CN102736282A - 液晶面板的检验方法及设备 - Google Patents

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Abstract

本发明提供的液晶面板的检验方法及检验设备，其中检验方法包括：测试液晶面板的公共电极均匀性；根据液晶面板的公共电极均匀性结果判定液晶面板的残像发生几率。本发明的液晶面板的检验设备，包括：用于测试液晶面板的公共电极均匀性的测试装置；根据液晶面板的公共电极均匀性结果判定液晶面板的残像发生几率的判断装置。本发明的液晶面板的检验方法及检验设备，通过测试液晶面板内部公共电极的均匀性可以准确判断液晶面板残像发生的概率和等级，从而不必进行残像评价就可以快捷的判断液晶面板的残像情况，节省了时间，提高了工作效率。

Description

液晶面板的检验方法及设备
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，特别是涉及一种关于液晶面板的残像的检验方法及设备。
背景技术
现如今薄膜场效应晶体管LCD（TFT-LCD）产品已经广泛的应用于人们的生产和生活当中，这其中包括电视、显示器、以及便携式的电子显示产品等，各大液晶面板厂商都在努力提高产品的性能，降低能耗，增大视角，减小响应时间。这其中对于显示液晶面板残像的改善尤为重要。因为它直接影响了显示画面的品质。
残像的是指长时间驱动特定停止画像(High gray)后，变换为其他画像(Low gray）时留有原来画像的图案的现象。残像是发生在液晶盒内部的一种现象，由于长时间显示静止画面后，改变为其他图像时，液晶分子不能即时完全的发生偏转以适应新的画面，从而影响了显示效果。
残像依据发生的形态和位置不同可以分为面残像（area image sticking）和线残像（line image sticking）两种。对残像机理的研究表明，产生残像的主要原因是残留电荷的影响，这包括外加电场作用下在液晶盒内部产生的极化电荷以及在液晶盒内部杂质电荷的不同分布。这些残留的电荷会影响液晶在液晶盒顶部和底部的取向，从而使得残像发生在整个液晶面板区域，比较严重的分布在具有明显颜色差别的图像交界位置。残像的产生还受其他因素影响，比如外界温度，画面类型和静止时间长短，亮度等级等。
现有技术中，进行残像评价时间较长，通常为168小时，残像结果只有在评价结束以后才可以判断，如果液晶面板电压设置出现偏差，或者由于设计和工艺等原因使得液晶面板发生残像的几率变大，也只有在残像评价结束以后方可得到相应结论。目前并没有可以通过可测试液晶面板参数来判断残像发生几率的方法和装置。
发明内容
本发明的目的是提供一种关于液晶面板的残像的液晶面板的检验方法及设备，可以通过测试液晶面板参数来比较快捷的判断残像发生几率。
本发明的液晶面板的检验方法，包括：
测试液晶面板的公共电极均匀性；
根据所述液晶面板的公共电极均匀性结果判定所述液晶面板的残像发生几率。
本发明的液晶面板的检验方法，其中，所述测试液晶面板的公共电极均匀性包括：
测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值；
根据所述最佳公共电压的数值来判断所述液晶面板的公共电极均匀性。
本发明的液晶面板的检验方法，其中，所述测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值包括：
将液晶面板划分为多个区域；
对所述液晶面板通电，在闪烁画面下，对所述液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压，分别测试所述多个区域的中心点的闪烁强度的大小，分别确定在所述多个区域的中心点的闪烁强度小于一门限值的情况下的外加交变电压的数值，所述多个区域的该电压的数值为所述液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值。
本发明的液晶面板的检验方法，其中，所述测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值包括：
将液晶面板划分为多个区域；
对所述液晶面板通电，在闪烁画面下，对所述液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压，分别测试所述多个区域的中心点的闪烁强度的大小，分别确定在所述多个区域的中心点的闪烁强度最小的情况下的外加交变电压的数值，所述多个区域的该电压的数值为所述液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值。
本发明的液晶面板的检验方法，其中，所述根据所述最佳公共电压的数值来判断所述液晶面板的公共电极均匀性为：
计算所述最佳公共电压的数值的标准差；
根据所述标准差判定所述液晶面板的公共电极均匀性。
