CN107360584B - 一种rru测试***和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明属于移动通信技术领域，公开了一种RRU测试***和方法，***包括：待测试RRU、测试计算机、衰减器、功分器、频谱仪、信号源、交换机；方法包括：启动RRU；RRU进入测试状态，执行DDR自检；RRU接收测试命令；RRU进行下行链路测试；RRU进行上行链路测试；RRU进行光链路测试。本发明解决了现有技术中RUU设备测试的复杂度和难度较大、测试造成的资源浪费较大、测试需要新增开发额外的设备的问题，达到了降低测试的复杂度和难度，减少测试资源浪费、不用新增开发额外的设备的技术效果。
Description
技术领域
本发明涉及移动通信技术领域，尤其涉及一种RRU测试***和方法。
背景技术
随着LTE的大规模商用，RRU设备的需求量急剧增加，对各RRU设备供应商的单日产能提出了新的需求，而RRU设备的测试成为制约RRU设备单日产能的瓶颈。
目前进行RRU测试有两种通用的做法：一种是搭建eNodeB***，通过BBU的光接口连接RRU发送下行信号和接受上行信号进行测试。这种方法，首先，由于eNodeB网元多，***搭建复杂，测试异常时定位困难，因此会导致测试的复杂度和难度较大；其次，随着单日产能的增加，需要大量的eNodeB***进行RRU测试，因此会造成资源的浪费。另一种是开发模拟BBU***替代eNodeB***，通过模拟IR接口功能发送下行信号和接受上行信号进行测试，这种方法的缺点是需要新增开发额外的设备。
发明内容
本申请实施例通过提供一种RRU测试***和方法，解决了现有技术中RUU设备测试的复杂度和难度较大、测试造成的资源浪费较大、测试需要新增开发额外的设备的问题。
本申请实施例提供一种RRU测试***，包括：待测试RRU、测试计算机、衰减器、功分器、频谱仪、信号源、交换机；
所述测试计算机内安装有上层测试软件；
所述待测试RRU、所述测试计算机、所述频谱仪、所述信号源分别通过网线与所述交换机相连；
所述待测试RRU、所述衰减器、所述功分器依次通过射频线缆连接；
所述功分器通过射频线缆分别与所述频谱仪、所述信号源连接；
所述待测试RRU的Trig端口与所述频谱仪的Trig端口连接，所述待测试RRU的Ref端口与所述频谱仪的10M参考输出信号端口连接；
所述频谱仪的10M参考输入信号端口与所述信号源的10M参考输出信号端口连接；
所述待测试RRU通过光纤连接第一光口的接收端和发送端；所述待测试RRU通过光纤连接第二光口的接收端和发送端。
优选的，所述待测试RRU包括：
中央处理器CPU、Flash存储器、双倍速率同步动态随机存储器DDR、现场可编辑门阵列FPGA、下行链路模块、上行链路模块、光链路模块；
所述FPGA通过局部总线Local BUS与CPU连接，所述FPGA与所述DDR连接，所述FPGA分别与下行链路模块、上行链路模块、光链路模块连接；
所述CPU与Flash连接，下行测试数据固化在Flash中；
所述FPGA包括MIG模块、DUC模块、CFR模块、DPD模块、DDC模块、IR接口。
另一方面，本申请实施例提供一种RRU测试方法，包括以下步骤：
启动待测试RRU，通过上层测试软件发送进入测试状态命令；
所述待测试RRU接收所述进入测试状态命令，进入测试状态，执行DDR自检；
若所述DDR自检不通过，则输出DDR故障信息并退出测试；若所述DDR自检通过，则所述上层测试软件发送测试命令，所述测试命令包括下行链路测试命令、上行链路测试命令、光链路测试命令；
所述待测试RRU接收所述测试命令，进行链路测试，所述链路测试包括下行链路测试、上行链路测试、光链路测试；
所述下行链路测试包括：RRU配置下行参数，DDR启动发送下行测试数据功能，测试计算机通过网口控制频谱仪进行下行链路信号指标测试；
所述上行链路测试包括：RRU配置上行参数，测试计算机通过网口控制信号源发送上行测试数据到所述待测试RRU，DDR启动数据采集功能，将采集的数据传输至所述测试计算机，通过所述测试计算机进行上行链路信号指标测试；
所述光链路测试采用光纤环回的方式测试光链路的连通性。
优选的，所述DDR自检包括：测试DDR读写是否正常，自检逻辑测试数据写入、读出，比较判断数据写入、读出是否一致。
优选的，所述RRU配置下行参数包括配置RRU载波频率、载波带宽、输出功率。
优选的，所述下行链路测试中CPU将固化在Flash中的下行测试数据通过LocalBUS和MIG模块导入DDR中；
FPGA将所述下行测试数据经由DUC模块、CFR模块、DPD模块进行处理后，发送至下行链路模块并输出射频信号；
