服务器根据唯一序列号返回的对应的MAC地址。
步骤S705:控制模块将唯一序列号以及MAC地址发送给基站。
步骤S706:基站接收唯一序列号以及MAC地址,根据唯一序列号以及MAC地址与待测成品进行连接,并将唯一序列号发送给待测成品。
步骤S707:待测成品接收唯一序列号,并与存储的唯一序列号进行匹配。
步骤S708:控制模块接收待测成品发送的匹配信息。
具体的,控制模块可以获取待测成品的唯一序列号,该唯一序列号为待测成品封装的电路板对应的唯一序列号。作为一种实施方式,待测成品组装完成之后,可以显示(例如:屏幕显示、粘贴在外表面等)包含唯一序列号的二维码,待测成品被放置在测试夹具上后,控制模块可以控制摄像头采集二维码的图片,并对二维码图片进行识别,获得该待测成品的唯一序列号。
然后,控制模块可以将待测成品的唯一序列号发送给服务器,服务器根据预先存储的唯一序列号与MAC地址的对应关系,向控制模块返回对应的MAC地址。控制模块将唯一序列号以及MAC地址发送给基站,基站根据唯一序列号以及MAC地址与待测成品进行连接,并将唯一序列号发送给待测成品。
待测成品确认接收到的唯一序列号与自身存储的唯一序列号是否匹配,若不匹配则可以将该待测成品移到一边,后面再进行复测;若匹配,待测成品可以返回基站匹配信息,然后基站告知控制模块唯一序列号匹配,控制模块可以开始对待测成品进行测试。其中,对待测成品进行测试的具体实施方式将在后续实施例中进行详细的说明,此处暂不介绍。
在本申请实施例中,在对待测成品进行测试之前,可以首先获取待测成品的唯一序列号,以及该唯一序列号对应的MAC地址。然后,基站根据上述MAC地址与对应的待测成品连接,连接后的待测成品判断基站发送的唯一序列号与自身存储的唯一序列号是否匹配,若匹配,则说明连接无误,可以对该待测成品进行测试。其中,由于一个唯一序列号分别与一个电路板以及一个成品对应,因此电路板的测试结果以及成品的测试结果可以对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
下面对待测成品进行测试的具体实施方式进行介绍。
请参照图8,图8为本申请实施例提供的对待测成品进行测试过程的流程图,对待测成品进行测试过程(即步骤S601)可以包括如下步骤:
步骤S801:服务器获取待测成品的测试列表以及待测成品的评判标准。
步骤S802:服务器将测试列表以及评判标准发送给控制模块。
步骤S803:控制模块获取待测成品的测试列表。
步骤S804:控制模块根据测试列表通过基站向待测成品发送测试指令。
步骤S805:控制模块接收根据测试指令返回的测试数据。
步骤S806:控制模块获取待测成品的评判标准。
步骤S807:控制模块根据测试数据评判标准判断所述待测成品是否合格,得到对应的测试结果。
步骤S808:在待测成品合格时,控制模块将测试数据以及测试结果发送给服务器。
具体的,服务器可以首先获取待测成品对应的测试列表以及评判标准,其中,测试列表包括需要进行测试的项目等,评判标准包括对待测成品是否合格进行判断的标准。作为一种实施方式,服务器可以识别待测成品的产品型号,自动导入对应的测试列表以及评判标准;作为另一种实施方式,操作人员可以根据产品型号手动导入测试列表以及评判标准。
控制模块在接收到测试列表以及评判标准后,可以根据测试列表通过基站向待测成品发送测试指令,接收根据测试指令返回的测试数据,并根据测试数据以及评判标准判断待测成品是否合格,得到对应的测试结果。在待测成品合格时,控制模块将测试数据以及测试结果发送给服务器。服务器可以根据唯一序列号对对应的待测电路板的测试结果以及测试数据进行分类保存。测试合格的待测成品可以下一步,测试不合格的待测成品板可以进行返修后再做测试。
需要说明的是,步骤S806的执行顺序不限于步骤S805之后,可以在步骤S802之后以及步骤S807之前的任意顺序处执行。
作为一种实施方式,在步骤S805之前,本申请实施例提供的电路板测试方法还可以包括如下步骤:
控制模块控制机械手对待测成品执行操作,并控制摄像头采集待测成品的图像。
此时,步骤S805可以包括如下步骤:
控制模块接收电器参数测量模块进行测量的测试数据。
举例来说,控制模块可以控制机械手对成品的屏幕进行长按操作,或者控制摄像头对待测成品进行拍照。
作为另一种实施方式,步骤S805可以包括如下步骤:
控制模块接收待测成品在执行操作后返回的测试数据。
举例来说,控制模块可以向待测成品发送显示一个全黑或者全白画面的指令,然后控制摄像头拍照,控制模块判断是否使全黑或者全白画面;或者,待测成品可以返回刚才出现了一个长按的触摸信号等。
在本申请实施例中,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测成品进行测试,在待测成品合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
