CN102855158A - 测试设备信息检查方法及*** - Google Patents

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CN102855158A CN2011101770289A CN201110177028A CN102855158A CN 102855158 A CN102855158 A CN 102855158A CN 2011101770289 A CN2011101770289 A CN 2011101770289A CN 201110177028 A CN201110177028 A CN 201110177028A CN 102855158 A CN102855158 A CN 102855158A
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钟阳
陈吉宝
黄�俊
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Abstract

一种测试设备信息检查***，该***用于：读取待测主板的现场可更换单元中预先写入的测试设备信息；获取所述待测主板上当前所接入的测试设备的信息；通过比对判断当前所接入的测试设备是否符合要求；当符合要求时提示用户比对结果为通过；当不符合要求时提示用户比对结果为失败。本发明还提供一种测试设备信息检查方法。本发明可以方便地获取待测主板所支持的测试设备信息，判断测试设备是否符合要求。

Description

测试设备信息检查方法及***
技术领域
本发明涉及一种信息检查方法及***，尤其是涉及一种测试设备信息检查方法及***。
背景技术
在进行主板测试时，工程师或操作人员在产线经常会由于各种原因很难知道待测主板所支持的测试设备的配置信息。这样就给在产线侦错的工程师带来许多困扰：例如当测试用的存储器出现问题而需要更换时，应该更换哪个厂商的，是DDR（Double Data Rate）2还是DDR3，是支持ECC（Error Correcting Code）还是不支持。这些信息都有可能无从知晓，从而造成测试所用的设备与该待测主板所支持的设备不一致，使得测试存在一定的风险。目前确认待测主板所支持的测试设备信息，必须通过相应的程序运行在操作***之下，且需要有供应商提供的特定文件或数据库的辅助才能够实现。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种测试设备信息检查方法，可以方便地获取待测主板所支持的测试设备信息，判断测试设备是否符合要求。
鉴于以上内容，还有必要提供一种测试设备信息检查***，可以方便地获取待测主板所支持的测试设备信息，判断测试设备是否符合要求。
所述测试设备信息检查方法包括：读取步骤：读取待测主板的现场可更换单元中预先写入的测试设备信息；获取步骤：当所述待测主板处于开机状态时，获取所述待测主板上当前所接入的测试设备的信息；比对步骤：将获取到的当前所接入的测试设备信息与所述现场可更换单元中的测试设备信息进行比对，判断当前所接入的测试设备是否符合要求；第一提示步骤：当当前所接入的测试设备符合要求时，提示用户比对结果为通过；及第二提示步骤：当当前所接入的测试设备不符合要求时，提示用户比对结果为失败。
所述测试设备信息检查***包括：读取模块，用于读取待测主板的现场可更换单元中预先写入的测试设备信息；获取模块，用于当所述待测主板处于开机状态时，获取所述待测主板上当前所接入的测试设备的信息；比对模块，用于将获取到的当前所接入的测试设备信息与所述现场可更换单元中的测试设备信息进行比对，判断当前所接入的测试设备是否符合要求；提示模块，用于当当前所接入的测试设备符合要求时，提示用户比对结果为通过；所述提示模块还用于当当前所接入的测试设备不符合要求时，提示用户比对结果为失败。
相较于现有技术，所述的测试设备信息检查方法及***，能够读取待测主板的现场可更换单元中存储的测试设备信息，并在该待测主板开机时自动判断所接入的测试设备是否符合要求，在该待测主板待机时将测试设备信息提供给用户来判断所接入的测试设备是否符合要求，而且不需要进入操作***，方便用户更换合适的测试设备。
附图说明
图1是本发明测试设备信息检查***较佳实施例的应用环境图。
图2是本发明测试设备信息检查***较佳实施例的功能模块图。