上层测试软件控制所述频谱仪进行下行链路信号指标测试，包括载波功率、邻信道功率比、误差向量幅度；
测试并记录后关闭DDR发送功能。
优选的，所述RRU配置上行参数包括配置RRU载波频率、载波带宽。
优选的，所述上行链路测试中CPU通过Local BUS控制FPGA内部数据接收模块将DDC模块输出的数据通过MIG模块导入DDR中；
CPU将DDR中的数据上传至所述测试计算机；
上层测试软件进行上行链路信号指标测试，包括测试上行数据是否能解调；
测试并记录后关闭DDR数据采集功能。
优选的，所述光链路测试包括：
RRU配置光链路参数；
光链路测试中CPU设置IR接口启动8B10B码发数；
IR接口收数识别周期内错误码型个数；
CPU采集错误码型个数并传输至测试计算机；
上层测试软件记录码型错误数据；
关闭IR接口发数和收数识别功能。
优选的，所述RRU配置光链路参数包括配置光口数据速率为10Gbps。
本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
在本申请实施例中，只需待测试RRU和测试仪表即可实现RRU***测试，不用搭建复杂的测试***(如eNodeB***)，不需要开发额外的设备(如模拟BBU***)，因此，本发明有效地降低了RUU设备测试的复杂度和难度，减少了测试的资源浪费、不需要新增开发额外的设备。
附图说明
为了更清楚地说明本实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一个实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种RRU测试***的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的一种RRU测试***中RRU的内部框图；
图3为本发明实施例中提供的一种RRU测试方法的流程图。
具体实施方式
本申请实施例通过提供一种RRU测试***和方法，解决了现有技术中RUU设备测试的复杂度和难度较大、测试造成的资源浪费较大、测试需要新增开发额外的设备的问题。
本申请实施例的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：
一种RRU测试***，包括：待测试RRU、测试计算机、衰减器、功分器、频谱仪、信号源、交换机；
所述测试计算机内安装有上层测试软件；
所述待测试RRU、所述测试计算机、所述频谱仪、所述信号源分别通过网线与所述交换机相连；
所述待测试RRU、所述衰减器、所述功分器依次通过射频线缆连接；
所述功分器通过射频线缆分别与所述频谱仪、所述信号源连接；
所述待测试RRU的Trig端口与所述频谱仪的Trig端口连接，所述待测试RRU的Ref端口与所述频谱仪的10M参考输出信号端口连接；
所述频谱仪的10M参考输入信号端口与所述信号源的10M参考输出信号端口连接；
所述待测试RRU通过光纤连接第一光口的接收端和发送端；所述待测试RRU通过光纤连接第二光口的接收端和发送端。
一种RRU测试方法，包括以下步骤：
启动待测试RRU，通过上层测试软件发送进入测试状态命令；
所述待测试RRU接收所述进入测试状态命令，进入测试状态，执行DDR自检；
若所述DDR自检不通过，则输出DDR故障信息并退出测试；若所述DDR自检通过，则所述上层测试软件发送测试命令，所述测试命令包括下行链路测试命令、上行链路测试命令、光链路测试命令；
所述待测试RRU接收所述测试命令，进行链路测试，所述链路测试包括下行链路测试、上行链路测试、光链路测试；
所述下行链路测试包括：RRU配置下行参数，DDR启动发送下行测试数据功能，测试计算机通过网口控制频谱仪进行下行链路信号指标测试；
所述上行链路测试包括：RRU配置上行参数，测试计算机通过网口控制信号源发送上行测试数据到所述待测试RRU，DDR启动数据采集功能，将采集的数据传输至所述测试计算机，通过所述测试计算机进行上行链路信号指标测试；
所述光链路测试采用光纤环回的方式测试光链路的连通性。
在本申请实施例中，只需待测试RRU和测试仪表即可实现RRU***测试，不用搭建复杂的测试***(如eNodeB***)，不需要开发额外的设备(如模拟BBU***)，因此，本发明有效地降低了RUU设备测试的复杂度和难度，减少了测试的资源浪费、不需要新增开发额外的设备。
为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
下面结合附图及实施例对本发明作进一步说明。
一、***