请参照图9,图9为本申请实施例提供的一种成品测试装置的结构框图,该成品测试装置900可以包括:第一测试模块901,用于利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试;其中,所述待测成品包括封装的所述待测电路板;第一发送模块902,用于在所述待测成品合格时,向所述合格的待测成品发送恢复指令,以使所述合格的待测成品利用所述待测电路板的外部存储器中预先烧录的正式固件对所述控制器中的所述测试固件进行替换。
在本申请实施例中,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
进一步的,所述成品测试装置900还包括:第二获取模块,用于获取所述待测成品的唯一序列号,并将所述唯一序列号发送给服务器;其中,所述待测成品的唯一序列号为所述待测电路板对应的唯一序列号;第二接收模块,用于接收所述服务器根据所述唯一序列号返回的对应的MAC地址;其中,所述MAC地址为所述待测成品封装的电路板对应的MAC地址,且每个电路板的MAC地址绑定一个唯一序列号;第三发送模块,用于将所述唯一序列号以及所述MAC地址发送给基站,以使所述基站根据所述唯一序列号以及所述MAC地址与所述待测成品进行连接,并将所述唯一序列号发送给所述待测成品;第三接收模块,用于接收所述待测成品发送的匹配信息;其中,所述匹配信息表征所述待测成品接收到的所述唯一序列号与存储的唯一序列号匹配。
在本申请实施例中,在对待测成品进行测试之前,可以首先获取待测成品的唯一序列号,以及该唯一序列号对应的MAC地址。然后,基站根据上述MAC地址与对应的待测成品连接,连接后的待测成品判断基站发送的唯一序列号与自身存储的唯一序列号是否匹配,若匹配,则说明连接无误,可以对该待测成品进行测试。其中,由于一个唯一序列号分别与一个电路板以及一个成品对应,因此电路板的测试结果以及成品的测试结果可以对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
进一步的,所述第一测试模块901还用于:获取所述待测成品的测试列表;根据所述测试列表向所述待测成品发送测试指令;接收根据所述测试指令返回的测试数据;获取所述待测成品的评判标准;根据所述测试数据以及所述评判标准判断所述待测成品是否合格,得到对应的测试结果;在所述待测成品合格时,将所述测试数据以及所述测试结果发送给服务器。
在本申请实施例中,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测成品进行测试,在待测成品合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
在本申请的可选实施例中,所述成品测试装置900还包括:第一控制模块,用于控制机械手对所述待测成品执行操作,并控制摄像头采集所述待测成品的图像;述第一测试模块还用于:接收所述摄像头采集的所述图像。
在本申请实施例中,可以控制机械手模拟用户的行为对待测成品进行测试,从而保证只有合格的待测成品可以投入市场,保障用户的使用体验。
进一步的,所述第一测试模块901还用于:接收所述待测成品在执行操作后返回的测试数据。
请参照图10,图10为本申请实施例提供的另一种成品测试装置的结构框图,该成品测试装置1000可以包括:第一接收模块1001,用于接收控制模块发送的待测成品的唯一序列号;其中,所述待测成品的唯一序列号为所述待测成品封装的合格的待测电路板对应的唯一序列号;返回模块1002,用于根据所述唯一序列号向所述控制模块返回对应的MAC地址;其中,所述MAC地址为所述待测电路板对应的MAC地址,每个所述待测电路板的所述MAC地址绑定一个所述唯一序列号。
在本申请实施例中,在对待测成品进行测试之前,可以首先根据待测成品的唯一序列号获取与该唯一序列号对应的MAC地址。然后,基站根据上述MAC地址与对应的待测成品连接,连接后的待测成品判断基站发送的唯一序列号与自身存储的唯一序列号是否匹配,若匹配,则说明连接无误,可以对该待测成品进行测试。其中,由于一个唯一序列号分别与一个电路板以及一个成品对应,因此电路板的测试结果以及成品的测试结果可以对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
进一步的,所述成品测试装置1000还包括:第三获取模块,用于获取所述待测成品的测试列表以及所述待测成品的评判标准;第四发送模块,用于将所述测试列表以及所述评判标准发送给所述控制模块。
在本申请实施例中,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测成品进行测试,在待测成品合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
请参照图11,图11为本申请实施例提供的一种电路板测试装置的结构框图,该电路板测试装置1100可以包括:第一获取模块1101,用于获取正式固件以及测试固件;烧录模块1102,用于控制烧录器将所述正式固件烧录到待测电路板的外部存储器中,以及控制所述烧录器将将所述测试固件烧录到所述待测电路板的控制器中;第二测试模块1103,用于利用所述控制器中的所述测试固件对所述待测电路板进行测试。