本发明的液晶面板的检验方法，其中，所述根据所述标准差判定所述液晶面板的公共电极均匀性包括：
判断所述最佳公共电压的数值的标准差的是否小于0.03，如果所述最佳公共电压的数值的标准差小于0.03，则判断所述液晶面板的公共电极均匀；如果所述最佳公共电压的数值的标准差大于0.03，则判断所述液晶面板的公共电极不均匀。
本发明的液晶面板的检验设备，包括：
用于测试液晶面板的公共电极均匀性的测试装置；
根据所述液晶面板的公共电极均匀性结果判定所述液晶面板的残像发生几率的判断装置，与所述测试装置电连接。
本发明的液晶面板的检验设备，其中，所述测试装置包括：
用于测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值的测量装置；
计算装置，接收所述最佳公共电压的数值并根据所述最佳公共电压的数值来判断所述液晶面板的公共电极均匀性，所述计算装置与所述判断装置电连接。
本发明的液晶面板的检验设备，其中，所述测量装置包括：
用于承载液晶面板的基台，所述基台上安装有可在所述基台上方移动的支架；
用于分别测量所述液晶面板上多个不同位置的闪烁强度的测试仪，固定于所述支架上；
直流稳压电源，用于向所述液晶面板加载；
程序控制器，与所述直流稳压电源和所述测试仪分别电连接，所述程序控制器控制直流稳压电源对测试液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压并控制所述测试仪的开关；
计算机，与所述程序控制器和所述测试仪分别电连接，所述计算机通过程序控制器控制所述支架在所述区域上方移动，所述计算机接收所述测试仪的所述液晶面板上多个不同位置的闪烁强度的数据并分别确定在所述多个位置的闪烁强度小于一门限值或最小的情况下的外加交变电压的数值，所述多个位置的该电压的数值为所述液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值，所述计算机与所述计算装置电连接。
本发明的液晶面板的检验方法及检验设备，通过测试液晶面板内部公共电极的均匀性可以准确判断液晶面板残像发生的概率和等级，从而不必进行残像评价就可以快捷的判断液晶面板的残像情况，节省了时间，提高了工作效率。
附图说明
图1为本发明的液晶面板的检验设备的连接示意图；
图2为本发明的液晶面板的检验设备中的基台以及支架的结构示意图。
具体实施方式
本发明提供了一种液晶面板的检验方法，通过采用程序控制的公共电压的信号输入，测试液晶面板内部公共电极的均匀性，通过均匀性的数据可以准确判断液晶面板残像发生的概率和等级，从而不必进行残像评价就可以快捷的判断液晶面板的残像情况，节省了时间，提高了工作效率。
通过大量实验可知液晶面板的公共电极均匀性和残像等级之间有密切的关系，如果液晶面板公共电极均匀性不好，则残像也会比较严重。因此我们可以在不进行残像评价的前提下预先判断残像的情况，并且可以通过改善液晶面板的公共电极的均匀性来降低残像的等级。
本发明的液晶面板的检验方法，包括：
测试液晶面板的公共电极均匀性；
根据所述液晶面板的公共电极均匀性结果判定所述液晶面板的残像发生几率。例如，如果所述液晶面板的公共电极均匀，则判断所述液晶面板的残像发生几率为小；如果所述液晶面板的公共电极不均匀，则判断所述液晶面板的残像发生几率为大。
测试液晶面板的公共电极均匀性可以采用很多种方法。本发明的液晶面板的检验方法的实施例中，测试液晶面板的公共电极均匀性包括：
测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值；
根据所述最佳公共电压的数值来判断所述液晶面板的公共电极均匀性。
本发明的液晶面板的检验方法的实施例中，所述测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值包括：
将液晶面板划分为多个区域；
对所述液晶面板通电，在闪烁画面下，对所述液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压，分别测试所述多个区域的中心点的闪烁强度的大小，分别确定在所述多个区域的中心点的闪烁强度小于一门限值的情况下的外加交变电压的数值，所述多个区域的该电压的数值为所述液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值。
在本发明的液晶面板的检验方法的其他实施例中，也可以按照如下方法测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值：
将液晶面板划分为多个区域；
对所述液晶面板通电，在闪烁画面下，对所述液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压，分别测试所述多个区域的中心点的闪烁强度的大小，分别确定在所述多个区域的中心点的闪烁强度最小的情况下的外加交变电压的数值，所述多个区域的该电压的数值为所述液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值。