如图1，本装置包括测试计算机，待测试RRU，衰减器，功分器，频谱仪，信号源，交换机。
其中，所述测试计算机内安装有上层测试软件。
所述测试计算机、所述待测试RRU、所述频谱仪、所述信号源分别通过网线与所述交换机相连；所述待测试RRU、所述衰减器、所述功分器依次通过射频线缆连接；所述功分器通过射频线缆分别与所述频谱仪和所述信号源连接。
所述待测试RRU的Trig端口与所述频谱仪的Trig端口连接，用于频谱仪与待测试RRU同步。所述待测试RRU的Ref端口与所述频谱仪的10M参考输出信号端口连接，所述频谱仪的10M参考输入信号端口与所述信号源的10M参考输出信号端口连接，用于信号源、频谱仪、待测试RRU同源。
所述待测试RRU通过光纤连接第一光口的接收端和发送端；所述待测试RRU通过光纤连接第二光口的接收端和发送端。
所述待测试RRU的内部框图如图2所示，包括：中央处理器CPU、Flash存储器、双倍速率同步动态随机存储器DDR、现场可编辑门阵列
FPGA、下行链路模块、上行链路模块、光链路模块；
所述FPGA通过局部总线Local BUS与CPU连接，所述FPGA与所述DDR连接，所述FPGA分别与下行链路模块、上行链路模块、光链路模块连接；
所述CPU与Flash连接，下行测试数据固化在Flash中；
所述FPGA包括MIG模块、DUC模块、CFR模块、DPD模块、DDC模块、IR接口。
二、方法
RRU测试方法的流程图如图3所示，以下以待测试RRU设备为***D频段(2575M-2635M)，射频输出满功率为40dBm，灵敏度指标要求为-103.5dbm，光口数据为10Gbps，为例进行说明，具体包括如下步骤：
步骤一，启动待测试RRU，通过上层测试软件发送进入测试状态命令。
具体实施时，RRU启动(步骤110)，RRU通过查询RRU状态(步骤120)，并判断RRU是否为测试状态(步骤130)，如不是测试状态，则正常启动RRU(步骤131)。
步骤二，RRU进入测试状态，执行DDR自检。
具体实施时，所述DDR自检(步骤140)包括测试DDR读写是否正常，自检逻辑测试数据写入、读出，并比较判断数据写入和读出是否一致。通过是否一致判断DDR自检是否通过(步骤150)，若不一致，则输出DDR故障信息(步骤151)。
步骤三，上层测试软件依次发送下行链路、上行链路和光链路测试命令。
具体实施时，进入测试链路选择(步骤160)，RRU接受上层测试软件下发的测试命令，判断是否为下行测试(步骤170)，若是，则进行下行测试，若否，则判断是否为上行测试(步骤180)；若是，则进入上行测试，若否，则判断是否为光链路测试(步骤190)；或者等待测试链路选择输入。
步骤四，RRU进行下行测试，启动DDR下行发数功能，测试主机通过网口控制频谱仪进行下行链路信号指标测试。
具体实施时，RRU配置下行参数(步骤171)，根据实施例包括配置RRU载波频率分别为2585M、2605M和2625M，载波带宽为60M，输出功率为40dbm；完成配置后，启动DDR发送下行测试数据功能(步骤172)，所述测试数据固化在CPU***Flash中，在***断电情况下保存用户数据。DDR发送下行测试数据，首先CPU将固化在Flash中的测试数据通过FPGA之间的Local BUS和FPGA内部例化的MIG模块导入与挂载在FPGA下的DDR中；完成数据导入后，FPGA内部数据发送模块将测试数据经由数字信号处理模块DUC(数字上变频)、CFR(波峰因子衰减)、DPD(数字预失真)后输出到下行链路模块输出射频信号。上层测试软件控制频谱仪测试下行指标(步骤173)，根据实施例包括载波频率为2585M、2605M和2625M时功率、邻信道功率比(ACPR)、误差向量幅度(EVM)，并记录指标情况；测试完毕，关闭DDR发数功能(步骤174)。
步骤五，下行测试完成后，***进行上行指标测试，上层测试软件通过网口控制信号源发送数据到RRU，RRU采集上行数据上传到上层测试软件进行解调处理。
具体实施时，RRU配置上行参数(步骤181)，根据实施例包括配置RRU载波频率分别为2585M、2605M和2625M，载波带宽为60M；完成配置后，上层测试软件通过网口控制信号源发送LTE上行测试源数据输出功率为-101.5dbm的信号到RRU；上层测试软件控制RRU启动DDR采集经上行通道输入到DDC并经DDC处理后的数据(步骤182)；实施时，上层测试软件发送命令到CPU，CPU通过FPGA之间的Local BUS控制FPGA内部数据接收模块将DDC(数字下变频)输出的数据通过FPGA内部例化的MIG模块导入到DDR中；导入完成后，CPU将DDR中的数据上传到测试主机(步骤183)；完成上传后，上层测试软件测试上行指标(步骤184)，实施例为测试上行数据是否能解调，并记录解***况；测试完毕，关闭DDR数据采集功能(步骤185)。