图3是本发明测试设备信息检查方法较佳实施例的流程图。
主要元件符号说明
测试主机 1
待测主板 2
显示器 3
测试设备信息检查*** 10
基板管理控制器 20
现场可更换单元 30
读取模块 100
判断模块 200
获取模块 300
比对模块 400
提示模块 500
搜索模块 600
显示模块 700
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
参阅图1所示，是本发明测试设备信息检查***较佳实施例的应用环境图。所述测试设备信息检查***10运行于测试主机1中。所述测试主机1连接于待测主板2及显示器3。所述待测主板2中包括基板管理控制器（Baseboard Management Controller，BMC）20，所述基板管理控制器20中包括现场可更换单元（Field Replace Unit，FRU）30。在其他实施例中，所述测试设备信息检查***10还可以运行于所述基板管理控制器20中。
所述现场可更换单元30一般有1K以上的存储空间，其中大部分在测试阶段不会使用，可以预先将所述待测主板2所支持的测试设备的信息写入未使用的存储空间中。所述测试设备的信息包括各种测试设备的型号、规格、提供商等。
在写入所述测试设备的信息时，可以按照SMBIOS（System Management BIOS）规范或其他规范对该信息进行归类。当将所述测试设备的信息显示给用户查看时，可以根据用户需要查看的测试设备类别对该信息进行分类搜索，而不需每次都将所有信息列出，增强了实用性。
参阅图2所示，是本发明测试设备信息检查***较佳实施例的功能模块图。
所述测试设备信息检查***10包括读取模块100、判断模块200、获取模块300、比对模块400、提示模块500、搜索模块600及显示模块700。
所述读取模块100用于读取所述现场可更换单元30中的测试设备信息。
所述判断模块200用于判断所述待测主板2的状态。在本实施例中，所述状态包括，但不限于，开机状态或待机状态（待机状态即所述待测主板2上电但未开机）。在其它实施例中，所述待测主板2的状态还可以根据实际测试需求增加其它的状态，如关机状态。
所述获取模块300用于当所述待测主板2处于开机状态时，获取所述待测主板2上当前所接入的测试设备的信息。
所述比对模块400用于将获取到的当前所接入的测试设备信息与所述现场可更换单元30中的测试设备信息进行比对，判断当前所接入的测试设备是否符合要求，即当前所接入的测试设备信息是否属于所述现场可更换单元30中的测试设备信息范围内，若属于则符合要求，若不属于则不符合要求。
所述提示模块500用于当当前所接入的测试设备符合要求时，发送提示信息到所述显示器3中，提示用户比对结果为通过。
所述提示模块500还用于当当前所接入的测试设备不符合要求时，发送提示信息到所述显示器3中，提示用户比对结果为失败。
所述搜索模块600用于当所述待测主板2处于待机状态时，根据用户需要查看的测试设备类别对所述现场可更换单元30中的测试设备信息进行分类搜索。
所述显示模块700用于发送搜索结果到所述显示器3中，显示搜索结果给用户查看，以便用户根据该搜索结果自行判断当前所接入的测试设备是否符合要求。
参阅图3所示，是本发明测试设备信息检查方法较佳实施例的流程图。
步骤S10，所述读取模块100读取所述现场可更换单元30中的测试设备信息。
步骤S12，所述判断模块200判断所述待测主板2的状态。在本实施例中，所述状态包括，但不限于，开机状态或待机状态。若所述待测主板2处于开机状态，则执行步骤S14；若所述待测主板2处于待机状态，则执行步骤S22。在其它实施例中，所述待测主板2的状态还可以根据实际测试需求增加其它的状态，如关机状态。
步骤S14，所述获取模块300获取所述待测主板2上当前所接入的测试设备的信息。
步骤S16，所述比对模块400将获取到的当前所接入的测试设备信息与所述现场可更换单元30中的测试设备信息进行比对，判断当前所接入的测试设备是否符合要求，即当前所接入的测试设备信息是否属于所述现场可更换单元30中的测试设备信息范围内，若属于则符合要求，若不属于则不符合要求。若当前所接入的测试设备符合要求，则执行步骤S18；所当前所接入的测试设备不符合要求，则执行步骤S20。
步骤S18，所述提示模块500发送提示信息到所述显示器3中，提示用户比对结果为通过。
步骤S20，所述提示模块500发送提示信息到所述显示器3中，提示用户比对结果为失败。