在本申请实施例中,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
进一步的,所述电路板测试装置1100还包括:第四获取模块,用于获取所述待测电路板的MAC地址;第四接收模块,用于接收服务器分配的与所述待测电路板预绑定的唯一序列号;第五发送模块,用于将所述MAC地址以及所述唯一序列号发送给基站,以使所述基站根据所述MAC地址与所述待测电路板连接;第五接收模块,用于接收所述待测电路板发送的表征所述基站与所述待测电路板连接成功的确认信息;第六发送模块,用于根据所述确认信息向所述服务器发送预绑定成功信息,以使所述服务器将所述MAC地址与所述唯一序列号绑定。
在本申请实施例中,在对待测电路板进行测试之前,可以首先获取该待测电路板的MAC地址,然后分配一个唯一序列号与该待测电路板的MAC地址绑定,从而使得在成品测试阶段,成品的测试结果可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
进一步的,所述第二测试模块1103还用于:获取所述待测电路板的测试列表;根据所述测试列表向所述待测电路板发送测试指令;接收根据所述测试指令返回的测试数据;获取所述待测电路板的评判标准;根据所述测试数据以及所述评判标准判断所述待测电路板是否合格,得到对应的测试结果;在所述待测电路板合格时,将所述测试数据以及所述测试结果发送给服务器。
在本申请实施例中,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测电路板进行测试,在待测电路板合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与成品的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
进一步的,所述电路板测试装置1100还包括:第二控制模块,用于控制电气参数测量模块对所述待测电路板进行测量;所述第二测试模块还用于:接收所述电器参数测量模块进行测量的测试数据。
进一步的,所述第二测试模块1103还用于:接收所述待测电路板读取测量传感器的数据后返回的测试数据。
请参照图12,图12为本申请实施例提供的另一种电路板测试装置的结构框图,该电路板测试装置1200可以包括:第二发送模块1201,用于将正式固件以及测试固件发送给控制模块。
在本申请实施例中,通过将正式固件预先烧录在待测电路板的外部存储器中,将测试固件烧录在待测电路板的控制器中,既可以避免正式固件以及测试固件烧录在同一个地方导致占用程序空间,从而降低了硬件成本,同时不需要在测试完成后进行二次烧录,提高了测试的效率。此外,待测成品上不需要预留通信接口,可以满足美观、防水等目的。
进一步的,所述电路板测试装置1200还包括:生成模块,用于生成预设数量的唯一序列号;第六接收模块,用于接收待测电路板的MAC地址,并分配一个唯一序列号与所述待测电路板预绑定;第七发送模块,用于将所述唯一序列号发送给所述控制模块;第七接收模块,用于接收所述控制模块发送的绑定成功信息;其中,所述绑定成功信息用于表征所述MAC地址与所述唯一序列号绑定成功;更新模块,用于将所述MAC地址与所述唯一序列号的状态从预绑定状态更新为绑定状态,以使所述待测电路板通过所述MAC地址以及所述唯一序列号与待测成品通过所述MAC地址以及所述唯一序列号对应。
在本申请实施例中,在对待测电路板进行测试之前,可以首先分配一个唯一序列号与该待测电路板的MAC地址绑定,从而使得在成品测试阶段,成品的测试结果可以通过唯一序列号与电路板的测试结果对应起来而不会出现混乱,从而使得测试数据更加准确。
进一步的,所述电路板测试装置1200还包括:第五获取模块,用于获取所述待测电路板的测试列表以及所述待测电路板的评判标准;第八发送模块,用于将所述测试列表以及所述评判标准发送给所述控制模块。
在本申请实施例中,可以根据预先设定的测试列表以及评判标准对待测电路板进行测试,在待测电路板合格时,可以将测试数据以及测试结果发送给服务器进行存储,并可以通过唯一序列号与成品的测试结果对应,从而使得测试数据不会出现混乱,更加准确。
请参照图13,图13为本申请实施例提供的一种电子设备的结构框图,该电子设备1300包括:至少一个处理器1301,至少一个通信接口1302,至少一个存储器1303和至少一个通信总线1304。其中,通信总线1304用于实现这些组件直接的连接通信,通信接口1302用于与其他节点设备进行信令或数据的通信,存储器1303存储有处理器1301可执行的机器可读指令。当电子设备1300运行时,处理器1301与存储器1303之间通过通信总线1304通信,机器可读指令被处理器1301调用时执行上述成品测试方法以及电路板测试方法。
