CN103368663B - 一种用于射频拉远基站的调测试方法及*** - Google Patents

一种用于射频拉远基站的调测试方法及*** Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种调测试方法及装置，采用光接口与待调测试板卡之间进行发送和接收调试数据，并通过控制收发时刻，既能实现模拟BBU功能给RRU提供数据源并采集RRU的数据，也能实现模拟RRU功能给BBU提供数据源并采集BBU的数据，不仅可以在单板环境下调试BBU和RRU，也可以在整机环境下调试，灵活性好、可操作性强，在整机环境中也不需要额外的接口配合。

Description

一种用于射频拉远基站的调测试方法及***
技术领域
本发明涉及移动通信领域，尤其涉及一种用于射频拉远基站的调测试方法及***。
背景技术
现有的LTE(Long term Evolution，长期演进)***及TD-SCDMA(TimeDivision-Synchronous Code Division Multiple Access，时分同步码分多址)***的基站多采用分布式结构，分布式基站是指基站的BBU(Base Band Unit，基站处理单元)和RRU(Remote RF Unit，射频拉远单元)各自作为独立的模块分开放置，并通过光接口利用光纤相连的一种基站模式。分布式基站***的容量大，集成度高，组网灵活，可适用于多种覆盖场景，同时其功耗小，可靠性高，设备成本低，从而使网络溅射和维护的成本相应大大下降。
在移动通信***中，受到成本、功耗和组网灵活性等客观因素的影响，***对基站单板的处理能力要求越来越高，往往不仅要求基站单板能完成多小区多天线的数据处理，还对基站单板的资源利用率、集成度等都提出了很高的要求。尤其在当前的TD和LTE***，由于采用了射频拉远技术，基站处理单元BBU和射频拉远单元RRU分离，BBU与RRU之间通过光纤连接，使得对基站进行的测试难度增大。因此，如何在基站单板的资源利用率较高的情况下进行测试以确保BBU和RRU功能的正确性，已经成为当前急需解决的问题之一。
现有对基站单板的测试方法中，在不增加外设测试装置的前提下，可通过软件程序，在BBU和RRU中利用嵌入式应用程序加入一定的测试方法，来测试验证BBU和RRU的正确性，该方法通过软件代码对BBU和RRU进行测试，不需要额外的板卡或设备，但是，由于受到成本、功耗等因素控制，BBU和RRU的软硬件资源在完成***本身的正常需求功能外，基本没有额外多余的资源用来测试。因此，该方法只能用于简单的测试，无法满足需要大量数据进行分析的测试。
现有技术中也通常采用专用的设备实现一定的RRU数据采集及测试，如利用专门的模拟BBU的测试设备，分别测试RRU的上、下行物理通道是否正常。其对上行通路的测试方法包括通过天线口输入信号源的数据，经过RRU的各个子模块通过光纤后传输到模拟BBU设备中，模拟BBU将数据进行分析，然后通过分析结果判断上行通路是否正常；其对下行通路的测试方法是由模拟BBU发送下行数据，经过光纤后传输给RRU，RRU将这些数据通过下行通路发送到天线口，通过仪器测量天线口的输出，根据测试结构判断下行通路是否正常。但是采用专用的设备虽然能同时对RRU上、下行通道进行测试，但不能采集RRU的上行数据，且不能对BBU进行测试，再者利用专用的模拟BBU测试设备由于受硬件环境等条件限制，而难以在整机环境中连接待测试RRU，仅可以在单板环境下进行测试，若在整机环境下测试则需要增加额外的接口配合，因而使得现行测试装置和方法缺少灵活性。
发明内容
鉴于现有技术的缺陷，本发明提供了一种用于射频拉远基站的测试方法及装置，解决现有技术在整机环境下测试需要额外接口配合，且不能采集RRU上行数据，且不能对BBU进行测试的问题。
本发明采用的技术手段如下：一种用于射频拉远基站的调测试装置，其中，包括调测试板卡以及控制PC；其中，
所述调测试板卡包括CPU、FPGA、内存模块和光模块；
其中，所述CPU用于接收所述控制PC的调试或测试指令并将包括收发时刻的相应配置信息发送给所述FPGA；