步骤S22，所述搜索模块600根据用户需要查看的测试设备类别对所述现场可更换单元30中的测试设备信息进行分类搜索。
步骤S24，所述显示模块700发送搜索结果到所述显示器3中，显示搜索结果给用户查看，以便用户根据该搜索结果自行判断当前所接入的测试设备是否符合要求。
值得注意的是，当所述待测主板2处于开机状态时，也可以执行所述步骤S22至S24，由用户自行判断所述待测主板2上当前所接入的测试设备是否符合要求。
综上所述，采用该测试设备信息检查方法，能够通过读取待测主板2的现场可更换单元30中预先写入的测试设备信息，来判断所接入的测试设备是否符合要求，从而规避了由于所接入的测试设备与该待测主板2所支持的测试设备不一致所带来的测试风险。而且，本方法不需要进入操作***，只要该待测主板2有电源即可读取所述测试设备信息，使得用户可以方便地更换合适的测试设备。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种测试设备信息检查方法，其特征在于，该方法包括：
读取步骤：读取待测主板的现场可更换单元中预先写入的测试设备信息；
获取步骤：当所述待测主板处于开机状态时，获取所述待测主板上当前所接入的测试设备的信息；
比对步骤：将获取到的当前所接入的测试设备信息与所述现场可更换单元中的测试设备信息进行比对，判断当前所接入的测试设备是否符合要求；
第一提示步骤：当当前所接入的测试设备符合要求时，提示用户比对结果为通过；及
第二提示步骤：当当前所接入的测试设备不符合要求时，提示用户比对结果为失败。
2.如权利要求1所述的测试设备信息检查方法，其特征在于，该方法还包括：
搜索步骤：当所述待测主板处于待机状态时，根据用户需要查看的测试设备类别对所述现场可更换单元中的测试设备信息进行分类搜索；及
显示步骤：发送搜索结果到显示器中给用户查看。
3.如权利要求1所述的测试设备信息检查方法，其特征在于，若当前所接入的测试设备信息属于所述现场可更换单元中的测试设备信息范围内，则判定所述当前所接入的测试设备符合要求；
若当前所接入的测试设备信息不属于所述现场可更换单元中的测试设备信息范围内，则判定所述当前所接入的测试设备不符合要求。
4.如权利要求1所述的测试设备信息检查方法，其特征在于，所述现场可更换单元中的测试设备信息包括所述待测主板所支持的各种测试设备的型号、规格、提供商。
5.如权利要求1所述的测试设备信息检查方法，其特征在于，在所述现场可更换单元中预先写入所述测试设备信息时，按照SMBIOS规范对该信息进行归类。
6.一种测试设备信息检查***，其特征在于，该***包括：
读取模块，用于读取待测主板的现场可更换单元中预先写入的测试设备信息；
获取模块，用于当所述待测主板处于开机状态时，获取所述待测主板上当前所接入的测试设备的信息；
比对模块，用于将获取到的当前所接入的测试设备信息与所述现场可更换单元中的测试设备信息进行比对，判断当前所接入的测试设备是否符合要求；
提示模块，用于当当前所接入的测试设备符合要求时，提示用户比对结果为通过；
所述提示模块还用于当当前所接入的测试设备不符合要求时，提示用户比对结果为失败。
7.如权利要求6所述的测试设备信息检查***，其特征在于，该***还包括：
搜索模块，用于当所述待测主板处于待机状态时，根据用户需要查看的测试设备类别对所述现场可更换单元中的测试设备信息进行分类搜索；及
显示模块，用于发送搜索结果到显示器中给用户查看。
8.如权利要求6所述的测试设备信息检查***，其特征在于，若当前所接入的测试设备信息属于所述现场可更换单元中的测试设备信息范围内，则判定所述当前所接入的测试设备符合要求；
若当前所接入的测试设备信息不属于所述现场可更换单元中的测试设备信息范围内，则判定所述当前所接入的测试设备不符合要求。
9.如权利要求6所述的测试设备信息检查***，其特征在于，所述现场可更换单元中的测试设备信息包括所述待测主板所支持的各种测试设备的型号、规格、提供商。
10.如权利要求6所述的测试设备信息检查***，其特征在于，在所述现场可更换单元中预先写入所述测试设备信息时，按照SMBIOS规范对该信息进行归类。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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