例如,本申请实施例的处理器1301通过通信总线1304从存储器1303读取计算机程序并执行该计算机程序可以实现如下方法:步骤S601:控制模块利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试。步骤S602:在待测成品合格时,控制模块向合格的待测成品发送恢复指令,以使合格的待测成品利用待测电路板的外部存储器中预先烧录的正式固件对控制器中的测试固件进行替换。
处理器1301可以是一种集成电路芯片,具有信号处理能力。上述处理器1301可以是通用处理器,包括中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、网络处理器(NetworkProcessor,NP)等;还可以是数字信号处理器(Digital Signal Processing,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。其可以实现或者执行本申请实施例中公开的各种方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
存储器1303可以包括但不限于随机存取存储器(Random Access Memory,RAM),只读存储器(Read Only Memory,ROM),可编程只读存储器(Programmable Read-OnlyMemory,PROM),可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory,EPROM),电可擦除只读存储器(Electric Erasable Programmable Read-Only Memory,EEPROM)等。
可以理解,图13所示的结构仅为示意,电子设备1300还可包括比图13中所示更多或者更少的组件,或者具有与图13所示不同的配置。图13中所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。于本申请实施例中,电子设备1300可以是,但不限于台式机、笔记本电脑、智能手机、智能穿戴设备、车载设备等实体设备,还可以是虚拟机等虚拟设备。另外,电子设备1300也不一定是单台设备,还可以是多台设备的组合,例如服务器集群,等等。于本申请实施例中,成品测试方法以及电路板测试方法中的服务器、控制模块均可以采用图13示出的电子设备实现。
本申请实施例还提供一种计算机程序产品,包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序,计算机程序包括程序指令,当程序指令被计算机执行时,计算机能够执行上述实施例中成品测试方法以及电路板测试方法的步骤,例如包括:利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试;其中,所述待测成品包括封装的所述待测电路板;在所述待测成品合格时,向所述合格的待测成品发送恢复指令,以使所述合格的待测成品利用所述待测电路板的外部存储器中预先烧录的正式固件对所述控制器中的所述测试固件进行替换。
在本申请所提供的实施例中,应该理解到,所揭露装置和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,又例如,多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
另外,作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
再者,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分,也可以是各个模块单独存在,也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
以上所述仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请的保护范围,对于本领域的技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (17)
1.一种成品测试方法,其特征在于,包括:
利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试;其中,所述待测成品包括封装的所述待测电路板;
在所述待测成品合格时,向所述合格的待测成品发送恢复指令,以使所述合格的待测成品利用所述待测电路板的外部存储器中预先烧录的正式固件对所述控制器中的所述测试固件进行替换。
2.根据权利要求1所述的成品测试方法,其特征在于,在所述利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试之前,所述成品测试方法还包括:
获取所述待测成品的唯一序列号,并将所述唯一序列号发送给服务器;其中,所述待测成品的唯一序列号为所述待测电路板对应的唯一序列号;