所述FPGA包括配置模块、以太网处理模块、光接口处理模块和控制模块等功能模块；其中，所述配置模块用于接收所述CPU的配置信息并进行配置；所述以太网处理模块用于接收所述控制PC发送的调试数据包，提取所述调试数据包的调试数据，或者将采集的测试数据拆分打包为测试数据包后发送给所述控制PC；所述光接口处理模块用于在所述收发时刻通过所述光模块接收所述待测试板卡接口的测试数据，或通过所述控制模块读取调试数据并发送给所述光模块；所述控制模块用于调度FPGA内部各模块工作；
所述光模块通过光纤与所述BBU和RRU连接，用于光电信号的转换，并实现调测试板卡与待调测试板卡之间数据的交互；
内存模块用于缓存所述调试数据或测试数据；
所述控制PC用于向所述调测试板卡的CPU发送调试或测试指令，并控制本地调试数据文件的读操作，将所述本地调试数据文件拆分为连续的多个调试数据包后发送给所述调测试板卡，且接收所述调测试板卡采集并打包后输出的测试数据包，且保存于本地测试数据文件中。
进一步，所述配置信息除包括所述收发时刻外，还包括所述控制PC的MAC地址、IP地址、端口号以及发送和接收数据量的大小。
进一步，所述光接口处理模块还用于根据所述发送数据量的大小反复读取调试数据；所述光接口处理模块还用于根据接收数据量的大小接收测试数据。
进一步，所述CPU还用于在调测试BBU板卡时配置FPGA的RRU收发时刻，且在调测试RRU板卡时配置FPGA的BBU收发时刻。
进一步，所述待调测试板卡接口为IR接口，所述调试数据包及测试数据包为UDP数据包。
本发明还提供了一种基于如上所述的调测试装置的调测试方法，包括调试步骤和测试步骤，其中，
所述调试步骤包括：
所述控制PC向所述调测试板卡的CPU发送调试指令，同时读取本地调试数据文件，并将所述调试数据文件拆分为连续的多个调试数据包后发送给所述FPGA；
所述CPU根据所述调试指令将包含发送时刻的相应配置信息发送给所述FPGA；
所述FPGA的配置模块接收所述CPU的配置信息并进行配置，且所述FPGA的以太网处理模块接收所述调试数据包，提取所述调试数据包的调试数据，并将所述调试数据写入所述内存模块；
所述光接口处理模块在所述发送时刻读取所述调试数据，并发送给所述光模块；
所述光模块将所述调试数据进行光电信号转换后发送给待调试板卡；
所述测试步骤包括：
所述控制PC向所述调测试板卡的CPU发送测试指令；
所述CPU根据所述测试指令将包含接收时刻的相应配置信息发送给所述FPGA；
所述FPGA的配置模块接收所述CPU的配置信息并进行配置；
所述光接口处理模块在所述接收时刻通过光模块接收待测试板卡接口的数据形成测试数据，并存储于所述内存模块；
所述以太网处理模块读取所述测试数据，并打包形成测试数据包，发送给所述控制PC；
所述控制PC接收所述测试数据包，并保存于本地测试数据文件中。
进一步，所述调试步骤中，所述配置信息除包括所述发送时刻外，还包括所述控制PC的MAC地址、IP地址、端口号以及发送数据量的大小；
所述测试步骤中，所述配置信息除包括所述接收时刻外，还包括所述控制PC的MAC地址、IP地址、端口号以及接收数据量的大小。
进一步，所述调试步骤中，所述光接口处理模块在所述发送时刻根据发送数据量的大小反复读取所述调试数据，并发送给所述光模块；
所述测试步骤中，所述光接口处理模块根据所述接收数据量的大小接收测试数据。
进一步，在调测试BBU板卡时配置FPGA的RRU收发时刻，且在调测试RRU板卡时配置FPGA的BBU收发时刻。
进一步，所述待测试板卡接口为IR接口，所述调试数据包及测试数据包为UDP数据包。
本发明提供的一种调测试方法及装置，采用光接口与待调测试板卡之间进行发送和接收调试数据，并通过控制收发时刻，既能实现模拟BBU功能给RRU提供数据源并采集RRU的数据，也能实现模拟RRU功能给BBU提供数据源并采集BBU的数据，不仅可以在单板环境下调试BBU和RRU，也可以在整机环境下调试，灵活性好、可操作性强，在整机环境中也不需要额外的接口配合。
附图说明
图1为本发明一种用于射频拉远基站的调测试装置的结构示意图；
图2为本发明一种调测试方法中的调试步骤流程图；
图3为本发明一种调测试方法中的测试步骤流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案、及优点更加清楚明白，以下参照附图并举实施例，对本发明进一步详细说明。
如图1所述的本发明一种用于射频拉远基站的调测试装置，包括调测试板卡以及控制PC；其中，