本发明的液晶面板的检验方法的实施例中，所述根据所述最佳公共电压的数值来判断所述液晶面板的公共电极均匀性为：
计算所述最佳公共电压的数值的标准差；
根据所述标准差判定所述液晶面板的公共电极均匀性。例如，通过判断所述最佳公共电压的数值的标准差是否小于某一确定的值来判定所述液晶面板的公共电极均匀性是否为均匀。
具体来说，本发明的液晶面板的检验方法的实施例中，所述根据所述标准差判定所述液晶面板的公共电极均匀性包括：
判断所述最佳公共电压的数值的标准差的是否小于0.03，如果所述最佳公共电压的数值的标准差小于0.03，则判断所述液晶面板的公共电极均匀；如果所述最佳公共电压的数值的标准差大于0.03，则判断所述液晶面板的公共电极不均匀。
如图1、图2所示，本发明的液晶面板的检验设备，包括：
用于测试液晶面板的公共电极均匀性的测试装置；
根据液晶面板的公共电极均匀性结果判定液晶面板的残像发生几率的判断装置2。如果液晶面板的公共电极均匀，则判断液晶面板的残像发生几率为小；如果液晶面板的公共电极不均匀，则判断液晶面板的残像发生几率为大。判断装置2与上述测试装置电连接。
判断装置2可以是与上述测试装置电连接的计算机，通过接收测试装置的结果，判断液晶面板的残像发生几率。
本发明的液晶面板的检验设备的实施例中，上述测试装置包括：
用于测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值的测量装置11；
计算装置12，接收上述最佳公共电压的数值并根据上述最佳公共电压的数值来判断液晶面板的公共电极均匀性，计算装置12与上述判断装置电连接。
本发明的液晶面板的检验设备的实施例中，测量装置11包括：
用于承载液晶面板的基台111，基台111上安装有可在基台111上方移动的支架112；
用于测量液晶面板上区域的中心点的闪烁强度的测试仪113，固定于支架112上；
直流稳压电源116，用于向液晶面板加载；
程序控制器114，与直流稳压电源116和测试仪113分别电连接，程序控制器114控制直流稳压电源116对测试液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压并控制测试仪113的开关；
计算机115，与程序控制器114和测试仪113分别电连接，计算机115将液晶面板的表面划分为多个区域，并通过程序控制器114控制支架112在区域上方依次移动，计算机115接收测试仪113的液晶面板上多个不同位置的闪烁强度的数据并分别确定在多个位置的闪烁强度小于一门限值或最小的情况下的外加交变电压的数值，上述多个位置的该电压的数值为所述液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值。计算机115与计算装置12电连接。
其中，基台111的两侧设置有纵向延伸的第一导轨21，移动架22通过与第一导轨21配合可移动的设置于基台111上方。移动架22上设置有沿横向延伸的第二导轨23。支架112通过与第二导轨23的配合可移动的设置于基台111上方。支架112可以移动至基台111上方的任何区域。程序控制器114与支架112的电机和移动架22的电机分别电连接。
本实施例中，判断装置2是与上述测试装置中的计算装置12电连接的计算机，通过接收计算装置12的结果，判断液晶面板的残像发生几率。
当利用本发明实施例的液晶面板的检验设备检测液晶面板，将液晶面板置于基台111上，利用计算机115将液晶面板的表面划分为多个区域，利用计算机115将通过程序控制器114控制支架112和移动架22使支架112在上述区域上方依次移动；同时，利用程序控制器114控制直流稳压电源116对测试液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压并控制测试仪113测量液晶面板上上述区域的中心点的闪烁强度；计算机115接收测试仪113的上述闪烁强度数据，并判断出闪烁强度小于一门限值（或者最小）的情况下的外加交变电压的数值，该电压的数值就是上述区域的中心点的最佳公共电压的数值。计算机115将上述区域的中心点的最佳公共电压的数值输送给计算装置12，计算装置12计算上述中心点的最佳公共电压的标准差；根据上述标准差判定液晶面板的公共电极是否均匀。本实施例中，计算装置12判断上述中心点的最佳公共电压的标准差的三倍是否小于0.09，如果上述中心点的最佳公共电压的标准差的三倍均小于0.09，则判断所述液晶面板的公共电极均匀；如果上述中心点的最佳公共电压的标准差的三倍大于0.09，则判断所述液晶面板的公共电极不均匀。判断装置2根据计算装置12的数据来判断液晶面板的残像发生几率：如果液晶面板的公共电极均匀，则判断液晶面板的残像发生几率为小；如果液晶面板的公共电极不均匀，则判断液晶面板的残像发生几率为大。