接收所述服务器根据所述唯一序列号返回的对应的MAC地址;其中,所述MAC地址为所述待测成品封装的电路板对应的MAC地址,且每个电路板的MAC地址绑定一个唯一序列号;
将所述唯一序列号以及所述MAC地址发送给基站,以使所述基站根据所述唯一序列号以及所述MAC地址与所述待测成品进行连接,并将所述唯一序列号发送给所述待测成品;
接收所述待测成品发送的匹配信息;其中,所述匹配信息表征所述待测成品接收到的所述唯一序列号与存储的唯一序列号匹配。
3.根据权利要求1或2所述的成品测试方法,其特征在于,所述利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试,包括:
获取所述待测成品的测试列表;
根据所述测试列表向所述待测成品发送测试指令;
接收根据所述测试指令返回的测试数据;
获取所述待测成品的评判标准;
根据所述测试数据以及所述评判标准判断所述待测成品是否合格,得到对应的测试结果;
在所述待测成品合格时,将所述测试数据以及所述测试结果发送给服务器。
4.一种成品测试方法,其特征在于,包括:
接收控制模块发送的待测成品的唯一序列号;其中,所述待测成品的唯一序列号为所述待测成品封装的合格的待测电路板对应的唯一序列号;
根据所述唯一序列号向所述控制模块返回对应的MAC地址;其中,所述MAC地址为所述待测电路板对应的MAC地址,每个所述待测电路板的所述MAC地址绑定一个所述唯一序列号。
5.一种电路板测试方法,其特征在于,包括:
获取正式固件以及测试固件;
控制烧录器将所述正式固件烧录到待测电路板的外部存储器中,以及控制所述烧录器将将所述测试固件烧录到所述待测电路板的控制器中;
利用所述控制器中的所述测试固件对所述待测电路板进行测试。
6.根据权利要求5所述的电路板测试方法,其特征在于,在所述利用所述控制器中的所述测试固件对所述待测电路板进行测试之前,所述电路板测试方法还包括:
获取所述待测电路板的MAC地址;
接收服务器分配的与所述待测电路板预绑定的唯一序列号;
将所述MAC地址以及所述唯一序列号发送给基站,以使所述基站根据所述MAC地址与所述待测电路板连接;
接收所述待测电路板发送的表征所述基站与所述待测电路板连接成功的确认信息;
根据所述确认信息向所述服务器发送绑定成功信息,以使所述服务器将所述MAC地址与所述唯一序列号绑定。
7.根据权利要求5或6所述的电路板测试方法,其特征在于,所述利用所述控制器中的所述测试固件对所述待测电路板进行测试,包括:
获取所述待测电路板的测试列表;
根据所述测试列表向所述待测电路板发送测试指令;
接收根据所述测试指令返回的测试数据;
获取所述待测电路板的评判标准;
根据所述测试数据以及所述评判标准判断所述待测电路板是否合格,得到对应的测试结果;
在所述待测电路板合格时,将所述测试数据以及所述测试结果发送给服务器。
8.一种电路板测试方法,其特征在于,包括:
将正式固件以及测试固件发送给控制模块。
9.根据权利要求8所述的电路板测试方法,其特征在于,所述电路板测试方法还包括:
生成预设数量的唯一序列号;
接收待测电路板的MAC地址,并分配一个唯一序列号与所述待测电路板预绑定;
将所述唯一序列号发送给所述控制模块;
接收所述控制模块发送的绑定成功信息;其中,所述绑定成功信息用于表征所述MAC地址与所述唯一序列号绑定成功;
将所述MAC地址与所述唯一序列号的状态从预绑定状态更新为绑定状态,以使所述待测电路板通过所述MAC地址以及所述唯一序列号与待测成品通过所述MAC地址以及所述唯一序列号对应。
10.一种成品测试装置,其特征在于,包括:
第一测试模块,用于利用合格的待测电路板的控制器中预先烧录的测试固件对待测成品进行测试;其中,所述待测成品包括封装的所述待测电路板;
第一发送模块,用于在所述待测成品合格时,向所述合格的待测成品发送恢复指令,以使所述合格的待测成品利用所述待测电路板的外部存储器中预先烧录的正式固件对所述控制器中的所述测试固件进行替换。
11.一种成品测试装置,其特征在于,包括:
第一接收模块,用于接收控制模块发送的待测成品的唯一序列号;其中,所述待测成品的唯一序列号为所述待测成品封装的合格的待测电路板对应的唯一序列号;
返回模块,用于根据所述唯一序列号向所述控制模块返回对应的MAC地址;其中,所述MAC地址为所述待测电路板对应的MAC地址,每个所述待测电路板的所述MAC地址绑定一个所述唯一序列号。
12.一种电路板测试装置,其特征在于,包括:
第一获取模块,用于获取正式固件以及测试固件;
烧录模块,用于控制烧录器将所述正式固件烧录到待测电路板的外部存储器中,以及控制所述烧录器将将所述测试固件烧录到所述待测电路板的控制器中;
第二测试模块,用于利用所述控制器中的所述测试固件对所述待测电路板进行测试。
13.一种电路板测试装置,其特征在于,包括:
第二发送模块,用于将正式固件以及测试固件发送给控制模块。
14.一种成品测试***,其特征在于,包括:服务器、控制模块、机械手、摄像头、基站以及待测成品;
所述控制模块与所述服务器、所述机械手、所述摄像头以及所述基站连接,所述控制模块用于执行如权利要求1-3任一项所述的成品测试方法,所述服务器用于执行如权利要求4所述的成品测试方法;