所述调测试板卡包括CPU、FPGA、内存模块和光模块；
其中，所述CPU用于接收所述控制PC的调试或测试指令并将包括收发时刻的相应配置信息发送给所述FPGA，且CPU还用于在调测试BBU板卡时配置FPGA的RRU收发时刻，且在调测试RRU板卡时配置FPGA的BBU收发时刻；所述配置信息除包括所述收发时刻外，还包括所述控制PC的MAC地址、IP地址、端口号以及发送和接收数据量的大小；
所述FPGA包括配置模块、以太网处理模块、光接口处理模块和控制模块等功能模块；其中，所述配置模块用于接收所述CPU的配置信息并进行配置；所述以太网处理模块用于接收所述控制PC发送的调试数据包，提取所述调试数据包的调试数据，或者将采集的测试数据拆分打包为测试数据包(如UDP数据)包后发送给所述控制PC；所述光接口处理模块用于在所述收发时刻通过所述光模块接收所述待测试板卡接口，如IR接口的测试数据，或通过所述控制模块读取调试数据并发送给所述光模块，且其可根据所述发送数据量的大小反复读取调试数据，或根据接收数据量的大小接收测试数据；所述控制模块用于调度FPGA内部各模块工作；
所述光模块通过光纤与所述BBU和RRU连接，用于光电信号的转换，并实现调测试板卡与待调测试板卡之间数据的交互；
内存模块用于缓存所述调试数据或测试数据；
所述控制PC用于向所述调测试板卡的CPU发送调试或测试指令，并控制本地调试数据文件的读操作，将所述本地调试数据文件拆分为连续的多个调试数据包，如UDP数据包，后发送给所述调测试板卡，且接收所述调测试板卡采集并打包后输出的测试数据包，且保存于本地测试数据文件中。
本发明还提供了一种调测试方法，包括调试步骤和测试步骤，其中调试步骤如图2所示，包括：
所述控制PC向所述调测试板卡的CPU发送调试指令，同时读取本地调试数据文件，并将所述调试数据文件拆分为连续的多个调试数据包后发送给所述FPGA；
所述CPU根据所述调试指令将包含发送时刻的相应配置信息发送给所述FPGA，其中所述配置信息除包括所述发送时刻外，还包括所述控制PC的MAC地址、IP地址、端口号以及发送数据量的大小；
所述FPGA的配置模块接收所述CPU的配置信息，并进行配置，且所述FPGA的以太网处理模块接收所述调试数据包，提取所述调试数据包的调试数据，并将所述调试数据写入所述内存模块；
所述光接口处理模块在所述发送时刻根据发送数据量的大小反复读取所述调试数据，并发送给所述光模块；
所述光模块将所述调试数据进行光电信号转换后发送给待调试板卡；
测试步骤如图3所示，包括：
所述控制PC向所述调测试板卡的CPU发送测试指令；
所述CPU根据所述测试指令将包含接收时刻的相应配置信息发送给所述FPGA，所述配置信息除包括所述接收时刻外，还包括所述控制PC的MAC地址、IP地址、端口号以及接收数据量的大小；
所述FPGA的配置模块接收所述CPU的配置信息，并进行配置；
所述光接口处理模块在所述接收时刻通过光模块接收待测试板卡接口的数据，且根据所述接收数据量的大小接收测试数据形成测试数据，并存储于所述内存模块；
所述以太网处理模块读取所述测试数据，并打包形成测试数据包，发送给所述控制PC；
所述控制PC接收所述测试数据包，并保存于本地测试数据文件中。
在调试步骤和测试步骤中，所述CPU配置FPGA的RRU收发时刻，且在调测试RRU板卡时所述CPU配置FPGA的BBU收发时刻。
本发明中，采用光接口与待调测试板卡之间进行发送和接收调试数据，并通过控制收发时刻，既能实现模拟BBU功能给RRU提供数据源并采集RRU的数据，也能实现模拟RRU功能给BBU提供数据源并采集BBU的数据，不仅可以在单板环境下调试BBU和RRU，也可以在整机环境下调试，灵活性好、可操作性强，在整机环境中也不需要额外的接口配合。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。

Claims (10)

1.一种用于射频拉远基站的调测试装置，其特征在于，包括调测试板卡以及控制PC；其中，
所述调测试板卡包括CPU、FPGA、内存模块和光模块；
其中，所述CPU用于接收所述控制PC的调试或测试指令并将包括收发时刻的相应配置信息发送给所述FPGA；