步骤六，上行链路测试完成后，***进行光链路测试，光口1和光口2采用光纤环回的方式，测试光链路联通性。
具体实施时，RRU配置光链路参数(步骤191)，包括配置光口数据速率为10Gbps，测试数据码型为8B10B码；CPU设置IR接口(BBU与RRU的接口)启动8B10B码型发数(步骤192)；IR接口收数识别周期T内错误码型个数(步骤193)；CPU采集码型错误个数并传输至上层测试软件(步骤194)；上层测试软件记录码型错误数据；测试完毕，关闭IR接口发数和收数识别功能(步骤195)。
步骤七，完成RRU测试(步骤200)。
上层测试软件根据步骤四、步骤五、步骤六记录的测试数据输出下行链路、上行链路和光链路测试结论完成待测试RRU的测试。
本发明实施例提供的一种RRU测试***和方法至少包括如下技术效果：
在本申请实施例中，只需待测试RRU和测试仪表即可实现RRU***测试，不用搭建复杂的测试***(如eNodeB***)，不需要开发额外的设备(如模拟BBU***)，因此，本发明有效地降低了RUU设备测试的复杂度和难度，减少了测试的资源浪费、不需要新增开发额外的设备。
最后所应说明的是，以上具体实施方式仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照实例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
Claims (8)
1.一种RRU测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
启动待测试RRU，通过上层测试软件发送进入测试状态命令；
所述待测试RRU接收所述进入测试状态命令，进入测试状态，执行DDR自检；
若所述DDR自检不通过，则输出DDR故障信息并退出测试；若所述DDR自检通过，则所述上层测试软件发送测试命令，所述测试命令包括下行链路测试命令、上行链路测试命令、光链路测试命令；
所述待测试RRU接收所述测试命令，进行链路测试，所述链路测试包括下行链路测试、上行链路测试、光链路测试；
所述下行链路测试包括：RRU配置下行参数，DDR启动发送下行测试数据功能，测试计算机通过网口控制频谱仪进行下行链路信号指标测试；
所述上行链路测试包括：RRU配置上行参数，测试计算机通过网口控制信号源发送上行测试数据到所述待测试RRU，DDR启动数据采集功能，将采集的数据传输至所述测试计算机，通过所述测试计算机进行上行链路信号指标测试；
所述光链路测试采用光纤环回的方式测试光链路的连通性。
2.根据权利要求1所述的RRU测试方法，其特征在于，所述DDR自检包括：测试DDR读写是否正常，自检逻辑测试数据写入、读出，比较判断数据写入、读出是否一致。
3.根据权利要求1所述的RRU测试方法，其特征在于，所述RRU配置下行参数包括配置RRU载波频率、载波带宽、输出功率。
4.根据权利要求1所述的RRU测试方法，其特征在于，所述下行链路测试中CPU将固化在Flash中的下行测试数据通过LocalBUS和MIG模块导入DDR中；
FPGA将所述下行测试数据经由DUC模块、CFR模块、DPD模块进行处理后，发送至下行链路模块并输出射频信号；
上层测试软件控制所述频谱仪进行下行链路信号指标测试，包括载波功率、邻信道功率比、误差向量幅度；
测试并记录后关闭DDR发送功能。
5.根据权利要求1所述的RRU测试方法，其特征在于，所述RRU配置上行参数包括配置RRU载波频率、载波带宽。
6.根据权利要求1所述的RRU测试方法，其特征在于，所述上行链路测试中CPU通过LocalBUS控制FPGA内部数据接收模块将DDC模块输出的数据通过MIG模块导入DDR中；
CPU将DDR中的数据上传至所述测试计算机；
上层测试软件进行上行链路信号指标测试，包括测试上行数据是否能解调；
测试并记录后关闭DDR数据采集功能。
7.根据权利要求1所述的RRU测试方法，其特征在于，所述光链路测试包括：
RRU配置光链路参数；
光链路测试中CPU设置IR接口启动8B10B码发数；
IR接口收数识别周期内错误码型个数；
CPU采集错误码型个数并传输至测试计算机；
上层测试软件记录码型错误数据；
关闭IR接口发数和收数识别功能。
8.根据权利要求7所述的RRU测试方法，其特征在于，所述RRU配置光链路参数包括配置光口数据速率为10Gbps。
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