所述待测成品与所述机械手、所述摄像头以及所述基站连接。
15.一种电路板测试***,其特征在于,包括:服务器、控制模块、电气参数测量模块、烧录器、基站以及待测电路板;
所述控制模块与所述服务器、所述电气参数测量模块、所述烧录器以及所述基站连接,所述控制模块用于执行如权利要求5-7任一项所述的电路板测试方法,所述服务器用于执行如权利要求8或9任一项所述的电路板测试方法;
所述待测电路板与所述电气参数测量模块、烧录器以及基站连接。
16.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器、存储器和总线;
所述处理器和所述存储器通过所述总线完成相互间的通信;
所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令,所述处理器调用所述程序指令能够执行如权利要求1-4任一项所述的成品测试方法或如权利要求5-9任一项所述的电路板测试方法。
17.一种非暂态计算机可读存储介质,其特征在于,所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令,所述计算机指令被计算机运行时,使所述计算机执行如权利要求1-4任一项所述的成品测试方法或如权利要求5-9任一项所述的电路板测试方法。
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---|---|
CN (1) | CN111610427A (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112783708A (zh) * | 2021-01-28 | 2021-05-11 | 蘑菇物联技术(深圳)有限公司 | Dtu硬件测试方法、终端和计算机可读存储介质 |
CN113589147A (zh) * | 2021-08-03 | 2021-11-02 | 深圳市骁巨智能科技有限公司 | 一种智能手表pcba的测试装置及方法 |
Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1560739A (zh) * | 2004-03-02 | 2005-01-05 | 威盛电子股份有限公司 | 使用存储卡更新固件的方法与装置 |
JP2009156664A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Yokogawa Electric Corp | Lsiテスタ |
CN102565671A (zh) * | 2011-12-16 | 2012-07-11 | 电子科技大学 | 一种集成电路测试仪在线编程的动态配置方法 |
CN202614902U (zh) * | 2012-06-05 | 2012-12-19 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 一种dsp芯片功能测试装置 |
CN103454575A (zh) * | 2013-09-06 | 2013-12-18 | 福州瑞芯微电子有限公司 | 用于实现pcba板测试的***、pcba板及方法 |
US20140207402A1 (en) * | 2013-01-22 | 2014-07-24 | Teradyne, Inc. | Embedded tester |
CN107329775A (zh) * | 2017-05-25 | 2017-11-07 | 杭州赫智电子科技有限公司 | 一种wifi固件烧录方法 |
CN107562766A (zh) * | 2016-07-01 | 2018-01-09 | 杭州海康威视数字技术股份有限公司 | 一种数据文件写入方法、装置及*** |
CN107783773A (zh) * | 2017-11-22 | 2018-03-09 | 广东乐心医疗电子股份有限公司 | 固件烧录方法及*** |
CN107861048A (zh) * | 2017-11-06 | 2018-03-30 | 北京科技大学 | 一种智能硬件电路板自动测试方法及其*** |
CN108123935A (zh) * | 2017-12-06 | 2018-06-05 | 佛山华平勇创能源科技有限公司 | 电路板测试方法、装置、存储介质及终端 |
CN108226742A (zh) * | 2016-12-15 | 2018-06-29 | 深圳市蓝希领地科技有限公司 | 电路板检测方法及装置 |
CN108475319A (zh) * | 2015-08-10 | 2018-08-31 | 数据输入输出公司 | 装置出生凭证 |
CN109343870A (zh) * | 2018-12-06 | 2019-02-15 | 中电智能科技有限公司 | 程序烧写设备和程序烧写*** |