所述FPGA包括配置模块、以太网处理模块、光接口处理模块和控制模块等功能模块；其中，所述配置模块用于接收所述CPU的配置信息并进行配置；所述以太网处理模块用于接收所述控制PC发送的调试数据包，提取所述调试数据包的调试数据，或者将采集的测试数据拆分打包为测试数据包后发送给所述控制PC；所述光接口处理模块用于在所述收发时刻通过所述光模块接收待测试板卡接口的测试数据，或通过所述控制模块读取调试数据并发送给所述光模块；所述控制模块用于调度FPGA内部各模块工作；
所述光模块通过光纤与BBU和RRU连接，用于光电信号的转换，并实现调测试板卡与待调测试板卡之间数据的交互；
内存模块用于缓存所述调试数据或测试数据；
所述控制PC用于向所述调测试板卡的CPU发送调试或测试指令，并控制本地调试数据文件的读操作，将所述本地调试数据文件拆分为连续的多个调试数据包后发送给所述调测试板卡，且接收所述调测试板卡采集并打包后输出的测试数据包，且保存于本地测试数据文件中。
2.根据权利要求1所述的调测试装置，其特征在于，所述配置信息除包括所述收发时刻外，还包括所述控制PC的MAC地址、IP地址、端口号以及发送和接收数据量的大小。
3.根据权利要求2所述的调测试装置，其特征在于，所述光接口处理模块还用于根据所述发送数据量的大小反复读取调试数据；所述光接口处理模块还用于根据接收数据量的大小接收测试数据。
4.根据权利要求3所述的调测试装置，其特征在于，所述CPU还用于在调测试BBU板卡时配置FPGA的RRU收发时刻，且在调测试RRU板卡时配置FPGA的BBU收发时刻。
5.根据权利要求1所述的调测试装置，其特征在于，所述待调测试板卡接口为IR接口，所述调试数据包及测试数据包为UDP数据包。
6.一种基于如权利要求1至5所述的调测试装置的调测试方法，包括调试步骤和测试步骤，其中，
所述调试步骤包括：
所述控制PC向所述调测试板卡的CPU发送调试指令，同时读取本地调试数据文件，并将所述调试数据文件拆分为连续的多个调试数据包后发送给所述FPGA；
所述CPU根据所述调试指令将包含发送时刻的相应配置信息发送给所述FPGA；
所述FPGA的配置模块接收所述CPU的配置信息并进行配置，且所述FPGA的以太网处理模块接收所述调试数据包，提取所述调试数据包的调试数据，并将所述调试数据写入所述内存模块；
所述光接口处理模块在所述发送时刻读取所述调试数据，并发送给所述光模块；
所述光模块将所述调试数据进行光电信号转换后发送给待调试板卡；
所述测试步骤包括：
所述控制PC向所述调测试板卡的CPU发送测试指令；
所述CPU根据所述测试指令将包含接收时刻的相应配置信息发送给所述FPGA；
所述FPGA的配置模块接收所述CPU的配置信息并进行配置；
所述光接口处理模块在所述接收时刻通过光模块接收待测试板卡接口的数据形成测试数据，并存储于所述内存模块；
所述以太网处理模块读取所述测试数据，并打包形成测试数据包，发送给所述控制PC；
所述控制PC接收所述测试数据包，并保存于本地测试数据文件中。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述调试步骤中，所述配置信息除包括所述发送时刻外，还包括所述控制PC的MAC地址、IP地址、端口号以及发送数据量的大小；
所述测试步骤中，所述配置信息除包括所述接收时刻外，还包括所述控制PC的MAC地址、IP地址、端口号以及接收数据量的大小。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述调试步骤中，所述光接口处理模块在所述发送时刻根据发送数据量的大小反复读取所述调试数据，并发送给所述光模块；
所述测试步骤中，所述光接口处理模块根据所述接收数据量的大小接收测试数据。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在调测试BBU板卡时所述CPU配置FPGA的RRU收发时刻，且在调测试RRU板卡时所述CPU配置FPGA的BBU收发时刻。
10.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述待测试板卡接口为IR接口，所述调试数据包及测试数据包为UDP数据包。
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