在实际测试工作中，利用上述液晶面板的检验方法及检验设备大大节省了判断液晶面板的残像发生几率的时间。而通过已检验的液晶面板进行常规方法的复查的结果表明：本发明的检验方法的准确率在97%以上。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种液晶面板的检验方法，其特征在于，包括：
测试液晶面板的公共电极均匀性；
根据所述液晶面板的公共电极均匀性结果判定所述液晶面板的残像发生几率。
2.根据权利要求1所述的液晶面板的检验方法，其特征在于，所述测试液晶面板的公共电极均匀性包括：
测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值；
根据所述最佳公共电压的数值来判断所述液晶面板的公共电极均匀性。
3.根据权利要求2所述的液晶面板的检验方法，其特征在于，所述测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值包括：
将液晶面板划分为多个区域；
对所述液晶面板通电，在闪烁画面下，对所述液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压，分别测试所述多个区域的中心点的闪烁强度的大小，分别确定在所述多个区域的中心点的闪烁强度小于一门限值的情况下的外加交变电压的数值，所述多个区域的该电压的数值为所述液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值。
4.根据权利要求2所述的液晶面板的检验方法，其特征在于，所述测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值包括：
将液晶面板划分为多个区域；
对所述液晶面板通电，在闪烁画面下，对所述液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压，分别测试所述多个区域的中心点的闪烁强度的大小，分别确定在所述多个区域的中心点的闪烁强度最小的情况下的外加交变电压的数值，所述多个区域的该电压的数值为所述液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值。
5.根据权利要求2所述的液晶面板的检验方法，其特征在于，所述根据所述最佳公共电压的数值来判断所述液晶面板的公共电极均匀性为：
计算所述最佳公共电压的数值的标准差；
根据所述标准差判定所述液晶面板的公共电极均匀性。
6.根据权利要求5所述的液晶面板的检验方法，其特征在于，所述根据所述标准差判定所述液晶面板的公共电极均匀性包括：
判断所述最佳公共电压的数值的标准差的是否小于0.03，如果所述最佳公共电压的数值的标准差小于0.03，则判断所述液晶面板的公共电极均匀；如果所述最佳公共电压的数值的标准差大于0.03，则判断所述液晶面板的公共电极不均匀。
7.一种液晶面板的检验设备，其特征在于，包括：
用于测试液晶面板的公共电极均匀性的测试装置；
根据所述液晶面板的公共电极均匀性结果判定所述液晶面板的残像发生几率的判断装置，与所述测试装置电连接。
8.根据权利要求7所述的液晶面板的检验设备，其特征在于，所述测试装置包括：
用于测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值的测量装置；
计算装置，接收所述最佳公共电压的数值并根据所述最佳公共电压的数值来判断所述液晶面板的公共电极均匀性，所述计算装置与所述判断装置电连接。
9.根据权利要求8所述的液晶面板的检验设备，其特征在于，所述测量装置包括：
用于承载液晶面板的基台，所述基台上安装有可在所述基台上方移动的支架；
用于分别测量所述液晶面板上多个不同位置的闪烁强度的测试仪，固定于所述支架上；
直流稳压电源，用于向所述液晶面板加载；
程序控制器，与所述直流稳压电源和所述测试仪分别电连接，所述程序控制器控制直流稳压电源对测试液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压并控制所述测试仪的开关；
计算机，与所述程序控制器和所述测试仪分别电连接，所述计算机通过程序控制器控制所述支架在所述区域上方移动，所述计算机接收所述测试仪的所述液晶面板上多个不同位置的闪烁强度的数据并分别确定在所述多个位置的闪烁强度小于一门限值或最小的情况下的外加交变电压的数值，所述多个位置的该电压的数值为所述液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值，所述计算机与所述计算装置电连接。
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