CN110543313A (zh) * | 2019-08-20 | 2019-12-06 | 珠海市杰理科技股份有限公司 | 芯片烧写装置及芯片烧写测试方法 |
-
2020
- 2020-04-15 CN CN202010297685.6A patent/CN111610427A/zh active Pending
Patent Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1560739A (zh) * | 2004-03-02 | 2005-01-05 | 威盛电子股份有限公司 | 使用存储卡更新固件的方法与装置 |
JP2009156664A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Yokogawa Electric Corp | Lsiテスタ |
CN102565671A (zh) * | 2011-12-16 | 2012-07-11 | 电子科技大学 | 一种集成电路测试仪在线编程的动态配置方法 |
CN202614902U (zh) * | 2012-06-05 | 2012-12-19 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 一种dsp芯片功能测试装置 |
US20140207402A1 (en) * | 2013-01-22 | 2014-07-24 | Teradyne, Inc. | Embedded tester |
CN103454575A (zh) * | 2013-09-06 | 2013-12-18 | 福州瑞芯微电子有限公司 | 用于实现pcba板测试的***、pcba板及方法 |
CN108475319A (zh) * | 2015-08-10 | 2018-08-31 | 数据输入输出公司 | 装置出生凭证 |
CN107562766A (zh) * | 2016-07-01 | 2018-01-09 | 杭州海康威视数字技术股份有限公司 | 一种数据文件写入方法、装置及*** |
CN108226742A (zh) * | 2016-12-15 | 2018-06-29 | 深圳市蓝希领地科技有限公司 | 电路板检测方法及装置 |
CN107329775A (zh) * | 2017-05-25 | 2017-11-07 | 杭州赫智电子科技有限公司 | 一种wifi固件烧录方法 |
CN107861048A (zh) * | 2017-11-06 | 2018-03-30 | 北京科技大学 | 一种智能硬件电路板自动测试方法及其*** |
CN107783773A (zh) * | 2017-11-22 | 2018-03-09 | 广东乐心医疗电子股份有限公司 | 固件烧录方法及*** |
CN108123935A (zh) * | 2017-12-06 | 2018-06-05 | 佛山华平勇创能源科技有限公司 | 电路板测试方法、装置、存储介质及终端 |
CN109343870A (zh) * | 2018-12-06 | 2019-02-15 | 中电智能科技有限公司 | 程序烧写设备和程序烧写*** |
CN110543313A (zh) * | 2019-08-20 | 2019-12-06 | 珠海市杰理科技股份有限公司 | 芯片烧写装置及芯片烧写测试方法 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
CHUJEN LIN ET AL.: "Automatic BIST design tool for mixed-signal circuits", 《1998 IEEE AUTOTESTCON PROCEEDINGS.IEEE SYSTEMS READINESS TECHNOLOGY CONFERENCE.TEST TECHNOLOGY FOR THE 21TH CENTURY》 * |
薛嘉甫 等: "一种电路板测试***的控制器开发", 《科技风》 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112783708A (zh) * | 2021-01-28 | 2021-05-11 | 蘑菇物联技术(深圳)有限公司 | Dtu硬件测试方法、终端和计算机可读存储介质 |
CN113589147A (zh) * | 2021-08-03 | 2021-11-02 | 深圳市骁巨智能科技有限公司 | 一种智能手表pcba的测试装置及方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
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Application publication date: 20200901 |